「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 123 124 125 126 127 128 129 130 131 .... 179 180 次へ＞- After certain time treatment, the wear resistance evaluating device 1000 evaluates the wear resistance of the ring 104 with its end face visually observed by a microscope or the like.
この耐摩耗性評価装置１０００において所定時間処理された後に、リング１０４の端面を顕微鏡等で目視観察して耐摩耗性が評価される。 - 特許庁 - To determine the exposure time for taking a picture of an image with an electron microscope without using a mechanism for measuring the brightness of an observed image on a fluorescent screen or the like.
蛍光板等の観察像の輝度を測定する機構を利用することなく、電子顕微鏡の観察像を写真撮影するための露光時間を決定する。 - 特許庁 - When a TEM (transmission electron microscope) image is photographed at each testpiece tilted angle, the image is photographed by changing the defocus amount Δf into a plurality of defocus amounts Δf_1, Δf_2, Δf_3.
各試料傾斜角度においてＴＥＭ像を撮影する際、デフォーカス量Δｆが複数のデフォーカス量Δｆ_１，Δｆ_２，Δｆ_３に変えられて像撮影が行われる。 - 特許庁 - When the contrast calculation part 48 detects the change of the state of the microscope, an AE calculation part 49 judges whether the setting of the exposure time adapted for the change is necessary or not.
コントラスト演算部４８が顕微鏡の状態の変化を検出すると、ＡＥ演算部４９は、変化に適応した露出時間の設定が必要か否かを判断する。 - 特許庁 - To provide a tip lens for a microscope immersion objective which can block harmful beams generating a flare without spoiling WD and is satisfactory for durability.
ＷＤを損なうことなくフレアーを起こす有害光線を遮断でき、且つ耐性的にも問題のない顕微鏡用液浸対物レンズの先玉レンズを提供すること。 - 特許庁 - To separate a specified portion from a semiconductor substrate by an FIB, and to form a sample fixed onto a mesh for a transmission electron microscope further into a thin piece of the sample, by the FIB.
半導体基板からＦＩＢにより特定箇所を分離し、透過型電子顕微鏡用メッシュに固定した試料をさらにＦＩＢにより試料薄片化できる。 - 特許庁 - To provide an illuminating method by which the optical images of a sample at different positions in an optical axis direction can be observed, and a microscope having an illuminator provided with the illuminating method.
標本の光軸方向の異なる位置における光像を観察可能とする照明方法と、これを具備する照明装置を有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - This system integrates microscope modules such as objective lenses, tube lenses, and a zoom optics to reduce the number of components and simplify the manufacturing processes of the system.
このシステムは、部品点数を削減し、システムの製造プロセスを簡単化するため、対物レンズ、チューブレンズ及びズーム光学系のような顕微鏡モジュールを統合する。 - 特許庁 - MICROPLATE HAVING PERIODIC STRUCTURE, SURFACE PLASMON EXCITATION ENHANCED FLUORESCENCE MICROSCOPE USING THE SAME, FLUORESCENCE MICROPLATE READER, AND METHOD OF DETECTING SPECIFIC ANTIGEN/ANTIBODY REACTION
周期構造を有するマイクロプレート、並びに、それを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡、蛍光マイクロプレートリーダーおよび特異的な抗原抗体反応の検出方法 - 特許庁 - To provide a microscope which can realize the best optical performance by exhibiting the effect of field stop to the maximum in various photographing conditions, and at the same time, is excellent in operability.
種々の撮影条件において視野絞りの効果を最大限に発揮させて最良の光学性能を得ることができるとともに、操作性の良い顕微鏡の提供。 - 特許庁 - An image-obtaining section 61 photographs an embryos set to a microscope as a sample with a camera in time series to obtain observation images, and supplies the obtained observation images to an observation section 62.
