「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 8 9 10 11 12 13 14 15 16 .... 92 93 次へ＞- SAMPLE CONTAINER MOVING METHOD IN SAMPLE PREPARATION PART OF PARTICLE SIZE DISTRIBUTION MEASURING DEVICE
粒径分布測定装置の試料調整部における試料容器移動方法 - 特許庁 - LIQUID SAMPLE SUCTION MONITORING METHOD, DEVICE, AND LIQUID SAMPLE ANALYZER
液体試料吸引監視方法及び装置、並びに液体試料分析装置 - 特許庁 - PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR OBSERVATION, OBSERVATION METHOD OF SAMPLE, BAKING METHOD OF MOLDING, SAMPLE FOR OBSERVATION, AND OBSERVATION DEVICE
観察用試料の作成方法、試料の観察方法、成形体の焼成方法、観察用試料、観察装置 - 特許庁 - This device uses ion beam machining, a conveying technique for the sample piece and a fixing technique for the sample piece on a sample piece holder.
イオンビーム加工と、試料片の搬送技術さらには試料片の試料片ホルダへの固定技術を用いる。 - 特許庁 - A sample mounting device comprises: a sample stage 40 which is arranged in a sample chamber 17, and on which a sample to be an irradiation target of electron beams is placed; and a sample transfer device 80 which is attached to the sample chamber 17, and which transfers the sample from outside through a port 21 formed on a wall surface of the sample chamber toward the sample stage 40.
試料設置装置は、試料室１７内に配置され、電子ビームの照射対象となる試料が載置される試料ステージ４０と、試料室１７に取り付けられ試料室の壁面に形成されたポート２１から試料ステージ４０に向け外部から試料を移送する試料移送装置８０と、を備えている。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD
荷電粒子ビーム装置及び試料作製方法 - 特許庁 - BIOPSY DEVICE WITH MANUALLY ROTATED SAMPLE BARREL
手動回転標本バレルを備えた生検装置 - 特許庁 - NANO TWEEZERS DEVICE AND MICRO-SAMPLE GRIPPING METHOD
ナノピンセット装置および微小試料の把持方法 - 特許庁 - SAMPLE STAND AND PLASMA PROCESSING DEVICE WITH IT
試料台及びそれを備えたプラズマ処理装置 - 特許庁 - COMMODITY SAMPLE INSTALLATION AUXILIARY DEVICE FOR AUTOMATIC VENDING MACHINE
自動販売機用商品見本取付補助具 - 特許庁 - SAMPLE-PREPARING DEVICE FOR TESTING SOLDERING MATERIAL
はんだ付材料試験用の試料作成装置 - 特許庁 - DEVICE FOR HOUSING SAMPLE FOR MICRODISSECTION
顕微解剖用試料を収容するための装置 - 特許庁 - SAMPLE ANALYTICAL METHOD AND ELECTRON BEAM ANALYTICAL DEVICE
試料分析方法および電子線分析装置 - 特許庁 - IMAGE FORMING DEVICE HAVING SAMPLE OUTPUT FUNCTION
サンプル出力機能を有する画像形成装置 - 特許庁 - The sample analyzing apparatus includes a measuring device 2.
試料分析装置は、測定装置２を備える。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD
荷電粒子線装置及び試料作製方法 - 特許庁 - SAMPLE EXCHANGING DEVICE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡における試料交換装置 - 特許庁 - SAMPLE TABLE DRIVING DEVICE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡の試料台駆動装置 - 特許庁 - SAMPLE-AND-HOLD CIRCUIT, DRIVE CIRCUIT AND DISPLAY DEVICE
サンプル・ホールド回路、駆動回路及び表示装置 - 特許庁 - VACUUM PROCESSING DEVICE AND ITS SAMPLE CARRYING METHOD
真空処理装置及びその試料搬送方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
荷電粒子線装置および試料観察方法 - 特許庁 - ELEMENT MEASUREMENT METHOD AND SAMPLE SCRAPING DEVICE
元素測定方法および試料削り取り装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR HOLDING EXTREMELY FINE FIBER SAMPLE
極細繊維試料把持装置および把持方法 - 特許庁 - IMAGE FORMING DEVICE PROVIDED WITH SAMPLE OUTPUT FUNCTION
サンプル出力機能を有する画像形成装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TRANSPORTING LIQUID SAMPLE
液状試料の搬送装置および搬送方法 - 特許庁 - OBSERVING METHOD AND OBSERVING DEVICE FOR SAMPLE SUBSTANCE
試料物質の観察方法および観察装置 - 特許庁 - GASEOUS SAMPLE INTRODUCING DEVICE OF MASS SPECTROSCOPE
質量分析装置の気体試料導入装置 - 特許庁 - PROCESSING DEVICE FOR SAMPLE AND PROCESSING METHOD THEREFOR
試料の処理装置及び試料の処理方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF SAMPLE SURFACE
試料表面の測定方法及び測定装置 - 特許庁 - The thermostatic device for testing includes a sample placement section 2 and a trestle 3.
