「sample changing」を含む例文一覧(215)
＜前へ 1 2 3 4 5- A transmission electron image is obtained by radiating the electron beam to an evaluation site of the sample having the evaluation site where the structure is to be evaluated, and a single crystal site integrally joined with the evaluation site, and the electron beam diffraction image is obtained by radiating the electron beam to the single crystal site without changing a radiation angle of the electron beam.
前記構造を評価すべき評価部位と、前記評価部位一体的に結合した単結晶部位とを有する試料の前記評価部位に前記電子線を照射して透過電子像を取得すると共に前記電子線の照射角度を変化させずに前記単結晶部位に前記電子線を照射して電子線回折像を取得する。 - 特許庁 - To provide a warper having a knot-aligning device capable of aligning each of the positions of yarns for start winding them on yarn-delivery packages, which are drawn from yarn-wound packages obtained by winding after tying each of the yarns having prescribed lengths with changing colors and yarn kinds in length direction of the wound yarns for coping with the little production of a wide variety of goods and a sample fabric production.
少量多品種生産やサンプル織物製造に対応して、巻糸の長さ方向に色や糸種を変化させて所定長さ毎に結び合わせて巻き取った巻糸パッケージから、それぞれの給糸パッケージの巻き始めの位置を揃えることができる結び目整列装置を有する整経機を提供することである。 - 特許庁 - To provide a nonlinear dielectric microscope developed for usage of ultrahigh-sensitivity range sensing of vertical direction by using of the phenomenon based on an evidence where, when a gap is prepared between a probe and a sample surface, large variation of nonlinear dielectric signal by changing a minute gap can be predicted from theoretical analysis.
本発明の課題は、探針と試料表面に空隙を設けた場合、微小な空隙の変化で非線形誘電率信号が大きく変化することが理論解析により予測されることに基き、この現象を利用して超高感度な垂直方向距離センシングに用いる非線形誘電率顕微鏡を開発し、提供することにある。 - 特許庁 - This moisture meter is equipped with a sample cell 11, into which a measuring object gas is introduced, an optical chamber 19, a background signal control means for changing the influence of the background signal, by adjusting a pressure in the optical chamber; and an operation control part 34 for determining a moisture concentration value, based on a detection value from a photodetector.
本発明の水分計は、測定対象ガスが導入されるサンプルセル１１と、オプティカルチャンバ１９と、オプティカルチャンバ内の圧力を調整することにより、バックグラウンド信号の影響を変化させるバックグラウンド信号制御手段と、光検出器の検出値に基づいて水分濃度値を求める演算制御部３４とを備えている。 - 特許庁 - A method includes: a step of arranging plural sample objects having unique attributes at different positions on a display screen; a step of acquiring a point position on the display screen specified via a device specified by a user; a step of changing the attribute of a target object; and a step of correcting the target object on the basis of the changed attribute.
固有の属性を持つ複数のサンプルオブジェクトを、表示画面の異なる位置に配置するステップと、ユーザによって指定できるデバイスから指定された表示画面のポイント位置を取得するステップと、ターゲットオブジェクトの属性を変更するステップと、変更された属性に基づいてターゲットオブジェクトに修正を加えるステップを有する方法。 - 特許庁 - The focus control part 51 calculates a focus measured value from a plurality of images of a sample S obtained by a focus measurement performed while continuously changing the focal position in one direction and the position of focusing is determined based on the focus measured value and a focus correction value stored on the correction value storage part 53.
また、焦点制御部５１は、焦点位置を一方向に連続的に変更しつつ実行される焦点計測において取得される複数の試料Ｓの画像から焦点計測値を算出し、焦点計測値、及び補正値記憶部５３に記憶された焦点補正値に基づいて試料Ｓにおける合焦点位置を求める。 - 特許庁 - To stably conduct automatic interference measurement of a sample, by slightly changing the inrush current of LD, until a computed value exceeds a threshold, when the computed modulation value of the acquired interference fringe image is below the threshold, or by returning to the proper conditions of a contrast promptly, also when an interference fringe contrast falls according to a mode-hop phenomenon.
得られた干渉縞画像のモジュレーション値を算出し、その値が閾値以下の場合には、その値が閾値を超えるまでＬＤの注入電流を微少量づつ変化させることにより、モードホップ現象により干渉縞コントラストが低下した場合にも、コントラストの良好な状態に迅速に復帰させ、被検体の自動干渉測定を安定して行なう。 - 特許庁 - Then the entire display of the sample images is changed in a form to reflect the design to be changed by selecting the design of the area to display the components among prepared variation and displaying the design as separately changing it by every area when a person to access the site makes decision of purchase of the merchandise, etc.
