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「sample device」を含む例文一覧(4634)
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DEVICE
FOR SAMPLING BIOLOGICAL
SAMPLE
生体試料採取装置
- 特許庁
LIQUID
SAMPLE
INTRODUCTION
DEVICE
液体試料導入装置
- 特許庁
DEVICE
FOR COLLECTING SOIL
SAMPLE
土壌試料採取装置
- 特許庁
LIQUID
SAMPLE
DISPENSING
DEVICE
液体試料分注装置
- 特許庁
PROBE HOLDING
DEVICE
,
SAMPLE
ACQUIRING
DEVICE
,
SAMPLE
WORKING
DEVICE
,
SAMPLE
WORKING METHOD, AND
SAMPLE
EVALUATION METHOD
プローブ保持装置、試料の取得装置、試料加工装置、試料加工方法、および試料評価方法
- 特許庁
SAMPLE
INLET
DEVICE
,
SAMPLE
ANALYZER, AND
SAMPLE
ANALYSIS SYSTEM
試料導入装置、試料分析装置及び試料分析システム
- 特許庁
SAMPLE
MACHINING METHOD,
SAMPLE
MACHINING
DEVICE
AND
SAMPLE
OBSERVING METHOD
試料加工方法、試料加工装置及び試料観察方法
- 特許庁
EVALUATION
DEVICE
FOR SEMICONDUCTOR
DEVICE
SAMPLE
半導体デバイス試料評価装置。
- 特許庁
TEXTILE
SAMPLE
TESTING
DEVICE
テキスタイル試料の試験装置
- 特許庁
DEVICE
FOR DISPENSING TRACE
SAMPLE
微量試料分注装置
- 特許庁
ANALYSIS
DEVICE
OF ORGANISM
SAMPLE
生体サンプルの分析装置
- 特許庁
SAMPLE
FLUID COOLING
DEVICE
試料流体冷却装置
- 特許庁
STATIC CHARGE ELIMINATION
DEVICE
FOR
SAMPLE
試料帯電除去装置
- 特許庁
LIQUID
SAMPLE
INJECTION
DEVICE
液体試料注入装置
- 特許庁
SAMPLING
DEVICE
OF SLUDGE
SAMPLE
汚泥試料の採取装置
- 特許庁
REAGENT AND
SAMPLE
INJECTING
DEVICE
試薬試料注入装置
- 特許庁
DEFECT INSPECTING
DEVICE
OF
SAMPLE
試料の欠陥検査装置
- 特許庁
SAMPLE
PROCESSING
DEVICE
AND
SAMPLE
PROCESSING METHOD, AND
SAMPLE
OBSERVATION
DEVICE
AND
SAMPLE
OBSERVATION METHOD
試料加工装置及び試料加工方法並びに試料観察装置及び試料観察方法
- 特許庁
SAMPLE
INTRODUCTION
DEVICE
AND
SAMPLE
INTRODUCTION METHOD
試料導入装置及び試料導入方法
- 特許庁
SAMPLE
INTRODUCTION METHOD AND
SAMPLE
INTRODUCTION
DEVICE
試料導入方法及び試料導入装置
- 特許庁
SAMPLE
OBSERVATION
DEVICE
AND
SAMPLE
OBSERVATION METHOD
試料観測装置および試料観測方法
- 特許庁
SAMPLE
PREPARING
DEVICE
AND
SAMPLE
PREPARING METHOD
試料作製装置および試料作製方法
- 特許庁
SAMPLE
DETECTION
DEVICE
AND
SAMPLE
DETECTION APPARATUS
試料検出デバイスおよび試料検出装置
- 特許庁
SAMPLE
PREPARATION METHOD AND
SAMPLE
PREPARATION
DEVICE
試料作製方法および試料作製装置
- 特許庁
SAMPLE
PREPARATION
DEVICE
AND
SAMPLE
PREPARATION METHOD
試料作製装置および試料作製方法
- 特許庁
SAMPLE
OBSERVING METHOD AND MANUFACTURE OF
SAMPLE
OBSERVING
DEVICE
試料観察方法およびデバイス製造装置
