「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 34 35 36 37 38 39 40 41 42 .... 179 180 次へ＞- The invention can be applied, for instance, to a portable microscope system 11 configured such that the microscope head part 21 can be attached and detached to and from the microscope stand part 22.
本発明は、例えば、顕微鏡ヘッド部２１と顕微鏡スタンド部２２とが着脱可能に構成されたポータブル顕微鏡システム１１に適用できる。 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE CONTROL DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE CONTROL METHOD, CONTROL PROGRAM, RECORDING MEDIUM HAVING CONTROL PROGRAM RECORDED THEREON, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE
電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡制御方法、制御プログラム、制御プログラムを記録した記録媒体、電子顕微鏡システム、および電子線照射装置 - 特許庁 - IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope integrated with shafts by each of optical microscopes formed by combining the existing optical microscope and the scanning probe microscope.
既存の光学顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡とを組み合わせて構成された光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The scanning probe microscope 100 has an atomic force microscope mechanism and a caged compound releasing light introduction mechanism utilizing an inverted microscope.
走査型プローブ顕微鏡１００は、原子間力顕微鏡機構と、倒立型顕微鏡を利用したケージド解除光導入機構とを有している。 - 特許庁 - The operation microscope 1 (stereomicroscope) includes an observation optical system 30 in an operator's microscope 6 and an assistant's optical system in an assistant's microscope 7.
手術用顕微鏡１（実体顕微鏡）は、術者用顕微鏡６内の観察光学系３０と、助手用顕微鏡７内の助手用光学系を有する。 - 特許庁 - The front case 800A and the rear case 800B do not come into contact with the atomic force microscope 10, the optical microscope 20, and the microscope coupling member 40.
フロントケース８００Ａおよびリアケース８００Ｂは、原子間力顕微鏡１０、光学顕微鏡２０および顕微鏡連結部材４０に接触していない。 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE, CONFOCAL MICROSCOPE OPERATION METHOD, CONFOCAL MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM AND RECORDED EQUIPMENT WHICH CAN BE READ BY COMPUTER
共焦点顕微鏡、共焦点顕微鏡操作方法、共焦点顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁 - To provide a microscope lighting device capable of securing wide and bright illuminating light, irrespective of magnification of an objective lens, and to provide a microscope equipped with the microscope lighting device.
対物レンズの倍率によらず、広視野で明るい照明光を確保できる顕微鏡照明装置とこれを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - If this microscope system for surgery, a microscope 1 for surgery and an electric surgical knife 5 used under the microscope 1 for surgery are provided.
この手術用顕微鏡システムにあっては、手術用顕微鏡１とこの手術用顕微鏡１下で使用される電気メス５等を有している。 - 特許庁 - To provide an apparatus for microscope observation and/or microscope detection through a microscope objective lens for a sample which is at least partially transparent.
少なくとも部分的には透明である試料に対し顕微鏡対物レンズを通じて顕微鏡観察および／または顕微鏡検出するための装置 - 特許庁 - OBJECTIVE AND MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH
対物レンズ及びその対物レンズを備える顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL PATH DEVIATION DETECTING DEVICE AND CONFOCAL MICROSCOPE
光路ズレ検知装置、および共焦点顕微鏡 - 特許庁 - PHOTOMETRIC ANALYZER, ITS OPERATION METHOD, AND MICROSCOPE
光分析装置、その運転方法及び顕微鏡 - 特許庁 - METHOD FOR BRINGING CLOSER PROBE OF SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の探針接近方法 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING ITS FORM
光学顕微鏡装置および形態分析方法 - 特許庁 - To provide a monochromator used for an electron microscope.
