「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 40 41 42 43 44 45 46 47 48 .... 179 180 次へ＞- The present invention can be applied to the multiphoton microscope.
本発明は、例えば、多光子顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - MICROSCOPE HAVING FOCUS LOCKING SECTION AND FOCUS LOCKING DEVICE
フォーカスロック部を備えた顕微鏡、および、フォーカスロック装置 - 特許庁 - ULTRAVIOLET MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME
紫外線顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁 - SLIT LIGHT PARALLEL RECIPROCATING TYPE DEPTH/HEIGHT MEASURING MICROSCOPE
スリット光平行往復型深さ高さ測定顕微鏡 - 特許庁 - VERTICAL ILLUMINATING FLUORESCENT ILLUMINATION DEVICE AND MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH
落射蛍光照明装置、及びこれを備えた顕微鏡 - 特許庁 - This invention is applied to, for example, a microscope system.
本発明は、例えば、顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁 - BARREL ANGLE VARIABLE LENS BARREL AND MICROSCOPE EQUIPPED WITH SAME
鏡筒角可変鏡筒及びこれを備える顕微鏡 - 特許庁 - METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法 - 特許庁 - MICRO-AREA SCANNING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
微小領域走査装置および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE/PROBE REPLACING METHOD
走査型プローブ顕微鏡および試料・プローブ交換方法 - 特許庁 - A digital holographic microscope or a scan confocal laser microscope is used as the altitude distribution data generating unit.
高度分布データ生成部として、デジタルホログラフィック顕微鏡または走査型共焦点レーザ顕微鏡を用いる。 - 特許庁 - MICROSCOPE DEVICE, OBSERVATION METHOD AND SAMPLE LOADING MECHANISM
顕微鏡装置、観察方法および試料搭載機構 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法 - 特許庁 - CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE
帯電電位測定方法、及び荷電粒子顕微鏡 - 特許庁 - CELL CULTURE TOOL AND MICROSCOPE DEVICE HAVING THE SAME
細胞培養器具及びこれを備えた顕微鏡装置 - 特許庁 - FIBER ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR
ファイバ照明型顕微鏡システム及びその制御方法 - 特許庁 - OPHTHALMIC OPERATION MICROSCOPE WITH SUBJECT LIGHTING
被検対象照明を伴う眼科用手術顕微鏡 - 特許庁 - PROBE TIP EVALUATION METHOD FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD
電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁 - CANTILEVER WITH HIGH PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡用背高探針付き片持ちレバー - 特許庁 - SAMPLE BASE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVING METHOD
走査型プローブ顕微鏡の試料台及び観察方法 - 特許庁 - To provide a device and method for mounting an adjusted microscope stage to a microscope stand.
顕微鏡ステージを調節済みの状態で顕微鏡スタンドに取り付けるための装置と方法を提供する。 - 特許庁 - SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD
散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁 - MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND OPTICAL DISTORTION CORRECTION METHOD
顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR CONTROLLING POSITION OF MICROSCOPE LENS
顕微鏡レンズの位置を制御する方法及びシステム - 特許庁 - This invention is applicable to the microscope system for instance.
本発明は、例えば、顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE
走査型静電容量顕微鏡による測定方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH SAMPLE- CHANGING DEVICE
試料交換装置を備えた走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - ILLUMINATOR AND INFRARED MICROSCOPE HAVING ILLUMINATOR
照明装置及び照明装置を備えた赤外顕微鏡 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁 - NANOTUBE CUTTING METHOD AND PROBE FOR SCANNING TYPE MICROSCOPE
ナノチューブ切断方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGING METHOD USING ELECTRON BEAM
電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 - 特許庁 - FLUORESCENCE MICROSCOPE AND TURRET DEVICE FOR THE SAME
蛍光顕微鏡および蛍光顕微鏡用ターレット装置 - 特許庁 - HIGH RESOLUTION/CHEMICAL BOND ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE APPARATUS
高分解能・化学結合電子・２次イオン顕微鏡装置 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS FOR MICROSCOPE, FLUORESCENT DETECTION SYSTEM EQUIPPED WITH THE SAME, AND MULTIPHOTON EXCITATION LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE
顕微鏡用対物レンズおよびそれを備えた蛍光検出システムと多光子励起レーザー走査型顕微鏡 - 特許庁 - SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS, PROBER MEMBER, AND MICROSCOPE HAVING THE SAME
対物レンズと、プローバ部材と、これらを具備する顕微鏡 - 特許庁 - To provide an infrared microscope and an infrared microscope system for efficiently using infrared light flux.
赤外光線束をより効率よく利用することができる赤外顕微鏡、及び赤外顕微システムを提供する。 - 特許庁 - PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE BY FOCUSED ION BEAM PROCESSING
集束イオンビーム加工による走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁 - PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE
近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - OPERATION MICROSCOPE EQUIPPED WITH OCT SYSTEM AND ILLUMINATION MODULE FOR OPERATION MICROSCOPE EQUIPPED WITH OCT SYSTEM
ＯＣＴシステムを備える手術用顕微鏡、およびＯＣＴシステムを備える手術用顕微鏡照明モジュール - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR CREATING VIRTUAL MICROSCOPE SLIDE
バーチャル顕微鏡スライドを作成する方法および装置 - 特許庁 - SCANNING MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, ITS SAMPLE MOUNT, MAGNETISM OBSERVATION METHOD USING THE SCANNING TYPE MAGNETIC FORCE MICROSCOPE
走査型磁気力顕微鏡およびそのサンプル台、ならびに走査型磁気力顕微鏡を用いた磁気観察方法 - 特許庁 - SUCTION TYPE LOCAL MICROPLASMA ETCHING APPARATUS WITH MICROSCOPE
顕微鏡付吸引型局所マイクロプラズマエッチング装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTURBANCE CORRECTING DEVICE
外部擾乱補正装置を有した走査電子顕微鏡 - 特許庁 - ASTIGMATISM CORRECTION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE
電子顕微鏡の非点収差補正方法とその装置 - 特許庁 - SURGICAL MICROSCOPE FOR OBSERVING INFRARED FLUORESCENCE, MICROSCOPIC EXAMINATION METHOD, AND USE OF SURGICAL MICROSCOPE CORRESPONDING METHOD
赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡、顕微鏡検査方法、および手術用顕微鏡の使用 - 特許庁 - ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE
電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
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