「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 127 128 129 130 131 132 133 134 135 .... 179 180 次へ＞- To provide techniques for an imaging lens with a wide visual field having satisfactorily corrected aberrations in the range of the visual field, and for an imaging optical system and a microscope using the same.
広い視野を有し、且つその視野範囲内で収差が良好に補正された結像レンズ、それを用いた撮影光学系及び顕微鏡の技術を提供する。 - 特許庁 - In a microscope device 1, the beam diameter of a laser beam emitted from a titanium sapphire laser 2 is varied by a beam diameter varying optical system 3 to irradiate a phase modulation type SLM5.
顕微鏡装置１は、チタンサファイアレーザ２から射出されたレーザ光のビーム径をビーム径可変光学系３で可変して、位相変調型ＳＬＭ５に照射する。 - 特許庁 - To enable to collect a vertical image photographing against an observation sample and a slant observation image in observation using a scanning type electron microscope at a high speed.
走査式電子顕微鏡を用いた観察において、観察試料に対して鉛直下向きに撮像する落射画像と、傾斜観察画像とを高速に収集すること。 - 特許庁 - To provide a sample holder of a transmission electron microscope capable of correcting astigmatism without requiring a standard sample even if the sample is that of a crystal phase only.
結晶相のみの試料であっても標準試料を要することなく非点収差の補正が可能な、透過型電子顕微鏡の試料ホルダーを提供する。 - 特許庁 - When the observation position within the culture vessel 3 is going to be changed, the microscope casing 5 is moved by a moving stage 9 to move objective lens 6 relative to the culture vessel 3.
培養容器３内の観察位置を変更する場合には、移動ステージ９で顕微鏡筐体５を移動させて培養容器３に対して対物レンズ６を移動させる。 - 特許庁 - To realize an electron microscope device in which an adverse effect due to slippage of trajectory of electron beams by hysteresis is not brought about even in the case an electromagnetic deflection shutter is used.
電磁偏向式シャッターを使用する場合にもヒステリシスによる電子線の軌跡のずれによる悪影響を生じることのない電子顕微鏡装置を実現する。 - 特許庁 - To accurately set focusing position on an inclined axis, when taking a photograph in a transmission electron microscope provided with an expansion MDS function.
拡張ＭＤＳ機能を備える透過型電子顕微鏡において、写真撮影する場合に焦点合わせ位置を正しく傾斜軸上に設定できるようにする。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus which can scan arbitrary positions respectively independently a first scanning optical system and a second scanning optical system at an arbitrary time.
第１の走査光学系と第２の走査光学系を任意の時間に標本の任意の場所をそれぞれ独立して走査できる顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a small-sized laser scanning type microscope capable of optionally selecting a wavelength region, and capable of detecting an image having satisfactory S/N with high sensitivity.
小型で、任意に波長領域を選択することができ、高感度にＳ／Ｎの良好な画像を検出することが可能なレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To quickly inspect a specimen containing a fine grating by using a simple inspection apparatus and a simple inspection method without using a transmission electron microscope.
透過型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な検査装置及び方法を用いて、微細なグレーティングを含む被検査物について迅速に検査を行えるようにする。 - 特許庁 - An image processing part 103 performs an image processing of correcting the exposure or white balance of an observation image by a microscope 1 picked up by an image pickup part 102.
画像処理部１０３は、撮像部１０２によって撮像された顕微鏡１での観察画像の露出若しくはホワイトバランスを補正する画像処理を行う。 - 特許庁 - To provide a fluorescent microscope system configured to adjust a ratio of color components on changing from color to grayscale, in accordance with wavelength properties of a fluorescent cube.
本発明では、蛍光キューブの波長特性に応じて、カラーからグレースケールに変換するときの色成分の割合を調整する蛍光顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a miniaturized scanning electron microscope enabling observation of the optional position of a large sample, and capable of easily obtaining a three-dimensional image.
大型試料の任意の位置を観察することを可能にし、また、三次元立体像を容易に得ることができ小型化された走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The input section 141 of the light-receiving unit 140 is optically connected to the output port 113 of the microscope 110 via an optical fiber 153.
受光ユニット１４０の入力部１４１は、光ファイバー１５３を介して、共焦点光学顕微鏡１１０の出力ポート１１３と光学的に接続される。 - 特許庁 - To provide a sample table for an electron microscope causing no burying of a microstructure of a biological sample and damage of the sample, and having stable electric conductivity and surface roughness.
生物試料の微細構造の埋没、試料損傷等の発生がなく、安定した導電性及び面精度を有する電子顕微鏡用試料台を提供する。 - 特許庁 - SIGNAL DETECTION DEVICE, PROBE MICROSCOPE BY SIGNAL DETECTION DEVICE, AND SIGNAL DETECTION METHOD, OBSERVATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE BY USING SIGNAL DETECTION METHOD
信号検出装置、信号検出装置によるプローブ顕微鏡、及び信号検出方法、信号検出方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁 - To easily manufacture a disk of high precision at a low cost and to achieve the miniaturization and cost reduction of a cell counting and observation apparatus of cells by an optical microscope using the disk.
