「sample application」を含む例文一覧(307)

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  • When a probe 7 is coarsely moved to a sample 8, the application of voltage from a power source circuit 42 to annular electrodes 41a, 41b is stopped.
    探針７を試料８に対して粗動させる際は、電源回路４２から環状電極４１ａ、４１ｂへの電圧印加を停止する。 - 特許庁
  • Further, the light application section 32 is provided so that a light axial direction is inclined by a specific angle to a sample placement surface 26A.
    さらに、光照射部３２は、その光軸方向が試料載置面２６Ａに対して所定の角度だけ傾斜するように配設されている。 - 特許庁
  • If in any particular case the Registrar considers that an application should be further supplemented by a model or sample of anything illustrating the invention or alleged to constitute an invention, such model or sample as he may require shall be furnished before the acceptance of the application, but such model or sample shall not be deemed to form part of the specification.
    登録官が特定の事案において、ある出願が、当該発明を説明する又は発明を構成すると主張される何らかの模型又は見本によってさらに補足されるべきであると考える場合、登録官が求めることのできる模型又は見本を出願受理前に提出するものとするが、当該模型又は見本は明細書の一部を構成するものとはみなされない。 - 特許庁
  • a sample of the microorganism has been deposited in a depository institution recognized by the Patent Office before the patent application is filed or before the date of receipt of patent application is given;
    当該微生物の試料が，特許出願がなされる前又は特許出願の受理の日が付与される前に，特許局により認定された微生物の寄託機関に寄託するために既に提出されている。 - 特許庁
  • Details including scope of protection for application for registration of invention or device, photographs or drawings for industrial design, sample of trademark and list of goods or services being used with such trademark for application for registration of trademark, description of special characteristic of the source of origin for the registration of the source of origin
    発明又は考案出願の保護の範囲、意匠の写真と図画、商標の場合は商標見本と商標またはサービスの指定商品一覧、原産地登録では原産地の特徴の記載 - 特許庁
  • The main shaft support stand 3 is provided on a base 5, and one end of the main shaft 2 is fixed, to thereby enable free inclination for misalignment application to the sample bearing 1.
    主軸支持台３は基台５上に設けられ、主軸２の一端を固定して供試軸受１に対するミスアライメント付与用の傾きが自在である。 - 特許庁
  • For example, in the case of the ordinary printing, a printer driver 103 carries out the image processing and in the case of the sample printing, an application 101 carries out the image processing.
    例えば、通常印刷の場合は、プリンタドライバ１０３で画像処理を行い、サンプル印刷の場合は、アプリケーション１０１で画像処理を行う。 - 特許庁
  • Based on the magnitude and pattern of warping of the sample to be tested and the known critical application voltage, a voltage to be applied to the electrostatic chuck is set up.
    検査対象の試料の反りの大きさ及び反りのパターンと、既知の臨界印加電圧に基づいて、静電チャックへの印加電圧を設定する。 - 特許庁
  • The operator sets a collected sample in a radiation measuring device 10, and starts an application of a γ-ray nuclide analysis system of this input support device 100.
    採取した試料を放射能測定装置１０にセットし、作業者は、入力支援装置１００のγ線核種分析システムのアプリケーションを起動させる。 - 特許庁
  • not later than the date of filing of the application, a culture of the micro-organism has been deposited in a depositary institution which is able to furnish a sample of the micro-organism;
    出願の出願日より遅くないときに，微生物の培養物が，微生物の試料を分譲することができる寄託機関に寄託されること - 特許庁
  • If the patent application includes the deposit of a biological material under Section 8a, such consent shall also include the right to obtain a sample of the deposit.
    特許出願が第8a条に基づく生物学的材料の寄託を伴う場合は，当該許可はまた，当該寄託物の試料を入手する権利も含む。 - 特許庁
  • To provide a sample holding mechanism used in an electron beam application device capable of effectively suppressing disturbance of an electric field due to existence of foreign matter.
