「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 51 52 53 54 55 56 57 58 59 .... 179 180 次へ＞- INSPECTION METHOD BY CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS SYSTEM CONFIGURATION
共焦点顕微鏡による検査方法およびそのシステム構成 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE OBSERVATION METHOD USING IT
透過型電子顕微鏡およびそれを用いた像観察方法 - 特許庁 - COMPACT COLUMN ELECTRON MICROSCOPE COMBINED DEVICE, AND DEFECT OBSERVATION METHOD
小型カラム電子顕微鏡複合装置及び欠陥観察方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE AND CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD
荷電粒子線顕微鏡および荷電粒子線顕微方法 - 特許庁 - MEASURING MICROSCOPE DEVICE, ITS DISPLAY METHOD, AND ITS DISPLAY PROGRAM
測定顕微鏡装置、その表示方法、及びその表示プログラム - 特許庁 - EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
走査型電子顕微鏡装置の評価方法及び評価装置 - 特許庁 - PROBE SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
プローブ走査機構、および、それを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING FROZEN MICROTOME AND THIN LEAF FOR OBSERVATION BY MICROSCOPE
冷凍ミクロトーム及び顕微鏡観察用薄片の製造法 - 特許庁 - AUTOMATIC FOCUSING MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING SYSTEM THEREWITH
自動合焦顕微鏡、及びこれを備えている画像処理システム - 特許庁 - FOCUSING POINT DETECTING METHOD AND OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
合焦点検出方法及びそれを用いた光学顕微鏡 - 特許庁 - SURGICAL MICROSCOPE DRAPE WITH REMOVABLE LENS ASSEMBLY
取り外し可能なレンズ組立体を備える外科用顕微鏡ドレープ - 特許庁 - PROBE RELATIVE POSITION CALIBRATION TEMPLATE OF MULTI-PROBE SCANNING MICROSCOPE
多探針走査型顕微鏡の探針相対位置校正テンプレート - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY
走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁 - PATTERN MATCHING DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EMPLOYING IT
パターンマッチング装置及びそれを用いた走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE SPIN POLARIMETER, MICROSCOPE, AND PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY DEVICE
荷電粒子スピン検出器、顕微鏡、及び光電子分光装置 - 特許庁 - STEREO SURGICAL MICROSCOPE HAVING INTEGRATED INCIDENT-ILLUMINATION DEVICE
落射光照明装置が組み込まれたステレオ手術用顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT
走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGING METHOD USING IT
走査型電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE HOLDER FOR SEEBECK EFFECT (THERMOELECTRIC MATERIAL) ANALYSIS
ゼーベック効果（熱電材料）解析用電子顕微鏡試料ホルダ - 特許庁 - SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE, ITS ADJUSTMENT METHOD AND PROGRAM
走査型レーザ顕微鏡及びその調整方法、並びにプログラム - 特許庁 - SAMPLE PLATFORM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAMPLE PLATFORM
試料台及びその試料台を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁 - AUTOMATIC IMAGE DRIFT CORRECTION SYSTEM FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡における画像ドリフト自動修正システム - 特許庁 - A microscope 21 comprises three laser beam sources 22, 23 and 24.
マイクロスコープ２１は、３つのレーザー光源２２，２３，２４を備えている。 - 特許庁 - ARRANGEMENT IN ILLUMINATION BEAM PATH OF LASER SCANNING MICROSCOPE (LSM)
レーザ走査型顕微鏡（ＬＳＭ）の照明光路における配置 - 特許庁 - To prevent charge of a sample in a scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡において試料のチャージを防止する。 - 特許庁 - APPARATUS STRUCTURE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE INCLUDING APPARATUS STRUCTURE
装置構造及びその構造を備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - The image microscope focuses an observation object O with an objective lens 1.
対物レンズ１によって観察物Ｏに焦点を合わせる。 - 特許庁 - MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT
ミラー電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁 - To provide a microscope securing color reproducibility.
色再現性を確保することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING PROBE, PROBE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
プローブの作製方法およびプローブ、ならびに走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - LASER SCANNING TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE AND UNIT OF OPTICAL DETECTION SYSTEM
レーザ走査型蛍光顕微鏡および検出光学系ユニット - 特許庁 - To provide a multilayer observation type real time optical microscope.
多層観察型リアルタイム光学顕微鏡を構成しようとする。 - 特許庁 - This operation places the electron microscope into a beam shower mode.
この動作によって、透過電子顕微鏡はビームシャワーモードとなる。 - 特許庁 - MODE SYNCHRONOUS LASER DEVICE, PULSE LASER LIGHT SOURCE DEVICE, AND MICROSCOPE DEVICE
モード同期レーザ装置、パルスレーザ光源装置、及び顕微鏡装置 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
荷電粒子線装置及び走査電子顕微鏡の制御装置 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE COLLISION AVOIDANCE METHOD THEREFOR
走査型プローブ顕微鏡及びその探針衝突回避方法 - 特許庁 - TOOL FOR COVERING GRID HOLE WITH THIN SLICE OF ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN
電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッド孔に張る器具。 - 特許庁 - OFFSET TYPE SURGICAL MANIPULATOR AND SURGICAL MICROSCOPE SYSTEM
オフセット型手術用マニピュレータ及び手術用顕微鏡システム - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT
走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法 - 特許庁 - FIXING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE TABLE
透過電子顕微鏡用試料の固定方法および試料台 - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPE, THE CONTROL METHOD AND THE CONTROL PROGRAM FOR THE SAME
走査型レーザ顕微鏡、該制御方法、及び該制御プログラム - 特許庁 - MICROSCOPE WITH AUTOMATIC FOCUSING MECHANISM AND ADJUSTING METHOD THEREFOR
自動焦点機構を備えた顕微鏡およびその調整方法 - 特許庁 - EMITTED ELECTRON ACCELERATING METHOD IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE
複合放出電子顕微鏡における放出電子加速方法 - 特許庁 - TARGET TRACKING DEVICE, MICROSCOPE SYSTEM AND TARGET TRACKING PROGRAM
対象追跡装置、顕微鏡システムおよび対象追跡プログラム - 特許庁 - PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE
プローブ及び走査型プローブ顕微鏡並びにプローブの製造方法 - 特許庁 - SAMPLE HEATING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD
電子顕微鏡用試料加熱ホルダ及び試料観察方法 - 特許庁 - PRECISION MACHINING METHOD USING NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPE
近接場走査光学顕微鏡を用いた精密加工方法 - 特許庁 - FIBER OPTIC PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME
光ファイバープローブ及びそれを備える走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - PHASE COMPENSATION SYSTEM, AND LASER SCANNING MICROSCOPE SYSTEM USING SAME
位相補償システムとそれを用いたレーザ走査型顕微鏡システム - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
