「sample changing」を含む例文一覧(215)
＜前へ 1 2 3 4 5 次へ＞- An extraction unit 25 extracts a specific frequency component changing depending on the distance between a probe in a non-contact state and the sample from a vibration signal of the cantilever 3.
抽出部２５は、カンチレバー３の振動信号から、非接触状態にある探針及び試料間の距離に応じて変化する特定周波数成分を抽出する。 - 特許庁 - A change in the sample size and a change in background strength by the coexistent element (9 in the figure) are measured in real time, and a detection lower limit is kept constant by automatically changing measuring time.
試料サイズの変化や共存元素によるバックグランド強度の変化９をリアルタイムに測定し、測定時間を自動的に変化させ検出下限を一定に保つ。 - 特許庁 - To provide a multiple external reflection infrared spectroscopic device capable of easily changing the number of times the infrared ray reflects on a pair of reflection substrates on which a sample is formed.
試料が表面に形成された一対の反射基板での反射回数を簡単に変更することができる多重外部反射赤外分光装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a tool for a conductive treatment of a non-conductive sample capable of easily changing the loading height and efficiently performing an analysis in a low-vacuum ion sputtering apparatus.
低真空型イオンスパッタリング装置において、載置高さを容易に変更でき、分析作業の効率化が図れる非導電性試料の導電処理用治具を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection apparatus which eliminates a need of correcting the position of a measurement point at each time when changing a measurement sample and allows a plurality of kinds of characteristics at one point on a measurement sample to be measured using the same inspection apparatus.
測定試料を変えるたびごとに測定点の位置補正を行う必要がなく、更に、測定試料上の同一点についての複数種類の特性の測定を、同一検査装置を用いて行なうことができる検査装置を提供する。 - 特許庁 - The processing is repeated while changing the specified position in the sample 3, to find a brightness distribution ranging over the whole of the sample 3, and the brightness distribution provided as a result thereof is observed to detect a weld line and a flow mark.
そして、サンプル３の特定位置を変えて、この処理を繰り返す事によって、サンプル３全体にわたっての輝度分布を求めることができ、その結果得られた輝度の分布を見ることによってウェルドラインやフローマークの検出を行なうことができる。 - 特許庁 - When the voltage holding state of both circuits 81 and 83 is to be released, the timing of changing over a switch SW3 of the second sample holding circuit 83 between ON or OFF to release the voltage holding state is set later than the timing of changing over a switch SW9 of the first sample holding circuit 81 from Off to ON to release the voltage holding state.
そして、この両回路８１、８３の電圧保持状態を解除するにあたり、第２サンプルホールド回路８３のスイッチＳＷ３をオフかオンに切り替えて電圧保持状態を解除するタイミングを、第１サンプルホールド回路８１のスイッチＳＷ９をオフからオンに切り替えて電圧保持状態を解除するタイミングより後に設定する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection apparatus for detecting finer defects with high sensitivity by varying illumination conditions for irradiating a sample with light arbitrarily and easily, and further by changing the transmittance of a pupil filter at a detection side and by changing phase conditions.
試料に照明する照明条件を任意かつ容易に可変でき、さらに検出側の瞳フィルタの透過率、位相条件を変えることによって、より微細な欠陥を高感度に検出することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - A computer 12 performs, to a Z-stage, the control for changing discretely the relative position relation between the condensing position of an objective lens 5 for converging outgoing light from a light source 1 onto a sample 6 and the position of the sample 6 in response to a measurement start instruction.
測定開始指示に応じ、コンピュータ１２は、光源１からの出射光を試料６で集束させる対物レンズ５の集光位置と試料６の位置との相対的な位置関係を離散的に変化させる制御をＺステージ１０に対して行う。 - 特許庁 - The testing device includes a hydrophobic face 18 for keeping the contact face between the droplet 36 of the sample solution and the surface of the plate 12 in the specific sector 16, and a shaking device 34 for changing the shape of the droplet 36 of the sample solution which is dripped into the specific sector 16.
検査装置には、サンプル液の液滴３６とプレート１２の表面との接触面を特定領域１６内に保つ疎水面１８と、特定領域１６内に滴下されたサンプル液の液滴３６を変形させるための加振装置３４を備える。 - 特許庁 - This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32 for measuring physical quantities generated between the probe and the sample 12, and moving mechanisms 14, 15, 29 for allowing to perform scanning operation by changing relatively positions of the probe and the sample.
