「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 57 58 59 60 61 62 63 64 65 .... 179 180 次へ＞- HOLDING MEMBER FOR OPTICAL CONNECTOR AND MICROSCOPE FOR OBSERVING OPTICAL CONNECTOR END SURFACE
光コネクタ用保持部材及び光コネクタ端面観察用顕微鏡 - 特許庁 - LIGHT INTENSITY DISTRIBUTION CORRECTION OPTICAL SYSTEM AND OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
光強度分布補正光学系およびそれを用いた光学顕微鏡 - 特許庁 - CONFOCAL OPTICAL SYSTEM AND SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE USING THE SAME
共焦点光学系及びこれを用いた走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁 - CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE, OBJECTIVE REGION SPECIFYING METHOD, AND PROGRAM
共焦点走査型顕微鏡、注目領域指定方法、及びプログラム - 特許庁 - THREE-DIMENSIONAL PHASE MEASUREMENT METHOD, AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE USED FOR SAME
３次元位相計測方法とそれに使われる微分干渉顕微鏡 - 特許庁 - ANGLE OF INCIDENCE DETERMINING METHOD, AND SCAN NEAR- FIELD OPTICAL MICROSCOPE
入射角度決定方法及び走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL MEMBER CHANGEOVER MECHANISM AND MICROSCOPE HAVING THE OPTICAL MEMBER CHANGEOVER MECHANISM
光学部材切換機構及び光学部材切換機構を備える顕微鏡 - 特許庁 - METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE HOLDER
透過型電子顕微鏡の試料作製方法及び試料保持体 - 特許庁 - The present invention is applicable to, for example, a confocal laser scanning microscope.
本発明は、例えば、共焦点レーザスキャン顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - To provide a digital microscope capable of appropriately imaging a sample.
適切に試料を映し出すことができるデジタル顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - Such defective part can be measured by an emission microscope.
このような欠陥部はエミッション顕微鏡により測定することができる。 - 特許庁 - The present invention can be applied to a scanning confocal microscope.
本発明は、走査型の共焦点顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid.
本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法に関する。 - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM, CONTROL METHOD FOR THE SAME, AND CONTROL PROGRAM FOR THE SAME
顕微鏡システム、顕微鏡システムの制御方法、及び制御プログラム - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING PATTERN WITH USE OF DISPLAY MICROSCOPE IMAGE
ディスプレイ顕微鏡画像を用いたパターン測定方法及び測定システム - 特許庁 - To provide a sample holder for a scanning electron microscope which can use a slide glass using for observation by an optical microscope as an observation sample as it is, and also to provide the scanning electron microscope on which the sample holder is mounted.
光学顕微鏡での観察に使用したスライドガラスをそのまま観察試料として使用可能な、走査電子顕微鏡用試料ホルダおよび当該試料ホルダを搭載した走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING SCANNED IMAGE AND PROGRAM THEREFOR, AND LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE
走査画像の補正方法、そのプログラム、及びレーザ走査型顕微鏡 - 特許庁 - IMAGE PICKUP DEVICE PROVIDED WITH AUTOMATIC MICROSCOPE RECOGNIZING FUNCTION AND ITS CONTROL METHOD
顕微鏡自動認識機能付き撮像装置及びその制御方法 - 特許庁 - OPTICAL DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL DEVICE, RECTIFIER AND POLARIZATION MICROSCOPE
光学素子、光学素子の製造方法、レクティファイア、及び偏光顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE SURFACE SHAPE
走査型プローブ顕微鏡および試料表面形状の計測方法 - 特許庁 - To provide a small-sized microscope apparatus which provides clear images.
明瞭な画像を得ることができる小型の顕微鏡装置の提供 - 特許庁 - DEVICE FOR OBSERVING SAMPLE WITH PARTICLE BEAM AND OPTICAL MICROSCOPE
粒子ビーム及び光を用いる顕微鏡で試料を観察する装置 - 特許庁 - Thus, an electrostatic breakdown preventive function is imparted to the microscope.