高精度なディスクの製作の容易化と低コスト化、該ディスクを用いた光学式顕微鏡による細胞の計数観察装置の小型化と低コスト化とを図る。 - 特許庁 - As an observed area of the sample 3 is irradiated by the electron beam E1 during observation with a scanning electron microscope, the area is negatively charged.
走査電子顕微鏡等を用いた観察時に、電子ビームＥ１が試料３の被観察領域に照射されるにつれて、当該被観察領域が負に帯電されていく。 - 特許庁 - To provide a photoelectron multiplication system that is so structured as to be able to measure even an extremely weak optical signal with a structurally simple means; and to provide a microscope having the system.
極めて微弱な光信号であっても構造的に単純な手段によって測定可能に構成された光電子増倍システム及び該システムを有する顕微鏡。 - 特許庁 - An overall controller 9 computes an unfocused quantity from the movement of a microscope image caused by beam deflection, and commands to the power source of the object lens to deflect a focus distance.
全体制御器９は、ビーム偏向による顕微鏡像の移動量から焦点はずれ量を計算し、焦点距離を偏向するように対物レンズ電源に指令する。 - 特許庁 - To provide a microwave resonator and a microwave microscope which are improved in measurement accuracy by improving the signal-to-noise ratio, and can carry out measurements over a wide microwave bandpass.
S/Nを高くして測定精度を向上させると共に、広いマイクロ波帯域にわたり測定が可能なマイクロ波共振器及びマイクロ波顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a noncontact interatomic force microscope that can solve a variation problem of the sensitivity of each probe in a multiprobe and allows accurately to observe a sample surface.
マルチプローブにおける各プローブ毎の感度のばらつきの問題を解決し、サンプル表面を正確に観察することができる非接触型原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The cantilever 15 of a near-field Raman spectroscopic system 40 is the general cantilever of an atomic force microscope and includes the near-field probe 10 at the leading end of the free end.
近接場ラマン分光システムのカンチレバー１５は、一般的な原子間力顕微鏡のカンチレバーであって、その自由端の先端に近接場プローブ１０を備えている。 - 特許庁 - To enable the correction of black defect in which also the riverbed is not generated in the practical throughput by combining a defect correcting device using an ion beam and an atomic force microscope(AFM).
イオンビームを用いた欠陥修正装置と原子間力顕微鏡(AFM)を組み合わせることで、実用的なスル−プットでリバーベッドも無い黒欠陥修正を可能にする。 - 特許庁 - To prevent degradation of throughput in a scanning electron microscope having a function of imaging a defect on a semiconductor wafer and transferring a captured image to an external device.
半導体ウェーハ上の欠陥を撮像し、撮像画像を外部装置へ転送する機能を有する走査型電子顕微鏡において、スループットの低下を防止する。 - 特許庁 - To obtain an automatic tracking function and digitalized data of living cells and molecules in real time with a stage structure having a driving actuator equal to that of an existing stage under a microscope.
顕微鏡下での、既製ステージと同等の駆動アクチュエータをもったステージ構造で、生きた細胞や分子のリアルタイムでの自動トラッキング機能および数値化データを得る。 - 特許庁 - To provide an ion microscope having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source, and excellent in versatility and long term reliability.
気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ１０ｎｍ以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - The observation mechanism is a laser device 10 for observation/marking provided with a mechanism for performing the observation by an optical microscope and the mechanism for performing the observation by irradiation with the laser for the observation.
上記観察機構は、光学顕微鏡により観察する機構及び観察用レーザー照射して観察する機構を備えた観察／マーキング用レーザー装置１０である。 - 特許庁 - To provide a TTL-mode scanning electron microscope capable of giving high resolution to a secondary electron image and effectively providing a reflected electron image with good contrast.
二次電子像での高分解能化が可能であり、かつＴＴＬ方式の走査型電子顕微鏡にてコントラストの良い反射電子像を効果的に得ることが課題である。 - 特許庁 - To surely detect an optimum focusing position as to a method and a device for adjusting an automatic optimum focusing of a transmission electron microscope.
本発明は透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置に関し、最適合焦点位置を確実に検出することを目的としている。 - 特許庁 - To extract a frozen hydrated sample for TEM (transmission electron microscope) inspection, such as a vitrified biological sample, from a substrate and to attach the sample to a manipulator.
ＴＥＭ（透過型電子顕微鏡）検査のために、例えばガラス化した生体サンプル等の凍結した含水サンプルを基板から抽出し、該サンプルをマニピュレータに取り付ける。 - 特許庁 - To improve operability when adjustment on a display screen, sensitivity, amplification factor, or lightness, at observation of a sample of a scanning microscope system is observed.
走査顕微鏡システムにおける標本を観察するときの感度、増幅度又は明るさをディスプレイ画面上において調整するときの操作性の向上を図る。 - 特許庁 - This scanning electron microscope irradiates an electron beam to a sample while keeping pressure in a sample chamber not less than 1 Pa, and detects generated ions to display images of the sample.
