「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 131 132 133 134 135 136 137 138 139 .... 179 180 次へ＞- A stage 3 of this scanning probe microscope is provided with a base 13, a movable block 15, a rotation bolt 17, a first retainer plate 19, a second retainer plate 21 and fixing bolts 23.
走査型プローブ顕微鏡の試料台３は、基台１３と、可動ブロック１５と、回転ボルト１７と、第一押さえ板１９と、第二押さえ板２１と、固定ボルト２３とを備えている。 - 特許庁 - The cost of the digital micromirror is lower than that of the acoustooptical element and the observation conditions can be easily set, so that the device cost of the scanning microscope can be lowered.
ディジタルマイクロミラーは価格が音響光学素子よりも安価であり、しかも条件設定が容易であるため、走査顕微鏡の請求項装置コストを安価することができる。 - 特許庁 - To provide a light source device for illumination in scanning microscopic inspection which is stable, is easily adjustable and can realizes high resolution at a low cost and a scanning microscope.
安定的でかつ調節も容易であり、しかも低コストで高分解能を実現できる走査型顕微鏡検査における照明用光源装置及び走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope of a simple structure, in which a part being scanned is reduced in weight and a light beam follows a cantilever, depending on the bending deformation of a tubular piezoelectric body.
走査される部分が軽量化された、円筒型圧電体の湾曲変形に応じて光ビームがカンチレバーを追従する簡単な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a motor-driven microscope capable of preventing breakage of a sample or ill effects on human bodies, by initializing a part of reproduced observation conditions, when the power is turned on again, after reproducing the observation conditions.
観察条件を再現した後で電源が再投入された場合に、再現される観察条件の一部を初期化することで、標本の破損や人体への影響を防止する。 - 特許庁 - To provide a focal point maintenance device configured to reduce affection of stray light by monitoring the stray light and performing a signal processing when maintaining and controlling a focal point, and a microscope device.
迷光をモニタし、焦点維持制御時に信号処理を行うことで迷光の影響を低減するように構成された焦点維持装置、及び、顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - This sample producing device for the electron microscope 1 retains a liquid containing the sample at a temperature in which the sample is not frozen and the liquid is not brought into a supercooled state by a sample retaining part 5.
電子顕微鏡用試料作製装置１は、試料保持部５によって試料を含む液体を、試料が凍結せずかつ液体が過冷却状態となる温度に保持する。 - 特許庁 - To provide a technique capable of restraining the charges generated by electron beam irradiation from accumulating in a measuring sample, in a probing device that uses an SEM (scanning electron microscope) as the observation means.
ＳＥＭを観察手段として用いるプロービング装置において、電子線照射により生じる測定試料への電荷の蓄積を抑制することのできる技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of obtaining precise measurement data by eliminating noise component characteristically arises only in specific scanning direction of the measurement device.
測定データから測定装置の一定の走査方向にのみ特有に出現するノイズ成分を除去し、精度の高い測定データを得られる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - With the sample platform for the scanning electron microscope, a method is adopted to drop, dry and fix slurries by setting a patterned indented surface at a position where the slurries are to be dropped.
走査電子顕微鏡の試料台において、懸濁液を滴下する位置の表面に凹凸形状を設けることにより、懸濁液をその上から滴下し乾燥，固定する手法を用いる。 - 特許庁 - To provide a transfer system of an electron microscope image capable of speeding up an update rate of the image even when there is change in capacity of a network line and the capacity is either small or large.
ネットワーク回線の容量の変化があり、容量が大きい場合でも小さい場合でも画像の更新レートを速くすることができる電子顕微鏡像の転送方式を実現する。 - 特許庁 - To provide an immersion objective of a microscope being a lens system which has a large numerical aperture and a large magnification and whose aberration is satisfactorily corrected, and made excellent in observation of feeble light.
大きな開口数と大きな倍率を有し、諸収差が良好に補正されたレンズ系で、微弱な光の観察に優れた液浸系顕微鏡対物レンズを提供することにある。 - 特許庁 - An observation optical system 30 of the surgical microscope 1 guides the reflected light of first reflection light on a patient's eye E to an eye lens 36 via an objective lens 31 and a variable magnification lens 32.
