「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 60 61 62 63 64 65 66 67 68 .... 179 180 次へ＞- In this transmission electron microscope, when a sample 1 is inclined, a sample inclining/rotating mechanism 2 is driven by the control from an electron microscope body control system 7.
試料１を傾斜させる場合、電子顕微鏡本体制御系７からの制御により、試料傾斜・回転機構２が駆動される。 - 特許庁 - To provide a microscope which allows the magnification of an objective lens to be switched without making the microscope apparatus large in size, and also, without providing a movable part such as a shutter.
装置を大型化せず、かつ、シャッタ等の可動部を設けずに対物レンズの倍率を切り換えることのできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - Furthermore, since the microscope is supported by the base 5 after the alignment, the microscope can be supported in the stable state.
更に、位置合せ後においては、顕微鏡は固定台５によって支持されることになるため、安定した状態で顕微鏡を支持することができる。 - 特許庁 - To provide an infrared microscope having a calibration function capable of achieving calibration of high reliability, and a calibration method of the infrared microscope.
信頼性の高い校正を実現可能にした校正機能を有する赤外顕微鏡及び赤外顕微鏡の校正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an interferometer for immersion microscope objective capable of quantitatively and accurately evaluating the immersion microscope objective.
液浸系顕微鏡対物レンズを定量的にかつ高精度に評価することができる液浸系顕微鏡対物レンズ用干渉計の提供。 - 特許庁 - OPTICAL ARRANGEMENT IN MICROSCOPE FOR ADJUSTING WAVELENGTH OR WAVELENGTH REGION OF IRRADIATION LIGHT IN IRRADIATION OPTICAL PATH OF MICROSCOPE FOR CONVERGENCE
顕微鏡の照射光路における照射光の波長または波長領域を調整して集束化するための顕微鏡内の光学配置 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF DISPLAYING OBSERVED IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE, PROGRAM FOR DISPLAYING THE SAME, AND RECORDING MEDIUM READABLE BY COMPUTER
電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像表示方法、電子顕微鏡の観察像表示プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - COATING COMPOSITION FOR MICROSCOPE SLIDE GLASS, SLIDE GLASS FOR MICROSCOPE, PREPROCESSING LIQUID FOR PAM STAINING, AND METHENAMINE-SILVER STAIN SOLUTION FOR PAM STAINING
顕微鏡スライドグラス用コーティング組成物、顕微鏡スライドグラス、ＰＡＭ染色用前処理液、及びＰＡＭ染色用メセナミン銀染色液 - 特許庁 - The dichroic mirror 135 and the prism 202 are attached/detached to/from the microscope body 101 through an aperture part formed on the side face of the microscope body 101.
ダイクロイックミラー１３５とプリズム２０２は顕微鏡本体側面に設けられた開口部を通して顕微鏡本体１０１に着脱される。 - 特許庁 - Moreover, the microscope is equipped with angle changing means 26-28 changing the angle of the incident optical axis O2 that the light is made incident on the microscope for the assistant 3.
また、助手用顕微鏡３に入射させる入射光軸Ｏ２の角度を変更する角度変更手段２６−２８を備えている。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope capable of accurate measurement without using any standard samples, and to provide a measurement method using the scanning electron microscope.
標準試料を使用することなく正確に測定可能な走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法を提供すること。 - 特許庁 - To perform both observation by a scanning electron microscope and observation by a photo-electron microscope by using a single device without moving a sample.
試料を移動することなく、一つの装置で走査型電子顕微鏡による観察と光電子顕微鏡による観察とを可能にする。 - 特許庁 - To realize a laser microscope and a color laser microscope with which a high resolution sample image is picked up without using an expensive acoustic optical element.
高価な音響光学素子を用いることなく、高解像度の試料像を撮像できるレーザ顕微鏡及びカラーレーザ顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To provide an eyepiece barrel of a microscope suitable for excellent photography while performing eyepiece observation of a specimen, and to provide a microscope system.
被検体の接眼観察を行いながら良好な撮影を行うのに適した顕微鏡の接眼鏡筒及び顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE
荷電粒子線顕微鏡装置、荷電粒子線応用装置、荷電粒子線顕微方法、荷電粒子線検査方法、及び電子顕微鏡装置 - 特許庁 - To provide a focus detector for a microscope capable of accurately performing focus detection in a short time, and a microscope equipped with the focus detector.
短時間で精度良く焦点検出を行うことができる顕微鏡用焦点検出装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an operating device having high flexibility for the disposing of an operating section used for driving the movable section of a microscope, and to provide a microscope having the operating section.
顕微鏡の移動部分を駆動する操作部の配置の自由度が高い操作装置とこれを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a mixing method of microscope objective liquid immersion oil and a measuring set of microscope objective liquid immersion oil, which is used for improving the resolution of objective lens in a microscope and makes refractive index of the microscope objective liquid immersion oil optimum, in response to the temperature of a sample or the thickness of cover glass for the microscope.
本発明は、顕微鏡において対物レンズの分解能を向上させるために使用される顕微鏡対物用液浸油の混合方法および顕微鏡対物用液浸油計量セットに関し、標本の温度あるいは顕微鏡用カバー硝子の厚さに対応して顕微鏡対物用液浸油の屈折率を最適な屈折率にすることを目的とする。 - 特許庁 - To provide a laser microscope capable of generating video data for the cross section of a sample.
