「microscope」を含む例文一覧(8962)

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  • To provide a laser scanning microscope which does not require a filter having complicated structure.
    複雑な構造のフィルタを必要としない走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
  • METHOD TO GRASP AT LEAST ONE SAMPLE REGION USING OPTICAL RASTER MICROSCOPE
    光ラスタ顕微鏡を用いて少なくとも一つの試料領域を把握するための方法 - 特許庁
  • UNIFORM ILLUMINATION OPTICAL UNIT, UNIFORM ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM, PATTERN INSPECTING DEVICE AND MICROSCOPE
    均一照明光学ユニット、均一照明光学系、パターン検査装置及び顕微鏡 - 特許庁
  • To provide a multi-focal scanning laser microscope which has less unevenness of brightness and bright illumination.
    明暗むらが少なく、照明の明るい多焦点走査レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • The operation microscope 100 has an illumination module 120.
    本発明は、照明モジュール120を備える手術用顕微鏡100に関するものである。 - 特許庁
  • FLUORESCENT MICROSCOPE AND VERTICAL ILLUMINATOR FOR FLUORESCENT OBSERVATION, AND VERTICAL ILLUMINATION METHOD
    蛍光顕微鏡、並びに、蛍光観察用の落射照明装置および落射照明方法 - 特許庁
  • In the DVD reader or a phase contrast microscope, the isotropic retardation plate is used.
    前記等方性位相差板を用いているDVD読取装置または位相差顕微鏡。 - 特許庁
  • IMAGING METHOD OF HIGH TIME RESOLVING POWER, IMAGING DEVICE THEREFOR AND TOTAL REFLECTION TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE
    高時間分解能画像化方法及び装置並びに全反射型蛍光顕微鏡 - 特許庁
  • The drying time may be measured by direct observation of the liquid drop using a microscope.
    なお、乾燥時間は、顕微鏡を用いた液滴の直接観察により測定してもよい。 - 特許庁
  • Then a revolver 1 is rotated, to make the scanning probe microscope stand by at an observation position.
    次にレボルバ1を回転させ、走査型プローブ顕微鏡を観察位置に待機させる。 - 特許庁
  • To exactly align when a pattern is tested by using a scanned electron microscope.
    走査型電子顕微鏡を用いてパターンの検査を行う際に、正確なアライメントを行う。 - 特許庁
  • To provide a low-cost microscope instrument capable of readily performing a measuring point alignment operation.
    測定点のアライメント作業を容易に行える安価な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
  • This invention can be applied, for instance to the microscope including a plurality of the lighting optical systems.
    本発明は、例えば、複数の照明光学系を備える顕微鏡に適用できる。 - 特許庁
  • In one embodiment, the electric field is impressed by using a probe 16 for an atomic force microscope.
    一態様では、電場は、原子間力顕微鏡用のプローブ16を用いて印加される。 - 特許庁
  • To provide a sample stand for an electron microscope allowing highly precise EBSD analysis.
    高精度のEBSD解析が可能な電子顕微鏡用試料台を提供する。 - 特許庁
  • To provide a higher quality image at a higher speed with a scanning type microscope using a polygon mirror.
    ポリゴンミラーを用いた走査型顕微鏡で、より高画質の画像をより高速に得る。 - 特許庁
  • The fluorescent microscope 100 includes the incident-light fluorescent illumination device 1.
    0.3≦D0/Lob≦0.75また、蛍光顕微鏡100は、落射蛍光照明装置1を含む。 - 特許庁
  • A plurality of methods of manufacturing a transmission electron microscope grid are provided.
    また、本発明は、複数の透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a scanning probe microscope that does not damage a scanning means with a fluid.
    走査手段を液体で破損させることのない走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • The microscope is provided with a multi-photon microscope 1, an optical fiber bundle 20 disposed with its one end face at the focal plane of a first objective lens 14 possessed by the multi-photon microscope 1, and a second objective lens 57 arranged to use the other end face of the optical fiber bundle 20 as a light source.
    多光子顕微鏡1と、この多光子顕微鏡1が有する第1対物レンズ14の焦点面に一端面が配された光ファイバ束20と、この光ファイバ束20の他端面を光源とするように配置された第2対物レンズ57とを備える。 - 特許庁
  • To provide a microscope capable of acquiring an excellent digital image with less blurring.
    ボケの少ない良好なデジタル画像を取得することができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
  • METHOD OF OPERATING ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH REDUCED IMPACT FORCE IN TAPPING MODE
    タッピングモードにおける衝撃力を低減化した原子間力顕微鏡の操作方法 - 特許庁
  • To discriminate cytosine from thymine as a pyrimidine base with the use of a scanning probe microscope.
    走査型プローブ顕微鏡を用いてピリミジン塩基であるシトシンとチミンを識別する。 - 特許庁
  • PROBER DEVICE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND PROBE CLEANING METHOD OF PROBER DEVICE
    走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法 - 特許庁
  • METHOD FOR DETERMINING SPECIMEN SIZE THROUGH SINGLE MICROSCOPE AND SPECIMEN HOLDING INSTRUMENT APPLYING PREVIOUS TREATMENT
    単式顕微鏡における試料サイズの決定方法と前処理をした試料保持器具 - 特許庁
  • To provide a scanning type probe microscope system capable of treating a plurality of samples automatically.