手術用顕微鏡１の観察光学系３０は、患者眼Ｅによる第１照明光の反射光を対物レンズ３１や変倍レンズ３２を介して接眼レンズ３６に導く。 - 特許庁 - The microscope objective includes a cemented lens formed by bonding a piano-convex lens (L11) which is disposed nearby the object side and turns its plane surface to the object side and a meniscus lens (L12) which turns its concave surface to the object side.
最も物体側に配置されて物体側に平面を向けた平凸レンズ（Ｌ１１）と物体側に凹面を向けたメニスカスレンズ（Ｌ１２）との貼り合わせからなる接合レンズを含む。 - 特許庁 - To provide a means of maintaining a relative position between a precisely predetermined laser link and a slitlamp microscope for easier installation and replacement of a laser link for various slitlamp microscopes.
本発明は様々な細隙灯顕微鏡１、１３のケーシング２、１４へレーザリンク３を定められた通り確実に結合、位置設定させる検眼機器用アダプタ４、１５に関する。 - 特許庁 - The dark field illumination device 140 can be used for the microscope which comprises an objective lens 105 and a sample support part which locates the sample 124 thereon during observation and is loadable/unloadable.
暗視野照明装置１４０は、対物レンズ１０５、観察時に観察試料１２４が配置される着脱可能な観察試料支持部とを有する顕微鏡に用いられる。 - 特許庁 - To provide a reaction observation container easily handeable and capable of safely observable, by macroscopic or light-optical microscope or the like, the reaction behavior of an active matter in the air such as sodium.
ナトリウム等の空気中活性物質の反応挙動を、肉眼あるいは光学顕微鏡等で安全に観察でき、しかも容易に取り扱えるような反応観察容器を得る。 - 特許庁 - The sample stage 3 of this scanning probe microscope has a base 13, a moving block 15, a rotary bolt 17, a first pressing plate 19, a second pressing plate 21 and four fixing bolts 23.
走査型プローブ顕微鏡の試料台３は、基台１３と、可動ブロック１５と、回転ボルト１７と、第一押さえ板１９と、第二押さえ板２１と、４本の固定ボルト２３とを備えている。 - 特許庁 - In the cathode active material, the element A stays independently on the matrix particles without being doped in the matrix particles and can be recognized by a scanning electron microscope observation.
本発明の正極活物質は、元素Ａが母材粒子にドープされることなく、母材粒子の上に独立して配された形態を特徴としており、ＳＥＭ観察によって確認できる。 - 特許庁 - To provide a testing device for a micro-component capable of being arranged on a sample mount within a sample chamber of an electronic microscope and applying outside force while observing a sample.
電子顕微鏡の試料室内の試料台に配設可能であって、試料の観察を行いながら外力を加えることができる微小部品用試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a confocal scanning microscope capable of suppressing the degradation of the quality of a fluorescent image caused by self-fluorescence, while allowing a confocal diaphragm to act on exciting light and fluorescence.
共焦点絞りを励起光及び蛍光に作用させながら、自家蛍光による蛍光画像の画質の劣化を抑制することができる共焦点走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To adjust the proportion of illuminating light introduced to a plurality of lighting optical systems of a microscope from one light source device, while restraining increase in cost and increase in size of the device.
コストの増大や装置の大型化を抑制しつつ、１つの光源装置から顕微鏡の複数の照明光学系に導入する照明光の割合を調整できるようにする。 - 特許庁 - To provide an information processor for avoiding a risk for missing a to-be-observed object observed by a user using a microscope, an information processing method, and a program of the same.
ユーザによる顕微鏡での観察対象物の見落としの危険性を回避できるようにするための情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラムを提供すること。 - 特許庁 - In the scanning probe microscope, an amplitude value of a Y-scan signal increases linearly only during an image acquisition period of time Tyu for acquiring image data, and returns to approximately zero immediately after completion of the acquisition of the image data.
Ｙ走査信号の振幅値は、画像データを取得する画像取得時間Ｔｙｕの間だけ直線的に増加し、画像データの取得終了後直ちにほぼ０に戻る。 - 特許庁 - To provide a sample holder capable of obtaining a confocal dark field STEM image and a three-dimensional tomogram, and to provide a scanning transmission electron microscope.
