「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 27 28 29 30 31 32 33 34 35 .... 92 93 次へ＞- A sample pattern sampling part 130 instructs a display device 20 to make a prescribed gesture, and stores an analysis pattern obtained at the time in a sample pattern storage part 150 as a sample pattern of the gesture.
サンプルパターン採取部１３０は、ディスプレイ装置２０に所定のジェスチャーを行うよう指示を出し、その時に得られた解析パターンを当該ジェスチャーのサンプルパターンとしてサンプルパターン格納部１５０に格納する。 - 特許庁 - A sample is set to arrange so as that every concavity and convexity on a surface of the sample are positioned in a range of the focus depth according to the magnification ratio when observing the sample in this scanning charged corpuscular beam device.
本発明の走査荷電粒子線装置によると、試料の観察時に、倍率の高低に応じて試料の表面の凹凸の全てが焦点深度領域内となるように試料が配置される。 - 特許庁 - A sample photographic print information generation device is constituted so as to generate sample photographic print information by every category based on information filled in an index print and to output the sample photographic print by the printer 4.
見本写真プリント情報生成装置は、インデックスプリントに記入された情報に基づいてカテゴリー別の見本写真プリント情報を生成し、印刷装置４により見本写真プリントを出力する。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam device and a sample manufacturing method capable of concurrently performing a thin film processing with high accuracy by irradiating ion beam on a sample and an STEM observation with high resolution by irradiating electron beam with high throughput almost without moving the sample.
試料のイオンビーム照射による高精度の薄膜加工と電子ビーム照射による高分解能のＳＴＥＭ観察の両者を、ほぼ試料を動かすことなく、高スループットで実施する。 - 特許庁 - This substrate processing device 1 dilutes a sample gas by mixing the sample gas with a nitrogen gas in a concentration measuring portion 60, and measures a concentration of an IPA gas included in the sample gas after dilution.
この基板処理装置１は、濃度計測部６０においてサンプルガスと窒素ガスとを混合することによりサンプルガスを希釈し、希釈後のサンプルガス中に含まれるＩＰＡガスの濃度を計測する。 - 特許庁 - To provide a sample evaluation method and a sample evaluating device, capable of evaluating homogeneity in the plane of an element with high reliability, relative to the elements contained in the sample.
試料に含有された元素についての当該元素の面内での均質性の評価を高い信頼性でもって行うことのできる試料評価方法及び試料評価装置を提供する。 - 特許庁 - NONCONTACT AGITATION METHOD, NONCONTACT AGITATION DEVICE, NUCLEIC ACID HYBRIDIZATION REACTION METHOD USING THE SAME, REACTION DEVICE, METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID IN SAMPLE, NUCLEIC ACID DETECTION DEVICE, METHOD FOR DETECTING ANTIBODY IN SAMPLE, AND ANTIBODY DETECTION DEVICE
非接触撹拌方法、非接触撹拌装置、それを用いた核酸ハイブリダイゼーション反応方法、反応装置、試料中の核酸を検出する方法、核酸検出装置、試料中の抗体を検出する方法、及び抗体検出装置 - 特許庁 - An ion milling device comprises; a sampling stage 1 where a sample S is placed; an ion source 2 for generating an ion beam with which the sample S is irradiated; a sample chamber 3 maintaining a storage space of the sampling stage 1 as a predetermined vacuum; and refrigerant supplying means 5 for supplying a gaseous refrigerant to cool the sample S inside the sample chamber 3.
試料Sが設置される試料台1と、試料Sに照射するイオンビームを発生させるイオン源2と、試料台1の収納空間を所定の真空に保持する試料チャンバ3と、試料Sを冷却するための気体冷媒を試料チャンバ3内に供給する冷媒供給手段5とを備えるイオンミリング装置である。 - 特許庁 - To enable sample preparation capable of shortening a time for preparing a micro-sample, having high reliability at the EDX analysis time, and having a clean processing surface competent for high power observation, concerning a sample preparation device enabling analysis or observation of a micro-region by extracting a fine sample from a parent sample by utilizing FIB.
ＦＩＢを利用して母試料から微細試料を摘出して微小領域の分析や観察を可能にする試料作製装置において、微小試料を作製する時間を短縮でき、ＥＤＸ分析時に高い信頼性を有し、高倍率の観察に耐えられる清浄な加工面を有する試料作製を可能とする。 - 特許庁 - This hair quality condition indicating device 1 includes: an artificial hair sample 2 showing the hair quality condition sensed by the sense of touch; a sample holding member 3 holding the artificial hair sample 2; and an indicating portion 4 showing the level of hair quality condition of the artificial hair sample 2 corresponding to the artificial hair sample 2 by characters.
