「pattern method」を含む例文一覧(23003)

<前へ 1 2 .... 42 43 44 45 46 47 48 49 50 .... 460 461 次へ>
  • METHOD FOR APPLYING RESIST, APPARATUS FOR APPLYING RESIST, METHOD FOR FORMING MASK PATTERN AND METHOD FOR FORMING PATTERN ON LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE
    レジスト塗布方法、レジスト塗布装置、マスクパターン形成方法および液晶基板のパターン形成方法 - 特許庁
  • MEASURING METHOD, SETTING METHOD AND PATTERN FORMING METHOD, AND MOVING BODY DRIVE SYSTEM AND PATTERN FORMING DEVICE
    計測方法、設定方法及びパターン形成方法、並びに移動体駆動システム及びパターン形成装置 - 特許庁
  • METHOD OF READING PATTERN IMAGE, APPARATUS FOR READING PATTERN IMAGE, INFORMATION PROCESSING METHOD, AND PROGRAM FOR READING PATTERN IMAGE
    パターン画像の読み取り方法、パターン画像の読み取り装置、情報処理方法およびパターン画像の読み取りプログラム - 特許庁
  • CORRECTION METHOD FOR DESIGN PATTERN, CORRECTION SYSTEM FOR DESIGN PATTERN, CORRECTION PROGRAM FOR DESIGN PATTERN AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    設計パタンの補正方法、設計パタンの補正システム、設計パタンの補正プログラム、及び、半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • To provide a pattern formation method capable of easily forming a fine pattern, and a pattern formation device and a template manufacturing method.
    微細パターンを簡便に形成できるパターン形成方法、パターン形成装置、及びテンプレート作製方法を提供する。 - 特許庁
  • INSPECTION DEVICE, CORRECTION METHOD, INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE
    検査装置、補正方法、検査方法及びパターン基板の製造方法 - 特許庁
  • PATTERNING METHOD, RETICLE CORRECTING METHOD, AND RETICLE PATTERN DATA CORRECTING METHOD
    パターン形成方法、レチクル補正方法及びレチクルパターンデータ補正方法 - 特許庁
  • PREPARATION METHOD OF RESIST PATTERN, METHOD OF PREPARING ELECROFORMING, AND PREPARATION METHOD OF MOLD
    レジストパターン作成方法、電鋳作成方法及び型作成方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRIC ELEMENT USING ITS METHOD
    パターン形成方法及びこれを利用した電気素子の製造方法 - 特許庁
  • MASK DATA GENERATION METHOD, EXPOSURE MASK PREPARATION METHOD AND PATTERN FORMATION METHOD
    マスクデータ生成方法、露光マスク作成方法およびパターン形成方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMATION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE USING THE FORMATION METHOD
    パターン形成方法及びそれを利用した表示装置の製造方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND OUTWARD APPEARANCE INSPECTING METHOD FOR RETICLE
    レチクルのパターン形成方法及びレチクルの外観検査方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMATION METHOD AND IMPRINT MOLD MANUFACTURING METHOD
    パターン形成方法およびインプリント用モールドの製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR GENERATING DRAWING PATTERN DATA AND METHOD FOR DRAWING MASK
    描画パターンデータの生成方法及びマスクの描画方法 - 特許庁
  • METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN AND METHOD FOR MANUFACTURING COLOR FILTER
    レジストパターンの形成方法およびカラーフィルターの製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR FORMING PATTERN AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    パターン形成方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF FORMING PATTERN AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    パターン形成方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • COATING PATTERN ATTAINMENT METHOD AND COATING THICKNESS SIMULATION METHOD
    塗装パターン獲得方法および塗装膜厚シミュレーション方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE
    パターン形成方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING STENCIL MASK, AND METHOD OF TRANSFERRING PATTERN THEREFOR
    ステンシルマスクの製造方法及びそのパターン転写方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR LEVENSON TYPE MASK
    パターン形成方法およびレベンソン型マスクの製造方法 - 特許庁
  • INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE
    検査装置、検査方法及びパターン基板の製造方法 - 特許庁
  • INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE
    検査装置及び検査方法、パターン基板の製造方法 - 特許庁
  • MASK PATTERN FORMING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    マスクパターン作成方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • HOLE PATTERN FORMING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR
    ホールパターン形成方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • PATTERN VERIFYING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    パターン検証方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • TRANSFER METHOD OF RESIST PATTERN AND MANUFACTURING METHOD OF PHOTO MASK
    レジストパターンの転写方法及びフォトマスクの製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR FORMING PHOTORESIST PATTERN, AND METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY PANEL
    フォトレジストの形成方法及び表示パネルの製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR FORMING CONDUCTOR PATTERN AND METHOD FOR MANUFACTURING INDUCTOR
    導体パターンの形成方法およびインダクタの製造方法 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING PATTERN FORMING METHOD
    パターン形成方法を含む半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    パターン作成方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • REPETITIVE PATTERN ERASING METHOD, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE
    繰り返しパターン消去方法、欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
  • PROCESSING DEVICE, PROCESSING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE
    処理装置、処理方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁
  • PATTERN EVALUATION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    パターン評価方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMATION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    パターン形成方法、および半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FORMING PATTERN
    半導体装置の製造方法及びパターンの形成方法 - 特許庁
  • MASK SET, METHOD FOR CREATING MASK DATA AND METHOD FOR FORMING PATTERN
    マスクのセット、マスクデータ作成方法及びパターン形成方法 - 特許庁
  • METHOD FOR PROCESSING PATTERN DATA AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE
    パターンデータの処理方法、及び電子デバイスの製造方法 - 特許庁
  • AREA RATIO/OCCUPANCY RATIO VERIFICATION METHOD AND PATTERN PRODUCTION METHOD
    面積率/占有率検証方法及びパターン生成方法 - 特許庁
  • METHOD OF CORRECTING PATTERN AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    パターン修正方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF FORMING PATTERN AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    パターン作成方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • DRY LITHOGRAPHY METHOD AND GATE PATTERN FORMING METHOD USING IT
    ドライリソグラフィ法およびこれを用いたゲートパターン形成方法 - 特許庁
  • METHOD FOR FORMING MASK PATTERN, METHOD AND PROGRAM FOR MANUFACTURING MASK
    マスクパターンの作成方法、マスクの製造方法およびプログラム - 特許庁
  • FORMING METHOD OF THIN FILM PATTERN, DEVICE AND ITS PRODUCTION METHOD
    薄膜パターンの形成方法、デバイスおよびその製造方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF THIN FILM TRANSISTOR
    パターン形成方法および薄膜トランジスタの製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING MULTILEVEL GRADATION PHOTOMASK AND METHOD FOR TRANSFERRING PATTERN
    多階調フォトマスクの製造方法、及びパターン転写方法 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE / GENERATING METHOD OF MASK PATTERN
    半導体装置の製造方法/マスクパターンの生成方法 - 特許庁
  • METHOD FOR CREATING DESIGN PATTERN DATA, METHOD FOR CREATING MASK PATTERN DATA, METHOD FOR MANUFACTURING MASK, AND METHOD AND PROGRAM FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    設計パターンデータ作成方法、マスクパターンデータ作成方法、マスク製造方法、半導体装置の方法およびプログラム - 特許庁
  • MASK PATTERN CORRECTION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD
    マスクパターン補正方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM
    パターン形成方法および磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁
<前へ 1 2 .... 42 43 44 45 46 47 48 49 50 .... 460 461 次へ>

例文データの著作権について

  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.