「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 58 59 60 61 62 63 64 65 66 .... 179 180 次へ＞- IMAGE PROCESSING DEVICE, MICROSCOPE DEVICE, INSPECTION DEVICE, AND IMAGE PROCESSING PROGRAM
画像処理装置、顕微鏡装置、検査装置および画像処理プログラム - 特許庁 - ELECTRIC STAGE MONITORING SYSTEM FOR MICROSCOPE, ITS MONITORING DEVICE AND ITS MONITORING METHOD
顕微鏡用電動ステージ監視システム、該監視装置、及び該監視方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE SHAPE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME
走査プローブ顕微鏡及びそれを用いた表面形状計測方法 - 特許庁 - OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
光プローブとその製造方法および走査型近接場光顕微鏡 - 特許庁 - POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM
陽電子分析顕微鏡および陽電子ビームを用いた測定方法 - 特許庁 - CANTILEVER, CANTILEVER SYSTEM, PROBE MICROSCOPE AND ADSORPTION MASS SENSOR
カンチレバー、カンチレバーシステム及びプローブ顕微鏡並びに吸着質量センサ - 特許庁 - SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE
電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法 - 特許庁 - MICROSCOPE AND SYSTEM OBTAINED BY ELECTRICALLY COUPLING PLURAL MICROSCOPES
顕微鏡並びにこの顕微鏡複数個を電気的に結合したシステム - 特許庁 - ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD
電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法 - 特許庁 - PHOTOACTIVATION LOCALIZATION MICROSCOPE AND PHOTOACTIVATION LOCALIZATION OBSERVATION METHOD
光活性化限局顕微鏡及び光活性化限局観察方法 - 特許庁 - PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE AND TESTER HAVING PROBE
プローブ及びその製造方法並びにプローブを有する顕微鏡及びテスタ - 特許庁 - To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system.
透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。 - 特許庁 - APPARATUS DIFFERENCE CONTROL SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS METHOD
走査電子顕微鏡装置における機差管理システムおよびその方法 - 特許庁 - To recognize to which port of a microscope a camera has been mounted.
カメラが顕微鏡のいずれのポートにマウントされたかを認識すること。 - 特許庁 - An assistant microscope 7 to which an objective optical system 15, a zoom optical system 16 and an eyepiece optical system 18 are independently provided with respect to the microscope main body 2, are mounted onto a taking-in port 3 of the microscope main body 2.
顕微鏡本体２の取入口３に、顕微鏡本体２とは別の対物光学系１５、ズーム光学系１６、接眼光学系１８を独立して有するアシスタント顕微鏡７が、取付けられている。 - 特許庁 - To provide an electron microscope capable of specifying constituents of a sample.
試料の構成物質を特定可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a focal point detector for a microscope, which is excellent in noise resistance.
耐ノイズ性に優れた顕微鏡の焦点検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope in which a scanning operation can be performed at high speed.
高速走査が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING THE SAME
走査型容量顕微鏡およびこの顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁 - To provide new cantilever feed mechanism and cantilever mounting method for scanning probe microscope.
新規なカンチレバー供給機構及びカンチレバー取り付け方法を得る。 - 特許庁 - light microscope that has two converging lens systems: the objective and the eyepiece
2つの収束レンズシステムを持つ軽い顕微鏡：対物レンズと接眼レンズ - 日本語WordNet - the electrode that is the source of electrons in a cathode-ray tube or electron microscope
ブラウン管または電子顕微鏡における電子源である電極 - 日本語WordNet - electron microscope used to observe the surface structure of a solid
固体の表層構造を観察するために使用される電子顕微鏡 - 日本語WordNet - The present invention is applicable to an analyzer device for a phase difference microscope.