画像取得部６１は、顕微鏡に標本として設置されている胚をカメラにより時系列に撮影した観察画像を取得し、観察部６２に供給する。 - 特許庁 - Accordingly, the minute object can be manufactured by coupling together two members, such as nano-tube probe in the correct positional relationship, while enlarged photographing takes place in the electron microscope device.
従って、電子顕微鏡装置内で拡大撮像しながら、ナノチューブプローブのように、２部材を正しい位置関係で相互に結合して微小物を製造できる。 - 特許庁 - To provide a condenser lens and AF microscope that enables an AF unit to be used, even when there is no reflecting surface to reflect the AF light near the sample surface.
ＡＦ光を反射する反射面が標本面近傍に無い場合でもＡＦ装置を利用可能にするコンデンサレンズと、ＡＦ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To obtain a scanning probe microscope capable of preventing the lowering of detection precision based on the relative positional relation of a laser beam source and the reflecting part of a cantilever, and to provide the cantilever.
レーザ光源とカンチレバーにおける反射部の相対的な位置関係に基づく検出精度の低下を防止できる走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーを得る。 - 特許庁 - In the infrared microscope, visible light 12 from a visible light source 11 and infrared light 22 from an FTIR 21 take optical paths which are vertical to each other and are made incident to a cold filter 1.
本発明では、可視光源１１からの可視光１２とＦＴＩＲ２１からの赤外光２２は、互いに直角な光路をとり、コールドフィルター１に入射する。 - 特許庁 - First, a wafer stage is moved so that design positions of respective alignment marks may be on the center of a visual field of an optical microscope, and the positions are measured in this status.
初めに、各アライメントマークについて、その設計上の位置が光学顕微鏡の視野中心にくるようにウエハステージを移動させてその状態で測定を行う。 - 特許庁 - To provide an imaging optical system, a microscope device and a stereomicroscope device which reduce feeling of fatigue of a viewer and allow for good stereoscopic observation of a specimen.
観察者の疲労感を抑制し、被検物を立体的に良好に観察できるようにした結像光学系、顕微鏡装置及び実体顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - A CPU 201 gives an instruction to a memory reading/writing part 36, and makes removable media 35 record an image data file expressing a sample image obtained by using a microscope.
ＣＰＵ２０１はメモリ読み出し書き込み部３６へ指示を与え、顕微鏡により得られる標本像を表わしている画像データファイルをリムーバブルメディア３５に記録させる。 - 特許庁 - To provide a method and device which can achieve an improvement in video image processing rate and a reduction in compressing cost at the time of transmitting a live image obtained through a microscope through a digital network.
ビデオ画像処理率の向上と、顕微鏡の生画像をデジタルネットワークを介して伝送する際の圧縮コストの低減を達成する方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To improve selectivity and image quality of sample information obtained from a secondary electronic signal in a method for observing structure and characteristics of a sample by an electron microscope.
電子顕微鏡による試料の構造や特性を観察する方法において、２次電子信号で得られる試料情報の選択性と画質を向上させる。 - 特許庁 - For pixels in a non-error region, information on a height of the part of the sample 1 expressed by the pixels is acquired based on information on the focal position of each microscope image.
非エラー領域の画素については、該画素で表されている標本１の部位の高さの情報を、各顕微鏡画像の焦点位置の情報に基づき取得する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope which is of low cost, easy to use, and can make it sufficiently small in size as can be put on, for example, a table in a classroom.
安価で、使い易く、例えば教室のテーブル上に置くことのできる十分に小さな寸法とすることができる走査型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a stage positioning control apparatus capable of suppressing oscillation or drift of a stage loading and holding a wafer and capable of shortening positioning time in positioning control of the stage in an electron microscope apparatus.
電子顕微鏡装置におけるステージの位置決め制御時において、ウェーハを搭載保持しているステージの振動やドリフトを抑えると共に、位置決め時間を短縮する。 - 特許庁 - A light irradiation section 1 irradiates a mask M with exposure light, and an alignment microscope 10 receives a projection image of a mask mark MAM, and position coordinates of the projection image are found and stored.