そして、アクセス者が商品等の購入の意思決定をする際に、構成要素を表示する領域の意匠を予め用意されたバリエーションの中から選択し、各領域ごと別々に意匠を変更させながら表示することにより、それら変更される意匠を反映する形でサンプル画像の全体の表示が変更される。 - 特許庁 - Two interferograms whose time phases are different by 90° are optically generated relative to an interferogram changing in time, from a certain cross section of an organism sample 12, the two interferograms are clipped from a high speed switching, and the clipped two interferograms are simultaneously incident on a single image sensor 18 to perform a high-speed tomogram measurement.
生体試料１２内のある断層からの時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が９０°異なる二つの干渉画像を光学的に発生させ、前記二つの干渉画像を高速スイッチングにより切り出し、この切り出した二つの干渉画像を一つのイメージセンサ１８上に同時に入射することにより、高速断層画像計測を行う。 - 特許庁 - The sample 1 of the portable information apparatus having a mimic screen display simulating a screen display segment, such as a liquid crystal screen, has a multiple image display body 7 consisting of a lenticular lens 5 and a multiple image display 6 which is superposed on the back of the lenticular lens 5 and in which visible forms are changed by changing in the angle viewed through the lenticular lens 5.
液晶画面等の画面表示部分を模した模擬画面表示部を有する携帯情報機器商品見本１において、レンチキュラーレンズ５と、レンチキュラーレンズ５の背面に重ねられ、レンチキュラーレンズ５を通して見る角度が変わることにより見える形態が変化する多重画像表示６とからなる多重画像表示体７を前記模擬画面表示部に備える。 - 特許庁 - By changing both the width W_1 of the heating element and the load stress for contacting the heating element, the release position of the destructive origin for the cuboid sample can be adjusted.
直方体試料の片面に平板状発熱体を密着加熱し、直方体試料の中に熱応力を発生させることによって熱衝撃強度を求める熱衝撃試験方法において、発熱体の幅Ｗ_１と発熱体を密着するための負荷応力を変えることにより、直方体試料の破壊始点の発生位置を調整する熱衝撃試験方法及びその熱衝撃試験装置。 - 特許庁 - In a confocal laser microscope 100, an information recording part 10 is configured to record luminance information detected by an optical detector 6 and position information acquired by a position detection part 8 in association with each other by a specific moving method for changing a sample 5 and/or an objective lens 4 to either the increasing direction or reducing direction of their mutual relative distance by a driving mechanism 7.
共焦点レーザ顕微鏡１００において、情報記録部１０は、駆動機構７で試料５および／または対物レンズ４を、互いの相対距離の増大方向または縮小方向のいずれかの方向へ変化させる特定移動方法により、光検出器６が検出した輝度情報と位置検出部８が取得した位置情報とを相互に関連付けて記録する。 - 特許庁 - An operator obtains, captures, records, and stores an observation image satisfactory in appearance by using arbitrary shading correction data, while observing a light image with a sample of a shading correction result and changing the shading correction data, by arbitrarily inputting correction data for correcting the shading correction data, maximum value limiting data of the shading correction data and partial gain designating data of the shading correction data.
操作者はシェーディング補正結果の標本有り光像を観察しながら任意のシェーディング補正データを使用し、更に、シェーディング補正データを補正する補正データ、シェーディング補正データの最大値制限データ、シェーディング補正データの部分ゲイン指定データを任意に入力してシェーディング補正データに変更を加えて見た目に良好な観察画像を取得し、撮像し、記録保存する。 - 特許庁 - A means for minimizing the Q value of the resonance of the probe is used as a means for reducing an inherent mechanical relaxation time of the probe required for changing kinetic energy of vibration of the probe following scanning on the sample surface, by increasing a force for damping vibration of a lever 1 by enlarging the surface area of a face 1c on the side having the probe 2 of the lever 1.
試料表面の走査に追従して前記プローブの振動の運動エネルギーを変化させるために要する、プローブに固有の力学的な緩和時間を減少させる手段として、前記レバー１において探針２を有する側の面１ｃの表面積を拡大して、レバー１の振動を減衰させる力を増大させることにより、前記プローブの共振のＱ値を可及的に小さくする手段を用いる。 - 特許庁 - The electron beam irradiation apparatus comprises an electron beam source, an accelerating electrode for accelerating electrons emitted from this electron beam source, and an electron lens for converging an accelerated electron beam, and further comprises an integrated electron beam irradiation part without a deflection means for electrically changing the direction of radiation of the electron beam, and comprises a mechanically moving means for moving the relative position between the electron beam irradiation part and a sample.
電子線源と、この電子線源から放出された電子を加速する加速電極と、加速された電子線を収束する電子レンズとを備え、且つ前記電子線の照射方向を電気的に変える偏向手段を持たない一体化された電子線照射部とを有し、前記電子線照射部と試料との相対位置を移動するための機械的移動手段を備えたことを特徴とする電子線照射装置。 - 特許庁
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