METHOD OF OBSERVING TESTPIECE AND ELECTRON MICROSCOPE 試料観察方法及び電子顕微鏡 - 特許庁
HIGHLY PRECISE MEASUREMENT METHOD OF MICROSCOPE FOCUSING POSITION 顕微鏡合焦位置高精度計測法 - 特許庁
In this case, for example, this invention is applicable to a microscope observation system that is used by separating the microscope head part from a microscope stand part. 本発明は、例えば、顕微鏡ヘッド部を顕微鏡スタンド部から分離して使用可能な顕微鏡観察システムに適用できる。 - 特許庁
To provide a microscope device which can achieve the miniaturization thereof, and which is usable while switching between a confocal microscope and a total reflection microscope. 装置の小型化を図った、共焦点顕微鏡と全反射顕微鏡とを切り換えて使用可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope). STM、AFM、SNOM用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁
PREPARATION FOR MICROSCOPE AND METHOD FOR MAKING THE SAME 顕微鏡プレパラートおよびその作製方法 - 特許庁
CENTERING MECHANISM, CENTERING REVOLVER AND MICROSCOPE 心だし機構、心だしレボルバ及び顕微鏡 - 特許庁
METHOD OF DETECTING SAMPLE TO BE EXAMINED AND MICROSCOPE 被検試料検出方法及び顕微鏡 - 特許庁
TEST SAMPLE EXAMINING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 試料検査方法及び走査型顕微鏡 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATIC FOCUSING OF MICROSCOPE 顕微鏡用オートフォーカス装置および方法 - 特許庁
THIN-LAYER OBLIQUE ILLUMINATION SYSTEM AND MICROSCOPE 薄層斜光照明装置および顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM AND FLARE PREVENTING OPTICAL APPARATUS 顕微鏡システム及びフレア防止光学装置 - 特許庁
FOCAL POINT DETECTION DEVICE AND FLUORESCENT MICROSCOPE 焦点検出装置および蛍光顕微鏡 - 特許庁
PHOTO-ACOUSTIC MICROSCOPE APPARATUS AND IMAGING METHOD 光音響顕微鏡装置及び映像法 - 特許庁
UNIT FITTING FRAME FOR OPERATING MICROSCOPE 手術用顕微鏡等の機器取り付け架台 - 特許庁
The microscope 11 has a microscope body 21, and a stand 22 which can be attached and removed to/from the microscope body 21 and which can change a distance between the microscope body 21 and a stage. 顕微鏡11は、顕微鏡本体21と、顕微鏡本体21の着脱が可能で、顕微鏡本体21とステージの間の距離を変更可能なスタンド22とを備える。 - 特許庁
MICROSCOPE HAVING COARSE AND FINE ADJUSTING DEVICE 調整用粗微動装置を有する顕微鏡 - 特許庁
DEVICE FOR FIXING DISK OF CONFOCAL MICROSCOPE 共焦点用顕微鏡のディスク固定装置 - 特許庁
CONFOCAL SCANNER AND CONFOCAL MICROSCOPE 共焦点スキャナ及び共焦点顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS, CONTROL UNIT THEREOF, AND PROGRAM 顕微鏡装置、その制御装置、及びプログラム - 特許庁
REMOTE CONTROL METHOD AND DEVICE FOR MICROSCOPE 顕微鏡の遠隔操作方法および装置 - 特許庁
OPTICAL SCANNING MECHANISM FOR OPTICAL SCANNING TYPE MICROSCOPE 光走査形顕微鏡の光走査機構 - 特許庁
SLIT DIAPHRAGM DEVICE AND CONFOCAL MICROSCOPE スリット絞り装置および共焦点顕微鏡 - 特許庁
An operating microscope 10 comprises a microscope section 16 that can observe a surgical site and a microscope supporting structure 14 that supports the microscope section 16 to make it move three-dimensionally. 手術用顕微鏡10は、術部を観察可能な顕微鏡部16と、この顕微鏡部16を3次元的に移動可能に支持する顕微鏡部支持機構14とを備えている。 - 特許庁
ILLUMINATION APPARATUS AND MICROSCOPE WITH THE SAME 照明装置、及びそれを備えた顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE WITH PROBE, AND PROBE DRIVING METHOD プローブ付き顕微鏡及びプローブ駆動方法 - 特許庁
MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁
EXTREME-ULTRAVIOLET RAY MICROSCOPE AND TESTING METHOD 極端紫外線顕微鏡及び検査方法 - 特許庁
CONFOCAL PROBE AND CONFOCAL MICROSCOPE 共焦点プローブおよび共焦点顕微鏡 - 特許庁
ZOOM OPTICAL SYSTEM FOR OPTICAL SCANNING MICROSCOPE 光走査型顕微鏡用のズーム光学系 - 特許庁
IMAGE PROCESSING METHOD AND CONFOCAL MICROSCOPE 画像処理方法及び共焦点顕微鏡 - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE AND FILM THICKNESS MEASURING INSTRUMENT コンフォーカル顕微鏡及び膜厚測定装置 - 特許庁
LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE EQUIPPED WITH AOTF AOTFを備えたレ—ザ—走査式顕微鏡 - 特許庁
SCANNING MICROSCOPE WITH TEMPERATURE CORRECTING MECHANISM 温度補正機構を備えた走査型顕微鏡 - 特許庁
IMPROVED ENVIRONMENTAL SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 改良された環境型走査電子顕微鏡 - 特許庁
PHASE FILTER, OPTICAL DEVICE AND RASTER MICROSCOPE 位相フィルタ、光学装置及びラスタ顕微鏡 - 特許庁
To favorably perform vibration resistance of an electron microscope. 電子顕微鏡の除振を良好に行う。 - 特許庁
STEREOSCOPIC MICROSCOPE AND DARK FIELD LIGHTING DEVICE 実体顕微鏡および暗視野照明装置 - 特許庁
LOW COHERENCE INTERFEROMETER AND OPTICAL MICROSCOPE 低コヒーレンス干渉計及び光学顕微鏡 - 特許庁
X-Y TABLE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE XYテーブル及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE INCLUDING MACRO AND MICRO OBJECTIVE マイクロおよびマクロ対物レンズを含む顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS PHOTOGRAPHING METHOD 走査電子顕微鏡及びその撮像方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE WITH CAMERA FOR IMAGE OBSERVATION 像観察用カメラを備える電子顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM FOR OBTAINING A PLURALITY OF IMAGES 複数の画像を得るための顕微鏡システム - 特許庁
RESONATOR AND MICROSCOPE HAVING RESONATOR 共振器及び共振器を有する顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE HOLDER AND STAGE FOR X-RAY MICROSCOPE X線顕微鏡試料ホルダーおよびステージ - 特許庁
LIGHTING SYSTEM AND MICROSCOPE INCLUDING THE SAME 照明装置及びこれを備える顕微鏡 - 特許庁
To provide a compound microscope capable of analyzing shape information acquired by an optical microscope or physical property information acquired by a scanning type probe microscope irrespective of a measurement mode, and to provide a measuring method of the compound microscope. 測定モードに関係なく光学顕微鏡により取得される形状情報又は走査型プローブ顕微鏡により取得される物性情報を解析すること。 - 特許庁
APPARATUS FOR OPERATING MICROSCOPE INSTALLED IN REMOTE PLACE 遠隔地にある顕微鏡を操作する装置 - 特許庁