光照射部１からマスクＭに露光光を照射し、アライメント顕微鏡１０でマスクマークＭＡＭの投影像を受像し、その位置座標を求め記憶する。 - 特許庁 - To provide an ultra-high resolution microscope capable of easily and accurately performing an optical adjustment of pumping light and erasing light, and capable of surely accomplishing ultra-high resolution effect.
ポンプ光とイレース光との光学調整を簡単かつ正確に行うことができ、超解像効果を確実に発現できる超解像顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical microscope capable of preventing a probe from being broken due to impacting on a sample and surely making the probe close to the sample in a short time.
プローブの試料への衝突による破損を防ぎ、確実かつ短時間でプローブを試料に対して接近させることが可能な近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a current mirror type biosensor by which a bio-related substance contained in a fluid for inspection is easily observed by optical observation equipment such as a microscope.
顕微鏡などの光学観察機器によって被検査液体に含まれる生体関連物質を容易に観察することが可能なカレントミラー型バイオセンサを提供する。 - 特許庁 - To provide a three-dimensional confocal microscope capable of preventing mechanical vibration from occurring in a scanning means in an optical axis direction and also performing scanning in the optical axis direction at high speed.
光軸方向の走査手段に機械的振動の発生がなく、しかも高速に光軸方向の走査ができる３次元共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope, a pressure control method, and a program allowing observation of a specimen, after a pretreatment by a glow-discharge digging unit, without contaminating the specimen.
グロー放電掘削部による前処理後の試料を汚染することなく観察することが可能な電子顕微鏡、圧力制御方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a moon grid specialized for three-dimensional observation by a transmission electron microscope which can effectively obtain three-dimensional images without perfoming a separate mark-attachment process.
別途の標式付着工程を行なわないで効率的に３次元イメージを得ることができる透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッドを提供する。 - 特許庁 - To provide a compact scanner system capable of acquiring XY-positional information without distortion and accurate Z-positional information, and a probe microscope unit using the scanner system.
歪のないＸＹ位置情報とともに、正確なＺ位置情報を得ることが可能であるコンパクトなスキャナシステム、およびこれを用いたプローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide the characteristic of a confocal scanning type microscope design in which a high signal output and a high ratio between a signal and a noise are realized with a simple means.
高い信号出力および高い信号対雑音比が簡素な手段を用いて実現される冒頭に述べた種類の顕微鏡設計の特性を備えることにある。 - 特許庁 - Pattern data corresponding to a portion having a pattern formed thereon and background data corresponding to a background are detected from image data in an imaging area of an SEM(scanning electron microscope) 20.
撮像領域におけるＳＥＭ２０画像デ−タのうち、パターンが形成された部分に対応するパタ−ンデ−タおよび背景に対応する背景デ−タを検出する。 - 特許庁 - To obtain a probe microscope not causing the collision of a probe with a sample and high in operation speed and a data recording and reproducing apparatus.
本発明は探針と試料の衝突が生じず、かつ動作速度の速いプローブ型顕微鏡及び情報記録再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an inexpensive scanning probe microscope fitted with a dynamic vibration reducer capable of accurately obtaining measuring data reduced in noise with high resolving power.
ノイズを低減した測定データを正確に且つ高分解能に得ることが可能な低コストな動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a stereoscopic microscope constituted so that direct-viewing observation can be facilitated, in addition to the observation of an observation part through an objective optical system.
本発明の目的は、対物光学系を介した観察部位の観察に加えて、直視での観察を容易に行い得る実体顕微鏡を提供することである。 - 特許庁 - In the scanning probe microscope, while keeping the physical quantities constant at the measuring parts, the sample surface is scanned by the probe by the moving mechanisms, to thereby measure the sample surface.
走査型プローブ顕微鏡では測定部で物理量を一定に保ちながら移動機構により探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁 - The charged-particle optical system 100, such as an electron microscope, has a vacuum chamber 102 with a space 104 for storing a specific one from among numerous specimens in operational use.
