「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 68 69 70 71 72 73 74 75 76 .... 179 180 次へ＞- HARMONIC GENERATOR, SCAN PROBE MICROSCOPE USING IT, AND DISPLAY DEVICE
高調波発生装置およびこれを用いた走査プローブ顕微鏡および表示装置 - 特許庁 - To facilitate switching of observation state, and thereby improve the operability of a microscope.
観察状態の切り替えを容易にして顕微鏡の操作性を向上させる。 - 特許庁 - By using a scanning electron microscope having such a structure, a sample image is obtained.
このような構造を有する走査型電子顕微鏡を用いて、試料像を得る。 - 特許庁 - To provide a total focus reflection type optical microscope capable of focusing on all the surface at the time of observing a super thin film sample on a substrate through a reflection type microscope.
基板上の超薄膜試料を反射型顕微鏡で観察する際に、全面に焦点が合うような全焦点反射型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - OPTICAL SYSTEM EQUIPPED WITH FOCUSING OPTICAL SYSTEM, AND LASER MICROSCOPE APPARATUS USING SAME
フォーカシング光学系を有する光学系およびこれを用いたレーザ顕微鏡装置 - 特許庁 - FOCUS DETECTOR AND OPTICAL MICROSCOPE HAVING THE SAME OR OPTICAL INSPECTION APPARATUS
焦点検出装置及びそれを備えた光学顕微鏡又は光学検査装置 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF SURFACE CONTOUR OF SAMPLE AND PROBE DEVICE
走査型プローブ顕微鏡、試料表面形状の計測方法、及びプローブ装置 - 特許庁 - To provide a microscope image processing method which enables the removal of the noise component contained in an observation image without using artificial operation, and to provide a microscope image processor.
観察像に含まれるノイズ成分を人為的な操作を用いずに除去できる顕微鏡画像処理方法及び顕微鏡画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an offset type surgical manipulator which allows observation in a wide visual field to the bottom of a surgical part by using a microscope or an endoscope, and to provide a surgical microscope system.
顕微鏡や内視鏡により術部の底部まで広い視野で観察することができるオフセット型手術用マニピュレータ及び手術用顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope system capable of easily and quickly observing a desired position of an object, an observation method and observation program using the microscope system.
対象物の所望の位置を容易かつ迅速に観察することができる顕微鏡システム、顕微鏡システムを用いた観察方法および観察プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a probe for a microscope capable of simultaneously a shape of a sample surface and a plurality of physical properties in a micro region, and a scanning probe microscope.
試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能である顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - EMISSION MICROSCOPE EQUIPMENT FOR HIGH-CURRENT PULSE PHENOMENON, AND METHOD FOR OPERATING IT
高電流パルス現象用のエミション顕微鏡装置およびその動作させる方法 - 特許庁 - To provide an electron microscope which is easy in aberration correction even at the time of high magnification observation.
高倍率観察でも収差補正が容易な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - MOON GRID SPECIALIZED FOR THREE-DIMENSIONAL OBSERVATION BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE , AND ITS MANUFACTURING METHOD
透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッドおよびその製造方法 - 特許庁 - To obtain a microscope by which a distinct sample image can be obtained in a vertical dark-field microscope with a simple mechanism and whose operation in the case of switching the observing method is easy.
簡単な機構で、落射暗視野検鏡において鮮明な試料像を得ることができるとともに、観察方法を切り換える際の操作が簡易な顕微鏡を得る。 - 特許庁 - A system comprising the scanning microscope and the additional unit is used for generating a special contrast, and particularly used for generating a dark-field contrast in a transmission type microscope.
走査顕微鏡と追加ユニットからなるシステムは、特別なコントラストを生成するのに用いられ、特に透過式に暗視野コントラストを生成するのに用いられる。 - 特許庁 - To provide a microscope observation system that is capable of optimally controlling an entire system (a microscope + an observation device) with giving priority to an observation image input to a photographing device.
撮影装置に入射される観察像を最優先にしてシステム全体（顕微鏡＋観察装置）を最適制御する顕微鏡観察システムを提供する。 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, DIAPHRAGM PLATE USED IN IT, AND MANUFACTURING METHOD OF DIAPHRAGM PLATE
電子顕微鏡及びそれに用いられる絞り板並びに絞り板の製造方法 - 特許庁 - GRADIENT MECHANISM OF SAMPLE STAGE IN CHARGED PARTICLE MICROSCOPE PROVIDED WITH PERIPHERAL DEVICE
周辺装置を備えた荷電粒子顕微鏡における試料ステージ傾斜機構 - 特許庁 - To provide a microscope capable of improving processing throughput of an object.
対象物の処理スループットを向上させることが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device which enables the observation of a large sized object to be tested and has a small vibration of the whole microscope device accompanying abrupt movement of stage and the revolution of revolver.
大型の被検物の観察が可能であり、急激なステージの移動やレボルバの回転に伴う顕微鏡装置全体の振動が少ない顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for eliminating color unevenness of an optical microscope photograph enabling high image analysis by removing the various color unevenness caused on the optical microscope photograph.
光学顕微鏡写真に発生する種々の色むらを除去し、高度な画像解析を可能とする光学顕微鏡写真の色むら除去方法を提供する。 - 特許庁 - Also in the field of microorganism, the observation is often done by using a microscope.
さらに微生物の分野では顕微鏡を用いた観察がしばしば行われる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス - At the focusing level of the telecentric optical system microscope system, the first and second spot light enters an image of the telecentric optical system microscope system.
