「pattern」を含む例文一覧(49965)

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  • PATTERN RECOGNITION DEVICE AND PATTERN RECOGNITION METHOD
    パターン認識装置及びパターン認識方法 - 特許庁
  • PATTERN IDENTIFICATION METHOD AND PATTERN IDENTIFICATION DEVICE
    パターン識別方法及びパターン識別装置 - 特許庁
  • PATTERN RECOGNITION METHOD AND PATTERN RECOGNITION DEVICE
    パターン認識方法及びパターン認識装置 - 特許庁
  • PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION APPARATUS
    パターン検査方法およびパターン検査装置 - 特許庁
  • PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD
    パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁
  • PATTERN MEASUREMENT DEVICE AND PATTERN MEASUREMENT METHOD
    パターン測定装置及びパターン測定方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND PATTERN FORMING APPARATUS
    パターン作製方法及びパターン作製装置 - 特許庁
  • PATTERN TRANSFER APPARATUS AND PATTERN TRANSFER METHOD
    パターン転写装置及びパターン転写方法 - 特許庁
  • PATTERN CORRECTION DEVICE AND PATTERN CORRECTION METHOD
    パターン補正装置およびパターン補正方法 - 特許庁
  • PATTERN MEASUREMENT METHOD AND PATTERN MEASUREMENT DEVICE
    パターン計測方法及びパターン計測装置 - 特許庁
  • PATTERN TEST DEVICE AND PATTERN TEST METHOD
    パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁
  • PATTERN RECOGNITION SYSTEM AND PATTERN RECOGNITION METHOD
    パターン認識システム及びパターン認識方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING ELEMENT AND PATTERN FORMING METHOD
    パターン形成体及びパターン形成方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMATION METHOD AND PATTERN FORMATION BODY
    パターン形成方法およびパターン形成体 - 特許庁
  • PATTERN GENERATION DEVICE AND PATTERN GENERATING METHOD
    パターン作成装置及びパターン作成方法 - 特許庁
  • PATTERN MEASURING METHOD AND PATTERN MEASURING DEVICE
    パターン測定方法、及びパターン測定装置 - 特許庁
  • PATTERN RECOGNIZING DEVICE AND PATTERN RECOGNIZING METHOD
    パターン認識装置及びパターン認識方法 - 特許庁
  • PATTERN GENERATING METHOD AND PATTERN GENERATION DEVICE
    パターン発生方法及びパターン発生装置 - 特許庁
  • PATTERN TRANSFER DEVICE AND PATTERN TRANSFER METHOD
    パターン転写装置及びパターン転写方法 - 特許庁
  • PATTERN TRANSFER METHOD AND PATTERN TRANSFER DEVICE
    パターン転写方法、及びパターン転写装置 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND ITS FORMED PATTERN
    パターン形成方法およびその形成パターン - 特許庁
  • PATTERN DRAWING DEVICE AND PATTERN DRAWING METHOD
    パターン描画装置及びパターン描画方法 - 特許庁
  • PATTERN CONTROL METHOD AND PATTERN CONTROL PROGRAM
    パターン管理方法及びパターン管理プログラム - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND PATTERN FORMING SUBSTRATE
    パターン形成方法及びパターン形成基体 - 特許庁
  • PATTERN FORMING DEVICE AND PATTERN FORMING METHOD
    パターン形成装置及びパターン形成方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND PATTERN FORMING DEVICE
    パターン形成方法及びパターン形成装置 - 特許庁
  • PATTERN FORMATION METHOD AND PATTERN FORMATION OBJECT
    パターン形成方法およびパターン形成体 - 特許庁
  • PATTERN MEASUREMENT METHOD AND PATTERN MEASURING DEVICE
    パターン測定方法及びパターン測定装置 - 特許庁
  • DYE PATTERN FORMING METHOD AND DYE PATTERN
    色素パターン形成方法および色素パターン - 特許庁
  • INSPECTING METHOD OF PATTERN AND INSPECTION SYSTEM FOR PATTERN
    パターン検査方法、及びパターン検査システム - 特許庁
  • PATTERN FORMING APPARATUS AND PATTERN FORMING METHOD
    パターン形成装置、及びパターン形成方法 - 特許庁
  • PATTERN EXPOSURE METHOD AND PATTERN EXPOSURE APPARATUS
    パターン露光方法およびパターン露光装置 - 特許庁
  • PATTERN EXPOSURE APPARATUS AND PATTERN EXPOSURE METHOD
    パターン露光装置およびパターン露光方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING BODY AND PATTERN FORMING METHOD
    パターン形成体およびパターン形成方法 - 特許庁
  • PATTERN INSPECTION DEVICE AND PATTERN INSPECTION METHOD
    パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁
  • PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION DEVICE
    パターン検査方法およびパターン検査装置 - 特許庁
  • PATTERN MAKING APPARATUS AND PATTERN MAKING METHOD
    パターン作成装置及びパターン作成方法 - 特許庁
  • File name matches regular expression pattern.
    ファイル名が正規表現 pattern にマッチすれば真。 - JM
  • a pattern called an {'ashide'} pattern
    葦手という書体を用いて描いた模様 - EDR日英対訳辞書
  • in Japan, a pattern that was popular during the Genroku period, called a {Genroku pattern}
    元禄時代に流行した模様 - EDR日英対訳辞書
  • an atmospheric pressure pattern, called east-high and west-low pressure pattern
    東高西低型という気圧配置 - EDR日英対訳辞書
  • PATTERN EXPOSURE METHOD AND PATTERN EXPOSURE DEVICE
    パターン露光方法およびパターン露光装置 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND PATTERN FORMING DEVICE
    パターン形成方法、及びパターン形成装置 - 特許庁
  • PATTERN FORMING APPARATUS AND PATTERN FORMING METHOD
    パターン形成装置及びパターン形成方法 - 特許庁
  • PATTERN FORMING METHOD AND PATTERN FORMING APPARATUS
    パターン形成方法及びパターン形成装置 - 特許庁
  • PATTERN MEASURING METHOD AND PATTERN MEASURING DEVICE
    パターン測定方法及びパターン測定装置 - 特許庁
  • PATTERN MEASURING DEVICE AND PATTERN MEASURING METHOD
    パターン測定装置及びパターン測定方法 - 特許庁
  • NEGATIVE PATTERN FORMING METHOD AND RESIST PATTERN
    ネガ型パターン形成方法及びレジストパターン - 特許庁
  • A simulation pattern is formed by processing the difference pattern between the compensation exposure pattern and expected pattern, and the designing pattern.
    補正露光パターンと予想パターンとの差分パターンと設計パターンとを処理してシミュレーションパターンを作成する。 - 特許庁
  • PATTERN DRAWING DEVICE, PATTERN DRAWING METHOD AND MASK FOR PATTERN DRAWING
    パターン描画装置、パターン描画方法及びパターン描画用のマスク - 特許庁
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