SAMPLE EXCHANGING DEVICE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 透過電子顕微鏡における試料交換装置 - 特許庁
CANTILEVER PROBE STRUCTURE, AND SCANNING FORCE MICROSCOPE カンチレバープローブ構造及び走査型力顕微鏡 - 特許庁
REVOLVER DEVICE AND MICROSCOPE WITH THE REVOLVER DEVICE レボルバ装置及びレボルバ装置を備えた顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE TABLE DRIVING DEVICE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE 原子間力顕微鏡の試料台駆動装置 - 特許庁
To make a revolver attached to a microscope produced by a small number such as a microscope for study common to a revolver attached to a microscope produced by a large number such as a general microscope. 研究用顕微鏡のように生産台数の少ない顕微鏡に取り付けるためのレボルバと、一般用顕微鏡のように生産台数の多い顕微鏡に取り付けるためのレボルバを共通化する。 - 特許庁
ILLUMINATING MODULE PARTICULARLY FOR SURGICAL MICROSCOPE 特に手術用顕微鏡のための照明モジュール - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD 電子顕微鏡および3次元像構築方法 - 特許庁
REVOLVER APPARATUS AND MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME レボルバ装置及びレボルバ装置を備える顕微鏡 - 特許庁
OBJECTIVE LENS FOR EPIDARK ILLUMINATION, AND MICROSCOPE 落射暗視野照明用対物レンズ及び顕微鏡 - 特許庁
STERILIZED COVER FOR OBJECTIVE LENS OF OPERATION MICROSCOPE 手術用顕微鏡対物レンズ用滅菌カバー - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM BIPRISM DEVICE 電子線バイプリズム装置を備えた電子顕微鏡 - 特許庁
TEMPLATE MATCHING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE テンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡 - 特許庁
STAGE FOR INVERTED MICROSCOPES AND INVERTED MICROSCOPE 倒立顕微鏡用ステージおよび倒立顕微鏡 - 特許庁
ELECTRIC ZOOM UNIT AND ZOOM MICROSCOPE HAVING IT 電動ズームユニットと、これを有するズーム顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE HAVING HIGH-CONTRAST IMAGE IMAGING DEVICE 高コントラスト画像撮像装置を有する顕微鏡 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRONIC SPECTROSCOPE 電子分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
The invention is applicable to the microscope. 本発明は、顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁
MICROSCOPE SLIDE COVER HAVING INTEGRATED CONTAINER 一体化された容器を備えた顕微鏡スライドカバー - 特許庁
OPTICAL-LEVER TYPE OPTICAL SYSTEM FOR INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE 原子間力顕微鏡用光てこ光学系 - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM SHARING MULTI-PURPOSE ZOOM LENS MECHANISM 多目的ズームレンズ機構共通型マイクロスコープシステム - 特許庁
TILT LENS-BARREL FOR MICROSCOPE, AND MICROSCOPIC APPARATUS 顕微鏡用ティルト鏡筒及び顕微鏡装置 - 特許庁
LIGHT-STIMULUS ILLUMINATION APPARATUS AND MICROSCOPE APPARATUS 光刺激用照明装置および顕微鏡装置 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE SYSTEM AND OBSERVATION METHOD 走査型プローブ顕微鏡システム及び観察方法 - 特許庁
FOCUSING DEVICE, MICROSCOPE, AND FOCUSING PROCESSING PROGRAM 合焦装置、顕微鏡および合焦処理プログラム - 特許庁
EYEPIECE AND MICROSCOPE PROVIDED WITH EYEPIECE 接眼レンズおよび接眼レンズを備えた顕微鏡 - 特許庁
90°-CONVERSIBLE SAMPLE TABLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査電子顕微鏡用90°変換試料台 - 特許庁
The microscope body 3 has a sample stage 2. 顕微鏡本体3は試料ステージ2を有する。 - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS AND SPHERICAL ABERRATION CORRECTION METHOD 顕微鏡装置及び球面収差補正方法 - 特許庁
SAMPLE POSITION CORRECTION METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE 電子顕微鏡における試料位置補正方式 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE CAPABLE OF MEASUREMENT IN LIQUID 液中測定可能な走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
ABSORPTION CURRENT IMAGE OBSERVATION APPARATUS IN ELECTRON MICROSCOPE 電子顕微鏡吸収電流像観察装置 - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM, OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION PROGRAM 顕微鏡システム、観察方法および観察プログラム - 特許庁
AUTOFOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE APPARATUS HAVING THE SAME オートフォーカス装置と、これを有する顕微鏡装置 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN MEASURING METHOD 走査型電子顕微鏡及びパターン測定方法 - 特許庁
SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 透過型電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁
TEMPERATURE CONTROLLER FOR MICROSCOPE FOR VIABLE CELL OBSERVATION 生細胞観察用顕微鏡温度制御装置 - 特許庁
PROBE CLEANING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査プローブ型顕微鏡の探針洗浄方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD 走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS USING METHOD 走査型プローブ顕微鏡およびその使用方法 - 特許庁
OPTICAL MICROSCOPE, AND METHOD OF DISPLAYING COLOR IMAGE 光学顕微鏡、及びカラー画像の表示方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡用の装置及び方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING ELECTRON MICROSCOPE 電子顕微鏡の制御装置及び制御方法 - 特許庁