「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 125 126 127 128 129 130 131 132 133 .... 179 180 次へ＞- To provide a microscope which enables easy setting of the rate of loosening of a stopper for regulating the spacing between a specimen and an objective lens, is simple in operation and is low cost.
標本と対物レンズの間隔を規制するストッパーの緩め量を簡単に設定でき、しかも操作が簡単で、価格的にも安価な顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a user-friendly digital camera for microscope in which power consumption is reduced by achieving a sleep function for making a transition to the sleep state at an optimal timing.
より最適なタイミングでスリープ状態へ移行するスリープ機能の実現により、使い勝手が良く且つ消費電力を低減した顕微鏡用デジタルカメラを提供する。 - 特許庁 - To provide a new simple optical microscope capable of yielding a high-density and high-magnification microscopic image with easy operation and having simple constitution and made inexpensive.
簡単な操作で高密度且つ高倍率の顕微鏡像を得ることができ、しかも単純構成で安価である、新しい単式光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of observing a sample with accuracy by making constant a potential of a conductive layer on a surface of the sample.
試料表面の導体層の電位を一定にして精度よく試料を観察することのできる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a sample holding member allowing high-resolution high-inclination observation small in deformation, in relation to a sample holding member for an electron microscope.
本発明は電子顕微鏡用試料保持部材に関し、変形の少ない高分解能高傾斜観察可能な試料保持部材を提供することを目的としている。 - 特許庁 - To provide a measurement method of sample, using an electron microscope which can carry out precise measurements of the size of feature structure of the sample.
オートフォーカスの失敗による影響を除去でき、試料の特徴構造の寸法を正確に測定し得る電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an atomic force microscope for returning to a state, where a sample image can be observed again, as soon as possible even if a cantilever comes into contact with the sample.
カンチレバが試料に接触しても出来るだけ短い時間で、再び試料像を観察できる状態に早く復帰させる原子間力顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of evaluating the dislocation density of a group III nitride crystal in a simple and convenient manner using an optical microscope by forming etch pits having a suitable diameter.
適正な径のエッチピットを形成することにより、光学顕微鏡を用いて簡便にＩＩＩ族窒化物結晶の転位密度の評価ができる方法を提案する。 - 特許庁 - To provide a fluorescent illuminating device for microscope which has solid illumination used as illumination light source for fluorescence observation and is excellent in protection of sample, operability and power-saving.
蛍光観察の照明用光源として固体照明を用い、試料の保護、操作性、省電力化に優れた顕微鏡用蛍光照明装置を提供する。 - 特許庁 - The target object is disposed, identified by a laser microscope system, cut by the laser, and automatically stored in a holding unit (a vessel) in the collection apparatus.
レーザ顕微鏡システムによって載置に配置された対象物体を特定してレーザにより切断して、これを収集装置の保持ユニット（容器）内へ自動的に収納する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope capable of arbitrarily setting a dark-field STEM, a bright-field STEM or a capturing angle of an EELS (a diffusion angle on a sample face).
暗視野ＳＴＥＭ，明視野ＳＴＥＭ、或いはＥＥＬＳの取り込み角（試料面上における散乱角）の任意設定を可能とする電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser scanning microscope capable of automatically or nearly automatically adjusting an applied voltage of a photodetector even when scanning conditions are changed.
走査条件が変更されても、光検出器の印加電圧を自動的または略自動的に調整することが可能なレーザ走査顕微鏡を提供することである。 - 特許庁 - In a confocal microscope, a piezoelectric actuator having the high viscous drag of a driving part is used to accelerate the damping of overshoot at the stepwise moving an objective.
共焦点顕微鏡において、駆動部の粘性抵抗を高めたピエゾアクチュエータを使用して、対物レンズをステップ状に動かした時のオーバーシュートの減衰を早める。 - 特許庁 - The present invention can be applied to, for example, a case of processing an image with a massive data amount such as an image obtained by photographing a sample of pathological tissue through a microscope.
本発明は、例えば、顕微鏡を介して、病理組織の標本を撮影した画像等の、膨大なデータ量の画像を処理する場合に適用することができる。 - 特許庁 - The microscope 2 converts light from a light source 7 into slit light by a slit light generator 3 to irradiate it to the workpiece at a prescribed angle obliquely from above.
顕微鏡２は、光源７からの光をスリット光生成装置３によりスリット光に変換し、それをワークに対して所定の角度で斜め上方から照射する。 - 特許庁 - To realize a scanning type microscope which can focus at a sample surface without scanning the entire surface of the sample surface and without being restricted in a measurement point at a high throughput with high accuracy.
試料面の全面を走査せずに且つ測定点を制限されることなく、高いスループットで高精度に焦点合わせできる走査式顕微鏡の実現。 - 特許庁 - To provide a microscope capable of negating a lens effect produced in a culture fluid of a sample, while adequately ensuring a space between a lighting optical system and the sample.