これにより、顕微鏡に静電破壊防止機能を付与することができる。 - 特許庁 - METHOD OF SURFACE TREATMENT, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE
表面処理方法及び電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁 - SLIT CONFOCAL MICROSCOPE AND SURFACE SHAPE MEASURING APPARATUS USING IT
スリット共焦点顕微鏡とそれを用いた表面形状計測装置 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for detection with a scanning microscope.
走査顕微鏡を用いた検出装置および方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING OBSERVATION SAMPLE USED FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡で使用する被観察試料の調製方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD AND OBSERVATION METHOD OF SAMPLE FOR OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION
光学顕微鏡観察用試料の製造方法及び観察方法 - 特許庁 - To provide a surgical microscope that enables fluorescence observation in a short time.
短時間で蛍光観察が可能な手術顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus capable of reducing the time for initialization operation.
初期化動作の時間を短縮できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS FOR DETERMINING LIGHT POWER LEVEL, MICROSCOPE, AND METHOD FOR MICROSCOPY
光パワーレベルを決定するための装置、顕微鏡および顕微鏡法 - 特許庁 - At first, a measuring sample is placed on a stage of a scanning tunnel microscope.
まず、走査型トンネル顕微鏡のステージ上に測定試料を載置する。 - 特許庁 - FREQUENCY DETECTING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
周波数検出方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - To provide a sensor for a scanning probe microscope, and its manufacturing method.
走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法の提供。 - 特許庁 - The optical system of the microscope is penetrated through holes 211, 221 and 251.
また、孔２１１，２２１，２５１により顕微鏡の光学系が透過される。 - 特許庁 - X-RAY DETECTING DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE AND APPLICATION DEVICE THEREFOR
Ｘ線検出装置並びに電子線顕微鏡およびその応用装置 - 特許庁 - To provide a method for labeling by which observation can be made with an electron microscope.
電子顕微鏡で観察可能な標識法を提供すること。 - 特許庁 - REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE USING IT
反射結像型電子顕微鏡、及びそれを用いた欠陥検査装置 - 特許庁 - An optical-microscope unit 24, which detects reflected light while emitting light in an oblique direction to the observation face of a scanning electron microscope, is provided inside or outside a sample chamber of the scanning electron microscope.
走査電子顕微鏡の試料室外もしくは試料室内に、走査電子顕微鏡の観察面に対して斜め方向に光を照射して反射光を検出する光学顕微鏡ユニット２４を設ける。 - 特許庁 - SCANNING TYPE CONFOCAL LASER MICROSCOPE, CONTROL METHOD THEREFOR, AND PROGRAM
走査型共焦点レーザ顕微鏡、及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁 - To provide a micro wave microscope probe which can make a quantitative measurement.
従来のマイクロ波顕微鏡プローブでは定量的測定ができない。 - 特許庁 - To provide a microscope used for total reflection fluorescent microscopy(TIREM).
全反射蛍光検鏡(TIRFM)に使用するための顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive microscope for learning having high magnification and taking a photograph.
安くて高倍率で写真も撮れる学習用の顕微鏡を作る。 - 特許庁 - ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - The present invention can be applied to a scanning confocal microscope.
本発明は、走査型の共焦点顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁 - INTERFERENCE FRINGE PROJECTION OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE USING THIS OPTICAL SYSTEM
干渉縞投影光学系及びこの光学系を用いた顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TYPE CONFORCAL MICROSCOPE AND POSITIONING METHOD FOR LIGHT SHIELDING PLATE
走査型共焦点顕微鏡及びその遮光板の位置調整方法 - 特許庁 - DISPLACEMENT DETECTING DEVICE, MICROSCOPE APPARATUS, REFERENCE POINT DETECTING METHOD, AND PROGRAM
変位検出装置、顕微鏡装置、基準点検出方法、及びプログラム - 特許庁 - Such a defective part can be measured by an emission microscope.
このような欠陥部はエミッション顕微鏡により測定することができる。 - 特許庁 - METHOD FOR DETERMINING GAIN OF TRANSMISSION DETECTOR IN IMAGING TYPE MICROSCOPE APPARATUS
撮像型顕微鏡装置における透過ディテクタのゲイン決定方法 - 特許庁
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