試料が傾斜した状態で、共焦点暗視野STEM像、3次元断層像を得られる試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡を提供することを提供することを課題とする。 - 特許庁 - The titanium dioxide has 1-3 ratio D_top/D_50 of the maximum particle diameter D_top to the average particle diameter D_50 when the primary particles thereof are observed by a field emission-type scanning electron microscope.
電界放射型走査電子顕微鏡で観察した一次粒子の最大粒子径Ｄ_topと平均粒子径Ｄ_50の比Ｄ_top／Ｄ_50が１以上３以下であることを特徴とする二酸化チタン。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope having excellent usability, and capable of certainly preventing contact between a sample to be observed and a structure in a sample chamber such as an objective lens.
観察試料と対物レンズ等の試料室内の構造物の接触を未然に、かつ確実に防止することが可能な、使い勝手の良い走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope with high precision and low damage, enabling identification of a frame in a defective section, or having high compression ratio of a stored image, or enabling extraction of systematic defects.
欠陥箇所のフレームが特定可能な、又は保存画像の圧縮率が高い、或いはシステマティックな欠陥を抽出可能な高精度で低ダメージの走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To easily carry out excellent phase contract observation in accordance with the size of a subject without using a complicatedly constructed phase plate or an object lens in a phase contrast microscope.
位相差顕微鏡において、複雑な構成の位相板や対物レンズを用いることなく被検体の大きさに対応して、容易に良好な位相差観察を行うことができるようにする。 - 特許庁 - To provide a microscope incorporating an automatic focus adjustment device that eliminates the need for a complicated operation in which the front focusing position of an objective lens is set to a desired observing position.
所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide an electron staining agent, staining liquid, and an electron staining method with high performance for observing a biological sample with a transmission electron microscope, safe and easily handleable.
透過型電子顕微鏡で生体試料を観察するための高性能かつ、安全で、容易に取り扱うことができる電子染色剤、染色液および電子染色方法を提供する。 - 特許庁 - The microscope 10 is provided with a light source unit 16 having a visible ray source emitting visible rays, a UV ray source emitting UV rays, and an IR ray source emitting IR rays.
顕微鏡１０は、光源ユニット１６、可視光を発する可視光源と、紫外線を発する紫外光源と、赤外線を発する赤外光源とを有する光源ユニット１６を備える。 - 特許庁 - Then, the confocal laser microscope system 100 amplifies the image information 6, in conjunction with the input of an operation instruction 7 that alters the distance between the specimen 5 and the focusing position.
そして、共焦点レーザ顕微鏡システム１００は、標本５と焦点位置の間の距離を変更する動作指示７の入力に連動して、画像情報６を増幅する。 - 特許庁 - To perform wide area irradiation of a light flux of a long wavelength onto a sample and spot-irradiation of a light flux of a short wavelength from the same light source regarding a microscope device.
本発明は、顕微鏡装置に関し、同一の光源からの長波長の光束を試料に広域照射し短波長の光束をスポット照射することを目的とする。 - 特許庁 - A minute flow field imaging apparatus includes an imaging apparatus (11) for imaging a particle image of visual fluid in the minute flow field (M) and a microscope (12) which is optically connected to the imaging apparatus.
微小流動場撮影装置は、微小流動場(M)の可視化流体の粒子画像を撮像する撮像装置(11)と、撮像装置に光学的に連結した顕微鏡(12)とを備える。 - 特許庁 - To process image data as much as real-timely while preventing image data continuously transferred from an imaging apparatus side to an image processing apparatus side from being defective in a virtual microscope.
バーチャル顕微鏡において、撮像装置側から画像処理装置側へ連続的に転送される画像データの欠損を防ぎながら、画像データを極力リアルタイムに処理すること。 - 特許庁 - To provide an operating microscope with a main objective (main objective lens) that extends along an objective plane and is penetrated by a binocular main observer beam path and a binocular co-observer beam path.