走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１と、探針と試料１２の間で生じる物理量を測定する測定部（２４，３２）と、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構（１４，１５，２９）とを備える。 - 特許庁 - In this shape measuring instrument for measuring a shape of a sample W, for example, using a shape measuring means constituted of interferometers 1, 2, inclinations of both faces of the sample W are measured twice while changing an angle position relation between the sample W and the shape measuring means, and a calibration data is calculated based on a measured result therein.
例えば干渉計１，２から構成される形状測定手段を用いて試料Ｗの形状を測定する形状測定装置Ａにおいて，試料Ｗと形状測定手段との角度位置関係を変えて試料Ｗの両面の傾きを２度測定し，その測定結果を用いて形状測定装置Ａの校正用データを算出する。 - 特許庁 - This method is applied for the scanning type probe microscope provided with a measuring part for measuring atomic force or the like as to the sample surface by scanning a sample 12 using a probe 25, a fine motion mechanism 24 for moving the probe finely, a prove approaching mechanism 11 for changing a space between the probe and the sample, the optical microscope 22, and a focusing driving mechanism 21.
この焦点合せ方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する原子間力等を測定する測定部と、探針を微動させる微動機構２４と、探針と試料の間隔を探針接近機構１１と、光学顕微鏡２２と、その焦点合せ用駆動機構２１を備える走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁 - That is, with respect to a plurality of image processing from which similar effects are obtained, sample images to which respective image processing are applied are displayed to one picture by changing parameter values.
すなわち、類似の効果が得られる複数の画像処理について、それぞれの画像処理を施したサンプル画像を、パラメータの値を変化させて一画面に表示するように構成した。 - 特許庁 - By using the sample values the absolute value of the difference of the changing rate parameters is smaller than the prescribed value, the initialized parameter B and C representing the offset values of two sine wave signals are calculated.
変化率パラメータの絶対値の差が所定値より小さくなったときのサンプル値を用いて、２つの正弦波信号のオフセット値を示す初期化パラメータＢ，Ｃを算出する。 - 特許庁 - To advertise well-selling products along the intention of the manager of an automatic vending machine without changing the layout of sample products concerning the controller for the automatic vending machine for selecting purchasing commodities.
購入商品を選択する自動販売機の制御装置に関し、見本商品の配置変更をおこなわず、自動販売機管理者の意に則した売れ筋商品の宣伝を行う。 - 特許庁 - The control computer 150 controls the driving part 2 to scan the sample 1 along an X axis while changing the Y-axial position of the line sensor 4 each time one scan is made.
制御コンピュータ１５０は、駆動部２を制御して、１回の走査が終了する度にラインセンサ４のＹ軸方向の位置を変更しながら、試料１をＸ軸方向に走査する。 - 特許庁 - The dilution rate control section 53 changes the discharge flow rate of the syringe pump 19 and that of the pump 49 for feeding diluent, thus changing the dilution rate of the sample.
希釈率制御部５３により、シリンジポンプ１９の吐出流速及び希釈液送液用ポンプ４９の吐出流速を変更することにより試料の希釈率を変更する。 - 特許庁 - By changing a scanning sequence of scanning lines for shortening the time between first and second scans on the same place on a sample, it scans consecutively when the shrink amount is small.
走査線の走査順序を変化させて試料上の同一場所に対する１度目と２度目の走査間の時間を短縮することで、シュリンク量の少ない時に連続して走査を行う。 - 特許庁 - A wave number in changing the intensity of each interference light detected by an optical sensor 8 when lengths of light paths of the vacuum area and the sample area are changed, is counted by a counter 21.
そして、計数器２１で前記真空領域及びサンプル領域の光路長を変化させたときに光センサ８が検知する前記各干渉光の強度変化の波数を計数する。 - 特許庁 - To improve diagnostic precision of pathology diagnosis by acquiring a dyeing image and a spectral imaging image using the same sample without changing a conventional dyeing-premised pathology diagnostic process.
染色前提の従来の病理診断プロセスを変更せず、同一の試料を用いて、染色画像と分光イメージング画像とを取得し、病理診断の診断精度を向上する。 - 特許庁 - The sample molecules (hereinafter simply is called ions) ionized in an ionization chamber 1 are introduced into a drift chamber 21 by changing their potentials by applying a pulse-like voltage to a gate electrode 31.
