「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 24 25 26 27 28 29 30 31 32 .... 179 180 次へ＞- The present invention can be applied to a microscope system having a microscope device, for example.
本発明は、例えば、顕微鏡装置を備えた顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁 - MICROSCOPE, SPECIMEN PREPARATION METHOD FOR MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION CONTROL SYSTEM
顕微鏡および顕微鏡用標本作成方法および試料観測管理システム - 特許庁 - MICROSCOPE APPARATUS, METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGES, AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICES
顕微鏡装置、顕微鏡画像処理方法および半導体素子の検査方法 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE AND AUTOMATIC FOCUS ADJUSTMENT METHOD BY CONFOCAL MICROSCOPE
共焦点顕微鏡および該共焦点顕微鏡による自動焦点調節方法 - 特許庁 - ILLUMINATION DEVICE FOR LIGHT MICROSCOPE AND LIGHT MICROSCOPE WITH ILLUMINATION DEVICE
光学顕微鏡用の照明装置及び該照明装置を有する光学顕微鏡 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE APPARATUS AND OBSERVATION METHOD USING CONFOCAL MICROSCOPE APPARATUS
共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND INTEGRAL SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SEPARATE OPTICAL AND MICROSCOPIC AXES
走査型プローブ顕微鏡及び光顕別軸一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ADJUSTING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の分解能評価方法および電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁 - To provide a method of preparing sample for a scanning probe microscope applicable to SCM (Scanning Capacitance Microscope) measurement and SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscope) measurement.
ＳＣＭ測定及びＳＳＲＭ測定に適用できる走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS FOR MICROSCOPE OBSERVATION AND/OR MICROSCOPE DETECTION IN LINEAR SCANNING TYPE OPTICAL SCANNING MICROSCOPE AND ITS USE
ライン走査式光走査型顕微鏡における顕微鏡観察および／または顕微鏡検出のための装置およびそれの使用 - 特許庁 - A microscope system (100) includes a microscope (30 to 80) for observing an analyte and a computer (20) connected to the microscope.
顕微鏡システム（１００）は、被検体を観察する顕微鏡（３０〜８０）と顕微鏡に接続されるコンピュータ（２０）とを含む。 - 特許庁 - CANTILEVER MODULE FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーモジュール、それを備えた走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡 - 特許庁 - To provide a microscope cover eliminating any necessity of darkening environment around the microscope even if performing a dark-field observation or a fluorescence observation; and to provide a microscope capable of storing the microscope cover, and a microscope cover storage box.
暗視野観察や蛍光観察を行う際にも、顕微鏡周辺の環境を暗くする必要がない顕微鏡カバー、顕微鏡カバーを収容可能な顕微鏡、および顕微鏡カバー収容箱を提供する。 - 特許庁 - SUPPORT DEVICE AND MICROSCOPE HAVING THE SAME
支持装置およびそれを備えた顕微鏡 - 特許庁 - STAND ESPECIALLY SUITED TO SURGICAL MICROSCOPE
手術顕微鏡用に特に適したスタンド - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE AND OPTICAL OBSERVATION METHOD
光学顕微鏡と光学的観察方法 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD BY NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
近接場光顕微鏡および近接場光顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE AND ADJUSTING METHOD
共焦点顕微鏡および調節方法 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SPECTRUM
光学顕微鏡及びスペクトル測定方法 - 特許庁 - ULTRA-HIGH-PRESSURE SCANNING TUNNELING MICROSCOPE DEVICE
超高圧走査型トンネル顕微鏡装置 - 特許庁 - MICROSCOPE FOR INTRAOCULAR OBSERVATION AND FILTER UNIT
眼内観察用顕微鏡およびフィルタユニット - 特許庁 - MICROSCOPE EQUIPPED WITH LIGHT QUANTITY ADJUSTING DEVICE
光量調整装置を備えた顕微鏡 - 特許庁 - NEAR-FIELD PHOTOEXCITED SQUID MICROSCOPE APPARATUS
近接場光励起スクイド顕微鏡装置 - 特許庁 - DEVICE FOR MEASURING MICROSCOPE FIELD LIGHT QUANTITY DISTRIBUTION
顕微鏡視野光量分布測定装置 - 特許庁 - MULTILAYER MINUS FILTER AND FLUORESCENCE MICROSCOPE
多層膜マイナスフィルター及び蛍光顕微鏡 - 特許庁 - NANOTUBE PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡用ナノチューブプローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE AND SPECTRAL MEASUREMENT METHOD
光学顕微鏡、及び分光測定方法 - 特許庁 - SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡試料作製方法 - 特許庁 - SCANNING MICROSCOPE AND ADJUSTMENT METHOD FOR THE SAME
走査型顕微鏡とその調節方法 - 特許庁 - PRODUCTION OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE PROBE
走査トンネル顕微鏡探針の作製方法 - 特許庁 - TEST PIECE OBSERVATION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE
試料観察方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁 - SURGICAL MICROSCOPE HAVING LIGHTING SYSTEM
照明装置を備えた手術用顕微鏡 - 特許庁 - LASER MICROSCOPE AND IMAGE DISPLAY METHOD OF THE SAME
レーザ顕微鏡とその画像表示方法 - 特許庁 - To smoothly switch between observation fields of an electron microscope image and an optical microscope image.
電子顕微鏡画像、光学拡大観察画像の観察視野切り替えをスムーズに行う。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND INSPECTION METHOD
走査型プローブ顕微鏡及び検査方法 - 特許庁 - ILLUMINATOR AND MICROSCOPE USING SAME
照明装置およびそれを用いた顕微鏡 - 特許庁 - INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATION FOR THE SAME
干渉顕微鏡及びその作動方法 - 特許庁 - AUTOMATIC DISTORTION-MEASURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の自動歪み測定方法 - 特許庁 - BAKING MECHANISM FOR SAMPLE CHAMBER OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡試料室用ベーキング機構 - 特許庁 - MICROSCOPE DEVICE AND CONTROL PROGRAM RECORDING MEDIUM
顕微鏡装置、制御プログラム記録媒体 - 特許庁 - DARK FIELD MICROSCOPE AND ADJUSTMENT METHOD THEREFOR
暗視野顕微鏡及びその調整方法 - 特許庁 - ILLUMINATION DEVICE OF MICROSCOPE FOR SURGERY
手術用顕微鏡のための照明装置 - 特許庁 - Beam axes of the confocal microscope and the electronic microscope are set in parallel with each other.
共焦点顕微鏡及び電子顕微鏡のビーム軸は、互いに平行に設定する。 - 特許庁 - INSPECTION APPARATUS FOR OUTER SURFACE OF SOLDER, ETC., AND MICROSCOPE USED THEREFOR AS WELL AS MICROSCOPE HEAD
半田等の外面検査装置及びこれに用いるマイクロスコープ並びにマイクロスコープヘッド - 特許庁 - STEREOSCOPIC MICROSCOPE AND TRANSMISSION LIGHTING DEVICE
実体顕微鏡および透過照明装置 - 特許庁 - ABERRATION CORRECTOR FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡用収差補正器 - 特許庁 - MICROSCOPE WITH ILLUMINATION INSERTION INCIDENCE PART
照明差込入射部を有する顕微鏡 - 特許庁 - FINE ADJUSTING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
微動装置及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE, REGION DETERMINING METHOD, AND PROGRAM
顕微鏡、領域判定方法、及びプログラム - 特許庁
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