    異物等の存在による電界の乱れを効果的に抑制することが可能な電子線応用装置に用いられる試料保持機構の提供にある。 - 特許庁
  • A wide variety of fluid, gas or liquid is used as the penetrating test fluid depending on the application and the porosity of the porous sample.
    用途及び多孔質試料の多孔率に対応して、進入試験流体として多岐に亙る流体、ガス又は液体を使用することができる。 - 特許庁
  • This document shows how to download and install the Project Dynamic Faces Ajax Components and Samples,which includes the Dynamic Faces component library 0.2 and the Currency Trader sample application.
    このドキュメントでは、Dynamic Faces コンポーネントライブラリ 0.2 および為替トレーダーサンプルアプリケーションを含む、Project Dynamic Faces Ajax コンポーネントおよびサンプルプラグインをダウンロードしてインストールする方法を示します。 - NetBeans
  • This plugin includes the Currency Trader sample application, which demonstrates how to use Dynamic Faces technology to employ Ajax techniques with Ajax-unaware JavaServer Faces components.
    このプラグインには、AJAX を意識しない JavaServer Faces コンポーネントを用いた AJAX 技術を使用するための、Dynamic Faces テクノロジの使用方法を示す、為替トレーダーサンプルアプリケーションが含まれます。 - NetBeans
  • You can use the Plugins tool to download and install the Ruby Depot sample application(it might already be installed with your version of the IDE).
    プラグインツールを使用して、Ruby Depot サンプルアプリケーションをダウンロードしてインストールできます。 ご使用の IDE のバージョンとともに、すでにインストールされている場合もあります。 - NetBeans
  • If the request concerns a sample of deposited biological material connected with an application for which a final decision has not yet been made, the party requesting the sample must submit a declaration in which he undertakes vis-a-vis the applicant not to use the sample for any othr purposes than for experiments that concern the invention itself and to refrain from granting other parties access to the sample until a final decision has been made regarding the application or, if a patent is granted, until the patent has expired.
    請求が，最終決定のなされていない出願に係る寄託された生物学的材料の試料に関する場合は，試料を請求する者は，出願についての最終決定がなされるまで，又は，特許が付与された場合は特許が満了するまで，発明自体に関する実験以外の目的に試料を使用せずかつ他の者にその試料を使用させることを避ける旨を出願人に対して約束する宣言書を提出しなければならない。 - 特許庁
  • If an application has been refused or withdrawn or deemed to be withdrawn, the applicant may request that for 20 years from the date of filing of the patent application a sample of the deposited material shall only be furnished to an expert in the art.
    出願が拒絶され，取り下げられ又は取下とみなされた場合は，出願人は，特許出願がされた日から20年間，寄託材料の試料は当該技術の専門家に限定して分譲されるよう請求することができる。 - 特許庁
  • A plurality of potentials to be applied to the back of the sample S are set, and the Vth distribution when some position on the sample S surface is put on a boundary between reflection and absorption of the electron beam is defined by expression: (Vacc-Vsub) from an acceleration voltage Vacc and an application voltage Vsub to the back.
    試料Ｓ裏面に加える電位を複数設定し、試料Ｓの表面のある位置が電子ビームが反射するか吸収される境界となった場合のＶｔｈ分布を加速電圧Vaccと、裏面の印加電圧Vsubから、Vacc-Vsub により定義する。 - 特許庁
  • If a sample of biological material has been deposited according to section 8a, anyone has the right to be furnished with a sample of the material when the documents of the application have been made available in accordance with the first, second or third paragraph.
    第8a条により生物学的材料の試料が寄託されている場合は，出願書類が第1段落，第2段落又は第3段落に従って公衆の利用に供されたときに，何人も当該試料の分譲を受ける権利を有する。 - 特許庁
  • This application also provides a method of infiltrating a sample containing a reagent such as a dehydrating reagent like an alcohol, where the infiltrating material is heated to a temperature at or above the boiling point of the reagent, to boil off the reagent when the tissue sample comes into contact with the infiltrating material.