- 特許庁
SAMPLE-ANALYZING METHOD AND SAMPLE-COLLECTING
DEVICE
試料分析方法および試料採取装置
- 特許庁
SAMPLE
HOLDER,
SAMPLE
INSPECTION METHOD,
SAMPLE
INSPECTION
DEVICE
, AND
SAMPLE
INSPECTION SYSTEM
試料保持体、試料検査方法及び試料検査装置並びに試料検査システム
- 特許庁
SAMPLE
DISH POSITION CORRECTING
DEVICE
試料皿位置矯正装置
- 特許庁
LIQUID
SAMPLE
ANALYSIS
DEVICE
AND LIQUID
SAMPLE
INTRODUCTION
DEVICE
液体試料分析装置及び液体試料導入装置
- 特許庁
SAMPLE
SCANNER
DEVICE
, AND
SAMPLE
POSITION DETECTING METHOD USING
DEVICE
標本スキャナ装置、該装置による標本位置検出方法
- 特許庁
DISCHARGE
DEVICE
FOR
SAMPLE
CONTAINER
試料容器の排出装置
- 特許庁
SAMPLE-HOLDING
DEVICE
AND ALIGNER WITH THE
SAMPLE-
HOLDING
DEVICE
試料保持装置およびこの保持装置を用いた露光装置
- 特許庁
SAMPLE
ADJUSTING
DEVICE
AND
SAMPLE
ADJUSTING
DEVICE
FORMING METHOD
試料調製装置及び試料調製装置形成方法
- 特許庁
SAMPLE
INSPECTING
DEVICE
AND METHOD FOR CONTROLLING
SAMPLE
INSPECTION
DEVICE
試料検査装置及び試料検査装置の制御方法
- 特許庁
SPRAYING
DEVICE
FOR
SAMPLE
サンプル品のための噴霧装置
- 特許庁
SAMPLE
DATA REPRODUCING
DEVICE
AND
SAMPLE
DATA RECORDING AND REPRODUCING
DEVICE
サンプルデータ再生装置およびサンプルデータ記録再生装置
- 特許庁
SAMPLE
INSPECTION
DEVICE
,
SAMPLE
INSPECTION METHOD, AND
SAMPLE
INSPECTION SYSTEM
試料検査装置及び試料検査方法並びに試料検査システム
- 特許庁
SAMPLE
RETAINER,
SAMPLE
INSPECTION METHOD AND
SAMPLE
INSPECTION
DEVICE
試料保持体及び試料検査方法並びに試料検査装置
- 特許庁
SAMPLE
HOLDER,
SAMPLE
INSPECTION
DEVICE
, AND
SAMPLE
INSPECTION METHOD
試料保持体及び試料検査装置並びに試料検査方法
- 特許庁
SAMPLE-CUTTING METHOD AND
SAMPLE
CUTTING
DEVICE
試料の切削方法及び試料の切削装置
- 特許庁
SAMPLE
WASHING
DEVICE
AND
SAMPLE
WASHING METHOD
試料洗浄装置および試料洗浄方法
- 特許庁
SAMPLE
PREPARATION
DEVICE
AND
SAMPLE
PREPARATION METHOD
標本作製装置および標本作成方法
- 特許庁
SAMPLE
MEASURING METHOD, AND
SAMPLE
MEASURING
DEVICE
サンプルの測定方法およびサンプルの測定装置
- 特許庁
SAMPLE
CONCENTRATION
DEVICE
AND
SAMPLE
CONCENTRATION METHOD
試料濃縮装置および試料濃縮方法
- 特許庁
STIRRING
DEVICE
AND
SAMPLE
ANALYZING
DEVICE
撹拌装置及び試料分析装置
- 特許庁
MEASURING
DEVICE
FOR
SAMPLE
ANALYSIS
試料分析用測定装置
- 特許庁
CONVEYING
DEVICE
FOR SOFT
SAMPLE
軟質試料用搬送装置
- 特許庁
HEAD SPACE
SAMPLE
INTRODUCTION
DEVICE
ヘッドスペース試料導入装置
- 特許庁
SAMPLE
STAGE FOR ELECTRON BEAM
DEVICE
電子線装置用試料台
- 特許庁
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