髪質状態表示具１を、触感で感知可能な髪質状態を示す人工毛髪見本２と、この人工毛髪見本２を保持する見本保持部材３と、人工毛髪見本２に対応して人工毛髪見本２の髪質状態の程度を文字で示す表示部４とを備えたものとする。 - 特許庁 - This sample holding device is equipped with a transmission type sample holder support member 42 capable of mounting detachably a transmission type sample holder 40 adaptable to the X-ray diffraction measurement by the transmission method, and a reflection type sample holder support member capable of mounting detachably a reflection type sample holder adaptable to the X-ray diffraction measurement by the reflection method.
透過法によるＸ線回折測定に適合する透過型試料ホルダ４０を、着脱自在に装着可能な透過型試料ホルダ支持部材４２と、反射法によるＸ線回折測定に適合する反射型試料ホルダを、着脱自在に装着可能な反射型試料ホルダ支持部材とを備える。 - 特許庁 - The spectrochemical analysis device for analyzing the state of the interface between materials receiving friction makes a first sample rub with a second thin-film-like sample, and radiates light to the interface between the first sample and second sample from the rear surface of the second sample, thereby performing the spectrochemical analysis.
また、摩擦を受けている材料の間の界面の状態を分析する本発明の分光分析装置は、第１の試料と薄膜状の第２の試料とを摩擦しつつ、第２の試料の背面から、第１の試料と第２の試料との界面に対して光を照射して分光分析を行う。 - 特許庁 - To provide a fatigue testing device which vibrates a sample to detect presence or absence of a fatigue failure such as a crack in the sample and is capable of detecting occurrence of the crack in the sample without removing the sample even when the sample stops sympathetic vibration before reaching a prescribed vibration cycle.
供試物におけるクラック等の疲労破壊の有無を検査するために供試物を振動させる疲労試験装置において、所定の振動サイクルに達する前に供試物が共振しなくなった場合に、供試物を取り外すことなく、供試物におけるクラック等の発生を検出することができるようにする。 - 特許庁 - To provide a sample solution decompression device which includes a sample solution flow-in tube into which the sample solution flows in, a core wire inserted into the sample solution flow-in tube in a front/back movable manner; and a controller for controlling the movement of the core wire, and in which biting of the sample solution flow-in tube and core wire is prevented.
試料液が流入する試料液流入管と、試料液流入管内に進退可能に挿入された芯線と、芯線の動作を制御する制御部とを有する試料液減圧装置において、芯線を前進させるときに、試料液流入管と芯線との噛み込みが発生することを防止する。 - 特許庁 - To provide a method allowing any person to manufacture a proper sample slide as a sample by controlling a degree of dryness as parameter related to the manufacturing method for sample slide and provide a sample slide manufacturing device capable of stabilizing quality of the sample slide and enabling mass production.
標本スライドの作製方法に係る関連パラメータとしての乾燥度を制御することによって、誰にでも検体として適当な標本スライドを作製できる方法と、その標本スライドの品質が安定しており、更に大量生産をも可能とする標本スライド作製装置とを提供すること。 - 特許庁 - In the simulation processor 12, a sample image from the pattern image information stored in the main storage device 11 is extracted, the extracted image is decomposed into a pattern per unit and a plurality of scale/angle images, a scale/angle image to be a sample color scheme is added to the sample image, and the sample image is colored with respective colors to prepare a sample display image.
シミュレーション処理装置１２では、主記憶装置１１に記憶された柄画像情報からサンプル用の画像が抽出されて単位当たりの柄と複数の尺角画像に分解され、該サンプル用の画像にサンプル配色となる尺角画像が追加され、それぞれに色付けされて、サンプル用の表示画像が作成される。 - 特許庁 - To provide a liquid sample cooling device for an analytical device, capable of rapid cooling without the occurrence of dew condensation on the surface of a rack or a sample container, and requiring little energy consumption.
ラックや試料容器の表面に結露を生じることなく急速冷却が可能で、しかもエネルギー消費の少ない、分析装置用の液体試料冷却装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample gas supply device of novel constitution capable of inspecting easily detection performance of a gas sensor, and an inflammable gas detection system provided with the sample gas supply device.
ガスセンサーの検知性能検査を容易に行うことができる新規な構成のサンプルガス供給装置およびこのサンプルガス供給装置を備えた可燃性ガス検知システムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a sample preparing device and sample preparing method capable of sampling a minute foreign substance adhering to a semiconductor device surface and accurately observing and analyzing it.
