「sample device」を含む例文一覧(4634)

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  • STAGE, AND DEVICE FOR PREPARING FIB SAMPLE
    ステージ及びFIB試料作成装置 - 特許庁
  • SAMPLE PREPARATION DEVICE USING MICROWAVES
    マイクロ波を用いた試料調製装置 - 特許庁
  • SAMPLE FIXING DEVICE AND HARDNESS TESTING MACHINE
    試料固定装置及び硬さ試験機 - 特許庁
  • HOLDING DEVICE FOR LASER ICP ANALYSIS SAMPLE
    レーザICP分析試料の保持装置 - 特許庁
  • WAFER EARTH MECHANISM AND SAMPLE MANUFACTURING DEVICE
    ウエハアース機構及び試料作製装置 - 特許庁
  • LIQUID PASSING DEVICE FOR LIQUID SAMPLE MEASUREMENT
    液体試料測定用の通液装置 - 特許庁
  • SAMPLE COLLECTING DEVICE USING FINE TUBE
    微細管を用いた試料採取装置 - 特許庁
  • TOP ENTRY TYPE SAMPLE STAGE TILTING DEVICE
    トップエントリ式試料ステージ傾斜装置 - 特許庁
  • FIXING METHOD AND DEVICE OF SAMPLE STAGE
    サンプルステージの固定方法および装置 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
    荷電粒子線装置用試料ホールダ - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR EXTRACTING TEST SAMPLE
    試験サンプルの取出装置及び方法 - 特許庁
  • SAMPLE PLATE, AND MULTICAPILLARY ELECTROPHORETIC DEVICE
    サンプルプレートとマルチキャピラリー電気泳動装置 - 特許庁
  • OBSERVATION OF SAMPLE AND DEVICE THEREOF
    試料の観察方法およびその装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR COLLECTING BLOOD SAMPLE
    血液試料採取方法及び装置 - 特許庁
  • OPTICAL DEVICE AND SAMPLE MEASURING METHOD
    光学装置及び試料測定方法 - 特許庁
  • SAMPLE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD
    試料計測装置及び計測方法 - 特許庁
  • SAMPLE PREPARATION DEVICE AND METHOD
    試料作製のための装置及び方法 - 特許庁
  • TREATMENT TANK UNIT AND SAMPLE TREATMENT DEVICE
    処理槽ユニットおよびサンプル処理装置 - 特許庁
  • EVACUATION METHOD AND DEVICE FOR SAMPLE HOLDER
    試料ホルダの排気方法及び装置 - 特許庁
  • BIOPSY DEVICE WITH SAMPLE STORAGE
    サンプル貯蔵手段を伴う生検装置 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR REFINING SAMPLE
    試料を精製する装置および方法 - 特許庁
  • SAMPLE-AGITATING DEVICE AND SPECIMEN ANALYZER
    試料攪拌装置、及び検体分析装置 - 特許庁
  • SAMPLE PRODUCING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁
  • ION BEAM DEVICE AND SAMPLE WORKING METHOD
    イオンビーム装置及び試料加工方法 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE
    サンプルホールド回路および半導体装置 - 特許庁
  • SAMPLE COOLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の試料冷却装置 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDER, AND ION BEAM PROCESSING DEVICE
    試料ホルダおよびイオンビーム加工装置 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
    荷電粒子線装置用の試料ホルダ - 特許庁
  • SAMPLE HOLDER AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
    試料ホルダ及び荷電粒子線装置 - 特許庁
  • PROBE DEVICE AND SAMPLE INSPECTION DEVICE EQUIPPED WITH IT
    プローブ装置及びそれを備えた試料検査装置 - 特許庁
  • DEVICE FOR SAMPLE PRE-TREATMENT, REACTION TUB SHEET, AND SAMPLE ANALYZING METHOD
    試料前処理用デバイス,反応槽シート及び試料分析方法 - 特許庁
  • SAMPLE DOCUMENT MANAGEMENT DEVICE, SAMPLE DOCUMENT MANAGEMENT SYSTEM AND RECORDING MEDIUM
    雛形文書管理装置、雛形文書管理システム及び記録媒体 - 特許庁
  • REFRIGERANT INJECTION METHOD, SAMPLE COLLECTION METHOD AND SAMPLE COLLECTION DEVICE
    冷媒注入方法、試料採取方法及び試料採取装置 - 特許庁
  • GATE VALVE, SAMPLE TREATMENT DEVICE EQUIPPED THEREWITH AND SAMPLE TREATMENT METHOD
    ゲートバルブ,それを備える試料処理装置及び試料処理方法 - 特許庁
  • APPARATUS FOR SUPPORTING SAMPLE INSPECTION DEVICE, METHOD FOR INSPECTING SAMPLE AND PROGRAM
    試料検査装置の支援装置、試料検査方法及びプログラム - 特許庁
  • SAMPLE CARTRIDGE FOR MEASURING ELECTRIC PROPERTY OF LIQUID SAMPLE AND DEVICE THEREOF
    液体試料の電気特性測定のためのサンプルカートリッジと装置 - 特許庁
  • CROSS SECTION EVALUATION DEVICE OF SAMPLE AND CROSS SECTION EVALUATION METHOD OF SAMPLE
    試料の断面評価装置及び試料の断面評価方法 - 特許庁
  • MEASURING DEVICE FOR PHYSICAL PROPERTY OF SAMPLE
    試料の物理的性質の測定装置 - 特許庁
  • AUTOMATIC PAPER SAMPLE CUTTING/MEASURING DEVICE
    用紙サンプルの自動切出し・計量装置 - 特許庁
  • SAMPLE ANALYZER AND DATA PROCESSING DEVICE
    試料分析装置およびデータ処理装置 - 特許庁
  • GAS REACTOR AND SAMPLE EVALUATION DEVICE
    ガス反応装置及び供試材評価装置 - 特許庁
  • NOZZLE DEVICE AND LIQUID SAMPLE ANALYZER
    ノズル装置及び液体試料分析装置 - 特許庁
  • LIQUID SAMPLE COMPONENT MEASURING DEVICE
    液体試料中の成分の測定装置 - 特許庁
  • INSPECTION DEVICE FOR ANALYSIS OF BIOLOGICAL SAMPLE LIQUID
    生体サンプル液分析用の検査装置 - 特許庁
  • SAMPLE CONTAINER FOR THERMAL SHOCK TESTING DEVICE
    冷熱衝撃試験装置の試料容器 - 特許庁
  • INTERFEROMETER DEVICE FOR MEASURING LARGE-SIZED SAMPLE
    大型サンプル測定用干渉計装置 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR EXECUTING SAMPLE ANALYSIS
    サンプル分析実施用装置及び方法 - 特許庁
  • QCM DEVICE AND SAMPLE MEASURING METHOD
    QCM装置及び試料測定方法 - 特許庁
  • LIQUID SAMPLE TREATMENT DEVICE FOR CHEMICAL ANALYSIS
    化学分析用液体試料処理装置 - 特許庁
  • REFERENCE SAMPLE FOR FOCUSED ION BEAM DEVICE
    集束イオンビーム装置用標準試料 - 特許庁
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