    組織サンプルが浸透物質に接触するとき試薬を沸騰して取り除くために、浸透物質を試薬の沸点またはそれより高い温度まで加熱する、アルコールのような脱水試薬等の試薬を含むサンプルを浸透する方法。 - 特許庁
  • To provide a structure with application of the principle of an ink jet printer capable of stably performing a spotting without having a thermal effect on a sample solution and suppressing the waste of the sample solution in a spotting head, spotting device and spotting method.
    スポッティングヘッド，スポッティング装置及びスポッティング方法において、インクジェットプリンタの原理を応用した構成において、試料溶液に熱影響を与えることなく安定してスポッティングでき、且つ、試料溶液の無駄を抑制できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus that are made suitable for executing the application to sample liquid level detection, liquid level contact detection, or the like in analysis equipment or the like accompanied with treatment for dispensing a sample at least with one probe.
    一以上のプローブをもって試料の分注を行うような処理を伴う分析機器等における試料液面検知、液面接触検知などに適用してこれを実施するのに好適ならしめた方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • When a viewer listens to this sample and decides to purchase it, he/she makes an application for the purchase to a contents wiring device 10, and receives a contents key after being authenticated.
    視聴者はこのサンプルを聴いて、購入を決定した場合には、コンテンツ配信装置１０に購入を申し込み、認証を受けた後、コンテンツ鍵を受け取る。 - 特許庁
  • In this application method of the reagent for applying the capturing reagent by using an application tool onto a film member for capturing a measuring object in a specimen sample provided in a flow through type assay device, dispensation is performed by dividing into a plurality of times dispensation operation for discharging a prescribed quantity of the reagent onto the application tool.
    フロースルー型アッセイ装置に備えられる検体試料中の被測定物を捕捉するための膜部材に対し、塗布用治具を用いて捕捉試薬を塗布する試薬の塗布方法において、塗布用治具に対して所定量の試薬を吐出する分注操作を複数回に分けて分注する。 - 特許庁
  • If an application has been refused or withdrawn or deemed to be withdrawn, the applicant may request that for 10 years from the date of filing of the utility model application a sample of the deposited material shall only be furnished to an expert in the art.
    出願が拒絶され若しくは取り下げられ又は取下とみなされたときは，出願人は，実用新案の出願日から10年間，寄託材料の試料が当該技術の専門家のみに分譲されるよう請求することができる。 - 特許庁
  • In this application method of the reagent for applying the capturing reagent onto the film member for capturing a measuring object in a specimen sample provided in a flow through type assay device, the tool for application equipped with a projection part on the abutting surface to the film member is used.
    フロースルー型アッセイ装置に備えられる検体試料中の被測定物を捕捉するための膜部材に対し、捕捉試薬を塗布する試薬の塗布方法において、前記膜部材との当接面に突出部を備える塗布用治具を用いる。 - 特許庁
  • It will take a moment for the IDE to start the application server in profilingmode, deploy the sample application, and then do the profiling instrumentation.Eventually you should see a BUILD SUCCESSFUL message in the IDE's Output window,as highlighted in the example below.
    アプリケーションサーバーをプロファイルモードで起動し、サンプルアプリケーションを配備して、プロファイルの準備を行うには、多少の時間がかかります。 処理が完了すると、次の例に示すように「構築成功」というメッセージが IDE の「出力」ウィンドウに表示されます。 - NetBeans
  • An input terminal of a sample hold circuit 6 for sample holding the voltage VM2 of the semiconductor element 4 to be tested in response to a timing signal immediately after the end of application of the current IT is connected to both ends of each semiconductor element 4 including the variable resistors 5.
    可変抵抗５を含む各被試験用半導体素子４の両端には電流ＩTの通電終了直後にタイミング信号を受けて被試験用半導体素子４の電圧ＶM2をサンプルホールドするためのサンプルホールド回路６の入力端子が接続されている。 - 特許庁
  • To put it concretely, excitation light Le is applied to the sample S including aptamer capable of interaction with small biomolecules, and measuring light L2 for measuring a photothermal effect generated in the sample S by application of the excitation light Le is applied.