照明光学系と標本との間のスペースを十分に確保しながら、標本の培養液に生じるレンズ効果を解消することが可能な顕微鏡等を提供する。 - 特許庁 - To provide a three-dimensional confocal laser microscope system capable of providing the super-depth image of a sample at a real time by scanning an objective lens at high speed.
対物レンズを高速に走査することによって、リアルタイムで試料の超深度画像を得ることのできる３次元共焦点レーザ顕微鏡システムを実現する。 - 特許庁 - To provide an automatic focus detecting device which does not depend on a sample by using a detection sensitivity value of an optical detector as a focusing evaluation value in an optical microscope.
本発明では、光学顕微鏡において、光検出器の検出感度値を合焦評価値として用いて、サンプルに依存しない自動焦点検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device capable of altering an observation position at high speed in a single or plurality of incubation containers, with a reflux tube or potential measurement patch attached thereto.
環流用チューブや電位測定用パッチを付けた状態で、単一または複数の培養容器において高速に観察位置を変更できる顕微鏡装置の提供。 - 特許庁 - A wafer 6 is rotated, an electron beam is emitted to the rotating wafer 6 from a scanning electron microscope 1, and secondary electrons 9 emitted from the wafer 6 are detected.
ウェハ６を回転させ、回転するウェハ６に対して走査型電子顕微鏡１から電子ビームを照射し、ウェハ６から放出される２次電子９を検出する。 - 特許庁 - To provide a scanning laser microscope which is capable of acquiring images formed by superposing a plurality of fluorescent dye images without mispositioning and without requiring intricate adjustment and control.
複雑な調整や制御を必要とすることなく、複数の蛍光色素画像を位置ずれなく重ねた画像を得ることのできる走査型レーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a technique for selectively dying a hydrophobic region of a horny layer cell and discriminating its hydrophobicity/hydrophilicity under an optical microscope.
光学顕微鏡下において、角層細胞の疎水領域を選択的に染色し、角層細胞の疎水性−親水性を鑑別する技術を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a charge density wave quantum phase microscope and a charge density wave quantum interferometer for actively utilizing macroscopic quantum phase information on a charge density wave.
電荷密度波の巨視的量子位相情報を積極的に活用した電荷密度波量子位相顕微鏡及び電荷密度波量子干渉計を提供する。 - 特許庁 - A DUV objective lens for the DUV microscope (1) can be very satisfactorily corrected by the attained very narrow half value width of the DUV wavelength band.
達成された非常に小さなＤＵＶ波長バンドの半値幅によって、ＤＵＶ顕微鏡（１）のＤＵＶ対物レンズを非常に良好に補正することができる。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope capable of photographing an element distribution image, similarly with a TEM image on a TEM image photographing film.
透過電子顕微鏡において、ＴＥＭ像撮影用フィルム上にＴＥＭ像と同様に元素分布像を撮影する事が可能な透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus capable of improving a resolution by applying a technique using a microlens array, and arbitrarily changing the resolution.
マイクロレンズアレイを用いた技術を適用したうえで、解像力を向上させることができ、且つ解像力を任意に変更させることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - GENERATING METHOD OF NEAR-FIELD LIGHT, MASK FOR NEAR-FIELD EXPOSURE, NEAR-FIELD EXPOSING METHOD AND DEVICE, NEAR FIELD LIGHT HEAD, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND RECORDING/REPLAYING DEVICE
近接場光の発生方法、近接場露光用マスク、近接場露光方法、近接場露光装置、近接場光ヘッド、近接場光学顕微鏡、記録・再生装置 - 特許庁 - The atomic force microscope 100 is also equipped with a vibrator 154 for generating vibration, and a vibration transfer block 152 for transferring generated vibration to the glass plate 116.
原子間力顕微鏡１００はさらに、振動を生成する振動子１５４と、生成された振動をガラス板１１６に伝達する振動伝達ブロック１５２とを備えている。 - 特許庁 - To provide a disk scanning type confocal microscope in which a rotary disk can be replaced with the one suitable for an objective to be used without readjusting an optical system.
光学系の再調整の必要なく、回転ディスクを、使用する対物レンズに適したものに交換可能なディスク走査型の共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a surgical microscope which is improved in operability by linking operations to deal with switching of methods for observing an eye to be operated.
本発明は、被手術眼の観察方法の切り換えに対応して行う操作を連動して行うことにより操作性の向上を図った手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope having a probe not receiving lateral force when scanning a sample surface, capable of high-speed measurement, and allowing reduction of abrasion of the probe.
試料表面を走査するとき探針が横方向の力を受けず、高速測定が可能で、探針の磨耗を低減した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - (1) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope.
(1) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍである異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁 - To provide a magnetic force microscope capable of conducting magnetic force observation at stable high resolution by magnetizing only the tip of a probe without using a dedicated provision.