イオン化室１にてイオン化された試料分子（以下、単にイオンと称する）を、ゲート電極３１にパルス状の電圧を印加して電位を変化させることで、ドリフト室２１内に導入する。 - 特許庁 - In this surface potentiometer 1, on the first measuring point among the plurality of measuring points set on the sample 9 surface 91, a relation between an electrode potential and a displacement current is obtained, while changing the electrode potential of a vibration electrode 12; and a plurality of relations are obtained, while changing a distance between the vibration electrode 12 and the sample 9 surface 91.
表面電位計１では、試料９の表面９１上に設定された複数の測定点のうち最初の測定点において、振動電極１２の電極電位を変更しつつ電極電位と変位電流との関係が取得され、振動電極１２と試料９の表面９１との間の距離を変更しつつ当該関係が複数取得される。 - 特許庁 - To provide a microscope moving unit which prevents an apparatus from being made larger and slower by making the movable part small, improves the revolving operability of an objective lens by securing a wide space around the objective lens and permits microscope observation of different positions of a sample without changing the state of the sample.
可動部分を小さくして装置の大型化および低速化を防止し、対物レンズの周囲に広い空間を確保して対物レンズの取り回し性を向上するとともに、標本の状態を変化させることなく、標本の異なる位置を顕微鏡観察することを可能とする。 - 特許庁 - A sample hold section 6 samples a reception pulse received by a receiving antenna 3a, based on a sample pulse obtained by time sweeping of the changing timing of the dither clock over a plurality of periods, to produce a long-period reception pulse obtained by expanding the reception pulse on a time axis.
サンプルホールド部６は、受信アンテナ３ａによって受信された受信パルスを、複数の周期にわたってディザクロックの変化タイミングから時間掃引したサンプルパルスに基づいてサンプリングすることによって、受信パルスを時間軸上で伸張した長周期受信パルスを生成する。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope device capable of changing independently depth-directional excitation light intensity distributions, on a sample face, of a laser beam for stimulating a sample, and a light for acquiring an image; and to provide an observation method using the same.
標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁 - In a microflow channel structure of which the width and depth are 1 mm or below, two pairs of sheath solution inlet flow channels 11 and 12 are allowed to meet with a sample solution introducing flow channel 10, through which a sample to be measured flows, while changing the positions in a solution sending direction Y and a flow channel depth direction Z.
流路幅及び深さが１ｍｍ以下のマイクロ流路構造において、測定対象の試料が通流するサンプル液導入流路１０に、送液方向Ｙ及び流路深さ方向Ｚにおける位置を変えて、２対のシース液導入流路１１，１２を合流させる。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope apparatus capable of independently changing the intensity distribution of stimulating light in the depth direction on a sample surface of a laser beam stimulating a sample and light for acquiring an image respectively, and an observation method using the confocal microscope apparatus.
標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁 - A sample expansion image 18 obtained by irradiating a sample 11 with an electron beam 3 while changing an excitation current for an object lens 12 and an astigmatism correction coil 5 of an object lens 12 is imaged by an imaging device comprising an optical lens 19 and an imaging element 20, and the degree of sharpness of the image is calculated by a calculation device 57.
対物レンズ１２と非点収差補正コイル５の励磁電流を変化させながら試料１１に電子線３を照射して得られる試料拡大像１８を光学レンズ１９、撮像素子２０からなる撮像装置で撮影して、演算装置５７で画像鮮鋭度を計算する。 - 特許庁 - The high-speed liquid chromatograph includes: a sample feed flow channel equipped with a sample injection part; a first capturing flow channel having a first trap column; a second capturing flow channel having a second trap column having capturing characteristics different from those of the first trap column; and a flow channel changeover mechanism for changing over the connection of those flow channels.
試料注入部を備えた試料搬送流路、第１トラップカラムを有する第１捕捉流路、第１トラップカラムとは異なる捕捉特性をもつ第２トラップカラムを有する第２捕捉流路、及びそれらの流路の接続を切り換える流路切換機構が設けられている。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope capable of compensating the lowering of light quantity caused in the periphery area of the observed image of a sample, capable of successively and easily changing the light quantity of a light source and capable of changing the wavelength of illuminating light.
試料の観察像の周辺領域で生じる光量の低下を補うことが可能な共焦点顕微鏡、光源光量を逐次容易に変化させることが可能な共焦点顕微鏡、及び照明光の波長を変化させることが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The sampler circuit comprises a first circuit for generating a sample frequency signal, having prescribed pulse width by the harmonic of a local signal; a second circuit that samples the input frequency signal by the sample frequency signal, and outputs the differential frequency signal between the sample and input frequency signals; and a pulse width change means for changing the pulse width.