    具体的には、生体小分子との相互作用が可能なアプタマーを含む試料Ｓに対して励起光Ｌｅを照射するとともに、この励起光Ｌｅの照射により試料Ｓ内に生ずる光熱効果を測定するための測定光Ｌ２を照射する。 - 特許庁
  • After application of an electrophoresis voltage, the controller increases detection sensitivity in a separation window in which components in the sample are separated, and measures a separation window data (absorbance) and an electrophoresis time (S103).
    泳動電圧を付与後、コントローラは、試料内の成分が分離される分離ウィンドウ部分において検出感度を上げ、分離ウィンドウデータ（吸光度）及び泳動時間を測定する（Ｓ１０３）。 - 特許庁
  • When you create a new Mobile Client to Web Application, a sample MIDlet can not be generated if the parameter of the Web service is a type that can not be easily represented in the Visual Mobile Developer, such as an array.
    モバイルクライアントから Web アプリケーションへの接続を新規に作成するとき、Web サービスのパラメータが、配列など、ビジュアルモバイルデザイナーで簡単に表示できない型の場合、サンプル MIDlet を生成できない。 - NetBeans
  • To provide a creatinase stably and efficiently usable in clinical and industrial application, and to provide their use for concentration measurement of creatinine and/or creatin in a sample.
    臨床的又は工業的用途において安定かつ効率よく用いうるクレアチナーゼ、試料中のクレアチニン及び／又はクレアチン濃度の測定のためのそれらの使用を提供すること。 - 特許庁
  • If the patent application comprises the deposit of a sample of biological material, cf. section 8a of the Patents Act, the application as filed shall contain all such relevant information on the characteristics of the biological material as is known to the applicant.
    特許出願が生物学的材料の試料の寄託(特許法第8a条参照)を含んでいる場合は，出願には，その出願時に出願人が知っている生物学的材料の特性についてのすべての関連情報を記載しなければならない。 - 特許庁
  • When a sample component to be fractionated comes to the metallic capillary 22, it becomes a drop ions, is emitted in the direction of the counter electrode 14 by an electrospray phenomenon due to application of the high voltage between the metallic capillary 22 and the counter electrode 14, and is collected on a sample plate 6.
    金属キャピラリ２２に分取しようとする試料成分がきたとき、金属キャピラリ２２と対極１４の間に高電界を印加することにより、試料成分はエレクトロスプレー現象により液滴イオンとなって対極１４方向に飛び出し、サンプルプレート６上に採取される。 - 特許庁
  • If a deposit of a sample of biological material has been made, the applicant shall within 16 months from the date of filing of the application or, if priority is claimed, from the date of priority submit information stating the institution with which the deposit has been made and the number which the institution has accorded to the deposited sample.
    生物学的材料の試料を寄託している場合は，出願人は，出願日又は優先権を主張しているときは優先日から16月以内に，寄託先の機関及びその機関が寄託試料に与えた寄託番号を記載した情報を提出しなければならない。 - 特許庁
  • Further, light beams from a condenser lens system 11 is incident upon the back surface side of the element sample 3 (the side of the transparent substrate), in addition to the application of the electron beams, to obtain the applied voltage-current properties of the organic thin film to be measured when light is applied on the element sample 3.
    また、電子ビームの照射とともに、素子試料３の裏面側（透明基板側）に集光レンズ系１１からの光ビームを入射せしめることにより、素子試料３に光を照射したときの被測定有機薄膜の印加電圧−電流特性を得る。 - 特許庁
  • Note: In the “Business process flowchart (sample)” shown before in Exhibit 2, a column is provided on the right side to allow users to draw their own system flowchart. It is useful, for example, to describe the details of the application controls in the notes to the column, or in the “Business process description (sample)” prepared separately.
