「ray diffraction」を含む例文一覧(1018)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 20 21 次へ＞- An X-ray imaging unit 11 is placed in a position at an approximate Talbot distance L from a diffraction grating for Talbot and is a unit for imaging X-rays diffracted by the diffraction grating for Talbot.
Ｘ線撮像ユニット１１は、タルボ用回折格子から略タルボ距離Ｌ離れた位置に配置され、タルボ用回折格子によって回折されたＸ線を撮像するためのユニットである。 - 特許庁 - The alkaline storage battery 1 is constructed so that at least a part of the crystal structure of the anode active material is changed by charge and discharge, and the anode active material is controlled so as to indicate a new diffraction peak at 8.4-10.4° of a diffraction angle 2θ, by X-ray diffraction using a CuKα ray.
アルカリ蓄電池１は、充放電により正極活物質の結晶構造の少なくとも一部が変化し、正極活物質がＣｕＫα線によるＸ線回折で回折角２θの８．４〜１０．４度の位置に新たな回折ピークを示すようになることを抑制するように構成されている。 - 特許庁 - To improve the measurement accuracy of the amount of adhesion of a metallic phase by improving X-ray diffraction intensity from the metallic phase contained in a plated layer in a method for measuring the amount of adhesion of the metallic phase contained in the plated layer using the X-ray diffraction method.
Ｘ線回折法を用いた、めっき層に含まれる金属相の付着量を測定する方法において、めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線強度を高め、金属相の付着量の測定精度を向上させる。 - 特許庁 - The ceramic sintered compact has a perovskite structure, wherein a (002)/(200) ratio by X-ray diffraction after polarization is applied is ≥1.0 and a half-value width of (002) by X-ray diffraction after polarization is applied is ≥1.2.
ペロブスカイト型構造を有するセラミックス焼結体であって、分極を施した後のＸ線回折による（００２）／（２００）比が１．０以上であり、又分極を施した後のＸ線回折による（００２）の半値幅が１．２以上である焼結体。 - 特許庁 - For the ferroelectric BLT film, a peak intensity at an angle of diffraction of about 33.0° (a/b axis component) in an X-ray diffraction image in a direction of a film thickness is greater than a peak intensity at an angle of diffraction of about 30.0° (a component corresponding to a (117) plane).
本発明のＢＬＴ系強誘電体膜は、膜厚方向のＸ線回折像において、回折角約３３．０°（ａ・ｂ軸成分）のピーク強度が、回折角約３０．０°（（１１７）面に対応する成分）のピーク強度よりも大きい。 - 特許庁 - When the diffraction intensity of the (101) face of hexacelsian in the crystallized glass in X-ray diffraction is represented by I(101) and diffraction intensity from the (110) face by I(110), the relation of 0≤I(101)/I(110)≤1.5 is satisfied.
ヘキサセルジアンを主結晶相とする結晶化ガラスであって、Ｘ線回折においてヘキサセルジアンの（１０１）面の回折強度をＩ（１０１）とし、（１１０）面からの回折強度をＩ（１１０）としたとき、０≦Ｉ（１０１）／Ｉ（１１０）≦１．５である。 - 特許庁 - The carrier is characterized by developing one or two main diffraction lines in the ranges of 2θ of 2-14° and 2θ of 14-50° and providing a characteristic diffraction line of anhydrous α-MgCl2 in the X-ray powder diffraction spectrum.
この担体のＸ線粉末回折スペクトルには、１つあるいは２つの主要な回折ラインが２〜１４°の２θ、及び１４〜５０の２θの範囲に現れ、無水α−ＭｇＣｌ_２の特徴的な回折ラインが存在することを特徴とする担体。 - 特許庁 - The crystalline polymorph (form A) of the bazedoxifene acetate characterized according to the powder X-ray diffraction data, IR data, and DSC data, and the composition containing the crystalline polymorph are provided.
より良好なバイオアベイラビリティー又はより良好な安定性を示すバゼドキシフェンアセテートの結晶多形の提供。 - 特許庁 - The HC adsorbent has high heat resistance and keeps high XRD (X-ray diffraction) intensity after tested for heat resistance and durability.
当該ＨＣ吸着剤は、耐熱性が高く耐熱耐久処理後におけるＸＲＤ回折強度が高く維持される。 - 特許庁 - A mark-off line 2 is provided to the substrate 1 in parallel to a crystal azimuth for performing an OF process by use of an X-ray diffraction instrument.
