「microscope」を含む例文一覧(8962)
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走査型プローブ顕微鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PHOTOGRAPHING METHOD
走査電子顕微鏡及び試料撮影方法 - 特許庁 - GAS REACTION OBSERVATION SAMPLE FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE
光電子顕微鏡用ガス反応観察試料 - 特許庁 - INTERFEROMETER FOR IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE AND EVALUATION METHOD OF THE IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE
液浸系顕微鏡対物レンズ用干渉計および液浸系顕微鏡対物レンズの評価方法 - 特許庁 - METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料 - 特許庁 - POSITIONING UNIT AND MICROSCOPE INCORPORATING THE SAME
位置決め装置およびこれを備えた顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE POSITION DETECTING DEVICE FOR ULTRASONIC MICROSCOPE
超音波顕微鏡の試料位置検出装置 - 特許庁 - COAXIAL INCIDENT-LIGHT TYPE LIGHTING DEVICE FOR STEREOSCOPIC MICROSCOPE
実体顕微鏡用同軸落射照明装置 - 特許庁 - MICROSCOPE USING PHOTOREFLECTIVE OPTICAL MATERIAL
光反応性光学材料を用いた顕微鏡 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE SYSTEM AND MICROSCOPIC DETECTION METHOD
荷電粒子線顕微装置及び顕微方法 - 特許庁 - The microscope system can be applied to, for example, a microscope system for the production and observation of a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) device.
本発明は、例えば、MEMSデバイスの製作および観察をする顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁 - VIBRATION PREVENTIVE RACK FOR SUSPENDED TYPE SURGICAL MICROSCOPE
天吊式手術用顕微鏡の除震架台 - 特許庁 - APPARATUS FOR MANAGING INSPECTION SAMPLE TEMPERATURE FOR MICROSCOPE OBSERVATION
顕微鏡観察用検体温度管理装置 - 特許庁 - The present device is applicable to a microscope.
本発明は、例えば、顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - DEVICE FOR COUPLING LIGHT RAY INTO MICROSCOPE
顕微鏡内への光線連結のための装置 - 特許庁 - TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
透過型および走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE AND MICROPROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡微細加工装置及び原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁 - FABRICATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁 - LENS HOLDING DEVICE AND OBJECTIVE LENS FOR MICROSCOPE
レンズ保持装置および顕微鏡用対物レンズ - 特許庁 - The surface-measuring instrument integrated scanning probe microscope is equipped with an optical microscope 7, which is the surface- measuring instrument and a probe microscope 8.
表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡は、表面測定器である光学顕微鏡７とプローブ顕微鏡８とを備えている。 - 特許庁 - LASER SCANNING MICROSCOPE AND SCANNER DRIVE UNIT
レーザ走査型顕微鏡およびスキャナ駆動装置 - 特許庁 - PROBE SCANNING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の探針走査方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE FOR PERFORMING AUTOMATIC YOUNG'S FRINGE PHOTOGRAPHING
自動ヤングフリンジ撮影を行う電子顕微鏡 - 特許庁 - CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE
原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁 - ELECTRONIC CAMERA WITH COOLING CONTROL FUNCTION, AND MICROSCOPE
冷却制御機能付き電子カメラ、顕微鏡 - 特許庁 - LIGHTING DEVICE AND MICROSCOPE APPARATUS HAVING THE SAME
照明装置とこれを有する顕微鏡装置 - 特許庁 - PROBE STRUCTURE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
プローブ構造体及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNER-RETAINING APPARATUS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
スキャナ保持装置および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - COVER GLASS FOR TOTAL REFLECTION ILLUMINATING FLUORESCENCE MICROSCOPE
全反射照明蛍光顕微鏡用カバーガラス - 特許庁 - SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡の試料作製方法 - 特許庁 - LENGTH MEASURING METHOD FOR SAMPLE AND SACCNING MICROSCOPE
試料の測長方法、及び走査顕微鏡 - 特許庁 - STAGE POSITION MEASURING DEVICE FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE
走査電子顕微鏡のステージ位置測定装置 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD
走査型プローブ顕微鏡及びその走査方法 - 特許庁 - MICROSCOPE OBJECTIVE LENS AND MAGNIFIED IMAGING DEVICE
顕微鏡対物レンズおよび拡大撮像装置 - 特許庁 - In another embodiment, the scanning microscope (100) is constituted as a confocal microscope.
別の実施形態において、走査型顕微鏡（１００）は、共焦点顕微鏡として構成される。 - 特許庁 - BEAM SHAPING OPTICAL SYSTEM AND SCANNING MICROSCOPE
ビーム整形光学系および走査型顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE WITH PROBE, AND PROBE CONTACT METHOD
プローブ付き顕微鏡及びプローブ接触方法 - 特許庁 - PROBE CONTROL METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法 - 特許庁 - OBSERVATION ANGLE VARIABLE TYPE STAND FOR DIGITAL MICROSCOPE
デジタルマイクロスコープ用観察角度可変型スタンド - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR EVALUATING ASTIGMATISM
電子顕微鏡、及び非点収差評価方法 - 特許庁 - ALIGNMENT MATCHING METHOD OF MICROSCOPE AND MICROSCOPE HAVING ALIGNMENT MATCHING DEVICE OF LIGHT BEAM
顕微鏡のアライメント整合方法および光ビームのアライメント整合装置を備える顕微鏡 - 特許庁 - CATHODE LUMINESCENCE MEASURING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE
カソードルミネッセンス測定装置及び電子顕微鏡 - 特許庁 - LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査形電子顕微鏡による測長方法 - 特許庁 - MAPPING APPARATUS AND METHOD FOR SCANNING MICROSCOPE
走査型顕微鏡のマッピング装置及び方法 - 特許庁 - SCANNING MICROSCOPE AND OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR IMAGE FORMATION IN SCANNING MICROSCOPE METHOD
走査型顕微鏡、走査型顕微鏡法における結像のための光学装置および方法 - 特許庁 - ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE USING SAME
エネルギーフィルタ及びそれを用いた電子顕微鏡 - 特許庁 - FLUORESCENT MICROSCOPE RESOLUTION EVALUATING CHART AND FLUORESCENT MICROSCOPE ADJUSTING METHOD USING THE CHART
蛍光顕微鏡用解像度評価チャート及びこれを用いた蛍光顕微鏡調整方法 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS PICTURE PROCESSING METHOD
コンフォーカル顕微鏡及びその画像処理方法 - 特許庁 - TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST
走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
走査用プローブおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
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