    （注）前述の参考２（業務の流れ図（例））においては、右列にシステムに関する流れの欄を設けており、例えば、これに対する注記の中で、あるいは業務記述書（例）を別途、作成する場合にはその中で、業務処理統制の内容について記述することが考えられる。 - 金融庁
  • The resistivity measurement method, measuring the electric resistance of a sample with a four-probe resistivity measurement device, supplies an application current for each of a plurality of measuring points of the sample and measures a voltage value and, when the measured voltage value is determined to be beyond a predetermined range of a voltage value at the last measurement point, reconfigure a current value of the application current.
    ４探針抵抗率測定装置により試料の電気抵抗を測定する抵抗率測定方法であって、前記試料における複数の測定ポイント毎に印加電流を供給して電圧値を測定し、前記測定した電圧値が前回の測定ポイントの電圧値の所定範囲を超えると判定した場合に、前記印加電流の電流値を再設定する。 - 特許庁
  • If the request referred to in subsection 1 is filed before the application to which the deposit relates has been finally decided on, the person requesting the furnishing of the sample shall undertake vis-a-vis the applicant to use the sample for experimental purposes only until the application has been finally decided on and within the same period or, if a patent is granted, until the patent has ceased to have effect not to make the sample available to any third party.
    (1)にいう請求が，寄託に係わる特許出願についての最終決定が行われる前に提出される場合は，当該試料を請求する者は，出願人に対して，特許出願についての最終決定が行われるときまでは，その試料を実験的目的に限って使用すること，及び前記の期間又は特許が付与された場合は特許が失効するまで，当該試料を第三者の利用に供さないことを約定しなければならない。 - 特許庁
  • This cell sorter is equipped with a pipe, which is equipped with a sample introducing port into which the sample is introduced, a gas introducing port into which gas is introduced and a discharge port for discharging the sample and the gas, and a pair of the electrodes formed to the pipe, receiving the application of AC voltage to generate plasma using the gas and controlling the discharge direction of the gas out of the discharge port.
    このセルソータは、内部にサンプルを導入するサンプル導入口と、内部にガスを導入するガス導入口と、サンプルとガスとを排出する排出口と、を備える管と、管に形成され、かつ、交流電圧が印加されることにより、ガスを用いてプラズマを生成し、排出口からサンプルが排出される方向を制御する一対の電極と、を備えることを特徴とする。 - 特許庁
  • To prevent decrease in the sample transmission capacity of electron beams in a STEM observation with decreased acceleration voltage and the bad influence of a damaged layer generated by the application of ion beams, to remove the damaged layer effectively by minimizing the damage to a desired region in a sample, and to prevent processing failure by detecting an optimum processing completion point in time even if the thickness of a thin-film sample is reduced.
    加速電圧を下げたＳＴＥＭ観察での電子ビームの試料透過能力の低下やイオンビームの照射により生じるダメージ層の悪影響を防ぎ、試料の所望の領域への損傷を最小限にしてダメージ層を効果的に除去すること、および薄膜試料の厚さがより薄くなっても最適な加工終了時点を検出して加工失敗を防ぐ。 - 特許庁
  • 1. Anyone entitled on the basis of Article 21 of the Act to inspect the documents referred to in that article pertaining to an application to patent or a patent can request, pursuant to Article 25 of the Act, second paragraph, that a sample be provided of the culture of a micro-organism deposited to which an application or a patent relates.
    (1) 法律第21条に基づき，特許出願又は特許に係わる同条記載の書類を査察する権利を有する者は，法律第25条(2)により，出願又は特許に係わる寄託された微生物の培養物について，その試料の分譲を請求することができる。 - 特許庁
  • The delivery of information concerning microorganism as referred to in paragraph (2) shall be deemed as an unconditional approval of the patent applicant to any person who at the time or after the announcement of the patent application files a written application to the Patent Office to obtain such deposited microorganism sample.
    (2)にいう微生物に関する情報の提供は，特許出願の公開時に又は公開後に，当該寄託された微生物の試料を取得するために，特許局に対して書面で請求をするすべての人に対する特許出願人からの無条件の承諾とみなされる。 - 特許庁
  • Notwithstanding any declaration made under sections 31 and 32 of this Order, biological material derived from a furnished sample may be deposited for the purpose of a new utility model or patent application, if the deposit of the derived biological material is required for that application.
