「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 65 66 67 68 69 70 71 72 73 .... 179 180 次へ＞- BRIGHT-FIELD LIGHT SOURCE FOR FLUORESCENCE OBSERVATION AND SURGICAL MICROSCOPE LOADED WITH THE SAME
蛍光観察用の明視野光源及びそれを搭載した手術顕微鏡 - 特許庁 - To provide a confocal microscope which provides sliced images with high reliability.
信頼性の高いスライス画像が得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The sample for tuning of the scanning electron microscope is provided with a plurality of protrusions.
走査型電子顕微鏡調整用試料は、複数の突起部を有する。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM CONSTITUTION FOR EQUIPMENT ARRANGEMENT AND ADJUSTMENT OF CONFOCAL MICROSCOPE
共焦点顕微鏡の機器配置調整のための方法およびシステム構成 - 特許庁 - This invention is related to the surgical microscope (100) with an illumination device (110).
本発明は、照明装置（１１０）付き手術用顕微鏡（１００）に関する。 - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM, SURFACE STATE OBSERVATION METHOD, AND SURFACE STATE OBSERVATION PROGRAM
顕微鏡システム、表面状態観察方法および表面状態観察プログラム - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND INSPECTION METHOD
走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブ、及び検査方法 - 特許庁 - To provide a multiple photon exciting laser microscope whose SN ratio of an obtained image is improved.
得られる画像のＳ／Ｎ比を向上させた多光子励起レーザ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DETECTION METHOD FOR p-n JUNCTION POSITION BY USING THE SAME
走査型プローブ顕微鏡とそれを用いたｐ−ｎ接合位置検出方法 - 特許庁 - To perform calibration on measurement distances of a cantilever probe for a magnetic force microscope.
磁気力顕微鏡のカンチレバープローブの測定距離に関する較正を行う。 - 特許庁 - This invention is applicable to a digital camera mounted on a microscope etc.
本発明は、顕微鏡などに装着されて使われるデジタルカメラに適用できる。 - 特許庁 - To simplify a mounting work of a cover part on an electron microscope.
電子顕微鏡へのカバー部の取り付け作業を簡略化できるようにする。 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING THIN SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF THE SAMPLE
電子顕微鏡用薄片試料の作製方法とこの試料の観察方法 - 特許庁 - FUSION PROBE FOR CONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE, AND PROCESSING METHOD USING THE SAME
導電性走査型顕微鏡用融着プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁 - To provide a tilt stage having higher performance, and a microscope with the same.
より高性能な傾斜ステージとこれを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - MICROSCOPE HAVING AT LEAST ONE BEAM SPLITTER AND SCATTERED LIGHT REDUCING MEANS
少なくとも１つのビームスプリッタと散乱光低減手段とを有する顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, IMAGE DISPLAY METHOD OF SAME, AND SCANNING MICROSCOPE
走査型荷電粒子線装置、その像表示方法、および走査型顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND LOCAL ELECTRIC CHARACTERISTIC MEASURING METHOD USING IT
走査プローブ顕微鏡及びこれを用いた局所的電気特性測定方法 - 特許庁 - ELECTRON-BEAM DRAWING APPARATUS, ELECTRON BEAM TESTER, AND ELECTRON BEAM MICROSCOPE
電子ビーム描画装置および電子ビーム検査装置および電子ビーム顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPE, METHOD OF FORMING DRIVING WAVEFORM DATA AND CONTROL PROGRAM FOR THE SAME
走査型レーザ顕微鏡、駆動波形データ生成方法、及びその制御プログラム - 特許庁 - VIBRATION ISOLATING COUPLING HAVING ELASTOMER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THE LIKE
走査電子顕微鏡等のためのエラストマー隔膜を有する振動絶縁カップリング - 特許庁 - To improve dimensional inspection accuracy and reproducibility of a scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡の寸法検査精度及び再現性を向上させる。 - 特許庁 - NANOTUBE SEPARATION AND ALIGNMENT DEVICE, AND POSITIONING DEVICE FOR ATOMIC MICROSCOPE
ナノチューブの分離およびアラインメント用装置及び、原子顕微鏡の位置合わせ装置 - 特許庁 - The present invention is applied in, for example, a microscope device used for phase contrast observation.