半導体装置表面に付着している微小異物を採取し、精度の良い観察、分析を行うことができる試料作製装置および試料作製方法を提供する。 - 特許庁 - The purpose stated above can be achieved by providing the sample holder for charged particle beam device with a mechanism capable of directing the sample stand fitted to the holder in optional angle and a fine movement device.
上記目的は、荷電粒子線装置用試料ホールダにおいて、ホールダに備え付けた試料台が、任意の角度に方向付けられる機構と、微動装置を備えることで達成される。 - 特許庁 - The charged particle beam device has a mechanism capable of orienting a sample stand arranged to the sample holder in an optional direction, and a fine adjustment device.
上記目的は、荷電粒子線装置用試料ホールダにおいて、ホールダに備え付けた試料台が、任意の角度に方向付けられる機構と、微動装置を備えることで達成される。 - 特許庁 - DEVICE FOR AUTOMATICALLY EXTRACTING COMPONENT SUBSTANCE IN LIQUID SAMPLE, DEVICE FOR AUTOMATICALLY MEASURING CONCENTRATION AND METHOD FOR EXTRACTING COMPONENT SUBSTANCE IN LIQUID SAMPLE
液体試料中の成分物質の自動抽出装置および液体試料中の成分物質の自動濃度測定装置ならびに液体試料中の成分物質の抽出方法 - 特許庁 - To obtain an automatic sample-and-hold device which can detect right amplitude of a pulse wave by obtaining a switching signal of sample-and- holding being able to follow variation of pulse width.
パルス幅の変化に追随できるサンプルホールドの切替え信号を得ることにより、パルス波の正しい振幅を検出できる自動サンプルホールド装置を得る。 - 特許庁 - To provide a measuring method and a measuring device of a sample surface capable of measuring especially the sample surface with high accuracy compared with hitherto.
特に、試料表面を従来に比べて高精度に測定できる試料表面の測定方法及び測定装置を提供することを目的としている。 - 特許庁 - To facilitate opening/closing of a cover for covering the whole of a sample treatment device for performing treatment such as inspection or analysis of a sample of a drug, a specimen or the like.
薬品や検体等の試料の検査や分析等の処理を行う試料処理装置本体を覆うカバーを、開閉しやすいものとする。 - 特許庁 - In this X-ray diffraction device, an incident part 110 and an emission part 150 both of which are formed of glass are provided at the wall surface of the sample chamber 100 and a first shading member 300 is arranged in the sample chamber 100.
この装置は、試料室100の壁面にガラス製の入射部110と出射部150とを備え、試料室100内に第一遮蔽体300が配置される。 - 特許庁 - To provide an optical measuring device for detecting easily the width direction end of a channel wherein a sample is circulated, and detecting the sample highly accurately.
試料を通流させる流路の幅方向端部を容易に検出することができ、高精度で試料を検出できる光学的測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device which removes images such as flaw, dirt, and stain on the backside of wells, different from a sample image and acquires an excellent sample image.
ウェルの裏面の傷、ゴミ、汚れなどの標本像とは異なる像を除去し、良好な標本画像を取得する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a Raman scattering measuring method capable of accurate state inspection of a device, regardless of difference of a placing way of a standard sample on a sample stand.
標準試料の試料台上への置き方の差異にかかわらず、装置の正確な状態検査ができるようにしたラマン散乱測定方法の提供など。 - 特許庁 - To provide an analyzing device suitable for reduction in size, capable of reducing an amount of a sample liquid and eliminating uneven agitation of the sample liquid and a reagent.
試料液の微量化ができ、試料液と試薬との攪拌ムラを解消でき、小型化に適した分析用デバイスを提供することを目的とする。 - 特許庁 - The sample loading unit is used to load the excited biologic molecule sample to a sensitivity zone or to convey to the same zone of the fluorescence detecting device.
励起された該生体分子サンプルを、該蛍光検出デバイスの感受性ゾーンに装填または同ゾーンに輸送するために、サンプル装填ユニットが使用される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor inspection device capable of suppressing dust emission that may occur when an inspected sample is separated from a sample stage, and a semiconductor inspection method.
試料台から被検査試料を離脱する際の発塵を抑制することができる半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁 - An injection valve 8 has a sample storage loop 5 to be connected to a mobile phase channel feeding a sample to a detector of a liquid chromatographic device.
インジェクションバルブ８は、液体クロマトグラフ装置の検出器に試料を供給する移動相流路に接続される試料貯留ループ５を有する。 - 特許庁 - To provide a liquid sampling device preventing the damage of an analyzer caused by a high-pressure sample liquid and supplying the high-pressure sample liquid to the analyzer in a required flow rate.
