「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 62 63 64 65 66 67 68 69 70 .... 179 180 次へ＞- To realize a scanning probe microscope having excellent operability with mounting holder.
ホルダ装着の操作性が良い走査形プローブ顕微鏡を提供する事。 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLING APPARATUS
透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS FOR OBSERVATION DEVICE, MICROSCOPE AND ADJUSTING METHOD OF OBJECTIVE LENS
観察装置用対物レンズ、顕微鏡ならびに対物レンズの調節方法 - 特許庁 - To provide a system microscope which has superior visibility and operability during observation.
観察時の視認性と操作性に優れたシステム顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND MICROSCOPE FOR HIGH SPATIAL RESOLUTION EXAMINATION OF SAMPLE
試料を高い空間分解能で検査するための方法および顕微鏡 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE THROUGH ELECTRONIC MICROSCOPE, AND DEVICE FOR THE SAME
半導体装置の電子顕微鏡による観察方法およびその装置 - 特許庁 - ELECTRIC REVOLVER CONTROLLER, CONTROL PROGRAM, CONTROL PROGRAM RECORDING MEDIUM AND MICROSCOPE
電動レボルバ制御装置、制御プログラム、制御プログラム記録媒体、顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE CONVEYING MECHANISM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THE SAME
試料搬送機構、及び試料搬送機構を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁 - To save the space to provide a filter cassette of a vertically illuminating fluorescent microscope.
本発明は落射蛍光顕微鏡のフィルタカセットを省スペースで提供する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PREPARING MINUTE OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
電子顕微鏡装置内における微小物作成方法及びその装置 - 特許庁 - ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD
元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法 - 特許庁 - MULTIPLE POINTS SIMULTANEOUS MEASURING METHOD FOR SAMPLE AND MULTIPLE POINTS SIMULTANEOUS MEASURING MICROSCOPE
試料の多点同時計測方法、及び多点同時計測用顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS PROBE FOR DETECTING ELECTROMAGNETIC FIELD WITH ULTRAHIGH SENSITIVITY
超高感度電磁場検出用走査型プローブ顕微鏡とその探針 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD FOR SAMPLE BY USE OF SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE
走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法及びその装置 - 特許庁 - SAMPLE-MANUFACTURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND CONVERGENT ION BEAM DEVICE
透過型電子顕微鏡の試料作製方法および集束イオンビーム装置 - 特許庁 - To provide a lens optical system achieving the miniaturization of a pen type microscope or the like.
ペン型顕微鏡等の小型化を図れるレンズ光学系を提供する。 - 特許庁 - MULTIPLE CHARGED PARTICLE DETECTOR, AND SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡 - 特許庁 - ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法 - 特許庁 - ELECTRON LENS ADJUSTMENT STANDARD FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF PRODUCING THE SAME
光電子顕微鏡の電子レンズ調整標準及びその製造方法 - 特許庁 - Then the power of the laser light source of the 2nd microscope 21B is gradually increased.
次に、第２マイクロスコープ２１Ｂのレーザ光源のパワーをゆっくり上げていく。 - 特許庁 - This scanning electron microscope provided with a sample transfer device.
試料移送装置を備えた走査電子顕微鏡を例にとって説明する。 - 特許庁 - PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM
走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁 - The vibration attenuator (1) for the microscope (7) includes a housing (3).