第１スポット光も第２スポット光も、テレセントリック光学系顕微鏡システムの焦点レベルにおいて、テレセントリック光学系顕微鏡システムの画像内に入るようになっている。 - 特許庁 - To provide an electron microscope capable of minimizing image deviation caused by defocusing in an electron microscope utilizing an active modulation image formation method and hollow cone irradiation.
能動変調結像方式及びホローコーン照射を利用した電子顕微鏡において、デフォーカスに起因する画像ずれを最小に抑制できる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope capable of easily controlling an electron beam axis, a control method of the scanning electron microscope, and an electron beam axis control method.
電子ビームの軸調整を容易に行うことができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法を提供する。 - 特許庁 - A brake mechanism for braking the stage 110 is provided on the electron microscope apparatus 1.
ステージ１１０をブレーキングするブレーキ機構は、電子顕微鏡装置１に具備される。 - 特許庁 - The telescope, the binoculars and the microscope using the eyepiece system are provided.
また、該接眼レンズ系を使用した望遠鏡、双眼鏡、顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁 - ULTRA-HIGH SENSITIVITY DISPLACEMENT MEASURING SYSTEM APPLIED BY SCANNING NONLINEAR PERMITTIVITY MICROSCOPE
走査型非線形誘電率顕微鏡を応用した超高感度変位計測方式 - 特許庁 - CELL OBSERVATION APPARATUS, CELL OBSERVATION METHOD, MICROSCOPE SYSTEM, AND CELL OBSERVATION PROGRAM
細胞観察装置、細胞観察方法、顕微鏡システム、及び細胞観察プログラム - 特許庁 - In an electron microscope provided with electron beam bi-prisms, a microprobe 15 to shield an electron beam is installed between an electron gun 1 of the microscope and a holder to hold the sample 11.
電子線バイプリズムを備えた電子顕微鏡において、該顕微鏡の電子銃１と試料１１を保持するホルダの間に電子線を遮蔽するマイクロプローブ１５を設ける。 - 特許庁 - To provide a microscope system which allows observation with a suitable illuminating light intensity distribution.
適した照明光の強度分布で観察できる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - A stage 12 is provided in a microscope chamber 7 and supports the sample 11.
顕微鏡室７には前記試料１１を支持するステージ１２が設けられている。 - 特許庁 - The light axis of the microscope mirror body is tilted orthogonally downward with a surface, which is vertical with respect to a line Y connecting the center of the motion of the microscope control head and the center of gravity, as reference.
顕微鏡鏡体光軸は、顕微操作ヘッドの首振り中心及び重心を結ぶ線Ｙに垂直な面を基準として斜め下方に傾斜する。 - 特許庁 - To provide a microscope for observing a shape of a sample more satisfactorily.
より良く試料の形状を観察することができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The present invention provides a manufacturing method for an optical fiber probe 1 for a near-field optical microscope.
近接場光学顕微鏡用の光ファイバプローブ（１）の製造方法である。 - 特許庁 - The movable range of the microscope unit 32 in the X-direction is smaller than the length of the substrate W, and both a range which inspectable by the microscope unit 32 and a range non-inspectable thereby exist.
Ｘ方向の顕微鏡ユニット３２の可動範囲は基板Ｗの長さより短く、顕微鏡ユニット３２で検査可能な範囲と検査できない範囲とが存在する。 - 特許庁 - To provide a microscope system which is capable of rapidly realizing positioning, with high accuracy.
高精度かつ迅速な位置決めを実現可能な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - In the device, a microscope chamber 7 is provided with a stage 12 for supporting the sample 11.
顕微鏡室７には試料１１を支持するステージ１２が設けられている。 - 特許庁 - A foreign matter removing device 1 comprises a microscope 4 equipped with an objective lens 41.
異物除去装置１は、対物レンズ４１を有した顕微鏡４を備えている。 - 特許庁 - SURFACE STATE MEASURING METHOD AND DEVICE, MICROSCOPE, AND INFORMATION PROCESSOR
表面状態計測方法、表面状態計測装置、顕微鏡、情報処理装置 - 特許庁 - OPTICAL TRAP PROBE NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL DETECTION METHOD
光トラッププローブ近接場光顕微鏡装置及び近接場光検出方法 - 特許庁 - An image structure that is image-formed out of the auxiliary structure is detected using a microscope.
補助構造の結像された像構造は、顕微鏡を用いて検出される。 - 特許庁 - They are scientist and they are studying something while looking through a microscope.
彼らは科学者で、顕微鏡をのぞきながら何かについて研究をしています。 - Weblio Email例文集 - a microscope that is similar in purpose to a light microscope but achieves much greater resolving power by using a parallel beam of electrons to illuminate the object instead of a beam of light
光顕微鏡と目的は似ているが物質を照らすのに一光線の代わりに電子の平行光線を用いることではるかに大きい解像力を達成する - 日本語WordNet - the lens or system of lenses in a telescope or microscope that is nearest the object being viewed
物体を至近距離で見られるようにする2枚のレンズもしくはレンズのシステム - 日本語WordNet - SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH PROBE CLEANING MECHANISM AND PROBE CLEANING METHOD
探針洗浄機構を備えた走査型プローブ顕微鏡および探針洗浄方法 - 特許庁 - MICROSCOPE OBJECTIVE WITH AXIALLY MOVABLE SOCKET-TYPE FRAME FOR POSITION CORRECTION
軸方向に移動できる位置修正用ソケット型フレーム付きの顕微鏡対物レンズ - 特許庁 - To provide a probe for a scanning type probe microscope equipped with an electron discharge source.
電子放出源を備えた走査型プローブ顕微鏡用探針を提供する。 - 特許庁
- 特許庁
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