「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 50 51 52 53 54 55 56 57 58 .... 179 180 次へ＞- SAMPLE INFORMATION MEASURING METHOD AND SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE
試料情報測定方法および走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁 - OBJECTIVE OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE WITH THE SAME
対物光学系およびその対物光学系を備えた顕微鏡 - 特許庁 - WIEN FILTER USED IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE
走査型電子顕微鏡等において使用するためのウィーンフィルタ - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR PRODUCING MAGNIFIED IMAGES OF MICROSCOPE SLIDE
顕微鏡スライドの拡大イメージを作成するシステム及び方法 - 特許庁 - LASER SCANNING MICROSCOPE AND SENSITIVITY SETTING METHOD FOR PHOTODETECTOR
レーザ走査顕微鏡および光検出器の感度設定方法 - 特許庁 - WEIGHT BALANCING SWITCH STRUCTURE OF STAND APPARATUS FOR OPERATION MICROSCOPE
手術顕微鏡用スタンド装置の重量均衡スイッチ構造 - 特許庁 - REVOLVER ROTATIONAL POSITION DETECTING DEVICE AND MICROSCOPE USING THE SAME
レボルバ回転位置検出装置およびそれを用いた顕微鏡 - 特許庁 - CONDENSER LENS COVER AND SHIELD COVER FOR MICROSCOPE ILLUMINATION LIGHT
コンデンサレンズ用カバーおよび顕微鏡照明光用遮蔽カバー - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPE, AND DETECTION WAVELENGTH RANGE SETTING METHOD
走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法 - 特許庁 - BEAM SPLITTER DEVICE AND LASER SCANNING MICROSCOPE USING THE SAME
ビームスプリッター装置ならびにそれを使用したレーザー走査顕微鏡 - 特許庁 - The microscope (2) includes a support (4) with a stay (6) thereon.
顕微鏡（２）は、上に支柱（６）を有する支持部（４）を含む。 - 特許庁 - ELECTRON EMITTING CATHODE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON BEAM EXPOSING MACHINE
電子放射陰極、電子顕微鏡および電子ビーム露光機 - 特許庁 - ELECTRON BEAM DEVICE AND GAS REACTION SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ - 特許庁 - ELECTRONIC CAMERA, MICROSCOPE, AND IMAGING APPARATUS WITH COOLING CONTROL FUNCTION
電子カメラ、顕微鏡、及び冷却制御機能付き撮像装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND ITS FOCUSING METHOD
走査型電子顕微鏡装置およびその焦点あわせ方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THREE-DIMENSIONAL SHAPE ANALYSIS FUNCTION
三次元形状解析機能を有する走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - LOW VACUUM OF SECONDARY ELECTRON DETECTING APPARATUS SUCH AS SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ETC
走査電子顕微鏡等の低真空二次電子検出装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT
走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁 - MICROSCOPE HAVING SURGICAL SLIT LAMP HAVING LASER LIGHT SOURCE
レーザ光源を有する手術用スリットランプを有する顕微鏡 - 特許庁 - CONFOCAL UNIT, CONFOCAL MICROSCOPE, AND CONFOCAL DIAPHRAGM
共焦点ユニット、共焦点顕微鏡、および共焦点絞り - 特許庁 - To obtain a scanning probe microscope that is capable of accurate observation.
高精度観察可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The present invention is applied to a confocal microscope.
本発明は、共焦点顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁 - OPTICAL DEVICE TO BE DETACHABLY ATTACHED TO MICROSCOPE
顕微鏡に取外し可能に取り付けるための光学的な装置 - 特許庁 - To provide a microscope device having improved autofocus accuracy.
オートフォーカスの精度を向上させた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - POSITIONING DEVICE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
位置決め装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE FINE WORKING DEVICE
原子間力顕微鏡微細加工装置を用いた加工方法 - 特許庁 - SURFACE PROPERTY MEASURING PROBE AND MICROSCOPE USING IT
表面性状測定用探針およびこれを用いた顕微鏡 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus which easily searches an image.
画像の探索を容易に行える顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - light microscope consisting of a single convex lens that is used to produce an enlarged image
拡大像を作るのに単純な凸レンズが用いられる - 日本語WordNet - microscope consisting of an optical instrument that magnifies the image of an object
物体の像を拡大する光学装置からなる顕微鏡 - 日本語WordNet - a small platform on a microscope where the specimen is mounted for examination
試料を観察するために載せる顕微鏡の小さな台 - 日本語WordNet - ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH GRAPHICAL USER INTERFACE AND ITS NOISE ELIMINATION METHOD
ＧＵＩを備えた電子顕微鏡及びそのノイズ除去方法 - 特許庁 - Additionally, the confocal microscope using the spectroscope is adopted.
また、この分光器をそなえた共焦点顕微鏡を採用した。 - 特許庁 - SPIN DETECTING SHAFT ROTATING TYPE SPIN POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
スピン検出軸回転型スピン偏極走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD OF FIB-PROCESSED SAMPLE BY ELECTRON MICROSCOPE
ＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND INSPECTION METHOD USING THE SAME
透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法 - 特許庁 - REAL-TIME PROCESSING SYSTEM FOR PLURAL-DETECTOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
複数検出器電子顕微鏡装置のリアルタイム処理方式 - 特許庁 - APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁 - IMAGE PROCESSOR, DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD
画像処理装置、微分干渉顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁 - The invention can be applied to an objective lens for a microscope.
本発明は、例えば、顕微鏡の対物レンズに適用できる。 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD OF THE SAME
走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁 - ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPTICAL AXIS CHECKING METHOD
走査型共焦点顕微鏡およびその光軸チェック方法 - 特許庁 - PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁 - IMMERSION OBJECTIVE, FLUORESCENCE ANALYZING DEVICE, AND INVERTED TYPE MICROSCOPE
液浸対物レンズ、蛍光分析装置および倒立型顕微鏡。 - 特許庁 - FOCAL POSITION DETECTOR AND FLUORESCENCE MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH
焦点位置検出装置およびそれを備えた蛍光顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE OBJECTIVE LENS AND ITS MANUFACTURING METHOD THEREFOR
顕微鏡対物レンズ及び顕微鏡対物レンズの製造方法 - 特許庁 - DRIVE APPARATUS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS USING THE SAME
駆動装置及びこれを用いた走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁 - To provide a microscope with satisfactory visibility and operability.
視認性および操作性が良好な顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN LIQUID USING SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法 - 特許庁