ローカル信号の高調波で所定のパルス幅を有するサンプル周波数信号を生成する第１回路と、前記サンプル周波数信号により入力周波数信号をサンプルし、前記サンプル周波数信号と前記入力周波数信号の差分周波数信号を出力する第２回路を有するサンプラ回路において、前記パルス幅を変更するパルス幅変更手段を備える。 - 特許庁 - This device for measuring surface state for measuring the surface state of the sample comprises a light-projecting means for projecting light to the sample, a light receiving means for receiving the reflected light reflected on the sample surface, and an altering means capable of changing the cross-sectional area of the projected light flux by the light-projecting means.
試料の表面状態を測定する表面状態測定装置であって、前記試料に対して投光する投光手段と、当該試料面で反射された反射光を受光する受光手段と、前記投光手段による投光光束の断面積を変更することが可能に構成された変更手段とを備える表面状態測定装置とする。 - 特許庁 - In this length measuring method by the scanning electron microscope, the scanning electron microscope is auto-focused with a measuring point, using an output from a sensor for detecting a distance from an objective lens to the sample, and a change of a sample signal emitted from the sample is monitored while changing an excitation current of the objective lens, to detect the excitation current ΔIobj of the objective lens corresponding to a focus shift.
本発明の走査形電子顕微鏡による測長方法は、対物レンズから試料までの距離を検出するセンサの出力を用いて走査形電子顕微鏡を測定ポイントにオートフォーカスさせ、対物レンズの励磁電流を変化させながら試料から放出された試料信号の変化をモニターしてフォーカスずれに相当する対物レンズの励磁電流ΔIobjを検出する。 - 特許庁 - When the phase shift changing linearly is applied to a modulation symbol in a frequency area, the application may be accomplished by either retarding a corresponding time area sample, or circularly shifting it.
線形に変化する移相を周波数領域の中の変調シンボルに適用することは、対応する時間領域サンプルを遅延させる、又は循環シフトさせるかのいずれかにより達成されてもよい。 - 特許庁 - In this way, the static electricity charged on the liquid sample is discharged, therefore, a correct density value is measured without changing the oscillation cycle of the glass cell due to static electricity.
このように、測定対象の液体試料に帯電した静電気が放電されるので、静電気によってガラスセルの振動周期が変化することなく、正しい密度値を測定することができる。 - 特許庁 - When the fixed sample output function is executed, the image forming apparatus executes image forming while changing a fixing temperature of a fixing device and outputs the samples fixed at a plurality of fixing temperatures.
定着サンプル出力機能が実行されると、画像形成装置は、定着装置の定着温度を変更して画像形成を実行し、複数の定着温度での定着サンプルを出力する。 - 特許庁 - The microscope includes an optical system for changing a beam diameter and a field stop disposed at a position conjugate with a sample surface, in this order beginning from the side of the laser light source.
上記課題は、レーザー光源から順に、ビーム径を変更する光学系と、標本面と共役な位置に配置された視野絞りとを備え、以下の関係式を満たすことによって解決される。 - 特許庁 - The force acting on a probe 11a is measured by a PZT scanner 14 on the basis of the position of the photodetector 16 in each distance while changing the distance between the cantilever 11 and a sample 13.
ＰＺＴスキャナ１４によって、カンチレバー１１と試料１３との間の距離を変えながら、各距離において、フォトディテクタ１６の位置に基づき、探針１１ａに働く力を計測する。 - 特許庁 - To provide an illuminator for a microscope having a function equivalent to that of an aperture diaphragm provided in the conventional illuminator for a microscope by solving a problem caused by changing the conventional illuminator to an illuminator whose surface light source is arranged just under a sample.
本発明は、従来型の顕微鏡用照明装置を、面光源が試料の直下に配置する照明装置に変更することによって引き起こる問題を解決することを課題とする。 - 特許庁 - Thus, only specifying at least two sample points by a user, a waveform having a complex waveform shape is generated in a simple and abundantly controlled manner without changing pitch.
このようにすると、ユーザは少なくとも２つのサンプル点を特定するだけで、ピッチを変えることなく複雑な波形形状をした波形を簡単且つ制御性豊かに発生させることができるようになる。 - 特許庁 - A first gap among sample images is detected when changing an optical element into two conditions when a deflection condition of an alignment deflector is changed into a first condition, a second gap among the sample images is detected when changing the optical element into two conditions when the deflection condition of the alignment deflector is changed into a second condition, and an operation condition of the alignment deflector is determined on the basis of information of the two gaps.
