ブラウザの設定でJava Scriptの使用を有効にしてご利用ください。
英語例文
通常ウィンドウ
例文
「sample device」を含む例文一覧(4634)
<前へ
1
2
...
.
4
5
6
7
8
9
10
11
12
...
.
92
93
次へ>
STAGE, AND
DEVICE
FOR PREPARING FIB
SAMPLE
ステージ及びFIB試料作成装置
- 特許庁
SAMPLE
PREPARATION
DEVICE
USING MICROWAVES
マイクロ波を用いた試料調製装置
- 特許庁
SAMPLE
FIXING
DEVICE
AND HARDNESS TESTING MACHINE
試料固定装置及び硬さ試験機
- 特許庁
HOLDING
DEVICE
FOR LASER ICP ANALYSIS
SAMPLE
レーザICP分析試料の保持装置
- 特許庁
WAFER EARTH MECHANISM AND
SAMPLE
MANUFACTURING
DEVICE
ウエハアース機構及び試料作製装置
- 特許庁
LIQUID PASSING
DEVICE
FOR LIQUID
SAMPLE
MEASUREMENT
液体試料測定用の通液装置
- 特許庁
SAMPLE
COLLECTING
DEVICE
USING FINE TUBE
微細管を用いた試料採取装置
- 特許庁
TOP ENTRY TYPE
SAMPLE
STAGE TILTING
DEVICE
トップエントリ式試料ステージ傾斜装置
- 特許庁
FIXING METHOD AND
DEVICE
OF
SAMPLE
STAGE
サンプルステージの固定方法および装置
- 特許庁
SAMPLE
HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM
DEVICE
荷電粒子線装置用試料ホールダ
- 特許庁
DEVICE
AND METHOD FOR EXTRACTING TEST
SAMPLE
試験サンプルの取出装置及び方法
- 特許庁
SAMPLE
PLATE, AND MULTICAPILLARY ELECTROPHORETIC
DEVICE
サンプルプレートとマルチキャピラリー電気泳動装置
- 特許庁
OBSERVATION OF
SAMPLE
AND
DEVICE
THEREOF
試料の観察方法およびその装置
- 特許庁
METHOD AND
DEVICE
FOR COLLECTING BLOOD
SAMPLE
血液試料採取方法及び装置
- 特許庁
OPTICAL
DEVICE
AND
SAMPLE
MEASURING METHOD
光学装置及び試料測定方法
- 特許庁
SAMPLE
MEASURING
DEVICE
AND MEASURING METHOD
試料計測装置及び計測方法
- 特許庁
SAMPLE
PREPARATION
DEVICE
AND METHOD
試料作製のための装置及び方法
- 特許庁
TREATMENT TANK UNIT AND
SAMPLE
TREATMENT
DEVICE
処理槽ユニットおよびサンプル処理装置
- 特許庁
EVACUATION METHOD AND
DEVICE
FOR
SAMPLE
HOLDER
試料ホルダの排気方法及び装置
- 特許庁
BIOPSY
DEVICE
WITH
SAMPLE
STORAGE
サンプル貯蔵手段を伴う生検装置
- 特許庁
DEVICE
AND METHOD FOR REFINING
SAMPLE
試料を精製する装置および方法
- 特許庁
SAMPLE-AGITATING
DEVICE
AND SPECIMEN ANALYZER
試料攪拌装置、及び検体分析装置
- 特許庁
SAMPLE
PRODUCING
DEVICE
FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料作製装置
- 特許庁
ION BEAM
DEVICE
AND
SAMPLE
WORKING METHOD
イオンビーム装置及び試料加工方法
- 特許庁
SAMPLE
HOLDING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR
DEVICE
サンプルホールド回路および半導体装置
- 特許庁
SAMPLE
COOLING
DEVICE
FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の試料冷却装置
- 特許庁
SAMPLE
HOLDER, AND ION BEAM PROCESSING
DEVICE
試料ホルダおよびイオンビーム加工装置
- 特許庁
SAMPLE
HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM
DEVICE
荷電粒子線装置用の試料ホルダ
