「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 32 33 34 35 36 37 38 39 40 .... 92 93 次へ＞- To provide a method and a device for using a white continuous spectral light pulse obtained from a ultrashort light pulse for analyzing a sample, especially a biological sample, in a simple way.
超短光パルスから得られる白色連続スペクトル光パルスを、単純な方法で試料（特に生体試料）の分析に利用する方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - The low-temperature device (28) provides a low-temperature background relative to the sample (12) so as to increase the emissions from the sample (12), and also to reduce the background emission.
この低温デバイス（２８）はサンプル（１２）に対して低温のバックグラウンドを提供するので、サンプル（１２）からの放射を強め、且つバックグラウンドの放射を減少させることができる。 - 特許庁 - To provide a sample liquid sampling device of a power generation plant capable of depressurizing the pressure of a sample liquid in a wide range without enlarging a depressurizing means.
本発明は、減圧手段を大型化することなく試料液の圧力を広範囲に減圧できる発電プラントの試料液サンプリング装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an inexpensive sampling and measuring device for sample water, capable of efficiently and accurately sampling and measuring the sample water relating to a measuring object.
効率良く測定対象に係る試料水を正確に採取測定することができ、かつ、安価な試料水の採取測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method of measuring small angle X-ray scattering for a thin film sample which can be performed by a small angle X-ray scattering device while the sample is fixed.
試料を固定しながら、小角Ｘ線散乱装置により実現可能な、薄膜状の試料に対する小角Ｘ線散乱の測定方法を提供する。 - 特許庁 - The sample is read by using all of the scanning lines of the imaging device, while moving the sample by the distance corresponding to resolving power and the respective lines are composited, to acquire the whole image.
試料を解像度に相当する距離ずつ移動しながら、撮像装置の全ての走査線を使用して読取り、各ラインを合成して全体画像を取得する。 - 特許庁 - When the collected expired air sample is discharged to an analyzing device, the expiratory air in the housing chamber 20 is compressed in the airtight state to condense steam in the expired air sample.
採取した呼気サンプルを分析装置へ吐出する際には、気密状態で呼気収容室２０内の呼気サンプルを圧縮し、呼気サンプル中の水蒸気を凝縮させる。 - 特許庁 - To provide a spotting head, a spotting device and a method for spotting, which can spot a sample solution without giving thermal influence to it and suppress the waste of the sample solution.
スポッティングヘッド，スポッティング装置及びスポッティング方法において、試料溶液に熱影響を与えることなくスポッティングでき、且つ、試料溶液の無駄を抑制できるようにする。 - 特許庁 - A driving electronic device is used for positioning a sample, with respect to optical components, in such a way as to test a plurality of regions of the sample set at a fluorometer.
蛍光計にセットされたサンプルの複数の領域が試験されるようにサンプルを光学成分との関係で位置決めするための駆動用電子装置が使用される。 - 特許庁 - To prevent cut chips from sticking to the surface of a sample in a slicer device in which the sample is sliced while data of cut surfaces thereof are taken successively.
試料をスライスしながら、その切断面のデータを順次取り込むスライサ装置において、発生した切り屑が試料の表面に再付着することを防止する。 - 特許庁 - The device interpolates from the control command value of the present sample to the control command value of the next sample in a time shorter than the sampling time of the seek control system and outputs the interpolated value as the control command value.
現サンプルの制御指令値から次サンプルの制御指令値まで制御系のサンプリングタイムよりも短い時間で補間し、制御指令値として出力する。 - 特許庁 - To provide an observation sample preparation device and a preparation method capable of preparing in an excellent state, an observation sample formed by immobilizing a nano-material on a substrate.
ナノ材料が基板上に固定化された観察試料を良好な状態に作製することが可能な観察試料作製装置及び作製方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a control device-provided apparatus for automatic performance of polymerase chain reaction in at least one sample container containing a predetermined quantity of a liquid sample mixture.
所定量の液体試料混合物を収容した少なくとも１つの試料管内におけるポリメラーゼ連鎖反応の、制御装置付自動遂行装置の提供。 - 特許庁 - To provide an electron beam dimension measuring device and an electron beam dimension measuring means which can keep potential on a sample surface constant to measure the sample with greater accuracy.
試料表面の電位を一定にして精度よく試料を測定することのできる電子ビーム寸法測定装置及び電子ビーム寸法測定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a sample detection device capable of detecting optically a sample easily and accurately without requiring optical auto-focusing operation, and a specimen analyzer including it.
