「reference height」を含む例文一覧(459)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 次へ＞- The height h2 between th upper face 7 of the reference plane height detecting part 10b and the center of the core height detecting optical waveguide 2 is assumed as the height between the upper face of the optical element mount part 10a and the center of the cores 40a, 40b of the optical waveguide circuit 1.
基準面高さ検出用部位１０ｂの上面７とコア高さ検出用光導波路２の中心との間の高さｈ２を光素子搭載部１０ａの上面と光導波回路１のコア４０ａ，４０ｂの中心間の高さとみなす。 - 特許庁 - To easily acquire height information with respect to a reference point or reference face outside a measuring range to facilitate comparison of a height of a measured data with the reference point or the like, when the measuring range on a sample surface is measured.
試料表面の或る測定範囲を測定するとき、当該測定範囲外にある基準点または基準面に対する高さ情報を容易に取得し、基準点等に対する測定データの高さの比較を容易に実現できる走査型プローブ顕微鏡の測定方法を提供する。 - 特許庁 - Furthermore, the projection area of the outer surface 27 opposing the circuit board, in an effective electrode region where the height from the reference plane of the terminal electrode 20 becomes larger than the maximum height minus the diameter of the conductive particle, to the reference plane is set as the effective reference area.
さらに、端子電極２０の基準面からの高さが当該高さの最大値から導電性粒子の直径を引いた値以上となる有効電極領域における回路基板に対向する外表面２７の基準面への投影面積を有効電極面積とする。 - 特許庁 - The controller performs a step of detecting whether or not the pump is sucking the bubbles, a step of detecting whether or not the float has reached the reference height when bubble suction is detected, and a step of operating the fan and detecting whether or not the float reaches the reference height when detecting that the float has not reached the reference height.
制御装置は、ポンプが泡を吸引しているか否かを検出するステップと、泡吸引を検出したときに、フロートが基準高さに達しているか否かを検出するステップと、フロートが基準高さに達していないと検出したときに、ファンを作動させてフロートが基準高さに達するか否かを検出するステップを実行する。 - 特許庁 - The directions of each of the gaps are inclined 6° with respect to a direction perpendicular to a slice line and thereafter the gaps are fixed by situating the reference height positions H1 of the gaps 8 and 9 higher by 10.5 [μm] than the reference height positions of the gaps 7 and 10.
各ギャップの方向をスライスラインに対して垂直な方向に対して６゜傾けた後、ギャップ８，９の基準高さ位置Ｈ１をギャップ７，１０の基準高さ位置Ｈ１より１０．５［μｍ］高く位置させて固定する。 - 特許庁 - To provide an image reader which can accurately measure the height of a document without blurring reference light projected on a document surface in spite of the rotation of a scanning mirror when the reference light is projected to detect the height of the document surface.
参照光を投射して原稿面の高さを検出するとき、スキャンミラーの回転によつても原稿面に投射される参照光がぼけることがなく、正確に原稿高さを測定できる画像読取装置を提供する。 - 特許庁 - The chip support region (9) has a chip support surface at a position having a first height (h1) from a reference surface when a surface including the first substrate surface (12) is set as the reference substrate.
チップ支持領域（９）は、第１基板面（１２）を含む面を基準面としたとき、基準面からの高さが第１高さ（ｈ１）となる位置にチップ支持面を有する。 - 特許庁 - To provide a compact wiring fixture for a wire harness, capable of effectively preventing misalignment of a reference height and a reference center value of the wired wire harness and enhancing work efficiency.
布線されるワイヤーハーネスの基準となる高さや中心値のズレを有効に防止すると共に、コンパクトで作業性の向上が図れるワイヤーハーネス用布線治具を提供する。 - 特許庁 - A detector detects respectively both the reflected measuring beam (s) and the reference beam(s), and generates respectively a measuring signal indicating the height in the measuring spot, and a reference signal.
検出器は、反射測定ビームと基準ビームの両方をそれぞれ検出し、測定スポットでの高さを示す測定信号と、基準信号をそれぞれ生成する。 - 特許庁 - The reference light of a laser light projecting device is turned on and the illumination light is turned off (or dimmed) to measure the height of the document with the reference light (P4 to P5).
レーザ光投射装置の参照光を点灯、照明光を消灯（或いは減光）して参照光による原稿の高さ測距動作を実行する（Ｐ４〜Ｐ５）。 - 特許庁 - The height adjustment structure includes a reference part and adjusting part disposed in the guide frame, a reference body for fastening the reference part to the body frame, and an adjusting body that is screwed into the adjusting part and abuts on the body frame.