この基板１に対し、Ｘ線回折装置を用いてＯＦ加工を施す結晶方位に平行なケガキ線２を付ける。 - 特許庁 - In the cryptocrystalline magnesia, a powder X-ray diffraction spectrum at a wavelength of 1.5405Å has an apex of a peak at 2θ=42.8°±0.3°.
水酸化マグネシウム及び／又は炭酸マグネシウムを３００℃以上、１０００℃未満で加熱し、潜晶質マグネシアを製造する。 - 特許庁 - The X-ray diffraction pattern (spacing of lattice plane, d/Å) 12.4±0.8, 10.8±0.3, 9.0±0.3, 6.0±0.3, 3.9±0.1, 3.4±0.1.
Ｘ線回折パターン（格子面間隔ｄ／Å）１２．４±０．８１０．８±０．３９．０ ±０．３６．０ ±０．３３．９ ±０．１３．４ ±０．１ - 特許庁 - Each of the titania-based porous bodies consists essentially of titania and has X-ray diffraction peaks assigned to lattice-planes having 0.290±0.002 nm interplanar spacing and contains also crystals other than anatase phase crystals.
チタニアを主成分とする多孔体であり、面間隔 0.290± 0.002nmの格子面に帰属されるＸ線回折ピークをもつ。 - 特許庁 - The GaN type sample is subjected to X-ray diffraction measurement to calculate an hkl profile for each of a plurality of selected different reflection indexes hkl.
ＧａＮ系試料をＸ線回折測定して、選択した複数の異なる反射指数hklごとのhklプロファイルを求める。 - 特許庁 - An X-ray diffraction is measured with respect to the GaN type sample to calculate hkl profiles at every a plurality of selected reflection indexes hkl.
ＧａＮ系試料に対してＸ線回折測定をし、選択した複数の異なる反射指数hklごとのhklプロファイルを求める。 - 特許庁 - The oxide containing vanadium is an oxide containing vanadium that exhibits a main peak at 2θ=26.2°(±0.2°) in X-ray diffraction spectrum.
バナジウム含有酸化物は、Ｘ線回折スペクトルにおいて２θ＝２６．２°（±０．２°）にメインピークを示すバナジウム含有酸化物である。 - 特許庁 - To provide a new carrier which contains an alcohol and which is based on magnesium chloride, having a specific X-ray powder diffraction spectrum.
アルコールを含み、特別なＸ線粉末回折スペクトルを有する新規の塩化マグネシウムをベースとする担体を提供すること。 - 特許庁 - The crystal is confirmed to be a single crystal β-FeSi2 phase from X-ray diffraction of the formed β-FeSi2.
生成したβ−ＦｅＳｉ_2のＸ線回折から、結晶は単結晶β−ＦｅＳｉ_2相であることが確認された。 - 特許庁 - A solid IM-11 with the LTA-type structure has an X-ray diffraction pattern having at least its peaks shown in Table 1.
ＬＴＡ型構造を有する固体のＩＭ−１１は、少なくとも表１に示す線を持つＸ線回折図を有する。 - 特許庁 - To provide a measuring substrate usable in X-ray diffraction measurement, even in a trace amount of sample.
微少量の試料であってもＸ線回折測定に用いることが可能な測定用基板を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The cement quality control method is carried out by analysis of a mineral composition using Rietvelt analysis of a powder X-ray diffraction chart.
粉末Ｘ線回折チャートのリートベルト解析を利用した鉱物組成の分析によってセメントの品質管理を行う。 - 特許庁 - This carrier has no lattice defect and magnesia is not detected even by X-ray diffraction and the lattice constant of the carrier is near to a theoretical value.
この担体は格子欠陥がなく、Ｘ線回折によってもマグネシアが検出されず、格子定数が理論値に近い。 - 特許庁 - The particles 10 are formed so that the average size of crystallites 1 found by the X-ray diffraction method is ≥30 nm.
金属磁性粒子１０は、Ｘ線回折法によって求められる結晶子１の平均の大きさが３０ｎｍ以上である。 - 特許庁 - Infrared detectors 100 to 104 comprise diffraction gratings 20, 21, and 22 to diffract an infrared ray and an infrared detecting element 3 to detect the infrared ray, both of which are installed in a package 4, and detects the infrared ray with the specific wavelength diffracted by the diffraction gratings 20, 21, and 22 using the infrared detecting element 3.
