「microscope」を含む例文一覧(8962)
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ステージ、及び該ステージを備えた顕微鏡 - 特許庁 - METHOD FOR OPERATING LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE
レーザ走査型顕微鏡の操作方法 - 特許庁 - MICROSCOPE AND IMMERSION OBJECTIVE LENS
顕微鏡装置および液浸対物レンズ - 特許庁 - IMAGING OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE DEVICE
結像光学系、及び、顕微鏡装置 - 特許庁 - INTERCHANGEABLE MICROSCOPE STAGE DRIVE ASSEMBLY
交換可能顕微鏡ステージ駆動アセンブリ - 特許庁 - ELECTRON OPTICAL SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE
電子光学システム及び電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE COOLING HOLDER OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の試料冷却ホルダー - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM
電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND COMPUTER READABLE RECORD MEDIUM
電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - SAMPLE PREPARING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, MICRO VESSEL FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION METHOD
電子顕微鏡観察用試料作製方法、電子顕微鏡観察用微小容器及び電子顕微鏡観察方法。 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE FOR VICKERS HARDNESS TEST
ビッカース硬さ試験用光学顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE FOR RESOLUTION EVALUATION OF ELECTRON MICROSCOPE, RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND THE ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の分解能評価用試料及び電子顕微鏡の分解能評価方法並びに電子顕微鏡 - 特許庁 - LASER MODULATION CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM
レーザー変調共焦点顕微鏡システム - 特許庁 - CONTROL PROGRAM OF MICROSCOPE PHOTOGRAPHING APPARATUS
顕微鏡撮影装置の制御プログラム - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND BRAKE MECHANISM
電子顕微鏡装置およびブレーキ機構 - 特許庁 - OPHTHALMIC SURGICAL MICROSCOPE HAVING FOCUS OFFSET
焦点ずれ型眼手術用顕微鏡 - 特許庁 - STANDARD SAMPLE FOR ELECTRIC FORCE MICROSCOPE
電気力顕微鏡用標準試料 - 特許庁 - MICROSCOPE FOR OBSERVING SURFACE OF OPTICAL FIBER
光ファイバ表面観察用顕微鏡 - 特許庁 - STAGE DEVICE TO BE MOUNTED ON MICROSCOPE
顕微鏡に搭載されるステージ装置 - 特許庁 - REMOTE DRIVE TYPE OPTICAL MICROSCOPE DEVICE
遠隔駆動式光学顕微鏡装置 - 特許庁 - VOICE CONTROLLER FOR SURGICAL MICROSCOPE
手術顕微鏡の音声制御装置 - 特許庁 - OPTICAL MEMBER AND MICROSCOPE HAVING SAME
光学部材と、これを有する顕微鏡 - 特許庁 - VERTICAL ILLUMINATION MICROSCOPE AND FLUORESCENCE FILTER SET
落射顕微鏡および蛍光フィルターセット - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPE AND PHOTODETECTOR
走査型レーザ顕微鏡及び受光素子 - 特許庁 - MEASURING MICROSCOPE HAVING FOCUSING DEVICE
焦準装置を有する測定顕微鏡 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING DEVICE AND MICROSCOPE SYSTEM
画像処理装置および顕微鏡システム - 特許庁 - LINEAR SCANNING LASER SCANNING MICROSCOPE
ライン走査式のレーザ走査型顕微鏡 - 特許庁 - CONDENSER LENS DRIVING APPARATUS AND MICROSCOPE
コンデンサレンズ駆動装置および顕微鏡 - 特許庁 - FOCUS MAINTENANCE DEVICE AND MICROSCOPE APPARATUS
焦点維持装置及び顕微鏡装置 - 特許庁 - SCANNING MECHANISM OF SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の走査機構 - 特許庁 - SCANNING MECHANISM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡用走査機構 - 特許庁 - MULTIPROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
マルチプローブ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE PRODUCING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁 - HIGH-BANDWIDTH ATOMIC FORCE MICROSCOPE
高帯域原子間力顕微鏡装置 - 特許庁 - OPERATING METHOD OF LASER SCANNING MICROSCOPE
レーザ走査型顕微鏡の動作方法 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM AND PROGRAM
共焦点顕微鏡システム及びプログラム - 特許庁 - IMAGE FORMING TYPE PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE
結像型光電子放出顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE COATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の試料コーティング方法 - 特許庁 - X-RAY DETECTOR FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用Ｘ線検出器 - 特許庁 - MICROSCOPE FOR OPERATION AND OBSERVATION PRISM
手術用顕微鏡及び観察プリズム - 特許庁 - BEAM SEPARATOR AND REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE
ビームセパレータ及び反射電子顕微鏡 - 特許庁 - BEAM SEPARATOR AND REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE
ビームセパレータおよび反射電子顕微鏡 - 特許庁 - ADAPTER, OBJECTIVE LENS UNIT AND MICROSCOPE
アダプタ、対物レンズユニットおよび顕微鏡 - 特許庁 - ABERRATION CORRECTING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE
収差補正装置及び電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE COOLING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料冷却ホルダ - 特許庁 - SPECKLE REDUCTION APPARATUS AND LASER MICROSCOPE
スペックル低減装置、及びレーザ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING STAGE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡用走査ステージ - 特許庁 - FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
電界放射型走査電子顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE AND MICROSCOPIC SYSTEM
光学顕微鏡および顕微鏡システム - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SIMILAR DEVICE
走査電子顕微鏡および類似装置 - 特許庁
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