「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 29 30 31 32 33 34 35 36 37 .... 179 180 次へ＞- CONFOCAL MICROSCOPE AND HEIGHT MEASURING INSTRUMENT
共焦点顕微鏡及び高さ測定装置 - 特許庁 - SPECTROSCOPIC DEVICE AND SPECTRAL CONFOCAL MICROSCOPE
分光装置、及び分光共焦点顕微鏡 - 特許庁 - To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.
光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁 - MICROSCOPE APPARATUS, DRIVE CONTROL DEVICE OF SAME, AND PROGRAM
顕微鏡装置、その駆動制御装置、プログラム - 特許庁 - AUTOFOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE USING THE SAME
オートフォーカス装置およびそれを用いた顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE POSITION DETECTION DEVICE OF ACOUSTIC MICROSCOPE
超音波顕微鏡の試料位置検出装置 - 特許庁 - MAGNETISM OBSERVATION MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING MAGNETIC DOMAIN
磁気観察顕微鏡及び磁区観察方法 - 特許庁 - SLIT PLATE AND OPTICAL MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH
スリット板およびこれを備えた光学顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE APPARATUS AND MAGNIFIED IMAGE FORMING METHOD
顕微鏡装置及び拡大画像生成方法 - 特許庁 - A tissue sample is visualized in a microscope.
組織サンプルは、顕微鏡において可視化される。 - 特許庁 - LIGHT SOURCE DEVICE AND MICROSCOPE DEVICE HAVING THE SAME
光源装置とこれを有する顕微鏡装置 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE
磁気力顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁 - The microscope system can be applied to, for example, a microscope system for the production and observation of the MEMS device.
本発明は、例えば、MEMSデバイスの製作および観察をする顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD
透過型電子顕微鏡及び立体観察法 - 特許庁 - MICROSCOPE IMAGING DEVICE AND DIMENSION MEASURING INSTRUMENT
顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置 - 特許庁 - To improve the user's operability of a microscope.
ユーザーの顕微鏡の操作性を向上させる。 - 特許庁 - DEEP ULTRAVIOLET RAY-CORRESPONDING NEARFIELD OPTICAL MICROSCOPE
深紫外線対応近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, AND DIFFRACTION IMAGE OBSERVATION METHOD
電子顕微鏡、および回折像観察方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME
走査プローブ顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁 - FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE
力計測方法及び走査型力顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM, MICROSCOPY AND STORAGE MEDIUM
顕微鏡システム、顕微鏡法、及び記憶媒体 - 特許庁 - OPTICAL ELEMENT, OPTICAL DEVICE AND POLARIZATION MICROSCOPE
光学素子、光学装置、及び偏光顕微鏡 - 特許庁 - COVER FILM FOR MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
顕微鏡用カバーフイルム及びその製造方法 - 特許庁 - IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の画像表示方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR OPERATING THE SAME
走査型プローブ顕微鏡およびその操作法 - 特許庁 - DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE
微分干渉顕微鏡及び欠陥検査装置 - 特許庁 - STAGE AND BIOLOGICAL MICROSCOPE EQUIPPED WITH STAGE
ステージ、および該ステージを備えた生物顕微鏡 - 特許庁 - SHAPE MEASURING APPARATUS AND CONFOCAL MICROSCOPE
形状測定装置及び共焦点顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE STAND ARRAY FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡用の試料台配列 - 特許庁 - To provide an electron microscope evaluation apparatus for properly evaluating the resolution of an electron microscope, and to provide an electron microscope.
本発明は、電子顕微鏡の解像力を適正に評価する電子顕微鏡画像評価装置、及び電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a laser scanning microscope apparatus which facilitates the setting of an observation range, to provide a control method of the laser scanning microscope and to provide a control program for the laser scanning microscope.
観察範囲の設定を容易にする、レーザ走査型顕微鏡装置、その制御方法、及びその制御プログラムを提供する。 - 特許庁 - PROBE AND NEAR FIELD MICROSCOPE USING IT
プローブ及びそれを用いた近接場顕微鏡 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGE
顕微鏡画像の処理装置及び処理方法 - 特許庁 - NEAR-FIELD LIGHT PROBE, OPTICAL DEVICE, PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE TYPE READ/WRITE HEAD DEVICE
近接場光探針、光学装置、プローブ顕微鏡、及びプローブ顕微鏡型記録再生ヘッド装置 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE MICROSCOPE FOR PERFORMING BLOCKAGE DETECTION
閉塞検出を行う荷電粒子顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL INFORMATION ACQUISITION METHOD
顕微鏡および三次元情報取得方法 - 特許庁 - ILLUMINATION DEVICE AND MICROSCOPE DEVICE HAVING THE SAME
照明装置と、これを有する顕微鏡装置 - 特許庁 - This microscope magnifies objects by 100 times.
この顕微鏡は物を１００倍に拡大する。 - Tanaka Corpus - METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME
走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁 - FLUORESCENCE MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING FLUORESCENCE MICROSCOPE, FLUORESCENCE MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM, AND RECORDED EQUIPMENT
蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡の操作方法、蛍光顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁 - PHASE PLATE FOR PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE
位相差電子顕微鏡用位相板及びその製造方法並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPE AND LASER SCANNING METHOD
走査型レーザ顕微鏡及びレーザ走査方法 - 特許庁 - ELECTRODE RING, ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRODE RING, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE
電極リング、電子顕微鏡、電極リングの製造方法及び電子顕微鏡の製造方法 - 特許庁 - The microscope system 200 can also be operated in a field-ion microscope (FIM) mode.
また、顕微鏡システム２００は、電界イオン顕微鏡（ＦＩＭ）モードで作動させることができる。 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND RECORDED APPARATUS
電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND RECORD MEDIUM READABLE WITH COMPUTER
電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像記憶方法、電子顕微鏡の観察像記憶プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.
原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND DYEING METHOD OF SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND D/A CONVERTER
走査形プローブ顕微鏡及びＤ／Ａコンバータ - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
- TANAKA Corpus
- Tanaka Corpusのコンテンツは、特に明示されている場合を除いて、次のライセンスに従います：
Creative Commons Attribution (CC-BY) 2.0 France.