赤外線を回折する回折格子２０，２１，２２と、赤外線を感知する赤外線検出素子３とを、同一パッケージ４内に備え、回折格子２０，２１，２２により回折された特定波長の赤外線を、赤外線検出素子３により検出する赤外線検出器１００〜１０４とする。 - 特許庁 - Preferably, an average layer spacing calculated from a 002 diffracted ray measured by an X-ray diffraction of the graphite crystal is in a range of 0.3354-0.35 nm.
前記グラファイト結晶のＸ線回折によって測定された００２回折線より算出された平均層面間隔が０．３３５４〜０．３５ｎｍの範囲にあることが好ましい。 - 特許庁 - The zirconia sintered compact is characterized in that the half-value width of a peak of (111)plane of the tetragonal system in the X-ray diffraction pattern by CuKα ray is 0.38-10°.
ＣｕＫα線によるＸ線回折パターンにおける正方晶の（１１１）面のピークの半値幅が０．３８度以上１０度以下であることを特徴とするジルコニア焼結体。 - 特許庁 - The regenerated catalyst is subjected to an X-ray diffraction analysis and/or an X-ray photoelectron spectroscopic analysis of metal pieces to judge whether the regenerated catalyst is to be recovered.
得られた再生処理後の触媒について、金属種のＸ線回折分析及び／又はＸ線光電子分光分析を行い、触媒の回収の要否を判定する。 - 特許庁 - To improve the wavelength resolution of a characteristic X-ray used for analysis and the ratio of characteristic X-ray to background by using only a valid diffraction area of a dispersive crystal in an X-ray spectrometer using the curved dispersive crystal.
湾曲分光結晶を用いるＸ線分光器において、分光結晶の有効回折領域のみを使用するようにして、分析に用いる特性Ｘ線の波長分解能、特性Ｘ線対バックグランド比の向上を図る。 - 特許庁 - The X-ray imaging element 11 includes an X-ray conversion element 111 having a pattern equivalent to a diffraction grating formed of a material generating visible light by absorbing the X-ray, and an imaging element 112 for imaging the visible light.
Ｘ線撮像素子１１は、Ｘ線を吸収して可視光を発生する材料で形成された回折格子に相当するパターンを有するＸ線変換素子１１１と、可視光を撮像する撮像素子１１２とを含む。 - 特許庁 - To provide a reflection type diffraction grating hologram which can generate X-ray having orbital angular momentum as diffraction wave, can weaken or completely extinguish unnecessary 0-order light, can easily change an emission direction of diffraction wave, further is capable of enlarging a diffraction grating and is easily prepared.
軌道角運動量を持ったＸ線を回折波として発生させることができ、不要な０次の光を弱める又は完全に消すことができ、回折波の出射方向を容易に変えることができ、さらに、回折格子の拡大化が可能で、作成が容易な反射型回折格子ホログラムなどを提供する。 - 特許庁 - In the protective film 9, a peak is present at a diffraction angle, between a diffraction angle at which a peak generates when only one oxide of two oxides is analyzed in X-ray diffraction analysis on a specific azimuth surface and a diffraction angle at which a peak generates, when only the other oxide is analyzed.
保護膜９は、特定方位面についてのＸ線回折分析において、２つの酸化物の一方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角と、他方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角との間の回折角に、ピークが存在するものである。 - 特許庁 - When a theoretical diffraction X-ray intensity distribution is calculated based on a diffraction surface normal distribution function P by using overlapped orientation density distribution functions to which periodicity is given as the diffraction surface normal distribution function P(ϕ), its rocking curve reflects excellently an actual diffraction phenomenon.
回折面法線分布関数Ｐ（φ）として，配向密度分布関数を周期化し，かつ，重ね合わせたものを用いることにより，この回折面法線密度分布関数Ｐに基づいて理論的な回折Ｘ線強度分布を計算すると，そのロッキングカーブは，現実の回折現象を良く反映したものになる。 - 特許庁 - To speed up a series of process operations of exposure - reading - erasure relatively easily, and to miniaturize a device and simplify the configuration, in an X-ray diffraction device for accumulating and recording an X-ray diffraction image in stimulable phosphor for reading.