対物面に沿って延び、且つ双眼主観察者ビーム経路及び双眼補助観察者ビーム経路が通る主対物（主対物レンズ）を備えた手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a photodetector, a light detection method, a microscope, and an endoscope allowing to perform heterodyne detection of a desired light to be detected with high sensitivity and a high S/N ratio.
所望の被検出光を高感度かつ高ＳＮ比でヘテロダイン検出できる光検出装置および光検出方法、並びに、顕微鏡および内視鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device that prevents a flare during a dark field observation, and also prevents limb darkening during a bright field observation, thereby obtaining superior observation images through both observation.
暗視野観察時にはフレアを防止し、かつ、明視野観察時には周辺減光を防止し、両観察とも良好な観察像を得ることが可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope capable of observing a large-sized test piece, and capable of reducing a waiting time when a small-sized test piece is observed.
大型試料も観察可能で、しかも小型試料の観察を行う場合にあっては、試料観察開始の待ち時間の短縮をはかることができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an information processor for correcting unpredictable brightness unevenness, a method of processing information, program and an image pickup device with an optical microscope mounted thereon.
予測することが難しい明度ムラを補正することができる情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a measuring microscope that achieves accurate overall measurement by using an optical system lens such as a comparatively inexpensive and narrow-field telecentric lens.
本発明は、比較的安価で狭視野なテレセントリックレンズなどの光学系レンズを使用して高精度、かつ全体を見渡した測定を行うことが可能となる測定顕微鏡に関するものである。 - 特許庁 - To provide a microscopic optical analysis system hardly generating thermal drift of a visual field of an optical microscope even if brightness of illumination light is raised, and detecting and identifying surely even fine foreign matters or the like.
照明光の輝度を上げても光学顕微鏡の視野のサーマルドリフトが生じにくく、微小な異物等も確実に検出・同定できる顕微光学分析システムを提供する。 - 特許庁 - To disclose a method and a device for controlling a beam in a scanning microscope with which individual areas or interested areas scattered over a whole focused area are scanned.
個々の領域、結像領域全体にわたって分散されている関心のある領域を走査する走査型顕微鏡におけるビーム制御のための方法および装置が、開示される。 - 特許庁 - According to the method, a machining probe 1a (or 1b) of a scanning probe microscope, which has a vertical surface or a vertical edge and is harder than a sample material, is press-fitted into a dent measuring sample to form a dent.
垂直面または垂直な稜を持った試料材質よりも硬い加工用の走査プローブ顕微鏡探針1a(または1b)を圧痕測定用の試料に押し込んで圧痕を形成する。 - 特許庁 - To be able to feed or discharge various kinds of solutions or gases required for culturing cells, in a state of reduced stimulation to the cells, at a long-term observation of cells under a microscope.
顕微鏡下での細胞長期観察時に、細胞培養に必要な各種の液体または気体を細胞への刺激を低減した状態で供給排出できるようにすること。 - 特許庁 - To obtain a scanning electron microscope or a charged particle beam device having a function capable of easily managing the use state, e.g. the irradiation position of a microscale or the number of uses.
マイクロスケールの照射位置あるいは使用回数といった使用状態を簡便に管理できる機能を備えた走査電子顕微鏡あるいは荷電粒子線装置を実現する。 - 特許庁 - This test sample is observed with an optical microscope and the observed image is picked up with an image pickup element such as a CDC camera to form a sample image.
次に、この試験サンプルを光学顕微鏡によって観察し、この光学顕微鏡によって観察した観察画像を、ＣＣＤカメラ等の撮像素子により撮像し、サンプル画像を生成する。 - 特許庁 - To provide microscopy and a microscope capable of observing desired information of samples with an extremely high S/N ratio in a short time without having to raise the intensity of a light source.
試料の所望の情報を、短時間で、しかも光源の強度を高くすることなく、極めて高いＳ／Ｎで顕微鏡観察できる顕微鏡法および顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an inverted microscope which permits the insertion and removal of an image pickup optical path without renewal of a body tube simply by inserting and removing an intermediate body tube unit between a body and the tube body.
中間鏡筒ユニットを鏡体と鏡筒との間に挿脱するだけで鏡筒をバージョンアップすることなしに撮像光路を挿脱できる倒立型顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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