顕微鏡（７）のための振動減衰装置（１）は、ハウジング（３）を具備している。 - 特許庁 - ACTUATOR, ACTUATOR USING THE SAME AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
アクチュエーターおよびこれを用いたアクチュエーターならびに走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - MULTIPLE-AZIMUTH SIMULTANEOUS DETECTION CONDENSING EQUIPMENT AND SCANNING TYPE PROXIMITY FIELD MICROSCOPE
多方位同時検出光集光器および走査型近接場顕微鏡 - 特許庁 - DISTANCE MEASURING DEVICE, AND OPTICAL INTERFEROMETER AND OPTICAL MICROSCOPE EQUIPPED WITH THIS
距離測定装置およびこれを備えた光学干渉計、光学顕微鏡 - 特許庁 - METHOD OF OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF NEEDLE CRYSTAL, AND CANTILEVER OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
針状結晶の製造方法、及び走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE IMAGE AND LASER EXCITATION EMISSION DISTRIBUTION IMAGE MEASURING APPARATUS
走査型プローブ顕微鏡像及びレーザ励起発光分布像測定装置 - 特許庁 - SINGLE-LENS TYPE MICROSCOPE OBSERVATION DEVICE USING CCD CAMERA AND ITS ACCESSORY
ＣＣＤカメラを使った単レンズ型の顕微鏡観察装置とその付属品 - 特許庁 - METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD
荷電粒子ビーム装置、走査型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁 - LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, CONTROL METHOD AND CONTROL PROGRAM THEREFOR
走査型レーザ顕微鏡装置およびその制御方法ならびに制御プログラム - 特許庁 - LASER BEAM SOURCE DEVICE AND LASER SCANNING MICROSCOPE USING IT
レーザ光源装置及びこのレーザ光源装置を用いたレーザ走査顕微鏡 - 特許庁 - ILLUMINATION APPARATUS FOR MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING APPARATUS USING ILLUMINATION APPARATUS
顕微鏡の照明装置及びその照明装置を用いた画像処理装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE-PROCESSING METHOD THEREFOR
走査電子顕微鏡、および、走査電子顕微鏡における画像処理方法 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM)
走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）用プローブの取り付け角度測定方法 - 特許庁 - PHOTOMASK DEFECT CORRECTION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROCESSING DEVICE
原子間力顕微鏡加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, EVALUATION POINT GENERATION METHOD, AND PROGRAM
走査型電子顕微鏡装置、及び評価ポイント生成方法、並びにプログラム - 特許庁 - FREE INSTALLATION DISPLAY DEVICE FOR MICROSCOPE DATA AND/OR IMAGE DATA
顕微鏡データおよび／または画像データ用の自由設置可能な表示装置 - 特許庁 - MULTI-POINT FLUORESCENCE SPECTROPHOTOMETRY MICROSCOPE AND MULTI-POINT FLUORESCENCE SPECTROPHOTOMETRY METHOD
多点蛍光分光測光顕微鏡および多点蛍光分光測光方法 - 特許庁 - LIGHT DETECTION DEVICE, LIGHT DETECTION METHOD, MICROSCOPE, AND ENDOSCOPE
光検出装置および光検出方法、並びに、顕微鏡および内視鏡 - 特許庁 - IMAGE ACQUISITION APPARATUS, METHOD FOR CONTROLLING IMAGE ACQUISITION APPARATUS, AND MICROSCOPE SYSTEM
画像取得装置、画像取得装置の制御方法、及び顕微鏡システム - 特許庁 - IMPROVEMENT OF CHARGE TRAP IN SAMPE INSPECTION USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡を用いた試料検査における電荷トラップの改善 - 特許庁 - METHOD FOR LIGHTING PHYSICAL OBJECT AND SURGICAL MICROSCOPE HAVING LIGHTING UNIT
対象物の照明方法及び照明装置を有する手術顕微鏡 - 特許庁 - CALIBRATION DEVICE AND SCANNING LASER MICROSCOPE WITH CALIBRATION DEVICE
校正装置およびそのような校正装置を備えた走査型レーザ顕微鏡 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR OBSERVING SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法およびそのシステム - 特許庁 - DETECTOR AND METHOD FOR DETECTING WEAK FLUORESCENCE RADIATION BY MICROSCOPE SYSTEM
顕微鏡システムで弱い蛍光放射を検出するための検知器と方法 - 特許庁 - An atomic force microscope is equipped with an AFM scanner and a sample mounting stand.
原子間力顕微鏡は、ＡＦＭスキャナおよび試料載置台を備える。 - 特許庁 - SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT
走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁
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