試料配置部２と、架台３とからなる。 - 特許庁 - PRODUCT SAMPLE DISPLAY DEVICE IN VENDING MACHINE
自動販売機における商品見本展示装置 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE PROCESSING METHOD
荷電粒子ビーム装置及び試料加工方法 - 特許庁 - MERCHANDISE SAMPLE EXHIBITING DEVICE FOR VENDING MACHINE
自動販売機における商品見本展示装置 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE
荷電粒子線装置及び試料作製方法 - 特許庁 - LIQUID CHROMATOGRAPHY DEVICE AND SAMPLE INTRODUCTION METHOD
液体クロマトグラフィーデバイス、及び試料導入方法 - 特許庁 - ION BEAM PROCESSING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE
イオンビーム加工装置および試料作製方法 - 特許庁 - QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD FOR SAMPLE ANALYZING DEVICE
試料分析装置における定量分析方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE WHICH COLLECT DIGITAL SAMPLE DATA
デジタルサンプルデータを収集する方法及び装置 - 特許庁 - IMAGE FORMING DEVICE HAVING STACKER PROVIDED WITH SAMPLE TRAY
サンプルトレイを備えるスタッカ付き画像形成装置 - 特許庁 - SAMPLE PREPARATION DEVICE, CELL ANALYZER, AND CELL DISCRIMINATION DEVICE
試料調製装置、細胞分析装置および細胞弁別装置 - 特許庁 - MANIPULATOR AND PROBE DEVICE AND SAMPLE PREPARATION DEVICE USING THE SAME
マニピュレータおよびそれを用いたプローブ装置、試料作製装置 - 特許庁 - CULTURE OBSERVATION DEVICE, HEAT INSULATION DEVICE FOR SAMPLE TRAY AND LID
培養観察装置および標本トレー保温装置および蓋 - 特許庁 - SAMPLE CHAMBER FOR LASER ABLATION DEVICE, AND LASER ABLATION DEVICE
レーザーアブレーション装置用の試料室およびレーザーアブレーション装置 - 特許庁 - SAMPLE HOLDING DEVICE AND X-RAY DIFFRACTION APPARATUS USING DEVICE
試料保持装置および同装置を用いたＸ線回折装置 - 特許庁 - BIOLOGICAL SAMPLE PROCESSING DEVICE WHICH SELECTS CHARACTERISTIC TYPE OF THE DEVICE
装置の特性のタイプを選択する生物試料処理装置 - 特許庁 - CAM MECHANISM, AND HANDLING DEVICE AND SAMPLE-STIRRING DEVICE USING THE SAME
カム機構とそれを用いたハンドリング装置および試料攪拌装置 - 特許庁 - ARTICLE SAMPLE DISPLAY DEVICE OF AUTOMATIC VENDING MACHINE AND DISPLAY DEVICE
自動販売機の商品見本展示装置，および展示装置 - 特許庁 - SAMPLE DISPLAY DEVICE, METHOD OF OPERATING SAMPLE DISPLAY DEVICE, SAMPLE DISPLAY DEVICE OPERATING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND RECORDED APPARATUS
試料表示装置、試料表示装置の操作方法、試料表示装置操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁 - SAMPLE STAGE FOR SPECTROSCOPIC ANALYSIS, SOLID SAMPLE COOLING DEVICE, GAS SAMPLE SYNCHRONOUS PRESSURE DEVICE, LASER LIGHT CONVERGENCE IRRADIATION DEVICE FOR ANALYSIS, AND ANALYSIS CHAMBER
分光分析のための試料ステージ、固体試料冷却装置、気体試料同期加圧装置、分析用レーザー光収束照射装置、及び分析チャンバー - 特許庁 - SAMPLE DISPLAY DEVICE, OPERATION METHOD OF SAMPLE DISPLAY DEVICE, SAMPLE DISPLAY DEVICE OPERATION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM OR APPARATUS HAVING RECORDED THEREWITH
試料表示装置、試料表示装置の操作方法、試料表示装置操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体又は記録した機器 - 特許庁
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