「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 47 48 49 50 51 52 53 54 55 .... 179 180 次へ＞- To provide a scanning electron microscope which does not require warming up.
ウォーミングアップが不要な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - MICROSCOPE APPARATUS, OBSERVATION METHOD, AND OBSERVED IMAGE PROCESSING METHOD
顕微鏡装置、観察方法、及び観察画像処理方法 - 特許庁 - ILLUMINATION DEVICE, ILLUMINATION METHOD, AND SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE
照明装置、照明方法、及び走査型光学顕微鏡 - 特許庁 - This invention can be applied to a scanning type microscope.
本発明は、走査型顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁 - HERMETICALLY SEALED OBSERVATION ENVIRONMENT FORMING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用の密閉式観測環境形成装置 - 特許庁 - MICROSCOPE OBJECTIVE AND FLUORESCENT OBSERVATION APPARATUS THEREWITH
顕微鏡対物レンズ及びそれを用いた蛍光観察装置 - 特許庁 - POSITIONING APPARATUS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
位置決め装置及びこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - To obtain a transmission type grating illumination microscope of simple constitution.
簡単な構成の透過型格子照明顕微鏡を得る。 - 特許庁 - INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH TIME CONSTANT MEASUREMENT FUNCTION MOUNTED
時定数測定機能を搭載した走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM, METHOD FOR RECORDING MICROSCOPIC IMAGE, AND PROGRAM
顕微鏡システム、顕微鏡画像の記録方法、及びプログラム - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYZING METHOD USING IT
電子顕微鏡及びこれを用いた試料の解析方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING AND USING VIRTUAL MICROSCOPE SLIDE
仮想顕微鏡スライドを形成し、かつ使用するための方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE FOR THE SAME
走査プローブ顕微鏡用プローブおよび走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MICROSCOPE OF SCANNING TYPE
プローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - CONFOCAL LASER SCANNING MICROSCOPE AND CONTROL PROGRAM
共焦点レーザ走査型顕微鏡装置および制御プログラム - 特許庁 - IMAGE ACQUISITION CONTROLLER AND MICROSCOPE SYSTEM HAVING THE SAME
画像取得制御装置とこれを有する顕微鏡装置 - 特許庁 - DISTORTION MEASURING METHOD AND LUMINANCE CORRECTION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の歪み測定方法及び輝度補正方法 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS, MICROSCOPE SYSTEM, AND WHITE BALANCE ADJUSTMENT METHOD
撮像装置、顕微鏡システム、及びホワイトバランス調整方法 - 特許庁 - IN SITU OBSERVATION SYSTEM IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE
複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システム - 特許庁 - AUTOMATIC FOCUSING METHOD IN SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡における自動焦点合わせ方法 - 特許庁 - AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE
透過電子顕微鏡の軸調整方法およびその装置 - 特許庁 - ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE AND SLIT TRAVELLING MECHANISM
エネルギーフィルタおよび電子顕微鏡ならびにスリット移動機構 - 特許庁 - METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - MICRO RUGGEDNESS VALUE MEASUREMENT DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
微細凹凸量測定装置及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - ANISOTROPIC FRICTION DATA ACQUISITION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法 - 特許庁 - ELECTRON BEAM IRRADIATION EQUIPMENT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS
電子線照射装置および走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁 - FOCUSING DEVICE AND DISPLACEMENT SENSOR, AND CONFOCAL MICROSCOPE
合焦装置及び変位センサ、並びに共焦点顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE
走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS AND SCANNING MICROSCOPE HAVING OBJECTIVE LENS
対物レンズおよび対物レンズを備えた走査型顕微鏡 - 特許庁 - ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME
走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法 - 特許庁 - OPERATIONAL AMPLIFIER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME
演算増幅器及びそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁 - CANTILEVER HOLDER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH
カンチレバーホルダーおよびこれを備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁 - OBSERVATION CONDITIONS SUPPORT DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査形電子顕微鏡における観察条件支援装置 - 特許庁 - AUTOMATIC STAGE TRACKING DEVICE FOR MICROSCOPE WITH IMAGE PROCESSING FUNCTION
画像処理機能付き顕微鏡用ステージ自動トラッキング装置 - 特許庁 - PROBE SCANNING CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD AND PROGRAM
走査型レーザ顕微鏡、及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH DETECTION PART IN OBJECTIVE LENS
対物レンズ内検出器を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁 - IMAGING OPTICAL SYSTEM, MICROSCOPE DEVICE AND STEREOMICROSCOPE DEVICE
結像光学系、顕微鏡装置及び実体顕微鏡装置 - 特許庁 - LASER SCANNING MICROSCOPE, CONTROL METHOD AND PROGRAM THEREOF
レーザ走査顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER ARRAY
走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法 - 特許庁 - SELF DISPLACEMENT SENSING CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
自己変位検出型カンチレバーおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - PRODUCING METHOD OF SILVER NANO-STRUCTURE BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
走査トンネル顕微鏡による銀ナノ構造の作製方法 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS FOR POLARIZATION OBSERVATION AND MICROSCOPE HAVING THE SAME
偏光観察用対物レンズとそれを備える顕微鏡 - 特許庁 - PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - 特許庁 - PHOTOELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME
光電子顕微鏡及び該顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁
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