To provide a virtual microscope slide data structure. 仮想顕微鏡スライドデータ構造を提供すること。 - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS, AND FLUORESCENCE CUBE USED FOR THE SAME 顕微鏡装置とこれに用いられる蛍光キューブ - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND FLAW SHAPE CONFIRMING METHOD 電子顕微鏡および欠陥形状確認方法 - 特許庁
SPIM MICROSCOPE WITH SEQUENTIAL LIGHT SHEET 連続的な光シートを用いるSPIM顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS, ITS CONTROL PROGRAM AND CONTROL METHOD 顕微鏡装置、該制御プログラム、及び該制御方法 - 特許庁
GRID AND GRID HOLDER FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 透過型電子顕微鏡用グリッドおよびグリッドホルダー - 特許庁
ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON GENERATION METHOD 電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SEMICONDUCTOR INSPECTING SYSTEM 走査型電子顕微鏡及び半導体検査システム - 特許庁
To produce a simple microscope designed for enhanced visibility outdoors. 屋外でも良く見える単式顕微鏡を作る。 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR OBSERVATING SAMPLE 走査探針顕微鏡および試料観察方法 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING MEASUREMENT PARAMETER OF SCANNING TYPE MICROSCOPE 走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING MEASURING CONDITION BY ELECTRON MICROSCOPE 電子顕微鏡による測定条件決定方法 - 特許庁
To provide a color imaging apparatus for a microscope, a color imaging program for a microscope, and a color imaging method for a microscope by which faithful color reproduction can be achieved regardless of the state of an optical source for lighting of the microscope, the state of optical elements of the microscope or the color imaging apparatus for the microscope or variation with time of a camera. 顕微鏡の照明光源の状態や、顕微鏡や顕微鏡用カラー撮像装置の光学素子の状態、またカメラの経時変化によらず、忠実な色再現を実現できる顕微鏡用カラー撮像装置、顕微鏡用カラー撮像プログラムおよび顕微鏡用カラー撮像方法を提供すること。 - 特許庁
MICROSCOPE OF PROJECTED LIGHT AND TRANSMITTED LIGHT OBSERVING TYPE 投射光および透過光観察型顕微鏡 - 特許庁
FUNCTION FOR REGULATING AUTOMATICALLY IMAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE 電子顕微鏡等の自動画像調整機能 - 特許庁
MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE 原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁
MICROSCOPE AND BRIGHTNESS ADJUSTING METHOD FOR THE SAME 顕微鏡及び顕微鏡の明るさ調整方法 - 特許庁
IMAGE CAPTURE DEVICE AND MICROSCOPE SYSTEM COMPRISING THE SAME 撮像装置およびこれを備える顕微鏡システム - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM, METHOD FOR OBSERVING SPECIMEN, AND PROGRAM 顕微鏡システム、標本観察方法およびプログラム - 特許庁
DEVICE FOR BEAM SHUT-OFF IN LASER SCANNING MICROSCOPE レーザ走査顕微鏡におけるビーム遮断用デバイス - 特許庁
MICROSCOPE WITH INTERMITTENTLY MOVING TYPE ELECTRIC OPTICAL DIAPHRAGM 間欠移動型電動光学絞り付き顕微鏡 - 特許庁
ELECTRIC PROPERTY MEASURING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE 電気物性の測定方法および顕微鏡装置 - 特許庁
DICHROIC MIRROR, FLUORESCENT FILTER SET AND MICROSCOPE SYSTEM ダイクロイックミラー、蛍光フィルタセットおよび顕微鏡装置 - 特許庁
LIGHT SOURCE ADAPTER AND MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH 光源アダプタ及び光源アダプタを備える顕微鏡 - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE AND MICROOPENING ROTARY DISK 共焦点顕微鏡及び微小開口回転盤 - 特許庁
CELL OBSERVATION METHOD AND SCANNING MICROSCOPE DEVICE 細胞観察方法および走査型顕微鏡装置 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME 透過形電子顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁
SPECIMEN OBSERVING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 試料観察方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND CANTILEVER MANAGEMENT METHOD 走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法 - 特許庁
FLARE REDUCTION UNIT AND MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME フレア低減ユニットおよびそれを備えた顕微鏡 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD 透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM, SAMPLE OBSERVATION METHOD AND PROGRAM 顕微鏡システム、標本観察方法およびプログラム - 特許庁
FOCUS ADJUSTMENT UNIT AND OPTICAL SCANNING MICROSCOPE フォーカス調整ユニットおよび光走査型顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 透過型電子顕微鏡用の試料製造方法 - 特許庁
OPTICAL MICROSCOPE SYSTEM AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD 光学顕微鏡システム及び画像データ処理方法 - 特許庁
RETAINER FOR SAMPLE CARRIER IN ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION 電子顕微鏡検査のサンプル担体のための保持器 - 特許庁
PROBE POSITION CONTROL MECHANISM OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE 走査型トンネル顕微鏡の探針位置制御機構 - 特許庁
OBSERVATION IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 観察画像取得方法、走査型電子顕微鏡 - 特許庁
SLIT CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPERATION METHOD スリット共焦点顕微鏡およびその作動方法 - 特許庁
PROBE MICROSCOPE AND DATA RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS プローブ型顕微鏡及び情報記録再生装置 - 特許庁
OPTICAL SYSTEM FOR ILLUMINATION AND MICROSCOPE LIGHTING SYSTEM 照明用光学系及び顕微鏡照明装置 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF THE SAME 走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法 - 特許庁
QUALITY CONTROL METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡による品質管理方法 - 特許庁