試料断面のビデオデータ生成可能なレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - MOTOR-DRIVEN STAGE CONTROL SYSTEM FOR MICROSCOPE, CONTROL DEVICE THEREFOR, AND CONTROL METHOD THEREFOR
顕微鏡用電動ステージ制御システム、該制御装置、及び該制御方法 - 特許庁 - To provide a small and lightweight surgical operation microscope easy to use.
小型および軽量で操作性の良い手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - VERTICAL ILLUMINATOR FOR FLUORESCENT OBSERVATION AND FLUORESCENT MICROSCOPE PROVIDED THEREWITH
蛍光観察用の落射照明装置およびそれを備えた蛍光顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING FORCE MICROSCOPE AND CONTROL OF MOVEMENT FOR PROBE TIP THEREOF
走査型力顕微鏡およびそのプロ—ブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁 - This connecting device can connect the positioning unit to the microscope.
この接続装置は、位置決めユニットを顕微鏡に接続可能なものである。 - 特許庁 - In the scanning probe microscope, SMP measurement is performed by the measuring parts.
走査型プローブ顕微鏡では、測定部によりＳＰＭ測定が行われる。 - 特許庁 - PROBE MICROSCOPE, INSPECTION DEVICE OF INSULATING FAILURE AND INSPECTION METHOD OF INSULATING FAILURE
プローブ顕微鏡及び絶縁不良の検査装置，絶縁不良検査方法 - 特許庁 - Further, the microscope and method for imaging the sample are disclosed.
さらに、試料を結像するための顕微鏡および方法が開示されている。 - 特許庁 - To provide a laser microscope of a compact structure which is low in manufacturing cost.
製造コストが安価でコンパクトな構造のレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - WITHSTAND VOLTAGE OPTICAL FIBER FOR ULTRA-HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE APPARATUS, OPTICAL DEVICE ARRANGING METHOD, AND OPTICAL DEVICE ARRANGING PROGRAM
光学顕微鏡装置、光学素子配置方法、及び光学素子配置プログラム - 特許庁 - CHARGE PARTICLE BEAM MICROSCOPE AND MEASURED IMAGE CORRECTION METHOD USING THE SAME
荷電粒子線顕微鏡及びそれを用いた計測画像の補正方法 - 特許庁 - PROBE OPENING-CREATING APPARATUS AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - To provide a microscope system, capable of detecting the dew condensation of a culture container.
培養容器の結露を検出可能な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - The microscope is electrically driven so that the focus can be automatically varied.
顕微鏡は、焦点を自動的に変更できるように電動式である。 - 特許庁 - ULTRA-BROADBAND UV MICROSCOPE IMAGING SYSTEM WITH WIDE RANGE ZOOM CAPABILITY
広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム - 特許庁 - The ammonia-containing C_60 molecule is arranged by using a scanning probe microscope.
アンモニア含有Ｃ_６０分子は、走査プローブ顕微鏡を用いて配置される。 - 特許庁 - TRANSMISSION DEVICE FOR OPTICAL OBSERVATION UNIT OF OPERATION MICROSCOPE OR THE LIKE
手術用顕微鏡などの光学的観察ユニットのための伝送装置 - 特許庁 - To operate an observation mode and a measuring mode at the same time in an infrared microscope.
赤外顕微鏡において、観察モードと測定モードとを同時に行う。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope shortening a measurement time.
測定時間を短縮することができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING ILLUMINATION REFLECTION MODE IN SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE
走査型近接場顕微鏡におけるイルミネーション反射モードの測定方法 - 特許庁 - AUTOFOCUSING DEVICE FOR MICROSCOPE AND SUITABLE AUTOFOCUS APERTURE DIAPHRAGM
顕微鏡用の自動合焦装置および適切な自動焦点開口絞り - 特許庁 - A microscope chamber 7 includes a stage 12 supporting a sample 11.
顕微鏡室７には試料１１を支持するステージ１２が設けられている。 - 特許庁 - The invention can be applied to a confocal laser scanning microscope, for example.
本発明は、例えば、共焦点レーザ走査型顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - SURGICAL MICROSCOPE FOR OPHTHALMOLOGY AND METHOD FOR USING THE SAME
眼科学のための手術顕微鏡ならびに該手術顕微鏡の使用法 - 特許庁 - DRIVE STAGE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND MACHINING DEVICE
駆動ステージ、走査型プローブ顕微鏡、情報記録再生装置、加工装置 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND PROGRAM FOR SAME
走査型プローブ顕微鏡装置及び走査型プローブ顕微鏡装置用プログラム - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE HOLDER, AND PROBE HOLDER MOUNTING MEMBER FOR TRANSFER
走査型プローブ顕微鏡、プローブホルダおよび搬送用プローブホルダ装着部材 - 特許庁 - To provide a microscope adapter unit in which the loss of light quantity is suppressed.
光量の損失が抑制された顕微鏡アダプタユニットを提供する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡試料作製装置及び電子顕微鏡試料作製方法 - 特許庁 - To provide a microscope which reduces labor and time for adjusting an offset value.
オフセット値の調整のための手間を軽減する顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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