「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 29 30 31 32 33 34 35 36 37 .... 92 93 次へ＞- To provide a sample table driving device for an atomic force microscope capable of measuring surface force of a sample to be measured with high accuracy and high resolution by controlling the movement of the sample table with high reliability and repeatability.
高い信頼性及び再現性にて試料台を移動制御して試料の表面力を高精度及び高分解能で測定することができる原子間力顕微鏡の試料台駆動装置の提供。 - 特許庁 - To provide a sample leaf discharging device which discharges a sample leaf without stain or damage and secures operator safety when discharging the sample leaf from leafs conveyed in a manufacturing machine.
生産機械において搬送中の枚葉紙からサンプル枚葉紙を取り出す際、サンプル枚葉紙を汚損や破損させることなく取り出すことができるとともにオペレータの安全性を充足するサンプル枚葉紙排紙装置を得る。 - 特許庁 - To provide a sample chamber for gas exhaustion to keep the area around the sample at a constant, high degree of vacuum by performing a stable gas exhaustion and also a circuit pattern forming device which can draw images accurately over the whole sample area.
安定した気体排気を行なって、試料周辺を一定した高真空度に保つ気体排気用試料室及び試料全域に渡り高精度な描画が可能な回路パターン形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an observation sample preparation method and an observation sample preparation device capable of preparing an observation sample having high uniformity of thickness, and including a vacuum domain at a desired distance from an observation portion.
厚さの均一性が高く、かつ、観察部位から所望の距離に真空領域を有する観察試料を作製することができる観察試料作製方法及び観察試料作製装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a preparation method for an evaluation sample, capable of obtaining an accurate and precise measured result, the evaluation sample, a production method for an electronic component material, an electronic component, and an evaluation sample preparation device for preparing evaluation samples.
精密な測定結果が得られる評価試料の作製方法、評価試料、電子部品材料の生産方法、電子部品、このような評価試料を作製するための評価試料作製装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a light detection device capable of stably measuring without being influenced by a curvature change of a sample liquid surface caused by evaporation with passage of time of the sample liquid, liquid quantity dispersion when injecting the sample liquid or the like.
試料液の経時による蒸発や試料液注入時の液量バラつき等による試料液表面の曲率変化に影響されることなく安定した測定が可能な光検出装置を提供する。 - 特許庁 - A robot 1 is constituted so that sample pads 2, which store the sampled soil, are transferred to a hot-air circulating type air drying device 4 from a sample keeping box 3 and, after air-drying, the samples of the sample pads 2 are successively transferred to a mixing hopper 5.
ロボット１は、採取した土壌を入れているサンプルバッド２をサンプル保管箱３から熱風循環式風乾装置４へ移し、風乾後、各サンプルバッド２の試料をホッパー５に順に移入する。 - 特許庁 - The liquid physical property evaluation device investigates the behavior of a liquid sample on a substrate 11 and evaluates the physical property of the liquid sample when the liquid sample is delivered onto the substrate 11 by a droplet delivery method.
本発明の液物性評価装置は、液体試料を液滴吐出法で基板１１上に吐出した際の、基板１１上での液体試料の挙動を調べて液体試料の物性を評価する装置である。 - 特許庁 - To provide a sample blanking device for controlling a grid for a lead-acid battery capable of making an area occupied by a grid portion in a sample for control constant every inning when the sample for control is blanked from a continuous grid.
連続格子体から管理用サンプルを打ち抜く際に、管理用サンプル内で格子部分が占める面積を毎回一定にすることができる鉛蓄電池用格子体の管理用サンプル打ち抜き装置を提供する。 - 特許庁 - The sample holder for focused ion beam machining observation device has a sample stage of which surface for holding a minute sample piece is kept horizontal, and a holding part for fixing the stage in a direction.
集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダに備え付ける試料台の微小試料片固定面が常に水平に保たれており、前記試料台を一定の方向に固定するための試料台固定部を備える。 - 特許庁 - To suppress deposition on a sample by a scattering substance and a contamination substance of the sample generated from the sample by charged particle irradiation in a charged particle beam device, and partial parts of other samples generated from the other samples.
