「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 72 73 74 75 76 77 78 79 80 .... 179 180 次へ＞- To provide a microscope apparatus with which the positional information of a display image can be understood smoothly.
表示画像の位置情報を円滑に把握できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR ALIGNING ROTARY AXIS OF CHUCK TABLE AND CENTER OF MICROSCOPE IN CUTTER
切削装置におけるチャックテーブルの回転軸と顕微鏡の中心との位置合わせ方法 - 特許庁 - ATTACHMENT MODULE FOR FUNDUS EXAMINATION AND OPERATION MICROSCOPE WITH IT
眼底検査用アタッチメントモジュール及び眼底検査用アタッチメントモジュールを付けた手術顕微鏡 - 特許庁 - FORMING METHOD OF OUTGOING WIRING AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE
引出配線の形成方法及び走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁 - To provide a stereomicroscope that can reduce the vertical size of a microscope body.
顕微鏡本体の上下寸法の短縮が可能な立体顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - An electron microscope E is supported by the first vibration resistant mount 2 of the double vibration resisting device.
電子顕微鏡Ｅは２重除振装置の第１除振マウント２で支持されている。 - 特許庁 - MULTI-PROBE TYPE SCAN PROBE MICROSCOPE APPARATUS AND SAMPLE SURFACE EVALUATION METHOD USING THE SAME
マルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法 - 特許庁 - The container for microscopic observation is used to observe an object to be inspected by using a microscope.
顕微鏡を用いて被検査物を観察するための顕微鏡観察用容器である。 - 特許庁 - POSITIONING APPARATUS, NEAR-FIELD MICROSCOPE USING THE APPARATUS AND NEAR-FIELD SPECTROSCOPE
位置決め装置、並びにそれを用いた近接場顕微鏡及び近接場分光装置。 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS
ＳＰＭの物理特性測定方法、測定プログラム及び走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁 - A scanning electron microscope 10 includes a lens barrel portion 12 and a sample chamber 22.
走査型電子顕微鏡１０は、鏡筒部１２と試料室２２から構成される。 - 特許庁 - To provide an electron microscope device to carry out analysis of a substance having a periodic structure.
周期構造を有する物質の解析を行う電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope used to observe a sample having an overhang structure.
オーバーハング構造を有する試料を測定する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - XENON LAMP DRIVING DEVICE, LIGHT SOURCE EQUIPMENT, ANALYZER, MICROSCOPE AS WELL AS DIAGNOSTIC DEVICE AND METHOD
キセノンランプ駆動装置、光源装置、分析装置、顕微鏡並びに診断装置及び方法 - 特許庁 - To provide a filter slider for a microscope which is easily manufactured and has simple constitution.
簡便な構成で、容易に製造できる顕微鏡用フィルタースライダを提供すること。 - 特許庁 - To realize separation by capillary electrophoresis and high-sensitivity analysis by a thermal lens microscope.
キャピラリー電気泳動による分離と、熱レンズ顕微鏡による高感度分析を可能とする。 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING SAMPLE TO BE OBSERVED UNDER ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR ANALYZING SEMICONDUCTOR DEVICE
電子顕微鏡観察用試料の作成方法及び半導体装置の解析方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTANCE MEASUREMENT FUNCTION AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME
測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測長方法 - 特許庁 - ULTRAVIOLET-AREA FLUORESCENT MICROSCOPE, FLUORESCENT MATERIAL IDENTIFYING METHOD, AND CLEANING DEGREE EVALUATING METHOD
紫外領域蛍光顕微鏡、蛍光物質同定方法および洗浄度評価方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPOUND INSPECTION METHOD OF PATTERN BY USING IT
走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法 - 特許庁 - To solve a problem that a microscope device having an image acquisition device gets larger in size.
画像取得装置を有する顕微鏡装置が大型化する問題点を解決する。 - 特許庁 - To provide a common sample holder, and a sample preparation method for a transmission electron microscope.
共用試料ホルダーと透過型電子顕微鏡用の試料作製方法を提供する。 - 特許庁 - ILLUMINATING METHOD FOR MICROSCOPIC SAMPLE AND MICROSCOPE HAVING ILLUMINATOR USING THE SAME
顕微鏡標本の照明方法とこれを用いた照明装置を有する顕微鏡 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a sample sensitive to heat or a solvent for electron microscope observation.
熱や溶剤に弱い電子顕微鏡観察用の試料の製造方法を提供する。 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING SYSTEM AND METHOD AND SPECTRUM PROCESSING SYSTEM AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の画像処理システム及び方法並びにスペクトル処理システム及び方法 - 特許庁 - To obtain a scanning type probe microscope for effectively inhibiting the decrease in measurement accuracy.