    第31条及び第32条に基づいて行われる宣言に拘らず，分譲試料から派生した微生物素材を新たな実用新案出願又は特許出願のために寄託することができる。ただし，派生微生物素材の寄託が，前記の出願のために必要な場合に限る。 - 特許庁
  • Until either a patent has been issued on the basis of the application or the application is refused, or is abandoned and no longer subject to reinstatement, or is withdrawn, the Commissioner shall not make the certification referred to in subsection 163(2) in respect of a person, including an independent expert, unless the Commissioner has received an undertaking by that person to the applicant (a) not to make any sample of biological material furnished by the international depositary authority or any culture derived from such sample available to any other person before either a patent is issued on the basis of the application or the application is refused, or is abandoned and no longer subject to reinstatement, or is withdrawn; and (b) to use the sample of biological material furnished by the international depositary authority and any culture derived from such sample only for the purpose of experiments that relate to the subject-matter of the application until either a patent is issued on the basis of the application or the application is refused, or is abandoned and no longer subject to reinstatement, or is withdrawn.
    当該出願を基礎として特許が発行され，又は当該出願が拒絶され，放棄されて回復の可能性がなくなり，若しくは取り下げられるまでは，長官は，独立専門家を含む当該請求人に関して第163条(2)にいう証明を行ってはならない。ただし，長官が当該請求をした者の出願人に対する次の事項の保証を取り付けた場合は，この限りでない: (a) 当該出願を基礎として特許が発行され，又は当該出願が拒絶され，放棄されて回復の可能性がなくなり，若しくは取り下げられる前には，国際寄託当局により分譲された如何なる生物材料の試料又は当該試料に由来する如何なる培養物も，他の何人にも入手可能にさせないこと，及び (b) 当該出願を基礎として特許が発行され，又は当該出願が拒絶され，放棄されて回復の可能性がなくなり，若しくは取り下げられるまでは，国際寄託当局により分譲された生物材料の試料又は当該試料に由来する如何なる培養物も，専ら当該出願の主題に関連する試験の目的のためにのみ使用すること - 特許庁
  • The equation 1: DH=α×P/D^2, wherein P: load (2 mN), D: push-in depth to a sample by an indenter (μm), α: constant corresponding to indenter shape (α=3.8584 for a triangular pyramid indenter (a ridge line angle of 115 degrees) used in this application).
    ＤＨ＝α×Ｐ／Ｄ^２ （式１）Ｐ：荷重（２ｍＮ）Ｄ：圧子の試料への押し込み深さ(μｍ)α：圧子形状による定数（本願で用いた三角錐圧子（稜線角１１５°）ではα＝3.8584） - 特許庁
  • To provide a magnetic field applying device of an electron microscope wherein the application correcting angle of a sample can be increased without enlarging the device.
    本発明は電子顕微鏡の磁場印加装置に関し、装置を大型化することなく試料の印加補正角を大きくとることができる電子顕微鏡の磁場印加装置を提供することを目的としている。 - 特許庁
  • When the phase shift changing linearly is applied to a modulation symbol in a frequency area, the application may be accomplished by either retarding a corresponding time area sample, or circularly shifting it.
    線形に変化する移相を周波数領域の中の変調シンボルに適用することは、対応する時間領域サンプルを遅延させる、又は循環シフトさせるかのいずれかにより達成されてもよい。 - 特許庁
  • The troubleshooting system compares the suspect values with the collected sample values to identify one or more configuration parameters that are likely at fault for causing the application to exhibit the undesired behavior.
    トラブルシューティングシステムは、集めたサンプル値と疑惑の値の比較を使用して、アプリケーションに望ましくない挙動を示させる、誤っている可能性が高い１つまたは複数のコンフィギュレーションパラメータを識別する。 - 特許庁
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