「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 25 26 27 28 29 30 31 32 33 .... 179 180 次へ＞- MANUFACTURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND MANUFACTURING APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE
電子顕微鏡用試料の製造方法および電子顕微鏡用試料の製造装置 - 特許庁 - CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE USING SAME
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダおよびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE PREPARATION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
電子顕微鏡観察用の試料作製方法及び電子顕微鏡観察用の試料 - 特許庁 - LIGHT RECEIVING DEVICE OF SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE AND SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE USING THE SAME
走査型レーザ顕微鏡の受光装置及びこれを用いた走査型レーザ顕微鏡 - 特許庁 - METHOD OF LITHOGRAPHY USING SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE FOR IT
走査型トンネル顕微鏡を用いたリソグラフィ方法及びこのための走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁 - METHOD OF PREPARING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND SAMPLE PIECE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡用試料作製方法及び透過電子顕微鏡用試料片 - 特許庁 - CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダ、及びそれを備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF OPTICAL IMAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査形プローブ顕微鏡および走査形プローブ顕微鏡における光学像観察方法 - 特許庁 - ELECTRON BEAM HOLOGRAM, METHOD OF PRODUCING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ACCELERATION VOLTAGE OPTIMIZATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡における加速電圧最適化方法 - 特許庁 - LINEAR MOTOR, MOVABLE STAGE AND ELECTRON MICROSCOPE
リニアモータ，可動ステージおよび電子顕微鏡 - 特許庁 - CONFOCAL TYPE LASER SCANNING FLUORESCENCE MICROSCOPE
共焦点型レーザー走査蛍光顕微鏡 - 特許庁 - FLUORESCENCE MICROSCOPE AND FLUORESCENCE OBSERVATION METHOD
蛍光顕微鏡及び蛍光観察方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE WITH X-RAY SPECTROSCOPE
Ｘ線分光器を備えた電子顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE ILLUMINABLE WITH LIGHT OF SPECIFIC WAVELENGTH
特定の波長で照明できる顕微鏡 - 特許庁 - FOCUSING DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡の焦点合わせ装置 - 特許庁 - PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡用試料の作製方法及び透過電子顕微鏡用試料 - 特許庁 - FOCUSING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡における焦点装置 - 特許庁 - THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE WITH BEAM SPLITTER DEVICE
ビームスプリッタ装置を備える立体顕微鏡 - 特許庁 - MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE
磁気力顕微鏡用の磁界発生装置 - 特許庁 - DEFECT REVIEW METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DEFECT REVIEW APPARATUS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE REVIEW APPARATUS
ＳＥＭ式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びＳＥＭ式欠陥レビュー装置 - 特許庁 - MICROSCOPE PROVIDED WITH OPTICAL ELEMENT SWITCHING DEVICE
光学素子切換装置を備えた顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM, AND METHOD OF OBSERVING OBSERVATION OBJECT
顕微鏡システム、観察体の観察方法 - 特許庁 - PROBE MICROSCOPE AND PHYSICAL PROPERTY MEASURING METHOD
プローブ顕微鏡及び物性測定方法 - 特許庁 - MICROSCOPE AND OPTICAL DEVICE USED THEREFOR
顕微鏡と、これに使用される光学装置 - 特許庁 - IMAGING DEVICE FOR MICROSCOPE AND OBJECTIVE MICROMETER
顕微鏡用撮像装置と、対物ミクロメータ - 特許庁 - PIN HOLE OF CONFOCAL LASER SCANNING MICROSCOPE
共焦点レーザ走査顕微鏡のピンホール - 特許庁 - MICROSCOPE AND ITS OPTICAL ADJUSTMENT METHOD
顕微鏡およびその光学調整方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE SUPPORTING MEMBER
電子顕微鏡観察用試料支持部材 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR MOUNTING ADJUSTED MICROSCOPE STAGE TO MICROSCOPE STAND
顕微鏡ステージを調節済みの状態で顕微鏡スタンドに取り付けるための装置と方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH MAGNETIC MICROPROBE
磁性マイクロプローブを具備した電子顕微鏡 - 特許庁 - METHOD AND PROGRAM FOR MANIPULATING ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の操作方法及びプログラム - 特許庁 - SCANNING TUNNELING MICROSCOPE EMISSION CONVERGING APPARATUS
走査トンネル顕微鏡発光集光装置 - 特許庁 - ILLUMINATOR AND LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE
照明装置およびレーザ走査型顕微鏡 - 特許庁 - SIMPLEX MICROSCOPE, CONTAINER AND SIZING METHOD
単式顕微鏡と入れ物とサイジング方法 - 特許庁 - CONFOCAL LASER SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE
共焦点レーザ走査型光学顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE TRANSFER METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡の試料移動方法。 - 特許庁 - FOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE APPARATUS
焦点調節装置および顕微鏡装置 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROLLING METHOD OF THE SAME
電子顕微鏡およびその制御方法 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE HAVING LIGHT CONTROL MEMBER
光制御部材を有する光学顕微鏡 - 特許庁 - SHIELDED-ERGONOMIC MICROSCOPE STAGE
遮蔽された人間工学的顕微鏡ステージ - 特許庁 - IMAGE RECORDING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡における画像記録方法 - 特許庁 - AUTOFOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE HAVING THE SAME
オートフォーカス装置とこれを有する顕微鏡 - 特許庁 - DIFFERENTIAL INTERFERENCE OBSERVATION METHOD AND MICROSCOPE
微分干渉観察方法及び顕微鏡 - 特許庁 - This microscope 10 is composed of a microscope main body 100 and a controller 200.
顕微鏡１０は顕微鏡本体１００とコントローラ２００とによって構成される。 - 特許庁 - MAGNETIC FIELD APPLYING APPARATUS OF SQUID MICROSCOPE
ＳＱＵＩＤ顕微鏡の磁場印加装置 - 特許庁 - OBJECT OBSERVATION METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡による物体観察方法 - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD
走査型レーザ顕微鏡および観察方法 - 特許庁 - MICROSCOPE SAMPLE AND ITS MANUFACTURING METHOD
顕微鏡標本およびその製造方法 - 特許庁 - MICROSCOPE IMAGING SYSTEM AND OPERATING METHOD THEREOF
顕微鏡撮像システム及び該動作方法 - 特許庁
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