「microscope」を含む例文一覧(8962)

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  • APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGE
    顕微鏡画像処理装置及び顕微鏡画像処理方法 - 特許庁
  • SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING IT
    走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた観察方法 - 特許庁
  • CORRECTION METHOD OF MEASURED DATA IN SCANNING PROBE MICROSCOPE
    走査型プローブ顕微鏡における測定データの補正方法 - 特許庁
  • "Do you mind my borrowing your microscope?" "No, not at all."
    「顕微鏡をお借りしてもよろしいですか」「どうぞどうぞ」 - Tanaka Corpus
  • EYEPIECE SYSTEM, TELESCOPE, BINOCULARS AND MICROSCOPE
    接眼レンズ系及び望遠鏡及び双眼鏡及び顕微鏡 - 特許庁
  • MICROWAVE RESONATOR AND MICROWAVE MICROSCOPE INCLUDING THE SAME
    マイクロ波共振器、及びそれを備えたマイクロ波顕微鏡 - 特許庁
  • LASER SCANNING DEVICE, LASER SCANNING MICROSCOPE AND SCANNING PROGRAM
    レーザ走査装置、レーザ走査型顕微鏡および走査プログラム - 特許庁
  • A dyeing agent for electron microscope observation contains cisplatin.
    電子顕微鏡観察用染色剤は、シスプラチンを含有する。 - 特許庁
  • METHOD OF MODIFYING NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE
    ナノチューブの改質方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON BEAM AXIS ALIGNING METHOD
    走査電子顕微鏡および電子ビームの軸合わせ方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR/CERAMICS COMBINED CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
    走査型プローブ顕微鏡用半導体・セラミックス複合カンチレバー - 特許庁
  • ZOOM MAGNIFICATION DETECTING UNIT AND ZOOM MICROSCOPE HAVING THE SAME
    ズーム倍率検出ユニットと、これを有するズーム顕微鏡。 - 特許庁
  • ELECTRONIC SPECTROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ABOVE
    電子分光器及びそれを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD FOR MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO DEVICE
    写像型電子顕微鏡及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁
  • MULTIBAND ILLUMINATION TYPE SCANNING MICROSCOPE AND ITS OPTICAL ELEMENT
    マルチバンド照明型走査顕微鏡およびその光学要素 - 特許庁
  • IMAGE PROCESSING SYSTEM, IMAGING SYSTEM AND MICROSCOPE IMAGING SYSTEM
    画像処理システム、撮像システム、及び顕微鏡撮像システム - 特許庁
  • PIEZOELECTRIC ACTUATOR AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
    圧電アクチュエータおよびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • AUTOMATIC FOCUSING SYSTEM IN SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE MICROSCOPE
    走査型荷電粒子顕微鏡における自動焦点システム - 特許庁
  • The invention is applied, for example, to the confocal microscope.
    本発明は、例えば、共焦点顕微鏡に適用できる。 - 特許庁
  • The present invention can be adapted to a scanner type microscope.
    本発明は、走査型顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁
  • The invention is applicable to a phase contrast microscope.
    本発明は位相差顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁
  • To provide a microscope system and an image forming method.
    顕微鏡システムおよび画像生成方法を提供する。 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR ANALYZING MICRO AMOUNT WITH THERMAL LENS MICROSCOPE
    熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置 - 特許庁
  • CROSS-SHAPED SLIT LIGHT PROJECTING OPTICAL CUTTING MICROSCOPE
    十の字形状スリット光照射式光切断顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD AND UNIT FOR CONTROLLING CONFOCAL MICROSCOPE
    共焦点型顕微鏡の制御方法および制御装置 - 特許庁
  • RECTILINEAR GUIDE MECHANISM AND MICROSCOPE STAGE HOLDER USING THE SAME
    直進ガイド機構およびそれを用いた顕微鏡ステージホルダ - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING CONFOCAL LASER MICROSCOPE
    共焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置 - 特許庁
  • HIGH RESOLVING POWER MICROSCOPE AND PHASE RELAXING TIME MEASURING METHOD
    高分解能顕微鏡、及び位相緩和時間測定法 - 特許庁
  • TOTAL INTERNAL REFLECTION MICROSCOPE APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING FLUORESCENT SAMPLE
    全反射顕微鏡装置、及び蛍光試料分析方法 - 特許庁
  • FOCUS-MAINTAINING DEVICE AND INVERSION TYPE MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME
    フォーカス維持装置及びそれを備える倒立型顕微鏡 - 特許庁
  • DOVETAIL CLAMPING MECHANISM AND MICROSCOPE HAVING DOVETAIL CLAMPING MECHANISM
    アリ締結機構及びアリ締結機構を備えた顕微鏡 - 特許庁
  • CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AS WELL AS PROGRAM
    コンフォーカル顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁
  • DIMENSION-MEASURING DEVICE USING CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE
    共焦点走査型顕微鏡を用いた寸法測定装置 - 特許庁
  • EYE POINT POSITION VARIABLE LENS BARREL AND MICROSCOPE USING THE SAME
    アイポイント位置可変鏡筒及びそれを用いた顕微鏡 - 特許庁
  • OPTICAL COMPONENT AND PHASE CONTRAST MICROSCOPE USING THE OPTICAL COMPONENT
    光学部品及び光学部品を用いた位相差顕微鏡 - 特許庁
  • SCANNING MICROSCOPE FOR OPTICALLY MEASURING AN OBJECT
    物体の光学的測定を行うための走査型顕微鏡 - 特許庁
  • MEASURING METHOD FOR CLUSTER SIZE OF WATER BY INTER ATOMIC FORCE MICROSCOPE
    原子間顕微鏡による水のクラスタ—サイズ測定方法 - 特許庁
  • IMAGE FORMING METHOD FOR OPTICAL MICROSCOPE AND ASTRONOMICAL TELESCOPE
    光学顕微鏡および天体望遠鏡の結像方法。 - 特許庁
  • METHOD FOR MODIFYING PHOTOMASK USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
    原子間力顕微鏡を使用したフォトマスク修正方法 - 特許庁
  • CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF GENERATING FOCUSED COLOR IMAGE
    共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法 - 特許庁
  • SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH SURFACE MEASURING INSTRUMENT
    表面測定器と組み合わされた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME
    透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法 - 特許庁
  • IMAGE ACQUISITION DEVICE, IMAGE COMPOSITION METHOD, AND MICROSCOPE SYSTEM
    画像取得装置、画像合成方法、及び顕微鏡システム - 特許庁
  • ANALYSIS OF DOUBLE STRANDED NUCLEIC ACID BY SCANNING PROBE MICROSCOPE
    走査型プローブ顕微鏡による二本鎖核酸の分析 - 特許庁
  • LASER SCANNING MICROSCOPE, AND ILLUMINATOR OR DETECTOR
    レ—ザ走査顕微鏡および照明およびまたは検出装置 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM INTERFERENCE DEVICE AND ELECTRON BEAM INTERFERENCE MICROSCOPE METHOD
    電子線干渉装置、および電子線干渉顕微方法 - 特許庁
  • MICROSCOPE OBSERVATION SYSTEM AND MICROSCOPIC IMAGE DISPLAY METHOD
    顕微鏡観察システムおよび顕微鏡画像の表示方法 - 特許庁
  • PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME
    走査型プローブ顕微鏡用探針およびその製造方法。 - 特許庁
  • CONTROLLER FOR SYSTEM MICROSCOPE, AND UNIT RECOGNITION METHOD THEREOF
    システム顕微鏡の制御装置、及びそのユニット認識方法 - 特許庁
  • MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
    微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
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