専用の設備を用いることなく、探針の尖端のみの磁化を行い、安定した高分解能能の磁気力観察を行うことが出来る磁気力顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To provide a microscope with a stand that can compensate (equilibrating, decay compensation) for vibrations not only in the X and Y axes but also in the Z axis, i.e. three-dimensionally.
Ｘ軸及びＹ軸だけでなくＺ軸に関しても、即ち３次元的に振動の補償（平衡化、減衰補正）を実行することが可能な架台を有する顕微鏡。 - 特許庁 - To provide a incident-light microscope easily operated to be focused and also realizing excellent observation free from the loss of light quantity even in dark field observation.
ピント合わせ操作を容易に行なうことができ、しかも、暗視野観察においても光量損失のない良好な観察を行なうことができる落射顕微鏡を提供できる。 - 特許庁 - A conveyance control part 32 causes a TAB tape 10 to be conveyed to a position where a piece determined to be defective at a pattern inspection device 6 is photographed by a microscope 24.
搬送制御部３２は、パターン検査装置６で不良品と判定されたピースを顕微鏡２４で撮影できる位置までＴＡＢテープ１０を搬送する。 - 特許庁 - Driving mechanisms including a motor drive revolver 110, aperture-stop switching device 120, etc., disposed in the microscope 100 are driven by a drive member (a drive motor 121, etc.).
顕微鏡１００内に設けられた電動レボルバ装置１１０、開口絞り開閉装置１２０等の駆動機構は、駆動部（駆動モータ１２１等）によって駆動される。 - 特許庁 - To provide a microscope wherein the excellent field of illumination in both of low magnification observation and high magnification observation is secured without requiring optical axis adjustment.
低倍率観察時及び高倍率観察時の双方における良好な照野を、光軸調整を要することなく確保できる手段の提供を課題とする。 - 特許庁 - To provide a microscope which makes it possible to simply and plainly display the optical information which an operator wants to display without making the operator undergo an excessive operational procedure.
操作者に余分な操作手順をさせることなく、操作者が表示を望む光学情報を、簡易に、かつ分かりやすく表示できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultraviolet microscope which is easily constituted, and is inexpensive, whose power consumption is reduced and where heat generation from a light source can be reduced to a low level.
装置を簡単に構成でき安価で、しかも消費電力を低減できるとともに、光源からの発熱も小さくできる紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a dark field illumination device to be post mounted to a microscope, which is low-cost and has no constitution for dark field illumination.
本発明の目的は、安価でかつ、もともと暗視野照明のための構成をもたない顕微鏡に後付けが可能な暗視野照明装置を提供することにある。 - 特許庁 - The slide 1 has openings of the cell cavities 4 on the surface of the slide 1 to introduce a cell, and a transparent plane on the bottom of the cell cavities 4 for the observation by a microscope.
スライド１は、スライド１の表面側に細胞を入れるセル孔４の開口を有し、セル孔４の底部に顕微鏡によって観察するための透視面を有する。 - 特許庁 - To provide a microscope device for surgery, which allows surer a safer surgery by enabling an operator to easily recognize the progression condition of the surgery during operations.
術者が容易に術中における手術の進行状況を把握し、より確実、安全な手術を行なうことができる手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - Or, the black defect region 3 is physically removed as high as the height of the recess of the original plate with the probe 5 of an inter-atomic force microscope harder than the material of the work piece.
あるいは被加工材質よりも硬い原子間力顕微鏡の探針５を用いて黒欠陥３をスクラッチングで原版の凹部の高さまで物理的に除去する。 - 特許庁 - To inexpensively provide a stage of a microscope which is constituted so that a sample can be accurately moved, which is easily processed, assembled and adjusted and whose handleability is excellent.
精度良く標本を移動することができるとともに、加工、組立及び調整が容易であり、しかも使い勝手の良い顕微鏡のステージを安価に提供する。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope capable of irradiating only the region required to be observed of a sample with illumination light, thereby extending the latitude of a ROI (Region Of Interest) designation.
標本の観察必要領域に限定して照明光を照射することを可能にし、ＲＯＩ指定の自由度が広い焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To suppress distortion generated in a lens barrel main body and in an optical member etc. therein and to suppress an increase in load imposed on a microscope main body.
鏡筒本体とその内部の光学部材等とに発生する歪を抑制することができ、顕微鏡本体に対する荷重の増大を抑制することができること。 - 特許庁 - If protein is collected on surface of the collection medium, which reacts with red detecting liquid to be colored into clear red, therefore it is easily identified under microscope.
捕集媒体表面にタンパク質が捕集されていれば、赤色検出液と反応して、鮮明な赤色に着色するので、顕微鏡下で容易に識別できる。 - 特許庁 - Accordingly, the light for end- face inspection from the light source is totally reflected by the end face of the optical fiber including a core and a clad, and a part of the light comes into the microscope.
したがって、光源からの端面検査光は光ファイバのコア及びクラッドを含む上記端面にて全反射してその一部が光学顕微鏡に入射する。 - 特許庁
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