「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 54 55 56 57 58 59 60 61 62 .... 179 180 次へ＞- SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR
原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁 - To provide an infrared imaging microscope.
赤外線イメージングマイクロスコープ（赤外線画像化顕微鏡）を提供する。 - 特許庁 - FREQUENCY DETECTING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING IT
周波数検出装置およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE
走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁 - MAGNETIC FIELD GENERATING DEVICE AND MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE USING THE SAME
磁場発生装置およびこれを用いた磁気共鳴力顕微鏡 - 特許庁 - DEVICE FOR OBSERVING LIVING BODY AND MEDICAL MICROSCOPE USING THE SAME
生体観察装置及びその装置を用いた医療用顕微鏡 - 特許庁 - METHOD FOR ADJUSTING LIGHTNESS OF IMAGE IN IMAGING TYPE MICROSCOPE DEVICE
撮像型顕微鏡装置における画像の明度の調整方法 - 特許庁 - To provide a Kerr effect microscope capable of specifying a magnetization direction.
磁化の方向を特定可能なカー効果顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - FIELD-EMISSION ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS
電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING PROBE MADE OF IRIDIUM FOR OBSERVATION OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法 - 特許庁 - ELECTRIC FIELD ION RADIATING APPARATUS, ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE AND MACHINING APPARATUS
電界イオン放射装置と、電界イオン顕微鏡および加工装置 - 特許庁 - ARRAY FOR IRRADIATION BY USING SEVERAL WAVELENGTHS INSIDE MICROSCOPE
顕微鏡内で数個の波長を用いて照射するための配列 - 特許庁 - SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE WITH EXTERNAL AC MAGNETIC FIELD CANCELLATION MECHANISM
外部交流磁場キャンセル機構を有した走査形電子顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON BEAM ENERGY SPECTRUM DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME
電子線エネルギー分光装置及びそれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁 - UNWANTED SUBSTANCE REMOVING METHOD FOR NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE
ナノチューブ不要物質除去方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁 - This invention can be used in, for example, the illuminator for the microscope.
本発明は、例えば、顕微鏡用照明装置に適用できる。 - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC DIAGNOSTIC SYSTEM AND ULTRASONIC MICROSCOPE
超音波トランスデューサ、超音波診断装置及び超音波顕微鏡 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
近接場光プローブおよび走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - DEVICE FOR PUTTING ON GRID ULTRA-THINLY SLICED PIECE OF SPECIMEN FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッドに載せる用具。 - 特許庁 - A microscope 56 is also equipped to observe condition of progress.
顕微鏡５６も進行状況を観察されるために装備される。 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法 - 特許庁 - To eliminate distortions of the images obtained by a scanning optical microscope.
走査型光学顕微鏡により得られる画像の歪みを無くす。 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROBLE FOR IT
近接場光顕微鏡および近接場光顕微鏡用探針 - 特許庁 - MICROSCOPE PROVIDED WITH DEVICE FOR REMOVING CONDENSABLE GAS BY AIR BLAST
凝縮性ガスを送風により除く装置を具備したマイクロスコープ - 特許庁 - To improve visibility, operability, and work efficiency of an inverted microscope.
倒立顕微鏡の視認性、操作性、作業性の向上を図る。 - 特許庁 - SUPER-RESOLUTION MICROSCOPE AND SPATIAL MODULATION OPTICAL ELEMENT USED THEREIN
超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子 - 特許庁 - a modified microscope used to study capillary vessels
毛細血管を研究するために使用される修正済の顕微鏡 - 日本語WordNet - a very thin slice (of tissue or mineral or other substance) for examination under a microscope
検鏡用の（組織や鉱物や他の物質の）非常に薄い片 - 日本語WordNet - METHOD FOR MEASURING MEASUREMENT TARGET PATTERN USING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
電子顕微鏡装置を用いた計測対象パターンの計測方法 - 特許庁 - SYSTEM FOR OPTIMIZING PULSE FORM IN LASER-SCANNING MICROSCOPE
レーザ走査顕微鏡におけるパルス形態の最適化のためのシステム - 特許庁 - MAPPING TYPE OBSERVATION METHOD AND MAPPING TYPE CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE
写像型観察方法及び写像型荷電粒子線顕微鏡 - 特許庁 - PROBE USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそのプローブの作製方法 - 特許庁 - OPTICAL DETECTING CIRCUIT AND LASER MICROSCOPE WITH THE SAME
光検出回路および該光検出回路を備えたレーザ顕微鏡 - 特許庁 - IMAGE VIBRATION PROOF-IMAGING APPARATUS FOR IMAGING SYSTEM OF SURGICAL MICROSCOPE
手術顕微鏡の撮像システムのための画像防振撮像装置 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD
走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダ、および試料の測定方法 - 特許庁 - To provide an electron microscope with an improved observation property and operability.
電子顕微鏡における観察性及び操作性を向上させる。 - 特許庁 - SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC-CONSTANT MICROSCOPE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL POLARIZATION
三次元分極計測用の走査型非線形誘電率顕微鏡 - 特許庁 - PHASE PLATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE
位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION
走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法 - 特許庁 - To enhance the image quality of an image photographed by scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡の撮像画像の画質を向上させる。 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR OBSERVING IMAGE THEREOF
透過形電子顕微鏡及び透過電子顕微鏡像観察方法 - 特許庁 - DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME
変位検出機構およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - IMAGING OPTICAL SYSTEM AND CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE USING THE SAME
結像光学系、及びそれを用いた共焦点走査型顕微鏡 - 特許庁 - IMAGE ADJUSTING METHOD AND DEVICE OF A PLURALITY OF SIGNALS IN ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡における複数信号の画像調整法と装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION AND OPERATION OF OBJECT FOR MICROSCOPE
顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法 - 特許庁 - SCAN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE OBTAINING METHOD USING THE SAME
走査電子顕微鏡装置及びそれを用いた画像取得方法 - 特許庁 - SLIT-LAMP MICROSCOPE AND OPHTHALMIC LASER TREATMENT APPARATUS WITH THE SAME
細隙灯顕微鏡及びこれを備える眼科用レーザ治療装置 - 特許庁 - SURFACE ANALYSIS METHOD OF INSULATION MATERIAL WITH ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法 - 特許庁 - AUTO-FOCUS DEVICE, METHOD FOR CONTROLLING THE SAME, PROGRAM, AND MICROSCOPE
オートフォーカス装置及びその制御方法、プログラム、並びに顕微鏡 - 特許庁 - MAGNETIC MATERIAL SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁
