「sample application」を含む例文一覧(307)

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  • In this exercise you will create a simple web application project to access the sample database.The application will use a JSF web interface for viewing and modifying the data so you will specify the JSF framework when you create the project.
    この課題では、sample データベースにアクセスする簡単な Web アプリケーションプロジェクトを作成します。 このアプリケーションではデータの表示と変更に JSF Web インタフェースを使用するので、プロジェクト作成時には JSF フレームワークを指定します。 - NetBeans
  • The present invention provides the method and the system for passively and automatically detecting the presence of the sample (the 'sample detection phase') upon application of the sample to a biosensor, identifying the sample detection time and then initiating the measurement of a targeted characteristic, e.g. the concentration of one or more analytes, of the sample (the 'measurement phase'), immediately upon sample detection.
    本発明は、サンプルをバイオセンサに塗布すると、サンプルが存在しているかどうかを受動的且つ自動的に検出し（「サンプル検出段階」）、サンプル検出時間を求め、次にサンプルを検出すると直ぐに、サンプルの標的特性、例えば１以上の分析物の濃度の測定を開始する（「測定段階」）方法及びシステムを提供する。 - 特許庁
  • An acceleration voltage Vacc of incident electrons is fixed, and an application voltage Vsub to the under surface of the sample S is changed.
    入射電子の加速電圧Ｖａｃｃを固定して試料Ｓの下面の印加電圧Ｖｓｕｂを変えていく。 - 特許庁
  • The institution with which the deposit has been made shall appear from the application as well as the number which the institution has accorded the deposited sample.
    願書には寄託をした機関並びにその機関が寄託に与えた番号を記載しなければならない。 - 特許庁
  • To perform an accurate analysis of an atomic nucleus to a sample to which application of an activation analysis and mass spectrometry is difficult.
    放射化分析や質量分析の適用が困難な試料に対して、正確に原子核の分析を行う。 - 特許庁
  • This grounding verification apparatus is provided with three ground needles or more for electrical continuity between the sample 1 of the electronic ray application apparatus and the ground.
    電子線応用装置の試料１とアースとの電気的導通をとるアース針３を３個以上設ける。 - 特許庁
  • If you need to compare your project with a working solution, you can download the sample application.
    プロジェクトを、正常に機能するソリューションと比較する必要がある場合は、サンプルアプリケーションをダウンロードできます。 - NetBeans
  • A sample application pad (3) contacts a compound pad (4) containing a particulate coated with an anti-Glico albumin antibody.
    サンプル適用パッド（３）は抗グリコアルブミン抗体でコーティングされた微粒子を含有する複合パッド（４）に接触する。 - 特許庁
  • Reproduce a sample set of emissions and removals calculations to cross-check application of calculation methodologies
    算定方法のアプリケーションをクロスチェックするためにサンプルの一連の排出量と除去量の算定を再現する。 - 経済産業省
  • IONIZATION METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE SURFACE LAYER BY USING BOTH ULTRASHORT PULSE LASER CONVERGENCE AND HIGH VOLTAGE APPLICATION, AND ANALYTICAL METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE SURFACE LAYER USING IT
    超短パルスレーザー集光と高電圧印加の併用による針状サンプル表層のイオン化方法、及びこれを使用した針状サンプル表層の分析方法 - 特許庁
  • If the application comprises a deposited sample of biological material as referred to in section 8a, the said person shall also have a right to obtain a sample.
    その出願が第8a条にいう生物学的材料の寄託試料を含んでいたときは，前記の他人は試料分譲を受ける権利も併せて有するものとする。 - 特許庁
  • In this tutorial, you use the sample Java and UML sample projects provided with the IDE to learn how to reverse engineer the source code of an existing Java application into a UML project.
    このチュートリアルでは、IDE が提供するサンプルの Java プロジェクトおよび UML プロジェクトを使用して、既存の Java アプリケーションのソースコードを UML プロジェクトにリバースエンジニアリングする方法を示します。 - NetBeans
  • In the time lapse observation, while performing an autofocus, the inverted microscope system does not allow an application of the exiting light to the observation sample, when photographing the observation sample after finishing the autofocus, allows the application of the exiting light to the observation sample, and after finishing the photographing, does not allow the application of the exciting light to the observation sample again.
    タイムラプス観察において、オートフォーカスを行なっている間は、励起光を観察試料に対して照射しない状態とし、オートフォーカスが完了した後、観察試料の撮影を行うときに、励起光を観察試料に対して照射する状態とし、さらに撮影が完了した後は、励起光を観察試料に再び照射しない状態にすることを特徴とする倒立顕微鏡システム。 - 特許庁
  • In this exercise, you learn how to use the NetBeans Profiler to monitor thread state in a Java SE application. This will allow you to diagnose a performance problem in the sample Swing application.
    この課題では、NetBeans Profiler を使用して、Java SE アプリケーション内のスレッドの状態を監視する方法を学びます。 これにより、サンプルの Swing アプリケーションでパフォーマンスの問題を診断できます。 - NetBeans
  • When detecting a target selected from pathogens and/or allergy associated components in a body fluid, the method includes the steps of (a) non-invasively collecting a body fluid sample with a swab member, (b) transferring the sample to an application zone on a sample analysis device and (c) analyzing the sample.
    本発明では、体液中の病原体および/またはアレルギーに関連する成分から選択されるターゲットを検出するに際し、（ａ）体液試料を綿棒部材で非侵襲的に捕集し、（ｂ）この試料を試料分析デバイス上の塗布帯域に移し、（ｃ）この試料を分析する。 - 特許庁
  • A sample data converting processing part 16 indexes sample data which are constructed on the basis of the observation value of a specified spectrum sensor, from a sample data holding part 17, applies feature conversion and generates application prediction information applying the relevant sample data to the other spectrum sensor to be a conversion object.
    サンプルデータ変換処理部１６で、特定のスペクトルセンサの観測値に基づいて構築されたサンプルデータをサンプルデータ保持部１７から索出して特徴変換を施し、当該サンプルデータを変換対象となる他のスペクトルセンサに対して適用させた適用予測情報を生成する。 - 特許庁
  • To provide a rack system containing an adapter for convenient application of small volumes of sample in a vessel to an analysis.
    容器の中の少量の試料を便利に分析に応用するためのアダプタを備えているラックシステムを提供する。 - 特許庁
  • Resultantly, the sample stand 12 is adsorbed firmly onto the Z-scanner in the durable degree to application to high-speed AFM.
    その結果、試料台１２は、高速ＡＦＭへの適用に耐えうる程度にＺスキャナーに強固に吸着される。 - 特許庁
  • To create a sample application:
    サーバーの種類を選択し、サーバーインスタンスに名前を付けて「次へ」をクリックします。 サーバーインスタンスのプロパティーを定義し、「完了」をクリックします。 - NetBeans
  • METHOD FOR MEASURING CONJUGATED DIOLEFINE CONTENT BY ANALYZING NEAR-INFRARED SPECTRUM OF SAMPLE, AND APPLICATION OF THE SAME TO DEVICE CONTROL
    試料の近赤外スペクトルから共役ジオレフィンの含量を求める方法および該方法の装置制御への応用 - 特許庁
  • An application voltage V1 corresponding to a peak 31 of the attractive force working between the probe 6 and the sample 1 is detected.
    探針６と試料１との間に作用する引力のピーク３１に対応する印加電圧Ｖ１を検出する。 - 特許庁
  • You will also develop a piece of the basic application functionality and test it against the data you entered in the sample database in lesson 1.
    また、基本的なアプリケーションの機能を開発し、レッスン 1 のサンプルデータベースに入力したデータに対してテストします。 - NetBeans
  • The temperature rise of the sample caused by measurement is avoided to the utmost using no continuous AC but using a single pulse minimizing the generation of heat value in the sample in the application of voltage to the sample to enhance measuring precision.
    試料への電圧印加を連続的な交流ではなく、試料における熱量発生が最小限で済む単発パルスとすることで、計測による試料の温度上昇を極力避け、測定精度を向上させるようにした。 - 特許庁
  • To provide a multi-beam type charged particle beam application device having a function wherein a primary beam is incident to a sample from a slanting direction without relatively inclining an electrooptic system and the sample.
    マルチビーム式の荷電粒子線応用装置において、電子光学系と試料を相対的に傾けることなく、試料に対し一次ビームを斜め方向から入射する機能を付与する。 - 特許庁
  • According to this application, in order to accomplish the purpose, a holding member using spring force like a banana chip is attached to the sample changing rod, and inserted into a hole of the sample holder to elastically hold it.
    上記目的を達成するために、本発明によれば、試料交換棒にバナナチップのようなバネ力を利用した保持部材を取付け、試料ホルダの穴に挿入し、弾性保持する。 - 特許庁
  • A sample wafer 15 is sampled from the lower end portion of the cylindrical portion 9b or from the tail portion 9c, which is grown while accompanied with the voltage application, and the metal contamination of the sample wafer 15 is evaluated.
    この電圧印加を伴って育成された直胴部９ｂの下端部またはテイル部９ｃからサンプルウェーハ１５を採取し、このサンプルウェーハ１５の金属汚染を評価する。 - 特許庁
  • If the application involves the deposit of a sample of biological material of the microorganism as referred to in section 8a, the other party shall have the right to be furnished with a sample of the culture.
    出願が第8a条にいう微生物の生物学的材料試料の寄託を伴うものである場合は，その他人は当該培養物試料の分譲を受ける権利を有する。 - 特許庁
  • In this electron beam application device, the sample holding mechanism to hold the sample by applying a negative voltage to the sample has a support pedestal where the negative voltage is applied and which supports the sample from its lower part and a pressing part to press the sample from its upper part while the negative voltage is applied to the sample, and the pressing part is formed along the fringe part of the sample.
    上記目的を達成するための一態様として、電子線応用装置内にて、試料に負電圧を印加して試料を保持する試料保持機構において、負電圧が印加されると共に前記試料を下部から支持する支持台と、前記試料を上部から押圧する押圧部を有し、当該押圧部は前記試料の縁部に沿って形成されていると共に、前記負の電圧が印加されることを特徴とする試料保持機構を提案する。 - 特許庁
  • When the system for a specific application is to be mounted, a grammar rule can automatically be generated from a sample uttering.
    特定のアプリケーションのためのシステムが実装される場合、文法規則は、サンプル発話から自動的に生成することができる。 - 特許庁
  • To provide an array electrode for a bio sample by which a three- dimensional measurement and a three-dimensional stimulus application are performed and to provide a method of manufacturing the array electrode.
    三次元の計測・刺激印加を可能とする生体試料用アレイ電極及びその作製方法を提供する。 - 特許庁
  • a) a sample of biological material was deposited with an international depositary authority, prior to the date of filing the application or the date of the recognized priority;
    (a) 出願日又は承認された優先日前に，生物学的材料の試料が国際寄託機関に寄託されたこと - 特許庁
  • (1) An application for registration of a 2-dimensional design intended to be applied to a textile article may be accompanied by a sample of the article.
    (1)織物への適用を意図する二次元の意匠の登録出願には，その織物の見本を添付することができる。 - 特許庁
  • During such cooling of the probe 5, a voltage application means 8 applies a predetermined voltage between the probe 5 and a sample 7.
    また、このような探針５の冷却時、電圧印加手段８により探針５と試料７間に所定の電圧が印加される。 - 特許庁
  • This sample web application is also used in exercise 3 to show how the Profiler can be used to find memory leaks.
    ここで使用する例の Web アプリケーションは、課題 3 でも使用します。 課題 3 では、Profiler を使用してメモリーリークを検出する方法を示します。 - NetBeans
  • This lesson describes the last preliminary step in developing the Wish List application, that of creating a sample database with test data.
    このレッスンでは、ウィッシュリストアプリケーションの開発での最後の準備手順である、テストデータを持つサンプルのデータベースの作成を示します。 - NetBeans
  • If a Danish utility model application comprises the deposit of a sample of biological material, the application shall at the date of filing contain information to that effect, cf. section 2 (1) (viii) of this Order.
    デンマーク実用新案出願が微生物素材の試料の寄託を伴っている場合は，その出願は出願時に，その旨の情報を含んでいなければならない(第2条 (1) (viii)参照)。 - 特許庁
  • The matching part 38 carries out an all donor application matching process of linking all donor samples to one recipient sample at a ratio responding to a distance between the one recipient sample and each of all donor samples.
    また、マッチング部３８は、一のレシピエントサンプルと全ドナーサンプルの各々との距離に応じた比率で、上記一のレシピエントサンプルに全ドナーサンプルを結びつける全ドナー適用マッチング処理を行う。 - 特許庁
  • To prevent sample temperatures from rising, secure operational reliability, and achieve application to expensive reagents by reducing the consumption of liquid, while maintaining compactness required by a sample inlet microdevice.
    試料導入マイクロデバイスに要求される小型化を維持しながら、試料の温度上昇の防止、動作の信頼性の確保、及び液体消費量の低減による高価な試薬への適用を実現すること。 - 特許庁
  • To provide a field-ion microscope for atom probes in which evaporated atomic elements from a sample by application of electric field are always drawn to a mass spectrometry system.
    試料から電界蒸発した原子が常に質量分析系に導かれるアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
  • An industrial design application shall be deemed to have been filed, if it contains at least: a request, a description, an illustration or a sample of the textile fabric.
    意匠出願は，少なくとも願書，説明書，図解又は織物生地の見本を含むときは，提出されたものとみなされる。 - 特許庁
  • This application may be composed as an additional module receivable particularly onto the sample table of a conventional scanning electron microscope.
    本発明は、特に、従来式の走査電子顕微鏡の試料台の上で受容可能な追加モジュールとして構成されていてよい。 - 特許庁
  • This tutorial shows you how to use NetBeans Visual Web Pack to build a JavaServer Faces web application that uses the sample Ajax Map Viewer component.
    このチュートリアルでは、NetBeans Visual Web Pack を使用して、サンプルの AJAX マップビューアコンポーネントを使用する JavaServer Faces Web アプリケーションを構築する方法について説明します。 - NetBeans
  • This tutorial shows you how to use NetBeans Visual Web Pack 5.5 to build a web application that uses the sample Java BluePrints AJAX Progress Bar component.
    このチュートリアルでは、NetBeans Visual Web Pack 5.5 を使って、サンプルの Java BluePrints AJAX 進捗バーコンポーネントを使用する Web アプリケーションを構築する方法について説明します。 - NetBeans
  • To solve a problem wherein, when an electric field or a voltage on a surface of a sample is changed in accordance with a characteristic of the sample, the arrangement of a plurality of primary beams on the sample surface, and a plurality of secondary beams on a detector is changed, in a multi-beam type charged particle beam application device.
    マルチビーム型の荷電粒子線応用装置において、試料の特性に応じて試料表面における電界や電圧を変更すると、試料表面における複数の一次ビーム、検出器上における複数の二次ビームの配置が変化する。 - 特許庁
  • An electric charge locally charged on the surface of the sample 5 is quickly moved by a converged electron beam by mounting electrodes 13-16 as an electric field application mechanism in which an electric field 6 having a component along the surface of the sample 5 in an arbitrary direction is applied to the sample 5 and by using the electric field application mechanism to apply the electric field.
    試料５にその表面に沿った成分を有する任意の方向の電場６を印加する電場印加機構部として電極１３〜１６を設置し、この電場印加機構部を用いて電場を印加することにより、収束電子線によって試料５表面上に局所的に帯電する電荷を速やかに移動させる。 - 特許庁
  • To provide a measuring apparatus constituted of a structure preventing a breakdown of an application end of an interference optical system due to a collision between a sample stage for holding a sample and an application end of the optical system when measuring an aspheric surface of a measured surface with high accuracy.
    被測定面の非球面形状を高精度に測定する際に、被測定物を保持するサンプルステージと干渉光学系の照射先端部との衝突による干渉光学系の照射先端部の破損を防止した構造を有する測定装置を提供する。 - 特許庁
  • Some sample applications and tutorials require the Travel database.If the IDE is configured to use the Sun Java System Application Server before the Visual Web Pack is installed, the Travel database will be available from the Runtime window.
    Travel データベースは、一部のサンプルアプリケーションとチュートリアルで必要になります。 Visual Web Pack のインストール前に、Sun Java System Application Server を IDE に登録した場合は、インストール後「実行時」ウィンドウから Travel データベースを使用できるようになります。 - NetBeans
  • A control section (18) sets a time from the detection of the sample to the application of voltage to the biosensor (30) according to the measured detection time.
    制御部（１８）は、計測された検知時間に応じて、試料を検知してからバイオセンサ（３０）に電圧を印加するまでの時間を設定する。 - 特許庁
  • The use of a sample piece having processed cracks enables application of an optimal flaw detection agent and observation conditions for remote inspection.
    またひび割れを加工した試験片を用いる事により、遠隔での検査に際して最適な探傷剤の塗布、観察条件を可能にした。 - 特許庁
  • In a specific exemplary application, the sample is selected from the group consisting of a semiconductor device, a semiconductor wafer, and a semiconductor reticle.
    本発明の具体的な応用例において、試料は、半導体デバイス、半導体ウェーハ、および半導体レチクルからなるグループから選択される。 - 特許庁
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