本発明は、例えば、位相差観察を行う顕微鏡装置に適用できる。 - 特許庁 - To improve a stage-link precision between CAD (Computer Assisted Drawing) data and the electron microscope stage.
ＣＡＤデータと電子顕微鏡ステージのステージリンク精度を向上させる。 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER AND SAMPLE MOVER USING THE SAME AS WELL AS ELECTRON MICROSCOPE
試料ホルダおよびそれが使用された試料移動装置並びに電子顕微鏡 - 特許庁 - To provide an attachment device of a focus motor for a microscope, which is convenient to use.
使い勝ってのよい顕微鏡用フォーカスモータの取付装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope observation sample mount-manufacturing method having a short manufacturing time.
製作時間の短い顕微鏡観察試料マウント製作方法の提供。 - 特許庁 - MICROSCOPE DEVICE AND METHOD FOR MEASURING DRUG EFFECT USING THE SAME
顕微鏡装置及びこの顕微鏡装置を用いた薬物効果測定方法 - 特許庁 - NEAR FIELD LIGHT EMITTING ELEMENT, NEAR FIELD LIGHT RECORDER AND NEAR FIELD LIGHT MICROSCOPE
近視野光発生素子、近視野光記録装置、および近視野光顕微鏡 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS, OPTICAL ANALYZER, METHOD OF OPERATING THE OPTICAL ANALYZER, AND MICROSCOPE
対物レンズ、光分析装置、光分析装置の運転方法および顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE PREPARING DEVICE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD THEREOF
３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁 - To provide a microscope device capable of detecting an accurate focusing position.
正確な焦準位置を検出することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR DRIVING LASER SCANNING MICROSCOPE HAVING PRECISE FOCUSING STAGE CAPABLE OF BEING INCLINED
傾斜可能な精密焦準ステ—ジをもつレ—ザ—走査顕微鏡駆動方法 - 特許庁 - the study of the structure of the body and its parts without the use of a microscope
顕微鏡を使わずに行う体とその部位の構造についての研究 - 日本語WordNet - DEVICE AND METHOD FOR PRETREATING SAMPLE FOR OBSERVATION THROUGH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡観察用試料の前処理装置及び前処理方法 - 特許庁 - PROBE-ROTATING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME
プローブ回転機構、および該プローブ回転機構を有する走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE, FOCUSING POSITION ADJUSTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR PATTERN SUBSTRATE
光学顕微鏡、焦点位置調整方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁 - SCANNING MICROSCOPE WHICH CAN ACQUIRE CONFOCAL IMAGE AND EVANESCENCE ILLUMINATION IMAGE INFORMATION
共焦点像とエバネッセンス照明像情報を取得できる走査顕微鏡 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD AND STRUCTURE
透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法、観察方法及び構造 - 特許庁 - SPOT SCANNING LASER SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING THE SAME
スポット走査式レーザ走査型顕微鏡及び同顕微鏡を調整する方法 - 特許庁 - The apparatus and the method for detection with the scanning microscope (1) are disclosed.
走査顕微鏡（１）を用いた検出装置および方法が開示されている。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope by which the optimum image contrast can be obtained.
最適な画像コントラストが得られる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - PREPARATION METHOD AND PREPARATION DEVICE FOR SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁 - COLOR CONFOCAL MICROSCOPE, METHOD OF SELECTING MEASUREMENT RANGE AND CONTROL PROGRAM FOR THE SAME
カラー共焦点顕微鏡、測定範囲選択方法、及びその制御プログラム - 特許庁 - CALIBRATION METHOD FOR NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPE LASER PROCESSING DEVICE AND DEVICE THEREFOR
ニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置 - 特許庁 - METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法 - 特許庁 - OPTICAL PULSE MULTIPLEXING UNIT, LIGHTING SYSTEM HAVING THE SAME, AND MICROSCOPE
光パルス多重化ユニット及び当該ユニットを備えた照明装置及び顕微鏡 - 特許庁 - The voltage may be applied using a probe of a scanning tunnel microscope.
また前記パルス電圧を走査トンネル顕微鏡のプローブを用いてかけてもよい。 - 特許庁 - METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