高圧サンプル液による分析計の破損を防止するとともに所要の流量を分析計に供給することのできるサンプリング装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample extraction device (70) of an electric discharge machining style for extracting a material sample (212) from structure components in a boiling water reactor.
沸騰水型原子炉内の構造構成部品から材料サンプル（２１２）を取り出すための放電加工式サンプル取出装置（７０）を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample analysis device equipped with a focusing ion beam machining/observation apparatus capable of carrying out superb cross-section observation of a sample in a short time.
短時間で良好な試料の断面観察を行うことが可能な収束イオンビーム加工観察装置を備える試料解析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam device that can treat a sample without adherence of impurities onto the sample.
本発明は、試料上に不純物を付着させることなく、試料を取り扱うことが可能な荷電粒子線装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁 - To provide a living body imaging device capable of observing a sample simultaneously from many directions in a short time without lowering a body temperature of the sample.
試料の体温を低下させることなく試料の観察を多方向から同時に短時間に行なうことができる生体イメージング装置を提供する。 - 特許庁 - An injection valve 8 has a sample reservoir loop 5 connected to a moving phase flow passage for supplying a sample of a detector of a liquid chromatograph device.
インジェクションバルブ８は、液体クロマトグラフ装置の検出器に試料を供給する移動相流路に接続される試料貯留ループ５を有する。 - 特許庁 - Further, the sample liquid suction device and the bio-component measuring system both of which are equipped with the chip 10 are improved in efficiency because the suction of the sample liquid is determined accurately.
また、該チップ１０を備えた試料液吸引装置及び生体成分測定システムでは、試料液の吸引の判定が正確に行われ、効率がよい。 - 特許庁 - To provide an inexpensive stage of a small sized device capable of preparing a sample for a TEM and a sample for a SEM quickly in response to requirement.
ＴＥＭ用試料、ＳＥＭ用試料を必要に応じて迅速に作成可能であり、装置も小型で、低コストのステージを提供することである。 - 特許庁 - To provide a discharge device for a sample container capable of discharging the sample container for which analysis is completed, without depending on a manual operation, and capable of enhancing operation efficiency of a thermal analyzer.
分析済の試料容器を手動によらずに排出でき、熱分析装置の稼働効率を向上できる試料容器の排出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a polishing device for simplifying a process, quickly polishing a sample without the possibility of damage, and capable of accurately controlling the thickness of the sample.
工程を単純化し、迅速にしかも試料破損の恐れのない研磨が行え、且つ試料の厚さを精度よく制御することが出来る研磨装置の提供。 - 特許庁 - To agitate the sample by utilizing an existing usual mechanism on the way of carrying of a tube in a device for carrying a tube housing the sample.
サンプルを収容したチューブを搬送する装置において、チューブ搬送途中において既存でありふれた機構を利用してサンプルの攪拌を行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a nano-gripper device with a length measuring function, which can grip a sample, and can measure the size of the sample by gripping the same.
試料の把持することができるとともに、試料を把持することによりその寸法を計測することができる測長機能付きナノグリッパ装置の提供。 - 特許庁 - To provide a scribing device which can obtain a sample piece suitable for quality inspection from among semiconductor wafers and which can automate the job of collecting sample pieces.
半導体ウェーハから品質検査に適したサンプル片を得ることができ、サンプル片を採取する際の自動化を図ることが可能なスクライブ装置を提供する。 - 特許庁 - A nitrogen monoxide adsorption device is arranged between a sample gas opening and closing valve 23 provided in a sample collecting pipe 16 and an exhaust gas radioactivity measuring vessel 21.
試料採取管１６に設けた試料ガス開閉弁２３と、排ガス放射能測定容器２１との間に、一酸化窒素吸着装置が配設されている。 - 特許庁 - The ion mobility meter 1 is provided with an ionization device 2 to ionize the sample molecules and a drift chamber 11 to measure mobility of the sample molecule ionized.
イオン移動度計１は、試料分子をイオン化するイオン化装置２と、イオン化された試料分子の移動度を計測するドリフト室１１とを備える。 - 特許庁 - In this information processing system, when a request from user equipment 2 is given, a sample list is generated in a server device 1, and the generated sample list is transmitted to the user equipment 2.
ユーザ機器２からのリクエストがあったとき、サーバ装置１においてはサンプルリストが生成され、生成されたサンプルリストがユーザ機器２に送信される。 - 特許庁 - To provide a sample collection method improved in quantitativeness and reproducibility not affected by the collecting technique of a worker, and a sample collection device using the same.
作業者の採取技量に左右されず、定量性および再現性の良い試料採取方法及びそれを用いた試料採取装置を提供する。 - 特許庁
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