光学的オートフォーカス動作を必要とせず、容易に精度よくサンプルを光学的に検出可能なサンプル検出装置と、それを含む検体分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide the merchandise sample display device of a vending machine with satisfactory handleability for stably holding a sheet-shaped merchandise sample, and for easily performing its attachment/detachment operation.
シート状商品見本を安定に保持し、しかもその着脱作業を簡易に行い得る取り扱い性の良い自動販売機の商品見本展示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid sample monitoring device, concretely a method for manufacturing and designing a test sensor for use in the measurement of an object to be analyzed in a liquid sample.
液体試料モニタリング装置に関し、より具体的には、液体試料中の分析対象物の測定に使用するための試験センサの製造及び設計に関する。 - 特許庁 - To provide a measuring device for physical property of sample by optically detecting the response from a sample to the irradiation with an ultra short optical pulse.
超短光パルスの照射に対する試料からの応答を光学的に検出することにより、試料の物理的性質の測定装置を提供することである。 - 特許庁 - Since charges on the sample 7 move in the direction of the device via the conductive plate 19 and the microprobe 12, charge-up on the surface of the sample 7 can be prevented.
このとき、試料７上の電荷は、導電板１９及びマイクロプローブ１２を介して装置方向に移動するため、試料７の表面がチャージアップすることが防止される。 - 特許庁 - To realize a charged particle beam device in which, even if the slanting angle of the sample and the conditions of charged particle beam radiated on the sample are altered, image quality will hardly change.
試料の傾斜角や試料に照射される荷電粒子ビームの条件が変わっても像質がほとんど変化しない荷電粒子ビーム装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for analyzing a three-dimensional internal structure allowing sequential observation of sample sectional images formed by continuously sectioning a sample without any influence of transparency of the sample and throughout observation of the sample under the substantially same condition even in a sample colored with a fluorescent dye for reconstructing the internal structure of the sample with high precision from the respective sectional images.
試料の透けの影響を受けることなく、試料を連続的に切断してその断面画像を連続して観察でき、かつ試料を蛍光染料で着色した場合でも試料全体をほぼ同一の条件で観察することができ、これにより各断面画像から試料の内部構造を高精密に再構築することができる３次元内部構造の解析方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - The sampling device includes a board for placing the sample of minute article, a probe for moving the sample of minute article, and electron beam radiating means for charging the sample of minute article.
前記目的を達成するために本発明は、微小物体試料を載せる基板と、前記微小物体試料を移動させるプローブと、前記微小物体試料を帯電させる電子線照射手段とを備えるサンプリング装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample processing method and a sample processing device capable of carrying out processing of a circumference or a circle with any position on the sample as a center by using luster scan function or the like without relying on a vector scan system.
試料上における任意の位置を中心とする円周もしくは円形の加工を、ベクタースキャン方式によらず、ラスタースキャン機能等を用いて実施することができる試料加工方法及び試料加工装置を提供する。 - 特許庁 - To arrange an electron microscope and a sample so that the distance therebetween is optimum, in a device which prepares a thin sample by focused ion beam for use in observation by a transmission electron microscope (TEM) and removes a damaged layer on the sample surface using a gaseous ion beam at a low acceleration voltage.
集束イオンビームでＴＥＭ観察用の薄片化試料を作製し、低加速電圧の気体イオンビームで試料表面のダメージ層を除去する装置において、電子顕微鏡と試料とを最適な距離に配置すること。 - 特許庁 - A confocal microscope includes a light source that emits excitation light that excites a sample, and a confocal optical system that guides fluorescent light generated from the sample by focusing the excitation light to the sample to an image pickup device.
試料を励起する励起光を射出する光源と、試料に前記励起光を集光させることにより試料から発生した蛍光を撮像装置に導く共焦点光学系と、を備えた共焦点顕微鏡に関する。 - 特許庁 - The standard sample for the charged particle beam containing different two samples for magnification or dimension calibration, and the charged particle beam device using the standard sample are formed, in a TEM, an STEM (scanning transmission electron microscope), or an SEM for observing a sample by using electrons transmitted through it.
本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁 - A piston 15 is pressed by a loading device 30 while heating the sample SP charged into a cylinder 15 and the molten sample SP is allowed to flow out of the capillary hole 13a provided to the bottom part of the cylinder to measure the fluidizing characteristics of the sample SP.
シリンダ１５内に充填した試料ＳＰを加熱しつつ負荷装置３０によりピストン１５で押圧し、溶融した試料ＳＰをシリンダ底部の細管孔１３ａから流出させて試料ＳＰの流動特性を計測する。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam device with less resolution deterioration even if a beam has inclination to a sample.
試料に対してビームを傾斜しても分解能低下の少ない荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁 - A sample collecting device 15 is inserted into a tube through the use of flanges 28 and 29.
