「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 45 46 47 48 49 50 51 52 53 .... 179 180 次へ＞- GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, AND SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE
ガス電界電離イオン源、及び走査荷電粒子顕微鏡 - 特許庁 - GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, AND DEVICE
ガス電界電離イオン源，荷電粒子顕微鏡、及び装置 - 特許庁 - EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD
外部磁場掃引磁気力顕微鏡および計測方法 - 特許庁 - MICROMOTION MECHANISM AND MICROSCOPE DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME
微動機構及びその微動機構を備えた顕微鏡装置 - 特許庁 - THREE-DIMENSIONAL TRANSMISSION MICROSCOPE SYSTEM AND IMAGE DISPLAY METHOD
三次元透過型顕微鏡システムおよび画像表示方法 - 特許庁 - SAMPLE STAGE AND MICROSCOPE OR MEASURING INSTRUMENT USING THE SAME
試料ステージ及びそれを用いた顕微鏡又は測定器 - 特許庁 - Consequently, the tablet terminal 11 artificially serves as a microscope.
その結果、タブレット端末１１が擬似的な顕微鏡となる。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT
走査型プローブ顕微鏡及び該顕微鏡による測定方法 - 特許庁 - SETTING METHOD FOR PRESSURE FORCE OF PROBE IN PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の探針押付け力設定方法 - 特許庁 - This can be applied in a confocal microscope.
本発明は、共焦点顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁 - LATTICE ILLUMINATION MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME
格子照明顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁 - The simple microscope is provided with a condenser composed of one lens.
単式顕微鏡に一個のレンズからなるコンデンサを設けた。 - 特許庁 - CROSS-SLIDE STAGE, AND MICROSCOPE SYSTEM HAVING CROSS-SLIDE STAGE
クロススライドステージ及びクロススライドステージを有する顕微鏡システム - 特許庁 - CANTILEVER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND PREPARATION METHOD THEREOF
走査型プロ—ブ顕微鏡用カンチレバ—およびその作製方法 - 特許庁 - WEAK LIGHT OBSERVATION MICROSCOPE AND WEAK LIGHT OBTAINING METHOD
微弱光観察顕微鏡及び微弱光取得方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - The present invention is applicable to a scanning microscope.
本発明は、走査型顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS FOR LIVING BODIES FOR FIBER CONFOCAL MICROSCOPE
ファイバ共焦点顕微鏡における生体用対物レンズ - 特許庁 - SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
走査機構およびこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - DETECTING DEVICE FOR OPTICAL DEVICE AND CONFOCAL MICROSCOPE
光学装置用検出装置および共焦点顕微鏡 - 特許庁 - FEEDING DEVICE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
送り装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - DETECTION METHOD OF IMAGE INTEGRATION TIMES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡の画像積算回数検出方法 - 特許庁 - IMAGE PROCESSOR, PHASE DIFFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD
画像処理装置、位相差顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INFORMATION MEASURING METHOD
走査型プローブ顕微鏡及び表面情報測定方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT
走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE MOUNT IN POROUS BODY
多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法 - 特許庁 - COVER GLASS, SLIDE GLASS, PREPARATION, OBSERVING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE
カバーガラス、スライドガラス、プレパラート、観察方法、及び顕微鏡装置 - 特許庁 - ILLUMINATION OPTICAL DEVICE, MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGE MEASUREMENT DEVICE
照明光学装置、顕微鏡装置、及び画像測定装置 - 特許庁 - MICROSCOPE HAVING OCULAR PROTECTION MEANS ELECTRONICALLY CONTROLLED
電子的に制御可能な眼保護手段を有する顕微鏡 - 特許庁 - SPECIMEN OBSERVATION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE FOR USE IN THE SAME
試料像観察方法とそれに用いる電子顕微鏡 - 特許庁 - POSITIONING DEVICE FOR OPTICAL MEMBER AND MICROSCOPE HAVING THE SAME
光学部材の位置決め装置と、これを有する顕微鏡 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND CANTILEVER USED THEREFOR
近接場光学顕微鏡及びそれに用いられるカンチレバー - 特許庁 - SLIT SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF OBTAINING IMAGE
スリット走査共焦点顕微鏡、及び画像取得方法 - 特許庁 - SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置 - 特許庁 - MICROSCOPE WITH POSITION DISCRIMINATION DEVICE OF CONVERTER FOR OPTICAL ELEMENT
光学素子用変換器のポジション識別装置付き顕微鏡 - 特許庁 - PROBE MICROSCOPE SYSTEM SUITED FOR LONG BODY SPECIMEN OBSERVATION
長尺体の試料観察に適したプローブ顕微鏡システム - 特許庁 - DEVICE FOR EXCHANGING OBJECTIVE LENS FOR MICROSCOPE AND FOCUSING
顕微鏡対物レンズの交換およびフォ—カシングのための装置 - 特許庁 - METHOD FOR OBSERVING SOLID PARTICLE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡による固体微粒子の観察方法 - 特許庁 - VERTICAL SECTION MACHINING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡を用いた垂直断面加工方法 - 特許庁 - MICROSCOPE DEVICE, AND CONTROL METHOD AND PROGRAM THEREFOR
顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、及びプログラム - 特許庁 - To provide an automated microscope (10) equipped with a stand (1).
スタンド（１）を有する自動化顕微鏡（１０）を提供する。 - 特許庁 - TWO-PHOTON LASER MICROSCOPE WITH AUTOMATIC OPTICAL-AXIS ADJUSTING FUNCTION
光軸自動調整機能搭載２光子レーザ顕微鏡 - 特許庁 - IMAGE DISPLAY METHOD, PROGRAM, AND SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE
画像表示方法、プログラム、及び走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁 - ILLUMINATOR AND ZOOM MICROSCOPE WITH THIS ILLUMINATOR
照明装置及びこの照明装置を備えたズーム顕微鏡 - 特許庁 - SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法 - 特許庁 - To provide a method for using a virtual microscope slide.
仮想顕微鏡スライドを使用する方法を提供すること。 - 特許庁 - APPROACH CONTROL METHOD AND APPARATUS OF INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE
散乱型近接場顕微鏡用プローブの製造方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR PROCESSING OF MICROSCOPE IMAGE
顕微鏡画像処理方法及び顕微鏡画像処理装置 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁
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