高さ調整構造は、ガイドフレームに設けた基準部および調整部と、基準部を本体フレームに締結する基準体と、調整部にねじ込まれて前記本体フレームに接当する調整体を含む。 - 特許庁 - The height T of the common part 52 is set to have the same dimension without reference to a width of a tape such as a film tape 17.
かかる共通部５２の高さＴは、フィルムテープ１７等のテープ幅に拘らず同一寸法に設定されている。 - 特許庁 - The reference point A is corrected to a comparative point a equivalent to the temporary height along a vertical axis T of the moving body M1.
移動体Ｍ１の鉛直軸線Ｔに沿って標準点Ａを仮の高さ相当の比較点ａに補正する。 - 特許庁 - To increase the recording density of a magneto-optical disk by fitting a magnetic head at a design reference height with a high precision.
磁気ヘッドを設計基準高さに精度よく取り付けることで、光磁気ディスクの高記録密度化を達成させる。 - 特許庁 - A movement mechanism 5 sets the sensor 3 at a prescribed angle to a reference line, and can set it even in the height direction.
移動機構５はセンサー３を基準線に対して所定の角度に設定すると共に高さ方向にも設定できる。 - 特許庁 - The distance and the height of the measurement point B with respect to the reference point A are obtained by using time differences T1 and T2 in reception of the light.
受光する時間差Ｔ１、Ｔ２を用いて基準点Ａに対する測定点Ｂの距離と高さを求める。 - 特許庁 - Then, a real height T1 from a head position reference surface to the magnetic head 24 is measured and when a size difference between this real height T1 and a prescribed absolute head height T0 exists, the size difference is corrected using a height correction jig when the shaft 25 is arranged on the lower drum 21.
次に、ヘッド位置基準面25a から磁気ヘッド24までの実高さT1を測定し、この実高さT1と予め定められている絶対ヘッド高さT0との間に寸法差が存在する場合には、シャフト25を下ドラム21に配設する際に高さ補正治具53を用いて寸法差を補正する（第２の調整工程）。 - 特許庁 - The method further comprises the steps of calculating the height of the object from the relationship between the slit light reflected image of each image and the slit light reflected reference image formed on the reference surface to be measured, and processing the three-dimensional image to recognize the height side of the object.
各画像におけるスリット光反射像とスリット光が測定基準面上につくるスリット光反射基準像との関係から物体の高さが算出され、物体の高さ寸法を認識する３次元画像処理が行なわれる。 - 特許庁 - The background film area is converted into a partial distance image where height from a reference plane is zero, and the two-dimensional skin area and the other area are converted into partial distance images by converting luminance into height from the reference plane by a prescribed operation method.
背景幕領域は基準面からの高さが０の部分距離画像に変換され、２次元肌領域およびその他の領域は所定の演算方法にて輝度を基準面からの高さに変換することにより部分距離画像に変換される。 - 特許庁 - It is preferable to control the lifting speed of the prize acquisition part 5 in reference to the setting contents of the initial position height of the prize acquisition part 5 by the initial position height adjusting means.
また、初期位置高さ調整手段による景品取得部５の初期位置高さの設定内容を参照し、当該景品取得部５の昇降速度の制御を行うことが好ましい。 - 特許庁 - The pneumatic tire 1 is to be mounted on the wheel 10 in which the height Hf using the rim diameter R of one of the rim flange parts 11 as reference is greater than the height Hf of the other rim flange part 12.
また、空気入りタイヤ１は、一方のリムフランジ部１１のリム径Ｒを基準とする高さＨｆが他方のリムフランジ部１２の高さＨｆよりも大きいホイール１０に装着される。 - 特許庁 - Thus, compared to the conventional one for which the potting of the height is performed with the height for covering all inside of the case and the charging parts of the power component as a reference, the volume of the electronic unit is reduced.
これにより、ケース内の全部、パワー部品の充電部を覆う高さを基準にして、その高さのポッティングをしていた従来のものに比し、電子ユニットの体積を縮小できる。 - 特許庁 - To provide an image reader which can precisely measure the height of a document surface without being affected by disturbing light such as illumination light when the height is detected by projecting reference light.
参照光を投射して原稿面の高さを検出するとき、照明光等の外乱光の影響を受けずに精度良く高さを測定できる画像読取装置を提供する。 - 特許庁 - In particular, the height of the wall thickness molding part 26 is preferably approximately 1.5 times or more of the height of a reference thickness molding part 24, and approximately 10 times or more of the thickness of the decorative film 40.