電子顕微鏡使用のためのモノクロメータに関する。 - 特許庁 - MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD, AND PROGRAM
顕微鏡装置、顕微鏡制御方法、および、プログラム - 特許庁 - ELECTROCONDUCTIVE DOUBLE-SIDED ADHESIVE SHEET FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用導電性両面粘着シート - 特許庁 - SCANNER AND CONFOCAL MICROSCOPE HAVING THE SAME
スキャナ装置およびそれを備えたコンフォーカル顕微鏡 - 特許庁 - AUTOMATIC FOCUS MECHANISM AND MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME
オートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING ACOUSTIC MICROSCOPE WITH PROFILOMETER FUNCTION
プロフィロメータ機能付きの走査型超音波顕微鏡 - 特許庁 - SURFACE-MEASURING INSTRUMENT INTEGRATED SCANNING PROBE MICROSCOPE
表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - MICROTOMY FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法 - 特許庁 - FLUORESCENT CUBE AND FLUORESCENT MICROSCOPE PROVIDED WITH THE SAME
蛍光キューブ及びそれを備えた蛍光顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE PREPARING METHOD AND SAMPLE STRUCTURE FOR MICROSCOPE
顕微鏡用試料作製方法と試料構造 - 特許庁 - MICROSCOPE DEVICE AND MIRROR UNIT USED FOR THE SAME
顕微鏡装置及びそれに用いられるミラーユニット - 特許庁 - OBSERVATION METHOD OF CHEMILUMINESCENT SAMPLE AND MICROSCOPE
化学発光試料の観察方法および顕微鏡 - 特許庁 - SCANNER STRUCTURE FOR SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
走査型近接場光顕微鏡用スキャナ構造 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR ELECTRONIC MICROSCOPE
電子顕微鏡用針状試料の作製方法 - 特許庁 - NONLINEAR OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING SAME
非線形光学顕微鏡及びその調整方法 - 特許庁 - AUTOMATIC MICROSCOPE AND ANALYZING APPARATUS EQUIPPED WITH THE SAME
自動顕微鏡及びこれを備える分析装置 - 特許庁 - The SQUID microscope unit 1 is provided with: a SQUID microscope part 2; and a laser microscope part 3 arranged adjacently thereto, and the laser microscope part 3 controls a distance between the sample 4 to be measured by the SQUID microscope part and a tip of the probe 22 of the SQUID microscope part.
ＳＱＵＩＤ顕微鏡装置１は、ＳＱＵＩＤ顕微鏡部２とこれに隣接して配設したレーザ顕微鏡部３とを備え、ＳＱＵＩＤ顕微鏡部により測定する被測定試料４とＳＱＵＩＤ顕微鏡部のプローブ２２の先端との距離をレーザ顕微鏡部３により制御する。 - 特許庁 - PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME
プローブ顕微鏡及びそれを用いた測定方法 - 特許庁 - The present invention can be applied to a microscope.
本発明は顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁 - SOUND INSULATION BOX AND PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
防音ボックスおよびそれを用いたプローブ顕微鏡 - 特許庁 - FINE PROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁 - THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE SYSTEM AND IMAGE DISPLAY METHOD
三次元顕微鏡システムおよび画像表示方法 - 特許庁 - MICROSCOPE FOR EXAMINATION AND OBJECTIVE LENS FOR THIS PURPOSE
検査用顕微鏡およびそのための対物レンズ - 特許庁 - This invention can be applied to a microscope.
本発明は、顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁 - The present invention can be applied to, for example, the microscope.
本発明は、例えば、顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - To improve versatility of illumination of a microscope.
顕微鏡の照明の汎用性を向上させる。 - 特許庁 - To provide a technology which improves image quality of a confocal microscope.
コンフォーカル顕微鏡の像質を向上させる。 - 特許庁 - OPHTHALMIC SURGERY MICROSCOPE EQUIPPED WITH OCT SYSTEM
ＯＣＴシステムを備える眼科手術用顕微鏡 - 特許庁 - FLUORESCENT FILTER AND MICROSCOPE APPARATUS PROVIDED WITH THE SAME
蛍光フィルタ及びそれを備えた顕微鏡装置 - 特許庁 - SCANNING AC HOLE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD
走査型ＡＣホール顕微鏡とその測定方法 - 特許庁 - MICROSCOPE, AUTOFOCUS DEVICE AND AUTOFOCUS METHOD
顕微鏡とオートフォーカス装置およびオートフォーカス方法 - 特許庁 - LINE-LIKE LIGHT BEAM GENERATOR AND LASER MICROSCOPE
ライン状光ビーム発生装置及びレーザ顕微鏡 - 特許庁 - SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD
走査型プローブ顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁 - SELF-EXCITATION OSCILLATION DRIVE MECHANISM, SENSOR, AND PROBE MICROSCOPE
自励発振駆動機構、センサおよびプローブ顕微鏡 - 特許庁
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