「microscope」を含む例文一覧(8962)

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  • APPARATUS FOR COLOR-NEUTRAL BRIGHTNESS REGULATION IN ILLUMINATION BEAM PATH OF MICROSCOPE
    顕微鏡の照明ビーム路中で明度を中性的に調整するための装置 - 特許庁
  • To provide a method of forming and using a virtual microscope slide.
    仮想顕微鏡スライドを形成しかつ使用するための方法を提供すること。 - 特許庁
  • APPROACH METHOD OF CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING IT
    カンチレバーの接近方法及びこの接近方法を用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • To provide systems and methods for assessing virtual microscope slide image quality.
    仮想顕微鏡スライドの画質を評価するためのシステムと方法を提供する。 - 特許庁
  • SYSTEM FOR CONTROLLING ACCESS TO INFORMATION ABOUT LIVING BODY, MICROSCOPE, AND METHOD
    生体に関する情報へのアクセス制御を行うシステム、顕微鏡および方法 - 特許庁
  • IMAGING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR MICROSCOPE
    顕微鏡用撮像装置、顕微鏡用撮像方法、及び顕微鏡用撮像プログラム - 特許庁
  • THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE OBSERVATION SAMPLE FORMATION DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS METHOD
    ３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁
  • To provide an extreme-ultraviolet ray microscope which can perform a high resolution test.
    高解像度の検査を可能とする極端紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • PROBE MICROSCOPE AND SURFACE PROPERTY ANALYZING METHOD USING THE SAME
    プローブ顕微鏡およびそのプローブ顕微鏡を用いた表面性状分析方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE DISPLAY METHOD USING THE SAME
    走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法 - 特許庁
  • REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT
    反射結像型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁
  • SCANNING TYPE COFOCAL SYSTEM AND SCANNING TYPE COFOCAL MICROSCOPE APPARATUS HAVING THE SAME
    走査型共焦点システムと、これを有する走査型共焦点顕微鏡装置 - 特許庁
  • SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD
    走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法 - 特許庁
  • The interatomic force microscope (AFM) has the chip coated with the hydrophobic compound.
    疎水性化合物で被覆されたチップを備えた原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）。 - 特許庁
  • OBJECTIVE LENS FOR PARFOCAL IR FOCUS TYPE MICROSCOPE CAPABLE OF BEING USED FOR DUV
    ＤＵＶに使用可能な同焦点ＩＲフォーカス形顕微鏡対物レンズ - 特許庁
  • To prevent sample contamination in electron irradiation in an analytical electron microscope.
    分析電子顕微鏡において、電子線照射時の試料汚染を防止する。 - 特許庁
  • MEASURING METHOD BY SCANNING TYPE CONFOCAL LASER MICROSCOPE AND ITS CONTROL SYSTEM
    走査型共焦点レーザ顕微鏡による計測方法及びその制御システム - 特許庁
  • INTERFERENCE OBJECTIVE LENS, AND INTERFERENCE MICROSCOPE APPARATUS WITH INTERFERENCE OBJECTIVE LENS
    干渉対物レンズと、その干渉対物レンズを備える干渉顕微鏡装置 - 特許庁
  • AFM TWEEZERS, MANUFACTURING METHOD OF AFM TWEEZERS, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
    ＡＦＭピンセット、ＡＦＭピンセットの製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • VOICE INPUT DEVICE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR SIMILAR APPARATUS
    走査形電子顕微鏡あるいは類似装置における音声入力（操作）装置 - 特許庁
  • To simply and quickly switch color images and monochromatic images, using a fluorescence microscope.
    蛍光顕微鏡でカラー画像とモノクロ画像を簡便に切り替え可能とする。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC OPTIMUM FOCUSING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置 - 特許庁
  • This measuring instrument includes a microscope 1, a controller 2, and a terminal equipment 3.
    測定装置は、顕微鏡１と、制御装置２と、端末装置３とを含む。 - 特許庁
  • DISTRIBUTION CONDITION ANALYSIS METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE FOR MATERIAL INSIDE CAPSULE
    カプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法 - 特許庁
  • AUTOMATIC FOCUSING METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING LASER DEFECT DETECTION FUNCTION
    レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡のオートフォーカス方式 - 特許庁
  • SPECTROSCOPE AND CONFOCAL OPTICAL SYSTEM USING THE SAME, AND SCANNING OPTICAL MICROSCOPE
    分光器およびこれを用いた共焦点光学系、走査型光学顕微鏡 - 特許庁
  • CRYSTAL ETCHING METHOD, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    結晶エッチング方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁
  • To provide a far UV microscope which increases the quantity of illumination light of a visual field.
    視野の照明光量を増加する遠紫外顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide an electron microscope carrying out imaging with a visible light camera easily.