特に、肉厚成形部２６の高さを、基本厚さ成形部２４の高さの略１．５倍以上であって、加飾フィルム４０の厚さの略１０倍以上であることが好ましい。 - 特許庁 - To provide a package for semiconductor lasers wherein the height ranging from its reference surface to its laser chip and the height ranging from its laser chip to its light receiving element can be both approximated to their designed values.
基準面からレーザチップまでの高さと、レーザチップから受光素子までの高さとをともに設計値に近づけることができる半導体レーザパッケージを提供することを目的とする。 - 特許庁 - Thus, the styluses 304a, 504a do not fall onto the colored layers 101-103 between the partition walls 105 during scanning, the scanning is performed while being in contact with the peaks of the partition walls 105, and with the peak of the partition walls 105 as a reference height, the projection defect FA of the height exceeding the reference height H2 is measured.
これにより、触針３０４ａ，５０４ａは、走査中に隔壁１０５の間の着色層１０１〜１０３上に落ち込むことがなく、隔壁１０５の頂点に接触しつつ走査され、隔壁１０５の頂点を基準高さとして、この基準高さＨ２を越える高さの突起欠陥ＦＡを測定する。 - 特許庁 - In the initial setting and an inclination diagnosis, a lifting quantity of the lifting stage 32 is determined between the reference timing when a reference part of the lifting stage 32 reaches a predetermined reference height position H1 and the comparing object timing when a comparing object part of the lifting stage 32 reaches a predetermined comparing object height position H2.
初期設定時と傾き度合診断時において、昇降台３２の基準部位が所定の基準高さ位置Ｈ１に達した基準タイミングと、昇降台３２の比較対象部位が所定の比較対象高さ位置Ｈ２に達した比較対象タイミングとの間で、昇降台３２の昇降量を求める。 - 特許庁 - In estimating the shape of a lens, a reference surface is a YZ plane, and a plurality of known points whose XYZ coordinates in a reference coordinate system taking the height from the reference surface is taken as X coordinate are previously known are provided on the lens plane.
基準面をＹＺ平面とし、該基準面からの高さをＸ座標とする基準座標系でのＸＹＺ座標が予め分かっている既知点を、レンズ面上に複数有するレンズの形状予測方法である。 - 特許庁 - The ring 4 and the probe 3 of the simple spherometer 1 are brought into contact with these counter ring reference face 11 and the counter probe reference face 12, respectively, to perform reference height alignment of the simple spherometer 1 without using the spherical face primary standards.
これらの対リング基準面１１と対測定子基準面１２に簡易球面計１のリング４および測定子３をそれぞれ当接させて、球面原器を使用することなく簡易球面計１の基準高さ合わせを行う。 - 特許庁 - To provide an elevator installing tool capable of normally providing a second reference member even if other equipment exists at the same height as a first reference member, and furthermore, dispensing with removal and re-installation of the first reference member.
第１の基準部材と同じ高さに別の機器が存在しても差支えなく第２の基準部材を設置することができ、しかも第１の基準部材の取外しや再設置の作業が不要なエレベータの据付治具を提供する。 - 特許庁 - More specifically, deformation equivalent to "the average height of the irregular surface 22 to the reference surface 21" is generated in the elastic body 12.
すなわち、弾性体１２には「基準面２１に対する凹凸面２２の平均的な高さ」に相当する変形が生じる。 - 特許庁 - A target tool attitude is a predetermined attitude based on a reference axis used for determining the height distance from the workpiece surface.
ツールの目標姿勢は、ワーク表面からの高さ方向距離を求める基準軸に基づく予め定められた姿勢である。 - 特許庁 - In addition, since an adhesive layer is not formed in a spot except the space, the reference height of the base 1 can be certainly arranged as a floor face.
さらに空所内以外に接着層が形成されないため、ベース１の基準高さを確実に床面として配設できる。 - 特許庁 - The optical box is provided with at least four fixation parts with reference to the main body frame, and also, the fixation parts are made to differ in terms of height.
そして、光学箱が、本体フレームへの固定部を少なくとも４点有し、かつ各固定部の高さが各々異なる。 - 特許庁 - Reference marks 14b, 14c indicating the height position of the longitudinal axis of the supported handrail bar are formed on the wall mounting part.
壁取付部には、支持される手摺バーの長手方向軸線の高さ位置を示す基準マーク１４ｂ，１４ｃが形成される。 - 特許庁 - A displacement measuring section calculates a height of the solder at a solder point from the displacement information of the solder point and the set reference surface.
変位測定部は、はんだ箇所のはんだの高さを、はんだ箇所の変位情報と設定された基準面とから算出する。 - 特許庁 - A process of checking a glide height of a reference sample at the time of evaluating the head floating property of the magnetic recording medium is provided.