- 特許庁
SAMPLE
HOLDER AND CHARGED PARTICLE BEAM
DEVICE
試料ホルダ及び荷電粒子線装置
- 特許庁
PROBE
DEVICE
AND
SAMPLE
INSPECTION
DEVICE
EQUIPPED WITH IT
プローブ装置及びそれを備えた試料検査装置
- 特許庁
DEVICE
FOR
SAMPLE
PRE-TREATMENT, REACTION TUB SHEET, AND
SAMPLE
ANALYZING METHOD
試料前処理用デバイス,反応槽シート及び試料分析方法
- 特許庁
SAMPLE
DOCUMENT MANAGEMENT
DEVICE
,
SAMPLE
DOCUMENT MANAGEMENT SYSTEM AND RECORDING MEDIUM
雛形文書管理装置、雛形文書管理システム及び記録媒体
- 特許庁
REFRIGERANT INJECTION METHOD,
SAMPLE
COLLECTION METHOD AND
SAMPLE
COLLECTION
DEVICE
冷媒注入方法、試料採取方法及び試料採取装置
- 特許庁
GATE VALVE,
SAMPLE
TREATMENT
DEVICE
EQUIPPED THEREWITH AND
SAMPLE
TREATMENT METHOD
ゲートバルブ,それを備える試料処理装置及び試料処理方法
- 特許庁
APPARATUS FOR SUPPORTING
SAMPLE
INSPECTION
DEVICE
, METHOD FOR INSPECTING
SAMPLE
AND PROGRAM
試料検査装置の支援装置、試料検査方法及びプログラム
- 特許庁
SAMPLE
CARTRIDGE FOR MEASURING ELECTRIC PROPERTY OF LIQUID
SAMPLE
AND
DEVICE
THEREOF
液体試料の電気特性測定のためのサンプルカートリッジと装置
- 特許庁
CROSS SECTION EVALUATION
DEVICE
OF
SAMPLE
AND CROSS SECTION EVALUATION METHOD OF
SAMPLE
試料の断面評価装置及び試料の断面評価方法
- 特許庁
MEASURING
DEVICE
FOR PHYSICAL PROPERTY OF
SAMPLE
試料の物理的性質の測定装置
- 特許庁
AUTOMATIC PAPER
SAMPLE
CUTTING/MEASURING
DEVICE
用紙サンプルの自動切出し・計量装置
- 特許庁
SAMPLE
ANALYZER AND DATA PROCESSING
DEVICE
試料分析装置およびデータ処理装置
- 特許庁
GAS REACTOR AND
SAMPLE
EVALUATION
DEVICE
ガス反応装置及び供試材評価装置
- 特許庁
NOZZLE
DEVICE
AND LIQUID
SAMPLE
ANALYZER
ノズル装置及び液体試料分析装置
- 特許庁
LIQUID
SAMPLE
COMPONENT MEASURING
DEVICE
液体試料中の成分の測定装置
- 特許庁
INSPECTION
DEVICE
FOR ANALYSIS OF BIOLOGICAL
SAMPLE
LIQUID
生体サンプル液分析用の検査装置
- 特許庁
SAMPLE
CONTAINER FOR THERMAL SHOCK TESTING
DEVICE
冷熱衝撃試験装置の試料容器
- 特許庁
INTERFEROMETER
DEVICE
FOR MEASURING LARGE-SIZED
SAMPLE
大型サンプル測定用干渉計装置
- 特許庁
DEVICE
AND METHOD FOR EXECUTING
SAMPLE
ANALYSIS
サンプル分析実施用装置及び方法
- 特許庁
QCM
DEVICE
AND
SAMPLE
MEASURING METHOD
QCM装置及び試料測定方法
- 特許庁
LIQUID
SAMPLE
TREATMENT
DEVICE
FOR CHEMICAL ANALYSIS
化学分析用液体試料処理装置
- 特許庁
REFERENCE
SAMPLE
FOR FOCUSED ION BEAM
DEVICE
集束イオンビーム装置用標準試料
- 特許庁
<前へ
1
2
...
.
4
5
6
7
8
9
10
11
12
...
.
92
93
次へ>
例文データの著作権について
特許庁
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
ログイン
※半角英数字、6文字以上、32文字以内で入力してください
ログイン
パスワードを忘れた方はこちらから
別サービスのアカウントで登録・ログイン
アカウントをお持ちでない方
新規会員登録(無料)
non-member
sample device