「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 53 54 55 56 57 58 59 60 61 .... 179 180 次へ＞- To provide a microscope device having an upright microscope and an inverted microscope, which allows the same horizontal-direction part of a specimen to be easily and securely observed from above and below.
本発明は、正立顕微鏡と倒立顕微鏡とを備えた顕微鏡装置に関し、試料の水平方向の同一位置を上方および下方から容易，確実に観察することを目的とする。 - 特許庁 - The base 1 for the microscope is roughly bisected to a rack 2 on a floor side and a microscope placing part 13 on the microscope A side, and the placing part 13 is horizontally moved with respect to the rack 2.
この顕微鏡台１は、床側の架台２と顕微鏡Ａ側の顕微鏡載置部１３とに大きく二分され、架台２に対し顕微鏡載置部１３を水平に移動させることができる。 - 特許庁 - A scanning probe microscope apparatus 1 comprises a scanning electron microscope 2 having a sample base 3 on which a sample A is set and a scanning probe microscope 4 mounted on the sample base 3.
走査型プローブ顕微鏡装置１は、試料Ａがセットされる試料台３を有する走査型電子顕微鏡２と、前記試料台３に装着される走査型プローブ顕微鏡４とを具備する。 - 特許庁 - To provide a microscopic system wherein the operability of a pointing device loaded to a microscope controller is enhanced in the case of operating the electric stage of the microscope through the microscope controller.
顕微鏡の電動ステージを顕微鏡制御装置を介して操作する際に、該顕微鏡制御装置に備えられたポインティングデバイスの操作性の向上を図った顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - To provide an electron beam hologram, a method of producing a transmission electron microscope image and an electron transmission microscope, capable of preventing the positional misalignment of the transmission electron microscope image from the electron beam hologram.
電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To provide a semi-hermetically sealed observation environment for an electron microscope, which is applicable for electron microscope observation of a general test piece or a living cell and an electron microscope observation of high resolution.
一般の試料または生体細胞の電子顕微鏡観察に適用でき、高解像度の電子顕微鏡の観測に適用できる電子顕微鏡用の半密閉式観測環境を提供する。 - 特許庁 - To provide a magnification calibrating method of deriving calibration regarding the entire magnification area by easily calibrating the magnification of a microscope, such as a variable magnification stereoscopic microscope, to arbitrary magnification and the microscope.
倍率可変のステレオ顕微鏡等の顕微鏡の倍率の較正を任意の倍率に対し容易に実行し、倍率全域に関する較正を導出する倍率較正方法及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The present invention is applicable to a shield cover for a microscope.
本発明は、例えば、顕微鏡用の遮蔽カバーに適用できる。 - 特許庁 - AUTOCOLLIMATOR PROVIDED WITH MICROSCOPE, AND INSTRUMENT FOR MEASURING SHAPE USING THE SAME
顕微鏡を備えたオートコリメータ、これを用いた形状測定装置 - 特許庁 - IRIS DEVICE TO BE USED FOR ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING IRIS DEVICE
電子顕微鏡に用いる絞り装置及びその製造方法 - 特許庁 - To provide a compact and high-performance microscope.
小型で高性能な顕微鏡を提供することができるようにする。 - 特許庁 - SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING CHANGE IN MOLECULAR STRUCTURE
走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 - 特許庁 - The focus of the microscope 5 is adjusted by the position controller mechanism 6.
位置調整機構６で顕微鏡５の焦点合わせを行う。 - 特許庁 - The microscope 70 has an illumination optical system and an observation optical system.
顕微鏡７０は照明光学系と観察光学系を有する。 - 特許庁 - CONDENSER LENS USED FOR IMMERSION SYSTEM TRANSMISSION ILLUMINATOR FOR MICROSCOPE
顕微鏡用液浸系透過照明装置に用いられるコンデンサーレンズ - 特許庁 - FOCUS DETECTOR AND MICROSCOPE PROVIDED WITH FOCAL DETECTION FUNCTION
焦点検出装置、および、焦点検出機能を備えた顕微鏡 - 特許庁 - PROBE, MANUFACTURE OF THE PROBE, AND MICROSCOPE USING THE SAME
プローブおよびプローブ製造方法およびこのプローブを用いた顕微鏡 - 特許庁 - To provide a microscope which has aperture diameter according to magnification.