走査電子顕微鏡は、試料室圧力を１Ｐａ以上に保持して試料に電子線を照射し、発生するイオンを検出して試料像を表示する。 - 特許庁 - The microscope has symmetrically disposed double UV irradiation apparatus 20a and 20b and irradiation beam routes 10a and 10b are guided by a deflector 21.
対称的に配されたダブル紫外線照射装置２０ａ、２０ｂを有していて、照明ビーム経路１０ａ、１０ｂは結合偏向装置２１によって案内される。 - 特許庁 - The laser microscope uses simultaneous absorption of three or more photons to cause molecular excitation in the target substance, yielding intrinsic three-dimensional resolution.
レーザ走査顕微鏡は、３つ又はそれ以上の光子の同時吸収により、目的物における分子励起を生じさせて、内在的な３次元分解能をもたらす。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus having improved resolution by re-condensing light which has been divided after outgoing from an objective lens group by one imaging lens group.
対物レンズ群を射出した後に分割された光を、１つの結像レンズ群により再集光させることで解像力を向上させた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope which is applicable to various kinds of microscopes or observation methods, and is capable of conducting focusing precisely and efficiently.
各種の顕微鏡あるいは観察方法に対して適用することができ、精密に効率良く焦点合わせを行うことのできる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an illuminating system which enables obtaining of a bright microscopic image at all times to objective lenses from low magnification to high magnification and an inexpensive microscope, using the same.
低倍率から高倍率の対物レンズに対して常に明るい顕微鏡画像を得ることの出来る照明装置と、それを用いた安価な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - A regular lamella structure is constructed by evaluating a Maltese Cross image with a polarizing microscope in using the polysuflated chondroitin sulfate as the test article.
偏光顕微鏡でマルターゼクロス像を評価することにより、被験物質として多硫酸化コンドロイチン硫酸を用いたとき、規則正しくラメラ構造を構築した。 - 特許庁 - The processing progress is monitored by running the electron beam, and detecting secondary electrons generated from the object by a secondary electron detector to acquire an electron microscope image.
また、電子ビームを走査させ、物体から発生した二次電子を二次電子検出器で検出し電子顕微鏡画像を取得して、加工の進行状況をモニタリングする。 - 特許庁 - To provide a method for preparing a samaple for microscopic observation using a transmission type electron microscope facilitating the observation of a planar microstructure with a specific depth in a semiconductor device.
半導体デバイス等における特定深さの平面的な微細構造の観察を容易にする、透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a medical microscope capable of irradiating excitation light corresponding to various fluorescent substances and capable of securely eliminating heat rays from illumination light.
各種の蛍光物質に対応した励起光の照射が可能で且つ照明光から熱線を確実に除去することができる医療用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - A biological sample 40 that responds to gravity is observed through a microscope objective lens 12 whose optical axis is so arranged as to be perpendicular to a gravity direction.
重力に応答する生物試料４０を、その光軸が重力方向に垂直になるように配置された顕微鏡対物レンズ１２を介して観察する。 - 特許庁 - The length-measurement value for a measurement point which is measured with the scanning microscope is multiplied by the magnification correction factor to provide a true dimension (S109-S111).
走査形電子顕微鏡によって測長された測定ポイントの測長値に前記倍率補正係数を掛けることによって真の寸法を求める（Ｓ１０９〜Ｓ１１１）。 - 特許庁 - Therefore, the working position of the sample being positioned is accurately irradiated with an ion beam, and the sample with the desired cross section for an electron microscope can be produced.
このため、位置決めされた試料加工位置にイオンビームが正確に照射され、所望の断面を有する電子顕微鏡用試料を作製することができる。 - 特許庁 - To realize a cheap and exact focusing function independent on mechanical means in a scanning electron microscope, in which at least an objective is formed by a permanent magnetic lens.
少なくとも対物レンズが永久磁石レンズで構成された走査電子顕微鏡に於いて機械的手段に依らない安価で正確な焦点合わせ機能を実現する。 - 特許庁 - A lens barrel 3 is provided with a lens 20 for forming an observed image on the image pickup surface of the camera with the objective lens of the microscope and the photographing lens 53a on the inside.
レンズ鏡筒３内には、顕微鏡の対物レンズと撮影レンズ５３ａとともにカメラの撮像面に観察像を結像するためのレンズ２０が設けられている。 - 特許庁 - To provide an electric revolver controller capable of accurately controlling a switch of objective lenses, and to provide a control program, a control program recording medium and a microscope.
対物レンズを切り替えるための制御を正確に行うことができる電動レボルバ制御装置、制御プログラム、制御プログラム記録媒体、顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a laser scanning microscope in which the laser irradiation density of a scanning locus is homogenized despite of the variation in a scanning velocity.
本発明は、走査速度の変動に依らず走査軌跡上のレーザ照射密度を均一化することのできるレーザ走査顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To acquire image data having more image information by a virtual microscope system and also to observe an image more in detail.
バーチャル顕微鏡システムにおいて、より多くの画像情報を有する画像データを取得することができると共に、より詳細に画像を観察することができるようにする。 - 特許庁
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