荷電粒子線装置で荷電粒子照射により試料から生じる試料の飛散物質，汚染物質その他の試料から生じる試料の一部分による試料への堆積を抑制することができる。 - 特許庁 - A tester has means (compressive stress adding device 5) for forming a sample 2 into a curved shape with an excitation direction of the sample 2 as an axis, and magnetically contacts and holds a yoke 1 with respect to the sample 2 in curved shape.
試料２の励磁方向を軸として該試料２を湾曲形状にする手段（圧縮応力付加装置５）を有し、かつ該湾曲形状での試料２に対しヨーク１を磁気的に接触保持する試験器とする。 - 特許庁 - To contrive diversification of a sample image without lowering workability during selection of the sample images in a camera device enabling the setting of a photographing condition during photographing only by selecting the sample image.
撮影時における撮影条件の設定を見本画像を選択するだけで可能とするカメラ装置において、見本画像の選択時の作業性を低下させることなく、見本画像の多様化を図ることを可能とする。 - 特許庁 - The image data on the sample 2 is displayed on the screen of a CRT display device 70.
ＣＲＴ表示装置７０の画面上には試料２についての画像データが表示される。 - 特許庁 - To provide an analyzing device capable of displaying the quantitative suction of a sample solution.
定量の試料液の吸い上げを表示できる分析用デバイスを提供することを目的とする。 - 特許庁 - PHASE DETECTING METHOD AND DEVICE OF SAMPLE-AND-HOLD TO ATTAIN LOW SPURIOUS
低スプリアスを達成するサンプル・アンド・ホールド位相検出方法及びサンプル・アンド・ホールド位相検出器 - 特許庁 - To provide a charged particle beam device which enables processing observation not damaging a sample.
試料にダメージを与えない加工観察を行える荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁 - ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE, ITS SAMPLE FOR ADJUSTMENT, ADJUSTING METHOD, AND METHOD FOR INSPECTING CONTACT HOLE
電子ビ—ム検査装置とその調整用試料と調整方法およびコンタクトホ—ルの検査方法 - 特許庁 - METHOD OF EVALUATING SAMPLE BY USING ELECTRON BEAM AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SAME
電子線を用いて試料評価等を行う方法及びそれを用いたデバイス製造方法 - 特許庁 - MEASUREMENT DEVICE FOR MEASURING VARIATION IN TRANSMITTANCE OF SAMPLE DUE TO REPEATED LASER IRRADIATION
レーザ光線の繰り返し照射に起因する試料の透過率変動を測定する測定装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING CHARACTERISTICS BY ANALYZING SAMPLE OF HUMAN BODY OR ANIMAL BODY
人体又は動物体の試料の分析による特徴の検出のための方法及び装置 - 特許庁 - To provide a device capable of measuring leaking property (resistance) and electrostatic charging property with a sheet of film sample.
一枚のフィルムサンプルで漏洩性（抵抗）と帯電性を測定できる装置を提供する。 - 特許庁 - The electron beam delineating device comprises a sample chamber having a bottom plate 4, a side wall 6, and a ceiling plate 7.
電子ビーム描画装置は、底板４、側壁６、天板７を有する試料室を備える。 - 特許庁 - EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF ADSORBATE OR INCLUSION ON SPECIFIC PART ON SAMPLE SURFACE
試料表面の特定部における吸着物，含有物の評価方法および評価装置 - 特許庁 - IMPURITY ANALYZING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER AND SAMPLE MANUFACTURING DEVICE USED FOR THIS METHOD
半導体ウェーハの不純物分析方法およびこの方法に用いられる試料作製装置 - 特許庁 - To provide an electron beam drawing device that corrects the height of a sample with high precision.
試料の高さ補正を高精度に行うことが可能な電子線描画装置を提供すること。 - 特許庁 - TEMPERATURE MEASURING METHOD, PREPARATION OF SAMPLE FOR TEMPERATURE MEASUREMENT AND FABRICATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE
温度測定方法，温度測定用サンプルの作成方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - METHOD OF REFORMING SURFACE OF SOLID SAMPLE, IMPURITY ACTIVATING METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
固体試料の表面改質方法、不純物活性化方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁 - The measuring device 2 measures a sample, while moving a first reagent table 11 or the like.
測定装置２は、第１試薬テーブル１１等を移動させて試料に対する測定を行う。 - 特許庁 - To provide an analyzing device capable of reducing leakage risk when handling sample liquid.
