SAMPLE INSPECTION DEVICE AND METHOD サンプル検査装置及び方法 - 特許庁
SAMPLE STAGE DEVICE, AND ELECTRON BEAM DEVICE 試料ステージ装置、及び電子線装置 - 特許庁
OBSERVATION DEVICE AND MACHINING DEVICE FOR SAMPLE 試料の観察装置及び加工装置 - 特許庁
SAMPLEDEVICE OF CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE 荷電粒子ビーム装置の試料装置 - 特許庁
SAMPLE SUCKING NEEDLE AND SAMPLE INJECTION DEVICE 試料吸入用ニードル及び試料注入装置 - 特許庁
FIXING PLATE FOR SAMPLE CHIP FOR SAMPLE MONITORING DEVICE 試料モニタリング装置用試料チップの固定プレート - 特許庁
FREE SAMPLE DISTRIBUTION SYSTEM AND FREE SAMPLE DISTRIBUTION DEVICE 試供品配布システムおよび試供品配布装置 - 特許庁
SAMPLE INSPECTION DEVICE, SAMPLE INSPECTION METHOD, AND PROGRAM 試料検査装置、試料検査方法及びプログラム - 特許庁
EQUIVALENT-TIME SAMPLE RADAR DEVICE AND SAMPLE HOLD CIRCUIT 等価時間サンプルレーダ装置およびサンプルホールド回路 - 特許庁
SAMPLE INSPECTION DEVICE, SAMPLE INSPECTION METHOD AND PROGRAM 試料検査装置、試料検査方法及びプログラム - 特許庁
SAMPLE SUPPLY METHOD AND SAMPLE SUPPLY DEVICE 試料供給方法および試料供給装置 - 特許庁
PLATE FOR OBSERVING SAMPLE, SAMPLE ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE-OBSERVING DEVICE 試料観察用プレート、試料調整方法および試料観察装置 - 特許庁
This droplet dispensing device equipped with a syringe pump and a nozzle for dispensing the sample is constituted of a conveying device for moving this sample placing case, a sample dispensing vessel for dropping the sample into the sample placing case, a sample sealing vessel for sealing the dropped sample, and a sample handling vessel for transferring the sealed sample. 分注槽3で分注されたサンプル試料は,サンプル封止槽4で密封され,サンプルハンドリング槽5で測定容器に移送されることで,サンプル試料が揮発することはない。 - 特許庁
SAMPLE EVALUATION METHOD AND DEVICE サンプル評価方法及び装置 - 特許庁
SAMPLE OBSERVATION DEVICE OPERATING SYSTEM 試料観察装置操作システム - 特許庁