磁気記録媒体のヘッド浮上特性を評価する際に、参照試料のグライド高さを確認する工程を設ける。 - 特許庁 - Since the board height reference point is prepared in the designing stage of the printed board, very precise data can be prepared in a earlier stage.
プリント基板設計にて基盤高さ基準点を作成するため、 精度よいデータを早くから作成することが可能となる。 - 特許庁 - To provide a housing type side fence capable of satisfying a specification reference in the fence and capable of restraining the lowest height of the bottom.
柵における仕様基準を満たすと共に、ボトムの最低高さを抑えることが可能な、格納型側柵を提供する。 - 特許庁 - The height of the reference level for 0/1 discrimination is switched by a first selector circuit 4 on the basis of the control signal B.
上記０／１判定の基準レベルの高さは、制御信号Ｂに基づいて第１のセレクタ回路４により切り替えられる。 - 特許庁 - A height of the cream solder H is computed by a principle of trigonometrical survey, based on the reference position coordinates and the measuring position coordinates.
基準位置座標及び計測位置座標に基づき、クリームハンダＨの高さを三角測量の原理により演算する。 - 特許庁 - Accordingly, the predetermined height T' of the projected part 7 is determined so as to be higher than a reference specified based on an allowable size.
そこで、その許容されるサイズを基準として、その基準より高くなるように突起部７の所定の高さＴ’を決める。 - 特許庁 - A ratio of the distance between the end 32 of the ply 30 and the end 34 of the band 12 to the reference height is ≥0.1 and ≤0.45.
プライ３０の端３２からバンド１２の端３４までの距離の、基準高さに対する比は、０．１以上０．４５以下である。 - 特許庁 - Next, the treating unit structure 70 is lowered so that the second reference plane 63 is placed on the first reference plane 55, and the height on the front side of the treating unit structure 70 is adjusted by plural adjusters.
次いで、第１の基準面に第２の基準面が載るように処理ユニット構造体を下降し、複数のアジャスタでもって処理ユニット構造体の前面側の高さを調整する。 - 特許庁 - This floor structure is formed of a reference floor part Fa for laying a floor panel 2 and a lower floor part Fb for laying a lower floor panel 3, the height of which is lower than the floor panel of the reference floor part Fa.
床パネル２が敷設される基準床部Ｆａと、前記基準床部Ｆａの床パネルよりも高さが小の低床パネル３が敷設される低床部Ｆｂとからなる。 - 特許庁 - Relative height adjustment of the core layer of the optical waveguide with the connecting terminal member is performed by bringing the reference surface of the optical waveguide substrate into contact with the reference surface of the connecting terminal member.
光導波路基板の基準面と接続端子部材の基準面とを接触させて光導波路のコア層と接続端子部材の相対的な高さ調整を行う。 - 特許庁 - A core height detecting optical waveguide 2 of almost the same height as those of the cores 40a, 40b of the optical waveguide circuit 1 is formed, and its one end is formed to be exposed to said end face F exposed to a side face 8 of the reference height detecting part 10b.
光導波回路１のコア４０ａ，４０ｂとほぼ同じ高さのコア高さ検出用光導波路２を形成し、その一端側を基準面高さ検出用部位１０ｂの側面８の露出している前記端面Ｆに露出形成する。 - 特許庁 - The device 1 obtains height information corresponding to a state of the specific reflection light by referring to association data associating a reflection light state with height information, and measures an irradiation height of the laser beam in the reference object for detection 90.
そして、反射光の状態と高さ情報とを対応付ける対応データを参照して特定反射光の状態に対応する高さ情報を求め、検出用基準物体９０におけるレーザ光の照射高さを計測している。 - 特許庁 - Based on the measurement of the displacement gauge 23, a control section 24 controls the operation of the height adjusting mechanism 18 such that the supporting face of the supporting section 14a has a desired relative height with reference to the height of the surface of the wafer 2 being polished.
制御部２４は、変位計２３からの計測結果に基づいて、ウエハ２の被研磨面の高さを基準とした支持部１４ａの支持面の相対的な高さが、所望の相対的な高さとなるように、高さ調整機構１８を作動させる。 - 特許庁 - To provide a cutting device free from fixing metal to a cutting blade, or locally damaging the cutting blade when detecting a reference height of the cutting blade such as a resin blade, and also to provide a detecting method of the reference height in a vertical directional position of the cutting blade.
レジンブレード等の切削ブレードの基準高さ検出時に切削ブレードに金属が固着したり、切削ブレードが局所的に損傷されることのない切削装置、及び切削ブレードの鉛直方向位置の基準高さの検出方法を提供する。 - 特許庁
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