SAMPLE COLLECTION METHOD AND SAMPLE COLLECTION DEVICE EMPLOYING THE SAME 検体捕集方法とそれを用いる検体捕集装置 - 特許庁
SAMPLE DESIGN PRESENTING DEVICE, AND SAMPLE DESIGN PRESENTING METHOD AND PROGRAM 見本デザイン提示装置、見本デザイン提示方法及びプログラム - 特許庁
PLATE FOR BIOLOGICAL SAMPLE DISCRIMINATION, AND BIOLOGICAL SAMPLE DISCRIMINATING DEVICE 生体サンプル判別用プレートおよび生体サンプル判別装置 - 特許庁
SAMPLE HOLDER, AUXILIARY DEVICE FOR FIXING SAMPLE IN THE SAMPLE HOLDER, AND SAMPLE FIXING METHOD USING THEM サンプルホルダ、サンプルホルダ内にサンプルを固定するための補助装置及びこれらを用いたサンプル固定方法 - 特許庁
MANIPULATOR AND PROBE DEVICE, SAMPLE FABRICATING DEVICE AND SAMPLE OBSERVING DEVICE USING THE SAME マニピュレータおよびそれを用いたプローブ装置、試料作製装置、試料観察装置 - 特許庁
SAMPLE FIXING DEVICE FOR HARDNESS TESTER 硬さ試験機用試料固定装置 - 特許庁
LIQUID SAMPLE MEASURING DEVICE WITH LENS レンズ付き液体試料測定装置 - 特許庁
DEVICE FOR DYNAMIC-MECHANICAL ANALYSIS OF SAMPLE 試料の動的機械分析装置 - 特許庁
DEVICE FOR FILTERING AND DISPENSING LIQUID SAMPLE 液体試料の濾過分注装置 - 特許庁
ELECTRON GUN AND SAMPLE OBSERVATION DEVICE 電子銃及び試料観察装置 - 特許庁
ANALYTICAL SYSTEM OF SAMPLE ANALYTICAL DEVICE 試料分析装置の分析方式 - 特許庁
DEVICE FOR SEPARATING COMPONENT OF FLUID SAMPLE 流体サンプルの成分分離装置 - 特許庁
SURFACE FLAW INSPECTION DEVICE OF SAMPLE 試料表面の欠陥検査装置 - 特許庁
SAMPLE MOUNTING BASE AND SEMICONDUCTOR DEVICE 試料載置台及び半導体装置 - 特許庁
SAMPLEDEVICE FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE 光電子顕微鏡用試料装置 - 特許庁