倍率に応じた開口径が得られる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - WIDE-FIELD SUPER-RESOLUTION OPTICAL MICROSCOPE USING SPATIAL LIGHT MODULATOR
空間光変調器を用いた広視野超解像光学顕微鏡 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR CROSS-SECTIONAL OBSERVATION BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法 - 特許庁 - METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE
電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM, AND PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
光学式変位検出機構及びそれを用いたプローブ顕微鏡 - 特許庁 - HEIGHT MEASURING METHOD, CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND PROGRAM
高さ測定方法、共焦点走査型光学顕微鏡、及びプログラム - 特許庁 - CONFOCAL SCANNER UNIT AND CONFOCAL MICROSCOPE USING SAME
共焦点スキャナユニットおよびこれを使用した共焦点顕微鏡 - 特許庁 - LUMINOUS FLUX CONTROLLER, INTERFERENCE DEVICE AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE
光束制御装置、干渉装置及び微分干渉顕微鏡装置 - 特許庁 - MOUNT FOR SURGICAL MICROSCOPE IN PARTICULAR WITH FORCE ACCUMULATION ELEMENT
力蓄積要素を備える、とりわけ手術用顕微鏡用架台 - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS AND ULTRASONIC MICROSCOPE
超音波トランスデューサ、超音波診断装置及び超音波顕微鏡 - 特許庁 - CORPUSCULAR RAY MICROSCOPE AND COMPONENT SHIFT STRUCTURE FOR VACUUM ANALYTICAL INSTRUMENT
粒子線顕微鏡、及び真空分析装置用部材移動機構 - 特許庁 - SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SAMPLE INFORMATION
走査型共焦点顕微鏡および試料情報測定方法 - 特許庁 - SPECIMEN PREPARATION METHOD FOR MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION CONTROL SYSTEM
顕微鏡用標本作成方法および試料観測管理システム - 特許庁 - SPECIMEN OBSERVATION METHOD, OPTICAL MICROSCOPE, AND FLUORESCENT CORRELATION ANALYZER
試料観測方法、光学顕微鏡及び蛍光相関分析装置 - 特許庁 - To provide a confocal microscope having good detection sensitivity.
検出感度の良いコンフォーカル顕微鏡を提供できるようにする。 - 特許庁 - The present invention is applicable to a scanning type multiphoton microscope, for example.
本発明は、例えば、走査型多光子顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - PRELIMINARY EXHAUST METHOD AND PRELIMINARY EXHAUST ROOM IN ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE
分析電子顕微鏡における予備排気方法及び予備排気室 - 特許庁 - PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD, AND SCANNING TRANSMISSION CHARGED PARTICLE MICROSCOPE
パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡 - 特許庁 - LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE
低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁 - The present invention can be used in an illuminator for a microscope.
本発明は、例えば、顕微鏡用照明装置に適用できる。 - 特許庁 - CULTURE CONTAINER, AND MICROSCOPE FOR OBSERVING SAMPLES IN THE CONTAINER
培養容器、及び培養容器内の試料を観察する顕微鏡 - 特許庁 - REGION-EXTRACTING DEVICE, MICROSCOPE SYSTEM AND REGION-EXTRACTING PROGRAM
領域抽出装置、顕微鏡システムおよび領域抽出プログラム - 特許庁 - PHOTOELECTRIC SENSOR, PATTERN-INSPECTING DEVICE, MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK
光電センサ、パターン検査装置、顕微鏡およびマスクの製造方法 - 特許庁 - SCANNING FORCE MICROSCOPE AND MOVEMENT CONTROL METHOD FOR PROBE TIP THEREOF
走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁 - MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁 - DISTANCE CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
距離制御方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNER, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
走査装置及びこの走査装置を用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - To provide a SPIM microscope with a STED light sheet.
ＳＴＥＤ光シートを用いるＳＰＩＭ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD USING IT
荷電粒子顕微鏡装置及びそれを用いた画像処理方法 - 特許庁 - SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND INFORMATION- REPRODUCING APPARATUS USING THE SAME
走査型プローブ顕微鏡およびこれを用いた情報再生装置 - 特許庁 - HOLDER MECHANISM FOR ARRANGING MICROSCOPE, AND MOUSE INPUT DEVICE
顕微鏡設置用ホルダ機構及びそれに用いるマウス入力装置 - 特許庁 - CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM
共焦点走査型光学顕微鏡、高さ測定方法、及びプログラム - 特許庁 - LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD THEREOF
レーザ走査型顕微鏡及びその表面形状の測定方法 - 特許庁
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