たとえば電子顕微鏡のような荷電粒子光学系(100)は、操作用に多数の試料のうちの特別な1つを収容するための空間(104)を備えた真空チャンバ(102)を有する。 - 特許庁 - In order to observe a worked cross section being worked by an FIB, the axis of the electron optics system of a scanning electron microscope(SEM) 40 is set vertical to the axis of the ion-optics system of an FIB device 20.
ＦＩＢで加工中の加工断面を観察するために、ＦＩＢ装置２０のイオン光学系の軸に対しＳＥＭ４０の電子光学系の軸を垂直にした。 - 特許庁 - To provide a bright-field light source for fluorescence observations which enables a simultaneous observation of a fluorescent affected area and the peripheral part and a surgical microscope loaded with the same.
蛍光状態の患部と、その周辺部の同時観察を可能する蛍光観察用の明視野光源及びそれを搭載した手術顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an operation by which a focus is not moved in a useful area of a sample or an observation field is not moved, when the sample is inclined in a transmission electron microscope.
透過型電子顕微鏡において、見本を傾斜させる時、見本の有益領域では焦点が動かない、または観測分野が動かない動作を提供する。 - 特許庁 - To increase the precision of image processing by taking a high-quality sample image with reduced noise components by use of a scanning type charged particle microscope.
走査型荷電粒子顕微鏡で撮像して得られる試料の画像について、ノイズ成分を低減させた高品質な画像を取得して画像処理の精度を向上させる。 - 特許庁 - To obtain a revolver for a microscope having an inexpensive and simple structure and optionally selectively used for specifications fit to environment requiring high-degree cleanness and to ordinary environment.
安価で簡単な構造を有し、高度のクリーン度を必要とする環境下と通常の環境下とに適合できる各仕様に任意に選択可能とすること。 - 特許庁 - To enable the simultaneous observation of a medical microscope and an endoscope without the need for an observer to largely move his or her head or body at a low cost.
観察者が頭や体を大きく動かすことなく医療用顕微鏡と内視鏡とを同時に観察することを低コストで可能とすることを課題とする。 - 特許庁 - In a cantilever for a scanning probe microscope which measures surface state with a CNT probe joined to a base probe, the tip part of the base probe is non-sharpened.
、ベース探針にＣＮＴ探針を接合して表面状態を測定する走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーにおいて、ベース探針の先端部を非先鋭形状にする。 - 特許庁 - The surface to be measured is scanned by an atomic force microscope to efficiently and accurately know the correlation of the fine structure of surface plasmon with the surface structure of the sample.
原子間力顕微鏡技術を用いて被測定面を走査し、能率よく正確に表面プラズモンの微細構造と試料の表面構造との相関を知る。 - 特許庁 - To provide a microscope which allows an observation image having a magnification different from that of a visual observation image to be satisfactorily acquired by an image pickup device simultaneously with visual observation.
目視観察と同時に目視観察像と異なる倍率の観察像を撮像装置により良好に取得することを可能にする顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope capable of securely and easily adjusting a focus, and to provide a focusing position adjusting method, and a manufacturing method for a pattern substrate using it.
簡便かつ確実に焦点を調整することができる光学顕微鏡、焦点位置調整方法、及びそれを用いたパターン基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a technique for automatic supply of an observation sample to a microscope device that can be implemented at low cost to contribute to automation of small-quality sample inspection.
少量の標本検査の自動化にも資するほどに廉価に実施することのできる、観察標本の顕微鏡装置への自動供給の手法を提供する。 - 特許庁 - CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE, PICTURE DISPLAY METHOD THEREOF AND RECORDING MEDIUM OBTAINED BY RECORDING PROCESSING PROGRAM FOR EXECUTING PICTURE DISPLAY PROCESSING
共焦点走査型顕微鏡、共焦点走査型顕微鏡における画像表示方法および画像表示処理をするための処理プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
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