試料液の取扱中の漏洩の危険性を低減できる分析用デバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a device and an assembly for microbiological testing of a sample of liquid and a method for the microbiological testing.
液体サンプルの微生物学的検査のための装置、組立品および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample display device capable of coloring a microscopic image easily.
顕微鏡画像への着色を容易に行うことのできる試料表示装置等を提供する。 - 特許庁 - To provide a valve allowing the inside to be surely washed and a sample extracting and adding device using the valve.
内部を確実に洗浄できるバルブと、このバルブを用いた試料抜き出し添加装置を得る。 - 特許庁 - The thermal constant measuring device equipped with the laser light irradiation amount adjusting mechanism to the measuring sample is also provided.
この測定試料へのレーザ光照射量調節機構を備えた熱定数測定装置。 - 特許庁 - DEVICE FOR DETERMINING FIBER LENGTH AND FIBER LENGTH DISTRIBUTION BASED ON FIBER MATERIAL SAMPLE ESPECIALLY IN SPINNING PREPARATION
特に紡績準備にて、繊維材料サンプルから繊維長及び繊維長分布を定める装置 - 特許庁 - To provide a focusing device capable of focusing quickly a sample.
迅速に試料に焦点を合わせることができる焦準装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A server device 1 sequentially transmits two or more kinds of sample images of every genre to a user terminal 2 side.
サーバ装置１は、ユーザ端末２側に複数種のジャンル別サンプル画像を順次送信する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR MULTI-CHANNEL DIGITAL TO ANALOG CONVERSION OF SIGNAL AT DIFFERENT SAMPLE RATE
異なるサンプルレートでの信号のアナログ変換に対するマルチチャネルデジタルのための装置および方法。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR STORING VOICE SAMPLE AND ACCELERATING REPRODUCTION IN CALL CENTER
コールセンタにおいて音声サンプルを格納し加速された再生を行うための装置および方法 - 特許庁 - To obtain a device and method for separating a fluid sample into a heavy portion and a light portion.
流体サンプルを重い部分と軽い部分とに分離するための装置および方法である。 - 特許庁 - An improved sampling device is provided to repeatedly sample the signal to be measured.
本発明は、被測定信号を繰り返しサンプリングする標本化装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR COLLECTING SAMPLE WATER FOR FUEL FAILURE DETECTION, AND FUEL FAILURE DETECTING METHOD
燃料破損検出用試料水採水方法と装置および燃料破損検出方法 - 特許庁 - To provide an automatic focus detection device capable of bringing the selected surface of a sample into focus.
試料の選択した面に合焦させることができる自動焦点検出装置を提供する。 - 特許庁 - DISPENSING DEVICE AND METHOD, AND DELIVERY FAILURE DETECTING METHOD OF BIOLOGICAL SAMPLE CONTAINING SOLUTION
ディスペンシング装置、ディスペンシング方法及び生体試料含有溶液吐出不良検出方法 - 特許庁 - Especially, the device is preferably used in an analyzing apparatus into which a sample or calibration fluid is introduced.
特に、試料あるいは校正用の流体を導入する分析装置において好適である。 - 特許庁 - To provide a feature amount extraction device, etc. capable of appropriately and promptly setting a sample line.
標本線を適切かつ迅速に設定できる特徴量抽出装置等を提供する。 - 特許庁 - This abrasion test device abrades a sample by pressing it to an abrasion partner material and relatively moving it.
サンプルを摩耗相手材に押圧して相対移動させることにより摩耗させる摩耗試験装置。 - 特許庁 - DRAINING METHOD FOR SAMPLE LIQUID AND WASHING LIQUID IN PARTICLE DIAMETER DISTRIBUTION MEASURING DEVICE BY LIGHT SCATTERING METHOD
光散乱式粒子径分布測定装置における試料液および洗浄液の排水方法 - 特許庁 - To provide a viscosity-measuring device, accurately measuring the viscosity of a sample liable to cause coagulation.
凝集を生じやすい試料の粘度を正確に測定する粘度測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe device free from damaging a sample in changing of a probe.
探針の交換の際に、試料に損傷を与えることのないプローブ装置を提供すること。 - 特許庁
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