測定精度の低下を効果的に抑制することができる走査型プローブ顕微鏡を得る。 - 特許庁 - MALARIA MICROSCOPE, EXCITATION FILTER FOR USE IN THE SAME, AND OBSERVATION METHOD OF MALARIA PLASMODIA
マラリア顕微鏡及びそれに用いる励起フィルター並びにマラリア原虫の観察方法 - 特許庁 - CIRCULAR CYLINDER TYPE PIEZOELECTRIC ACTUATOR AND PIEZOELECTRIC ELEMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THOSE
円筒型圧電アクチュエータおよび圧電素子ならびにそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SEPARATING DIFFERENT EMISSION WAVELENGTHS IN SCANNING MICROSCOPE
走査顕微鏡において複数の異なる放射波長を分離するための方法及び装置 - 特許庁 - ELECTRON BEAM ADJUSTING METHOD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM CONTROL DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
電子ビームの調整方法，荷電粒子光学系制御装置、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE, SEMICONDUCTOR FLAW INSPECTION DEVICE AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE
写像型電子顕微鏡、半導体欠陥検査装置及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁 - To provide a fluorescence microscope capable of realizing multicolor fluorescence observation nearly in real time.
多色蛍光観察をほぼリアルタイムで実現可能な蛍光顕微鏡等を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser scanning confocal microscope capable of high speed FRAP experiment.
高速なＦＲＡＰ実験を可能にするレーザー走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an inverted microscope system which can flexibly deal with various applications.
様々な用途に対してフレキシブルに対応できる倒立型顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - To provide the subject microscope capable of observing fine P-N junction in an LSI.
ＬＳＩ中の微細なｐｎ接合を観察可能とする顕微鏡装置の提供。 - 特許庁 - To make an image by another observation means superposed on an image by an optical microscope naturally unsharp.
光学顕微鏡の像に重なる別の観察手段の像に自然なボケをもたせる。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope with which stereoscopic images of a moving sample can be observed.
動きのある試料の立体像を観察可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a slit-lamp microscope capable of forming highly parallel slits.
平行性の高いスリットを形成することが可能な細隙灯顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a stereoscopic microscope capable of facilitating observation with the naked eye that an observer looks at a lower part from the vicinity of an eyepiece part while shortening the vertical dimension of a microscope main body and eliminating a conventional bad condition in the case of attaching an assistant microscope.
顕微鏡本体の上下寸法の短縮化を図りながら、接眼部付近から下方を見る肉眼観察が容易であり、また、アシスタント顕微鏡を取付けた場合における従来の不具合を解消することができる立体顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an ophthalmological surgical microscope that provides a good field of vision.
本発明は、好適な視野を得ることが可能な眼科用手術顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope capable of improving the efficiency of utilizing light.
光の利用効率を向上させることができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - EXTREMELY THIN ILLUMINATION LIGHT PRODUCING DEVICE FOR MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME
顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記装置を用いた観察方法 - 特許庁 - Microscope-aided examination of the samples is automated and executed by a neutral network.
顕微鏡を用いた試料の検査が、ニューラルネットワークにより自動化されて実行される。 - 特許庁 - The data of a scanning region of a predetermined range from STM(scanning tunnel microscope) 1 is taken in an image memory 3.
ＳＴＭ１からの所定範囲の走査領域のデータを画像メモリ３に取り込む。 - 特許庁 - To photograph a still image of high image quality with a confocal microscope by a disk scanner.
ディスクスキャナによる共焦点顕微鏡において、高画質の静止画像を撮影する。 - 特許庁 - COMBTOOTH-SHAPED PROBE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT, AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD
櫛歯型プローブ、これを備える原子間力顕微鏡装置および変位測定方法 - 特許庁 - To provide a microscope where the brightness of an observed image can be adjusted easily.
観察画像の明るさを簡単に調整できる顕微鏡を提供することである。 - 特許庁 - In this microscope device, an object 1 is fed to the CCD imaging device 3 through the lens group 2.
被写体１がレンズ群２を介してＣＣＤ撮像素子３へ供給される。 - 特許庁 - To provide a microscope for imaging a large number of samples at once.
一度に多数の試料を撮像可能な顕微鏡を実現することを目的としている。 - 特許庁 - CORRECTION DEVICE FOR OPTICAL ARRANGEMENT AND CONFOCAL MICROSCOPE WITH SUCH DEVICE
光学装置およびこのような装置を有する共焦点顕微鏡における補正装置 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