Ｘ線回折像を輝尽性蛍光体に蓄積記録させて読み取るＸ線回折装置において、露光−読取−消去の一連の工程動作を比較的簡単に高速化させるとともに、装置の小型化および構成の簡略化を可能にする。 - 特許庁 - This X-ray diffraction measuring method is provided for measuring X-ray diffraction by transmitting incident X-rays through a sample 48 in a direction almost along a predetermined rotation axis Zs while rotating the sample 48 around the rotation axis Zs.
本発明のＸ線回折測定方法は、所定の回転軸線Ｚｓまわりに試料４８を回転させながらこの回転軸線Ｚｓに略沿った方向の入射Ｘ線を試料４８に透過させることにより、Ｘ線回折が測定される。 - 特許庁 - The azo pigment composition includes at least one of an azo pigment having a characteristic X-ray diffraction peak at Bragg angle (2θ±0.2°) of 7.6°, 25.6° and 27.7° in CuKα characteristic X-ray diffraction and represented by formula (1), and a tautomer.
ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．６°、２５．６°、２７．７°に特徴的なＸ線回折ピークを有する下式（１）で表されるアゾ顔料又は互変異性体を少なくとも１種含有することを特徴とするアゾ顔料組成物。 - 特許庁 - The azo pigment composition contains at least either an azo pigment represented by formula (1) having a characteristic X ray diffraction peak of the Bragg angle (2θ±0.2°) in the CuKα characteristic X ray diffraction at 7.6°, 25.6°, 27.7° or a tautomer thereof.
ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．６°、２５．６°、２７．７°に特徴的なＸ線回折ピークを有する下式（１）で表されるアゾ顔料または互変異性体を少なくとも１種含有することを特徴とするアゾ顔料組成物。 - 特許庁 - The azo pigment composition contains at least either an azo pigment represented by formula (1) having a characteristic X ray diffraction peak of the Bragg angle (2θ±0.2°) in the CuKα characteristic X ray diffraction at 7.2°and 25.9° or a tautomer thereof.
ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．２°及び２５．９°に特徴的なＸ線回折ピークを有する下式（１）で表されるアゾ顔料または互変異性体を少なくとも１種含有することを特徴とするアゾ顔料組成物。 - 特許庁 - To provide an X-ray diffraction device which has exceedingly high resolution and also can acquire an X-ray diffraction image with high intensity, by enabling both cylindrical surface conversion processing and time delay integration processing to be performed in the same arithmetic control process.
円筒面変換処理と時間遅延積分処理との両方を同じ演算制御過程内で行うことを可能にすることにより、極めて分解能が高く、しかも強度の高い回折Ｘ線像を得ることができるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁 - The carrier for carrying a catalyst may contain 20 to 45% of a graphite-resembling structural component and 55 to 80% of an amorphous component in a peak near a diffraction angle of 26° in an X-ray diffraction graphic.
前記触媒担持用担体は、Ｘ線回折図形における回折角２６°付近のピークが、２０〜４５％の黒鉛類似構造成分と、５５〜８０％のアモルファス成分と、を含むこととしてもよい。 - 特許庁 - The μ-oxo-aluminum phthalocyanin dimer has crystal transformation exhibiting diffraction peaks at Bragg angles (2θ±0.2°) of 6.9°, 9,7°, 13.8°, 15.4°, 23.9° and 29.5°in a X-ray diffraction spectrum using CuKα rays.
CuKα線によるＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度（２θ±０．２°）６.９°、９.７°、１３.８°、１５.４°、２３.９°及び２９.５°に回折ピークを示す結晶変態を有する、μ−オキソ−アルミニウムフタロシアニンダイマー。 - 特許庁 - When a powder X-ray diffraction analysis regarding the silicon alloy powder is executed, a high-intensity peak can be provided in a range, belonging to the copper/aluminum-containing phase 12, where a diffraction angle 2θ is 43.5-44.5°.
このケイ素合金粉末について粉末Ｘ線回折分析を行うと、銅・アルミニウム含有相１２に帰属する回折角度２θが４３．５°〜４４．５°の範囲内に高強度の回折ピークが得られる。 - 特許庁 - The carbon fiber is obtained from wood tar as a raw material and has diffraction lines in the vicinity of 2θ=26° and in the vicinity of 2θ=44° in a powder X-ray diffraction pattern using CuKα as a radiation source.
本発明の炭素繊維は、木タールを原料とし、線源にＣｕＫαを用いた粉末Ｘ線回折パターンにおいて、２θ＝２６°付近と２θ＝４４°付近に回折線を有することを特徴とする。 - 特許庁 - In an X-ray diffraction chart made out by irradiating the thin diamond film layer, the diffraction peak intensity on the (110) surface of W exceeds 100 times that on the (200) surface of Cu.