試料採取装置（１５）は、管（１４）に挿入されて、空気の試料を汚染モニター（１６）に供給する。 - 特許庁 - The battery voltage measuring device 20 includes a sample-hold circuit 60 and a comparator circuit 80.
電池電圧測定装置２０に、サンプルホールド回路６０および比較回路８０を備えた構成とする。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam device with little deterioration of resolution even tilting the beams against a sample.
試料に対してビームを傾斜しても分解能低下の少ない荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface evaluation device capable of accurately evaluating a painted surface, and a painting sample.
塗装表面を正確に評価することができる表面評価装置及び塗装標本を提供する。 - 特許庁 - To provide a plasma processing device capable of improving processing efficiency by reducing contamination of a sample.
試料の汚染を低減して処理の効率を向上することのできるプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁 - The method and device (110) for the detection of the existence of the color dye within a water sample (132) is described.
水サンプル（１３２）内の色染料の存在を検出する方法および装置（１１０）を述べる。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope device capable of gripping a separate probe and observing a sample.
別体の探針を把持して試料観察を行うことができる走査型プローブ顕微鏡装置の提供。 - 特許庁 - To provide a device for executing measurement and (or) for collecting a sample of fused metal by a sub-lance.
測定を実施し且つ（又は）溶融金属の試料をサブランスで採取するための装置を提供する。 - 特許庁 - SAMPLE FIXING TABLE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE EQUIPPED WITH IT, AND OBSERVATION/ANALYSIS OBJECT PART IDENTIFYING METHOD
試料固定台、及びそれを備えた荷電粒子線装置、並びに観察／解析対象箇所特定方法 - 特許庁 - The distillation means comprises a heating device for heating the sample utilizing the waste heat of the internal combustion engine 10.
蒸留手段は、内燃機関１０の廃熱を利用してサンプルを加熱する加熱装置を備える。 - 特許庁 - ROTATION CENTER SEARCH METHOD AND ROTATION CENTER SEARCH SYSTEM OF SAMPLE HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
荷電粒子線装置用試料ホルダの回転中心探索方法及び回転中心探索システム - 特許庁 - IMPRINT METHOD, IMPRINT DEVICE, SAMPLE SHOT EXTRACTION METHOD, AND ARTICLE MANUFACTURING METHOD USING THE SAME
インプリント方法及びインプリント装置、サンプルショット抽出方法、並びにそれを用いた物品の製造方法 - 特許庁 - To provide a reflection characteristic measuring device which measures accurately the gloss of a measuring sample.
測定試料の光沢を正確に測定することのできる反射特性測定装置を提供する。 - 特許庁 - MOLECULAR ANALYSIS LIGHT DETECTION METHOD, MOLECULAR ANALYSIS LIGHT DETECTION DEVICE USED THEREFOR, AND SAMPLE PLATE
分子分析光検出方法およびそれに用いられる分子分析光検出装置、並びにサンプルプレート - 特許庁 - The work for fitting a sample piece cut out from a measured object to the device is not required.
しかも、被測定物から切り取ったサンプル片を装置に取り付けるといった作業が不要とされる。 - 特許庁 - The sample gradation level of a 1st set is generated by the 1st marking device (step 102).
第１のセットのサンプル階調レベルは、前記第１のマーキング装置を使用して生成される（ステップ１０２）。 - 特許庁 - To provide a device capable of accurately measuring a dielectric property of a sample surface.
本発明は、試料表面の誘電特性を的確に測定できる装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The temperature of the sample block (36) can be changed exclusively by a thermoelectric device (39) controlled by the computer.
サンプルブロック（３６）の温度は、コンピュータにより制御される熱電装置（３９）によってのみ変えられる。 - 特許庁 - An identifier of the image or a portion of the image of the sample captured with the charged particle beam device is created.
荷電粒子線装置で撮像された試料の画像又はその一部画像の識別子を生成する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for use in the determination of the concentration of analyte in a sample.
サンプル中の分析物濃度の決定において使用するための方法および装置を提供する。 - 特許庁 - WAVE MOTION SENSOR DEVICE WITH GAS REMOVAL UNIT AND METHOD FOR DETECTING TARGET SUBSTANCE IN LIQUID SAMPLE
ガス除去ユニットを備える波動センサー装置及び液体試料中の標的物質を検出する方法 - 特許庁 - The movable stage is provided with a fixing device for fixing at least a pair of sample containers.
移動ステージには、少なくとも１対の試料容器を固定するための固定装置が設けられている。 - 特許庁
- 特許庁
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