本発明は、例えば、位相差顕微鏡のアナライザ装置に適用できる。 - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM, OBSERVATION IMAGE CORRECTION PROGRAM, AND OBSERVATION IMAGE CORRECTION METHOD
顕微鏡システム、観察画像補正プログラム、及び観察画像補正方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE
走査型静電容量顕微鏡による測定方法および測定装置 - 特許庁 - OPTICAL SCANNING MICROSCOPE OF DOTWISE LIGHT SOURCE DISTRIBUTION TYPE, AND USE THEREOF
点状光源分布式の光走査型顕微鏡およびそれの使用 - 特許庁 - SLIT WIDTH ADJUSTING APPARATUS AND MICROSCOPE LASER REPAIR APPARATUS FURNISHED WITH THE SAME
スリット幅調整装置およびこれを備えた顕微鏡レーザリペア装置 - 特許庁 - NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME
非接触型原子間力顕微鏡およびそれを用いた観察方法 - 特許庁 - MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE REDUCING GEOMETRICAL ABERRATIONS AND SPACE-CHARGE EFFECTS
幾何収差と空間電荷効果を低減した写像型電子顕微鏡 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope preventing damage to a tube scanner.
チューブスキャナーの破損を防止した走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an observation system of an electronic microscope with which the highly reliable measured result can be provided by operating an electronic microscope such as scanning electronic microscope away from the installation place of it.
走査電子顕微鏡等の電子顕微鏡の設置場所から離れた場所から電子顕微鏡の操作が行え、信頼性の高い測定結果を得ることができる電子顕微鏡の観察システムを実現する。 - 特許庁 - LASER BEAM EMITTER AND MICROSCOPE EQUIPMENT WITH LASER BEAM EMITTER
レーザ光照射装置およびレーザ光照射装置付顕微鏡装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置 - 特許庁 - OPTICAL ADDRESS SPATIAL LIGHT MODULATOR AND MICROSCOPE SYSTEM USING THE SAME
光アドレス型空間光変調器及びそれを用いた顕微鏡装置 - 特許庁 - PROBE FOR ELECTROCONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE AND PROCESSING METHOD USING THIS PROBE
導電性走査型顕微鏡用プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁 - The present invention is applicable to a microscope using the ring lighting device.
本発明は、リング照明装置を使用する顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - FOCUS DETECTOR, FOCUSING DEVICE AND MICROSCOPE HAVING THE SAME
焦点検出装置、焦点合わせ装置、およびそれを備えた顕微鏡 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE
透過型電子顕微鏡用半導体試料およびその製造方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME
走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS EXCHANGE AND MICROSCOPE HAVING OBJECTIVE LENS EXCHANGER
対物レンズ交換装置および対物レンズ交換装置を有する顕微鏡 - 特許庁 - This acceleration recording device utilizes STM (scanning tunnel microscope).
ＳＴＭ（走査型トンネル顕微鏡）を利用した加速度記録装置である。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND LOCAL THIN FILM ADHESION EVALUATION METHOD
走査型プローブ顕微鏡及び局所薄膜密着性評価方法 - 特許庁 - The three-dimensional transmission microscope system 1 consisting of a combination of a transmission microscope 2 and an image processor 13 for image processing the image signals of the images obtained by the transmission microscope and for displaying the images is used.
透過型顕微鏡２と、該透過型顕微鏡で得られた画像の画素信号を画像処理して表示する画像処理装置１３との組み合わせからなる三次元透過型顕微鏡システム１を使用する。 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS FOR MICROSCOPE, AND PIXEL DEFECT DETECTING METHOD OF IMAGING APPARATUS
顕微鏡用撮像装置及び撮像素子の画素欠陥検出方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE INSPECTION METHOD
荷電粒子線装置、走査電子顕微鏡、および試料検査方法 - 特許庁 - ACCURATE AXIS ADJUSTMENT METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE
透過電子顕微鏡の高精度な軸調整方法及びその装置 - 特許庁 - To avoid illumination undesirable to a specimen in a scanning microscope.
走査顕微鏡において、試料の望ましくない照明を回避する。 - 特許庁 - ELECTRIC MANIPULATOR FOR POSITIONING SPECIMEN ON TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡の試料を位置決めするための電動マニピュレーター - 特許庁 - SAMPLE HOLDER, ELEMENT ANALYZER, ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD
試料ホルダ、元素分析装置、電子顕微鏡、及び、元素分析方法 - 特許庁