アライメント偏向器の偏向条件を第１の状態にしたときに、光学素子を少なくとも２つの状態に変化させたときの試料像間の第１のずれを検出し、アライメント偏向器の偏向条件を第２の状態にしたときの試料像間の第２のずれを検出し、当該２つのずれの情報に基づいて、前記アライメント偏向器の動作条件を決定する。 - 特許庁 - A white color changing range is divided into white color changing ranges determined by color temperatures as illustrated, an appropriate white color changing range is selected by a photographing condition and an object condition, and on the basis of a sample point having a color evaluation value within the range and areas resulting from dividing one screen into (m) areas, the white balance is controlled and the white balance adjustment is conducted.
白判別範囲を図５に示すように色温度別に定められた白判別領域に分割し、撮影条件と被写体条件により適切な白判別領域を選択し、その領域内に存在する色評価値を有するサンプルポイントおよび１画面をｍ個に分割して得られた領域に基づいてホワイトバランスを制御してホワイトバランス調整を行う。 - 特許庁 - Since the control means controls the combustion while changing the sample acquiring condition in response to the combustion state of the air-fuel mixture, when an air-fuel mixture state is high in activity in advance and stable combustion is provided, the combustion can be controlled while reducing sample operation and processing caused by this operation.
制御手段が混合気の燃焼状態に応じて、サンプル取得条件を変更しながら燃焼制御を行うので、混合気の状態が予め活性が高く安定した燃焼が得られている場合には、サンプル動作及びこれに伴う処理を軽減しながら燃焼制御が行うことができる。 - 特許庁 - By changing intensity of the X-ray 19 according to a first absorption characteristic of the standard sample 12 by the radiation source 18A, a second absorption characteristic of the standard sample 12 agreeing with the first absorption characteristic is acquired, and the kind of the radiation source 18A is identified based on the intensity of the X-ray 19 at that time.
放射線源１８Ａによる標準試料１２の第１の吸収特性に対し、Ｘ線１９の強度を変化させることによって、標準試料１２の、第１の吸収特性と合致する第２の吸収特性を得、この際のＸ線１９の強度に基づいて、放射線源１８Ａの種類を同定する。 - 特許庁 - The total reflection fluorescence microscope makes the change over of vertical illumination and total reflection illumination possible by changing the incident angle of the illumination light to be radiated to a sample through an objective lens 7 from a laser beam source, in which the incident angle of the illumination light from the objective lens 7 on the sample is regulated to a range making the total reflection illumination obtainable.
レーザ光源から対物レンズ７を介して試料に照射される照明光の入射角を変化させ落射照明と全反射照明の切換えを可能にした全反射蛍光顕微鏡であって、照明光の対物レンズ７から試料への入射角を全反射照明が得られる範囲に規制する。 - 特許庁 - To provide an autofocus microscope capable of visualizing a focusing position on the sample surface with a simple constitution without adding a new light source for illuminating a mark indicating the focusing position on the sample surface and without changing the conventional optical system disposed in the microscope in the least.
標本の表面上の合焦点位置を示す指標を照明するための新たな光源を追加することなく、また、顕微鏡が備える既存の光学系を何ら変更することなく、標本の表面上の合焦点位置を簡単な構成で視認することができる自動焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a flow cell for NMR capable of changing easily an observation cell built in an NMR probe with other observation cell, and capable of controlling a temperature of a liquid sample in a high temperature range.
ＮＭＲプローブに組み込まれた観測セルを、別の観測セルと容易に交換することができ、しかも高温領域で液体試料の温度制御を行なうことのできるＮＭＲ用フローセルを提供する。 - 特許庁 - When a changing means changes the sensor according to the sample temperature, measurement is allowed without replacing the sensor of a radiation thermometer even if the measuring temperature zone extends in a wide range.
そこで試料温度に応じてセンサを切り替える切り替え手段を備えるようにすると、測定温度域が広範囲に跨るときであっても、放射温度計のセンサを交換することなく、計測が可能となる。 - 特許庁 - To provide a measuring device with which the accuracy of data indicating the reaction state can be improved when screening for detecting the reaction state with a sample material is performed by changing the concentration of a solution to be inspected.
被検溶液の濃度を変えて検体物質との反応状態を検出するスクリーニングを行った場合の反応状態を示すデータの精度を向上させることができる測定装置を提供する。 - 特許庁
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