LASER SCANNING MICROSCOPE ASSOCIATED WITH FAST DATA PROCESSING 高速データ処理を伴うレーザ走査型顕微鏡 - 特許庁
PROBE REGENERATION METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 探針再生方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
PHOTOACOUSTIC MICROSCOPE APPARATUS AND ITS IMAGING METHOD 光音響顕微鏡装置及びその映像方法 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁
MICROSCOPIC ILLUMINATION ADJUSTING METHOD AND MICROSCOPE 顕微鏡用照明調整方法及び顕微鏡 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁
MONOCHROMATOR AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMATOR モノクロメータ及びそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁
SYNTHESIS METHOD OF MONTAGE IMAGE, AND ELECTRONIC MICROSCOPE モンタージュ画像の合成方法及び電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁
MICROSCOPIC IMAGE PICKUP APPARATUS AND MICROSCOPE SYSTEM 顕微鏡画像撮像装置および顕微鏡システム - 特許庁
BREAKING MECHANISM AND SAMPLE STAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE 制動機構および電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁
OSCILLATING TYPE CANTILEVER HOLDER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 加振型カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
IMAGE PHOTOGRAPHING DEVICE FOR MICROSCOPE AND IMAGE PHOTOGRAPHING METHOD 顕微鏡の画像撮影装置、画像撮影方法 - 特許庁
SPIM MICROSCOPE WITH STED LIGHT SHEET STED光シートを用いるSPIM顕微鏡 - 特許庁
SPECTROSCOPE, AND CONFOCAL MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH 分光器及びこれを備えた共焦点顕微鏡 - 特許庁
LENS DRIVING MECHANISM FOR MICROSCOPE AND STEREOMICROSCOPE 顕微鏡のレンズ駆動機構及び実体顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD 走査型電子顕微鏡装置とその制御方法 - 特許庁
SCANNING LASER MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPE 走査型レーザ顕微法及び走査型レーザ顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 試料像取得方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD OF SETTING DIFFERENT MAGNIFICATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査電子顕微鏡の異種倍率設定方法 - 特許庁
To increase the contrast of a mirror electron microscope. ミラー電子顕微鏡の高コントラスト化を実現する。 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUS POSITION CONTROL METHOD 電子顕微鏡及びその焦点位置制御方法 - 特許庁
PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査電子顕微鏡用の試料の作製方法 - 特許庁
ELECTROMAGNETIC FORCE TYPE MINUTE MATERIAL TESTING MACHINE WITH MICROSCOPE 顕微鏡付電磁力式微小材料試験機 - 特許庁
This invention provides this atom probe device characterized by including: an electric field ion microscope device; an electric field ion microscope image introduction device introducing an electric field ion microscope image imaged by the electric field ion microscope device; and an electric field ion microscope image analyzer analyzing the introduced electric field ion microscope image. 本発明によれば、電界イオン顕微鏡装置と、電界イオン顕微鏡装置により撮像された電界イオン顕微鏡像を取り込む電界イオン顕微鏡像取込装置と、取り込まれた電界イオン顕微鏡像を解析する電界イオン顕微鏡像解析装置と、を有することを特徴とする、アトムプローブ装置が提供される。 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT DETECTOR DEVICE 走査型電子顕微鏡及び欠陥検出装置 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD 走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁
SIGNAL-PROCESSING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 信号処理方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
IMAGE COMPENSATING APPARATUS IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査型電子顕微鏡における画像補償装置 - 特許庁
MICROSCOPIC FOCUS MAINTENANCE DEVICE AND MICROSCOPE DEVICE 顕微鏡のフォーカス維持装置及び顕微鏡装置 - 特許庁
VACUUM DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE CELL 電子顕微鏡試料室の真空度表示装置 - 特許庁
CALIBRATION OF MAGNETIC FORCE OR SCANNING HALL PROBE MICROSCOPE 磁気力または走査ホールプローブ顕微鏡の較正 - 特許庁
METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁
COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE FOR CHEMICAL ANALYSIS 化学分析用複合放出電子顕微鏡装置 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE FOR DIMENSION CALIBRATION 走査電子顕微鏡及び寸法校正用試料 - 特許庁
CHARGE-UP DETECTION METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査型電子顕微鏡のチャージアップ検出方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH ANNULAR ILLUMINATING APERTURE 環状の照明開口を備える電子顕微鏡 - 特許庁
When I first saw living cells in a microscope, I was 初めて生きた細胞を顕微鏡で見たときは - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
A foldscope is a completely functional microscope 折り紙顕微鏡は とても実用的な顕微鏡で - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
It is better than even 300 million n electron microscope. n 3億 相当のn電子顕微鏡にも勝るって。n - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Do you know the difference between a microscope and a telescope?
顕微鏡と望遠鏡の違いがわかりますか。 - Tanaka Corpus
Do you know the difference between a microscope and a telescope? 顕微鏡と望遠鏡の違いがわかりますか。 - Tatoeba例文
VISUAL FIELD DESIGNATING COVER GLASS FOR COUNTING WITH PHASE-CONTRAST MICROSCOPE 位相差顕微鏡計数用視野指定カバーグラス - 特許庁
The electron microscope carries out Fourier synthesis automatically.
電子顕微鏡は、フーリエ合成を自動的に行う。 - 科学技術論文動詞集
To provide a microscope controller for improving user operability of a microscope. 本発明では、ユーザーの顕微鏡の操作性の向上させることが可能な顕微鏡コントローラを提供する。 - 特許庁
METHOD OF MEASURING SURFACE SHAPE OF SOFT MATERIAL BY PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE USED FOR MEASURING METHOD プローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡 - 特許庁
VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法 - 特許庁
The automatic focusing method of a microscope (2) and the focusing device for the microscope (2) are disclosed. 顕微鏡(2)用の自動焦点方法、および顕微鏡(2)用の焦点調整装置が開示されている。 - 特許庁
EXCITATION METHOD OF CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE BY THE METHOD 走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法ならびにその方法による走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
The probe scanning apparatus 1 has an atomic force microscope 10 and an optical microscope 20 integrally. プローブ走査装置1は、原子間力顕微鏡10および光学顕微鏡20を一体的に備える。 - 特許庁