「pattern method」を含む例文一覧(23003)

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  • CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE, CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD AND STORAGE MEDIUM
    回路パターン検査装置並びに回路パターン検査方法及び記録媒体 - 特許庁
  • DETERMINATION METHOD OF RETICLE PATTERN AND COMPUTER PROGRAM FOR DETERMINING RETICLE PATTERN
    レチクルパターンの決定方法、及びレチクルパターン決定用計算機プログラム - 特許庁
  • In the pattern forming method, exposure is performed using the pattern forming material.
    該パターン形成材料を用いて露光するパターン形成方法である。 - 特許庁
  • INKJET INK FOR METAL PATTERN FORMATION AND METHOD FOR FORMING METAL PATTERN
    金属パターン形成用インクジェットインクおよび金属パターン形成方法 - 特許庁
  • INSULATOR INK RESIN COMPOSITION, RESIST PATTERN, AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD
    絶縁体インク樹脂組成物、レジストパターン及びレジストパターン形成方法 - 特許庁
  • PHOTOSENSITIVE ELEMENT, DIELECTRIC PATTERN, AND METHOD FOR PRODUCING THE DIELECTRIC PATTERN
    感光性エレメント、誘電体パターン及び誘電体パターンの製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR WARPING WARP YARN FOR PATTERN, AND PARTIAL WARPER FOR PATTERN WARP YARN
    柄用経糸を整経する方法および柄経糸用部分整経機 - 特許庁
  • METHOD FOR WARPING WARP YARN FOR PATTERN, AND PARTIAL WARPER FOR PATTERN WARP YARN
    柄用経糸を製造する方法および柄経糸用部分整経機 - 特許庁
  • METAL MASK, IMPLEMENT FOR REGULATION OF FUNCTIONAL PATTERN AND FUNCTIONAL PATTERN REGULATING METHOD
    メタルマスク、機能パターン調整用治具および機能パターン調整方法 - 特許庁
  • PRINTER, TEST PATTERN FORMING METHOD IN PRINTER, AND TEST PATTERN FORMING PROGRAM
    プリンタ、プリンタにおけるテストパターン形成方法、及びテストパターン形成プログラム - 特許庁
  • METHOD FOR FORMING CONDUCTIVE PATTERN, CONDUCTIVE PATTERN, ELECTRONIC PART AND ELECTRONIC EQUIPMENT
    導電パターンの形成方法、導電パターン、電子部品および電子機器 - 特許庁
  • PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, PATTERN FORMATION MATERIAL AND PATTERN FORMATION METHOD
    感光性樹脂組成物、パターン形成用材料及びパターン形成方法 - 特許庁
  • RESIST PATTERN IMPROVING MATERIAL AND METHOD FOR PRODUCING PATTERN USING THE SAME
    レジストパターン改善化材料およびそれを用いたパターンの製造方法 - 特許庁
  • To provide a pattern forming method for forming a hole pattern in high density.
    ホールパターンを高密度に形成するパターン形成方法を提供する。 - 特許庁
  • PATTERN GENERATING METHOD AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PATTERN GENERATION PROGRAM
    模様生成方法及び模様生成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • FORMATION METHOD OF LIGHT REFLECTION PATTERN AND PRODUCT WITH THE LIGHT REFLECTION PATTERN
    光反射パターンの形成方法及び光反射パターン付き製品 - 特許庁
  • INSPECTION METHOD OF TIRE IRREGULARITY PATTERN, AND INSPECTION DEVICE OF TIRE IRREGULARITY PATTERN
    タイヤ凹凸図形の検査方法、および、タイヤ凹凸図形検査装置 - 特許庁
  • INTERFERENCE PATTERN ANALYSIS METHOD, INTERFERENCE PATTERN ANALYZING PROGRAM AND RECORD MEDIUM
    干渉縞解析方法、干渉縞解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁
  • PATTERN RECOGNITION METHOD AND RECORDING MEDIUM WITH PATTERN RECOGNITION PROGRAM RECORDED THEREIN
    パターン認識方法およびパターン認識プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING PATTERN FORM AND DEVICE FOR MANUFACTURING PATTERN FORM
    パターン形成体の製造方法およびパターン形成体製造用装置 - 特許庁
  • POSITIONAL MISALIGNMENT MEASURING METHOD OF SUBSTRATE FRONT/BACK SURFACE PATTERN USING OPENING PATTERN
    開口パターンを用いた基板表裏面パターンの位置ずれ測定方法 - 特許庁
  • To simplify a pattern transfer processing in a method for forming a resist pattern.