ダイヤモンド薄膜層にＸ線を照射して得られるＸ線回折チャートにおいて、Ｗの（１１０）面の回折ピーク強度がＣｕの（２００）面の回折ピーク強度の１００倍以上である。 - 特許庁 - A polarization diffraction grating array includes a plurality of polarization diffraction gratings 11 in each of which an optical medium 12 having birefringence of an ordinary ray refractive index no and an extraordinary ray refractive index ne and an isotropic medium 13 having the refractive index no or ne are periodically and alternately arrayed and diffracts only one of ordinary ray polarized light and extraordinary ray polarized light.
偏光回折格子アレイは、常光屈折率がｎoであり異常光屈折率がｎeである複屈折を有する光学媒質１２と、屈折率がｎoあるいはｎeである等方性媒質１３とが周期的に交互に配列され、常光偏光及び異常光偏光のいずれか一方のみを回折させる複数の偏光回折格子１１を備える。 - 特許庁 - To provide an X-ray diffraction analyzing technique capable of simply acquiring the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a laboratory or on the spot by reducing the damping of intensity in a light path until the X-ray beam emitted from an X-ray tube arrives at a sample to the utmost.
Ｘ線管から出射されたＸ線ビームが試料に到達するまでの光路における強度の減衰を極力小さくすることにより、不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を、実験室や現場で短時間且つ簡単に取得することを可能とするＸ線回折分析技術を提供する。 - 特許庁 - In the ceramic film depositing method for growing a film on a substrate by spraying aerosol containing ceramic powder on the substrate to collide the ceramic powder on the substrate, the ceramic film is deposited by using the highly crystalline ceramic powder in which the half-width of the highest intensity diffraction ray peak of the X-ray diffraction ray when C-Kα ray is used is below 0.3°.
セラミックス粉体を含むエアロゾルを基板に吹き付け、セラミックス粉体を基板に衝突させることによって基板上に膜を成長させるためのセラミックス膜の形成方法において、Ｃｕ−Ｋα線を使用したときのＸ線回折線の最強度回折線ピークの半値幅が０．３°未満である結晶性の高いセラミックス粉体を用いてセラミックス膜の形成を行う。 - 特許庁 - Crystal A: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 8.7 to 9.4° range, 12.2 to 12.8° range and 24.8 to 25.4° range diffraction angle 2θ in a powder X-ray diffraction measurement at a Cu-Kα wavelength.
Ａ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが８．７°〜９．４°の範囲内、１２．２°〜１２．８°の範囲内および２４．８°〜２５．４°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁 - Crystal B: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 20.8 to 21.4° range, 26.7 to 27.3° range and 29.7 to 30.3° range diffraction angle 2θ in the powder X-ray diffraction measurement at the Cu-Kα wavelength.
Ｂ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが２０．８°〜２１．４°の範囲内、２６．７°〜２７．３°の範囲内および２９．７°〜３０．３°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁 - This bioactive crystallized glass bead contains Ca and the ratio of the intensity (I2) of diffraction peak at d=2.94 Å spacing of wallastonite and/or diopside over the intensity (I1) of diffraction peak at d= 2.94 Å of apatite satisfies the equation: 0<I2/I1<3/4 in an X-ray diffraction.
Ｃａを含有し、Ｘ線回折においてウォラストナイト及び／又はディオプサイドの面間隔ｄ＝２．９４Åの回折ピーク強度（Ｉ_2）とアパタイトの面間隔ｄ＝２．８３Åの回折ピーク強度（Ｉ_1）の比が０＜Ｉ_2／Ｉ_1＜３／４の範囲となることを特徴とする。 - 特許庁 - The target for ion plating used for forming the zinc oxide-based electroconductive film comprises a sintered compact mainly containing zinc oxide and has diffraction peaks by (100), (002) and (101) planes in X-ray diffraction pattern, wherein any of the diffraction peaks has a half-value width of ≤0.110°.
酸化亜鉛主体の焼結体からなり、Ｘ線回折パターンにおいて（１００）、（００２）、（１０１）面による回折ピークを有し、該回折ピークの何れかの半値幅が０．１１０度以下である酸化亜鉛系導電膜形成用のイオンプレーティング用ターゲットを開示する。 - 特許庁
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