    可視光カメラでの撮像を容易に行える電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR SYNTHESIZING PANORAMA IMAGE USING SCANNING CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE
    走査荷電粒子顕微鏡を用いたパノラマ画像合成方法およびその装置 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND TRANSMITTED ELECTRON EXAMINATION DEVICE AND EXAMINATION METHOD
    透過電子顕微鏡装置および透過電子検査装置並びに検査方法 - 特許庁
  • IMAGING DEVICE FOR MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD AND PROGRAM FOR CONTROL METHOD
    顕微鏡用撮像装置とその制御方法、及び制御方法に係るプログラム - 特許庁
  • TUNING FORK TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE, ITS ADJUSTING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD
    音叉型原子間力顕微鏡プローブ、その調整方法及び製造方法 - 特許庁
  • THIN FILM FORMING METHOD, SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS FORMING METHOD
    薄膜形成方法、電子顕微鏡用試料ホルダおよびその形成方法。 - 特許庁
  • INSTRUMENT FOR OBJECTIVE MEASUREMENT OF REFRACTIVE WAVEFRONT ABERRATION, SURGICAL MICROSCOPE, AND SLIT LAMP
    他覚的屈折波面収差測定装置、手術用顕微鏡およびスリットランプ - 特許庁
  • ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM AXIS ADJUSTING METHOD THEREFOR
    走査電子顕微鏡の電子ビーム軸調整方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • They're so small that they can be seen only with the help of a microscope.
    それらは小さくて顕微鏡の助けを借りなければ見ることができない. - 研究社 新英和中辞典
  • psammoma bodies look like hardened concentric rings when viewed under a microscope.
    砂流体は、顕微鏡で表示すると、同心円状の硬い輪のように見える。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • a procedure in which a sample of tissue is removed from the prostate for examination under a microscope.
    顕微鏡検査のために前立腺から組織標本を採取する手技。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • a doctor who identifies diseases by studying cells and tissues under a microscope.
    顕微鏡で細胞や組織を観察することによって疾患を特定する医師。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • a procedure in which cells are scraped from the cervix for examination under a microscope.
    子宮頸部から細胞をこすり取り、それを顕微鏡で観察する検査法。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • To provide a base sequence-determining apparatus using a confocal microscope.
    共焦点顕微鏡を利用した塩基配列決定装置を提供すること。 - 特許庁
  • OPTICAL MICROSCOPE WITH MODIFIABLE LIGHTING AND METHOD OF OPERATION THEREOF
    照射変更自在型光学顕微鏡およびこのような顕微鏡の作動プロセス - 特許庁
  • NEAR-FIELD LIGHT GENERATING ELEMENT, NEAR-FIELD LIGHT RECORDING APPARATUS, AND NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE
    近視野光発生素子、近視野光記録装置、および近視野光顕微鏡 - 特許庁
  • 1-3-6 The development of a digital microscope based on Japan’s manufacturing expertise
    事例1-3-6日本のモノ作りの強さを活かしたデジタル顕微鏡装置の開発 - 経済産業省
  • The microscope stand includes at least one pivot support 12, a microscope mount 22 attached to a first end 15 of the pivot support and adapted to mount the microscope 16 to the microscope stand 11, and C-slide displacement assembly 112 provided on the second end 13 of the pivot support for balancing the microscope about a pivot axis 114 arranged in a stand interface 14.
    少なくとも１つの旋回支持器１２と、該旋回支持器の第１端部１５に固定されており顕微鏡用スタンド１１に顕微鏡１６を固定するための顕微鏡取付器２２と、該旋回支持器の第２端部１３に設けられておりスタンドインタフェース１４に配置された旋回軸線１１４回りで前記顕微鏡の平衡を保つためのＣ字形スライダ式位置調節器１１２とを有する。 - 特許庁
  • To solve such a problem that, in a temperature controller for microscope of a type which is used by being fitted into a hole disposed on the stage of microscope, different patterns are required for every shape and size of the hole of microscope even when the internal structure is the same and the temperature controller becomes expensive.
    顕微鏡のステージに設けられている孔に嵌めて使用するタイプの顕微鏡用温度管理器は、内部構造は変わらなくても、顕微鏡の孔の形状やサイズごとに別々の型式が必要になってコスト高になる。 - 特許庁
  • The microscope device 100 is equipped with a driving part 2, a microscope 3, a line sensor 4 which scans and images a sample enlarged by the microscope 3, and a control computer 150 which generates an enlarged image of the sample from the pick-up image of the line sensor 4.
    顕微鏡装置１００は、駆動部２と、顕微鏡３と、顕微鏡３で拡大した試料を走査して撮像するラインセンサ４と、ラインセンサ４の撮像画像から試料の拡大画像を作成する制御コンピュータ１５０とを備える。 - 特許庁
  • To provide a stereoscopic microscope of which the size from the top to the bottom of a microscope main body is reduced, and which facilitates observation with naked eye from the vicinity of the eyepiece section toward the bottom direction and eliminates a conventional failure regarding an assistance microscope.
    顕微鏡本体の上下寸法の短縮化を図りながら、接眼部付近から下方を見る肉眼観察が容易であり、また、アシスタント顕微鏡に関する従来の不具合を解消することができる立体顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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