「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 42 43 44 45 46 47 48 49 50 .... 179 180 次へ＞- SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査機構およびそれを用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY
光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁 - MICROSCOPE HAVING AT LEAST ONE LIGHT BEAM SEPARATOR
少なくとも一つの光線分離器を有する顕微鏡 - 特許庁 - IMAGING METHOD OF OPTICAL MICROSCOPE AND ASTRONOMICAL TELESCOPE
光学顕微鏡および天体望遠鏡の結像方法 - 特許庁 - POLARIZATION CONTROL ELEMENT, ITS MANUFACTURING METHOD AND MICROSCOPE
偏光制御素子とその製造方法、並びに、顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE DEVICE, APPEARANCE INSPECTION DEVICE, SEMICONDUCTOR APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE ILLUMINATION METHOD IN MICROSCOPE DEVICE
顕微鏡装置、外観検査装置、半導体外観検査装置及び顕微鏡装置における試料照明方法 - 特許庁 - The microscope (1) is installed on the stand (2).
顕微鏡（１）は顕微鏡架台（２）に設置されている。 - 特許庁 - MATERIAL SUPPLY PROBE DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
物質供給プローブ装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE HAVING OPTICAL FIBER WHICH DISPERSES SHORT PULSE LASER
短パルスレ—ザ—を分散する光ファイバ—を有する顕微鏡 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING DIELECTRIC RESONATOR
誘電体共振器を利用した近接場顕微鏡 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁 - INSPECTION METHOD OF ORGANIC EL ELEMENT BY EMISSION MICROSCOPE METHOD
エミッション・マイクロスコープ法による有機ＥＬ素子の検査法 - 特許庁 - To provide a microscope that prevents a microscope body and a specimen or specimen placing table from interfering with each other.
顕微鏡本体と、試料または試料載台が干渉することを防止する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - THERMAL LENS MICROSCOPE ULTRATRACEANALYSIS METHOD AND ITS DEVICE
熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置 - 特許庁 - SPIN POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPE, AND REGENERATOR
スピン偏極走査型トンネル顕微鏡及び再生装置 - 特許庁 - TWO-DIMENSIONAL ELECTRON DETECTOR AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE
二次元電子検出器及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - DIAGNOSTIC DEVICE OF RECIPE USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡に用いられるレシピの診断装置 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope capable of generating a sample image in a transmission type microscope with a different contrast.
透過式での試料画像の生成が、異なるコントラスト付けで可能な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR CLEANING THE SAME
走査プローブ顕微鏡及びそのプローブの洗浄方法 - 特許庁 - VISUAL FIELD MOVEMENT CORRECTING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査形電子顕微鏡等の視野移動補正装置 - 特許庁 - LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD
レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法 - 特許庁 - CANTILEVER WITH FORCE AZIMUTH SENSOR FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡用力方位センサ付カンチレバー - 特許庁 - MICROSCOPE OBJECTIVE LENS UNIT AND ADAPTER FOR OBJECTIVE LENS
顕微鏡対物レンズユニットおよび対物レンズ用アダプタ - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR FOCUS CONTROL OF MICROSCOPE WITH DIGITAL IMAGING, IN PARTICULAR CONFOCAL MICROSCOPE
デジタル画像式顕微鏡、それも特に共焦点顕微鏡に使用するフォーカス制御のための装置および方法 - 特許庁 - ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
電子線照射装置及び走査電子顕微鏡装置 - 特許庁 - MANUFACTURE OF NIOBIUM PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
走査トンネル顕微鏡のニオブ製探針の製作方法 - 特許庁 - LASER SCAN MICROSCOPE AND REFERENCE CORRECTION METHOD THEREFOR
レーザー走査型顕微鏡およびその参照補正方法 - 特許庁 - LIGHT SOURCE, WAVELENGTH CONVERSION APPARATUS, AND FLUORESCENCE MICROSCOPE APPARATUS
光源、波長変換装置および蛍光顕微鏡装置 - 特許庁 - To improve total throughput of a scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡のトータルスループットを向上させる。 - 特許庁 - AUTOMATIC POSITIONING SCANNING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡用自動位置決め走査プローブ - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPE AND IMAGE ACQUIRING METHOD FOR THE SAME
走査型レーザー顕微鏡及びその画像取得方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS FOCUS DETECTION METHOD
走査型電子顕微鏡及びその焦点検出方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND EVALUATION METHOD OF ITS PROBE
走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法 - 特許庁 - DETECTOR SYSTEM FOR USE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡で用いられる検出器システム - 特許庁 - To provide a means (a vibration attenuator for microscope) of effectively lowering the natural oscillation of the microscope.
顕微鏡の固有振動を効果的に低減する手段（顕微鏡のための振動減衰装置）を提供する。 - 特許庁 - IMAGING DEVICE FOR MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD
顕微鏡用撮像装置および顕微鏡観察方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD
走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR FORMING VIRTUAL MICROSCOPE SLIDE
仮想顕微鏡スライドを形成する方法及びその装置 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD OF SAMPLE SIZE USING ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法 - 特許庁 - SLIT WIDTH ADJUSTMENT APPARATUS AND MICROSCOPE LASER BEAM MACHINING APPARATUS
スリット幅調整装置及び顕微鏡レーザ加工装置 - 特許庁 - AUTOMATIC FOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE PROVIDED WITH SAME
自動焦点合わせ装置およびそれを備えた顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁 - TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH X- RAY SPECTROSCOPE
Ｘ線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - To prevent resolution degradation of a scanning electron microscope.
走査電子顕微鏡(SEM)の分解能劣化を防止する。 - 特許庁 - SMALL DETECTOR ARRAY FOR INFRARED IMAGING MICROSCOPE
赤外線イメージングマイクロスコープのための小さな検出器アレイ - 特許庁 - FOCUSING DEVICE, DISPLACEMENT SENSOR AND COFOCUSING MICROSCOPE
合焦装置及び変位センサ並びに共焦点顕微鏡 - 特許庁 - COOLING SYSTEM FOR CANTILEVER, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
カンチレバーの冷却システムおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - MICROWAVE WAVEGUIDE PROBE OF MICROWAVE ATOMIC FORCE MICROSCOPE
マイクロ波原子間力顕微鏡のマイクロ波導波プローブ - 特許庁
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