    レジストパターン形成法において、パターン転写処理の簡素化を図る。 - 特許庁
  • TRANSFER FILM FOR FORMING METALLIC PATTERN AND METHOD OF FORMING METALLIC PATTERN
    金属パターン形成用転写フィルムおよび金属パターン形成方法 - 特許庁
  • METHOD FOR REWRITING PATTERN ON REEL TAPE, PATTERN REWRITING DEVICE AND GAME MACHINE
    リールテープの図柄の書き換え方法、図柄の書き換え装置及び遊技機 - 特許庁
  • METHOD FOR APPLYING EMBOSS PATTERN TO METAL CAN AND EMBOSS PATTERN APPLYING DEVICE
    金属缶のエンボス模様賦形方法およびエンボス模様賦形装置 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING METALLIC SHEET MATERIAL PROVIDED WITH HOLOGRAM PATTERN AND PRINTED PATTERN
    ホログラム模様と印刷模様とを備えた金属板材の製造方法 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF VESSEL WITH PATTERN, AND VESSEL WITH PATTERN OBTAINED THEREBY
    模様付容器の製法およびそれによって得られる模様付容器 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, PATTERN DESIGNING METHOD AND PATTERN DESIGNING PROGRAM THEREFOR
    半導体装置並びにそのパターン設計方法及びパターン設計プログラム - 特許庁
  • METHOD FOR FORMING WRINKLE PATTERN ON FABRIC AND WEAR HAVING VOLUTE WRINKLE PATTERN
    布地のシワ模様付設方法及び渦巻き状シワ模様付の衣類 - 特許庁
  • WARPER FOR PATTERN WARP AND METHOD FOR PRODUCING PATTERN WARP BEAM
    柄経糸用整経機および柄経糸ビームを製造するための方法 - 特許庁
  • BREAK PATTERN OF SILICON WAFER, SILICON SUBSTRATE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE BREAK PATTERN
    シリコンウェハーのブレークパターン、シリコン基板、及び、ブレークパターンの作製方法 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD FOR ARTIFICIAL MARBLE HAVING BOTH GRAIN PATTERN AND STRIPE PATTERN
    粒柄とストライプ柄の両方を有する人工大理石の製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR FORMING PHOTOSENSITIVE POLYIMIDE PATTERN AND ELECTRONIC ELEMENT HAVING THE PATTERN
    感光性ポリイミドパターンの形成方法及び該パターンを有する電子素子 - 特許庁
  • PATTERN FORMING MATERIAL, DEVICE AND METHOD FOR PATTERN FORMING
    パターン形成材料、並びにパターン形成装置及びパターン形成方法 - 特許庁
  • COATING LIQUID FOR PATTERN FORMING BODY AND METHOD FOR PRODUCING PATTERN FORMING BODY
    パターン形成体用塗工液およびパターン形成体の製造方法 - 特許庁
  • STRIPED PATTERN IMAGE DETERMINATION DEVICE, STRIPED PATTERN IMAGE DETERMINATION METHOD, AND PROGRAM
    縞模様画像鑑定装置、縞模様画像鑑定方法及びプログラム - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF CONTAINER HAVING PATTERN, AND CONTAINER HAVING PATTERN OBTAINED BY IT
    模様付容器の製法およびそれによって得られる模様付容器 - 特許庁
  • DECOMPOSABLE RESIN COMPOSITION, PATTERN-FORMING MATERIAL AND PATTERN-FORMING METHOD
    分解性樹脂組成物、パターン形成材料およびパターン形成方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING PATTERN FORMATION MEMBER, AND PATTERN FORMATION MEMBER
    パターン形成部材の検査方法及び装置、並びにパターン形成部材 - 特許庁
  • PHOTOPOLYMERIZABLE COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD AND PATTERN USING THE SAME
    光重合性組成物、それを用いたパターン形成方法およびパターン - 特許庁
  • RESIN COMPOSITION FOR FORMING FINE PATTERN, AND METHOD OF FORMING FINE PATTERN
    微細パターン形成用樹脂組成物および微細パターン形成方法 - 特許庁
  • COATING DEVICE FOR FORMING SPOT PATTERN AND COATING METHOD FOR SPOT PATTERN
    斑点模様を形成する塗装装置および斑点模様の塗装方法 - 特許庁
  • FORMING METHOD OF RESIST PATTERN, FORMING METHOD OF ELECTRODE PATTERN, AND MANUFACTURING METHOD OF SURFACE ACOUSTIC WAVE DEVICE
    レジストパターンの形成方法、電極パターンの形成方法および弾性表面波装置の製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, PROGRAM FOR PRODUCING TEST PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING MASK, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    テストパターン作成方法、テストパターン作成プログラム、マスク作製方法、及び半導体装置製造方法 - 特許庁
  • IMAGE PATTERN CORRECTION METHOD, SIMULATION IMAGE GENERATION METHOD USING SAME, AND PATTERN APPEARANCE INSPECTION METHOD
    画像パターン補正方法、及びそれを適用した模擬画像生成方法、並びにパターン外観検査方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING APPARATUS, MARK DETECTION APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, PATTERN FORMING METHOD, EXPOSURE METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
    パターン形成装置、マーク検出装置、露光装置、パターン形成方法、露光方法及びデバイス製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR CORRECTING MASK PATTERN FOR EXPOSURE, PROGRAM, MASK PATTERN FORMING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    露光用マスクパターンの補正方法、プログラム、マスクパターン形成方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF FORMING PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF DESIGNING PATTERN OF PHOTOMASK, PHOTOMASK AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
    半導体装置のパターン形成方法、フォトマスクのパターン設計方法、フォトマスクの製造方法およびフォトマスク - 特許庁
  • IMAGE PATTERN CORRECTION METHOD, SIMULATED IMAGE GENERATION METHOD USING THE SAME AND PATTERN APPEARANCE INSPECTION METHOD
    画像パターン補正方法、及びそれを適用した模擬画像生成方法、並びにパターン外観検査方法 - 特許庁
  • METHOD FOR GENERATING PATTERN FRAME, METHOD FOR COLLATING TEST PATTERN, METHOD FOR TESTING JITTER, COMMUNICATION DEVICE, AND COMMUNICATION SYSTEM
    パターンフレーム生成方法およびテストパターン照合方法、並びにジッタテスト方法、通信装置、通信システム - 特許庁
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