    複数の試料を自動的に処理し得る走査型プローブ顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide an environment preservation apparatus for microscope which can attain saving in space and energy.
    省スペース、省エネルギを達成できる顕微鏡用環境維持装置を提供する。 - 特許庁
  • SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE OBSERVING METHOD USING THE SAME, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
    走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法およびデバイス製造方法 - 特許庁
  • To provide a fluorescence microscope system observing two kinds of fluorescent images at the same time.
    2種類の蛍光像を同時に観察可能な蛍光顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
  • The scanning probe microscope detects or induces changes in a probe-sample interaction.
    走査型プローブ顕微鏡は、プローブと試料との相互作用の変化を検出又は誘起する。 - 特許庁
  • MICROSPOT EMISSION GENERATING DEVICE, DISTANCE CONTROLLING METHOD AND SCANNING PROXIMITY MICROSCOPE
    微小点発光発生装置および距離制御方法と走査型近接場顕微鏡 - 特許庁
  • To provide a solid state imaging device the position of whose picture element is identified easily by an electron microscope.
    電子顕微鏡での画素位置特定を容易にした固体撮像装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optical microscope for obtaining a bright image, and an observation method.
    明るい画像を得ることができる光学顕微鏡、及び観察方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a transmission electron microscope where damage on a film or an image pickup tube is reduced.
    フイルム若しくは撮像管の損傷を軽減した透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To realize a method for regulating an electron microscope which can bring forward a degree of skill level of a beginner microscope by improving operability of the microscope by decreasing a regulating work by a complicated knob operation and increasing an operation by a computer.
    煩わしいつまみの操作による調整作業を減少させ、コンピュータによる操作を増やすことによって電子顕微鏡の操作性を向上させ、また初心者の電子顕微鏡の習熟度を早めることができる電子顕微鏡の調整方法を実現する。 - 特許庁
  • FOCAL POSITION INFORMATION DETECTOR, MICROSCOPE DEVICE AND FOCAL POSITION INFORMATION DETECTION METHOD
    焦点位置情報検出装置、顕微鏡装置及び焦点位置情報検出方法 - 特許庁
  • A laser microscope body 1 includes a first optical system and a second optical system.
    レーザ顕微鏡本体1は、第一の光学系と第二の光学系とを有している。 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR TEST PIECE STAGE IN THE SAME
    電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法 - 特許庁
  • To easily set a sample at an appropriate position on a stage of an inverted microscope.
    倒立顕微鏡用ステージ上の適切位置に試料を容易に設置できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a fluorescent microscope which is capable of effectively lessening the reflection of exciting light.
    励起光の反射を効果的に低減することのできる蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To improve the operability of the variable power operation and focusing operation (focusing) of a microscope.
    顕微鏡の変倍操作および焦 準操作(ピント合わせ)の操作性を向上する。 - 特許庁
  • SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD AND AUXILIARY JIG FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS THEREOF
    走査型プローブ顕微鏡、その光軸調整方法、および光軸調整用補助具 - 特許庁
  • METHOD AND EQUIPMENT FOR MATCHING TEMPORAL RESOLUTION IN LATERAL DIRECTION OF MICROSCOPE IMAGE
    顕微鏡画像の横方向で経時的な解像能を整合するための方法と設備 - 特許庁
  • METHOD FOR MEASURING SAMPLE BY SELF-DETECTION-TYPE CANTILEVER AND SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE DEVICE
    自己検知型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡装置による試料測定方法 - 特許庁
  • To provide a video microscope which can stand long time use, which is inexpensive and which can save power.
    長期使用に耐え低価格で省電力化が可能なビデオマイクロスコープを提供する。 - 特許庁
  • The invention, for example, can be applied to a laser scanning microscope equipped with a plurality of scanning systems.
    本発明は、例えば、複数の走査系を備えたレーザ走査顕微鏡に適用できる。 - 特許庁
  • To provide a large field, high resolution, high efficiency rotary microscope or a scanning apparatus.
    広視野高分解能高効率の回転式顕微鏡または走査装置を提供する。 - 特許庁
  • To enable a DNA chip showing strong contrast to be observed with an optical microscope.
    強いコントラストを示すDNAチップの光学顕微鏡による観察を可能とすること。 - 特許庁
  • To improve a lens barrel for an electron microscope having at least two turning joints.
    少なくとも2つの回し継手を有する電子顕微鏡用の鏡筒を改良すること。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic treatment device for operation capable of shielding the view of a microscope even when the device is used with the microscope, preventing interference with a microscope or other treatment device, and conducting precise operation without generating sense of incongruity.
    顕微鏡とともに使用された場合でも顕微鏡の視野を遮ることがなく、また、顕微鏡や他の処置具との干渉を防止できるとともに、微細な操作を違和感なく行なうことができる手術用超音波処置具の提供を目的としている。 - 特許庁
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