「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 36 37 38 39 40 41 42 43 44 .... 92 93 次へ＞- When the sample rod 23 and the gas spraying direction D of the nozzle 26 form an acute angle between them, the gas suction device 28 suctions the gas so as to bend the flow path of the gas hitting the sample rod 23.
ガス吸引装置２８は、試料棒２３とノズル２６のガス吹付方向Ｄとが鋭角を成すときに、試料棒２３に当ったガスをその流路を曲げるように吸引する。 - 特許庁 - To provide a sample analysis device and a sample analysis method, capable of separately disposing of, even if a reagent contains magnetic particles, a container and a liquid after analysis.
試薬が磁性粒子を含む場合にも、容器および分析後の液体をそれぞれ分離して廃棄することが可能な試料分析装置および試料分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an infrared transmission spectrum measurement device which can measure an analysis object sample by simultaneously transmitting infrared rays and X-rays to the analysis object sample, and can be miniaturized.
分析対象試料に赤外線とＸ線とを同時に透過させて測定することができると共に、装置の小型化を図ることができる赤外透過スペクトル測定装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent a liquid from dripping out of a reagent plate, in a device for developing a reagent during junction to treat a sample with the reagent, by joining a sample plate to the reagent plate.
試薬プレートに対してサンプルプレートを接合することにより、それらの間に試薬を展開させてサンプルの試薬処理を行う装置において、試薬プレートからの液だれを防止する。 - 特許庁 - Sample water is pumped up by the pump 14 via a strainer 16 and a pipe 15 from a sewerage facility 11, and the sample water is measured by a liquid flow type water quality measuring device 12.
下水道施設１１から、ストレーナ１６及び配管１５を介してポンプ１４により試料水を汲み上げ、この試料水を流液型の水質計測装置１２で計測する。 - 特許庁 - With this, an evaporation film is laminated on the surface of the sample at the vacuum evaporation device and the sample 6 can be immediately moved to the focusing ion beam machining/observation apparatus 2.
これにより、真空蒸着装置で蒸着膜を試料表面に積層して直ぐに該試料６を収束イオンビーム加工観察装置２に移動させることが可能となる。 - 特許庁 - To provide an ion milling device and method capable of directly cooling a surface of a sample irradiated with an ion beam at the time of milling by irradiating the sample with the ion beam.
イオンビームを試料に照射してミリングを行う際、試料におけるイオンビームの照射面を直接冷却することができるイオンミリング装置とイオンミリング方法とを提供する。 - 特許庁 - The ionization device which is an ion source used for ionizing a sample is equipped with (a) a laser and (b) a surface holding the sample and including a carbon nanotube material.
本発明のイオン化装置は、サンプルをイオン化するために使用されるイオン源であって、ａ）レーザと、ｂ）前記サンプルを保持し、カーボンナノチューブ材を含む面とを備えていることを特徴とする。 - 特許庁 - The operator is made to operate an input device 103 to judge whether the injection of the solution into the sample has been successful from data showing whether the injection of the solution into the sample has been successful and to input the judgment result.
作業者には、入力装置１０３を操作させて、標本への溶液の注入が成功したか否かを示すデータを表示させた画像から判定させて入力させる。 - 特許庁 - To provide a sludge sample-sampling device for sampling a fixed amount of sludge sample regardless of the fluctuation of sludge property when measuring the water content of sludge and the amount of ignition loss.
汚泥の含水率や強熱減量を計測する際に、汚泥性状の変動にかかわらず一定量の汚泥試料を採取できる汚泥試料採取装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a mercury-measuring device that operates automatically from the sampling and injection of a sample, based on hydrocarbon to the measurement of the sample and is capable of measuring mercury, in a short time with high reliability.
炭化水素を主成分とする試料の採取・注入から測定まで自動で動作し、短時間で信頼性の高い測定ができる水銀測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron beam inspection device capable of preventing the attachment of a foreign substance on a sample surface.
試料表面に異物が付着することを極力防止することができる電子線検査装置を提供する。 - 特許庁 - To remove a foreign substance lying in a recess of a sample that is observed by an SPM device.
ＳＰＭ装置で観察する試料において、試料凹部にある物質を凹部外へ除去することを課題とする。 - 特許庁 - To reduce measurement errors caused by air heated above a sample table, in a material characteristics evaluating device.
材料特性評価装置において、試料台の上方で加熱された空気による測定誤差を低減すること。 - 特許庁 - To provide an immuno-chromatographic sample assay device that prevents increase in the background, without increase in the size.
大型化することなく、バックグラウンドの上昇が防止されたイムノクロマトグラフ検体分析用具を提供する。 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE OBSERVING DEVICE WITH X RAY AND METHOD OF EVALUATING CRYSTALLIZED STATE OF METAL WITH X RAY
Ｘ線による試料表面観察装置ならびにＸ線による金属の結晶状態評価方法 - 特許庁 - To provide a measuring method and device which can accurately and quickly measure an arsenic concentration in a sample containing a phosphoric acid.
リン酸を含む試料中のヒ素濃度を迅速かつ正確に測定する方法と装置を提供する。 - 特許庁 - To acquire an image of good image quality regardless of the positions and performance of an imaging device or the shapes of a sample.
撮像装置の位置や性能、あるいは試料の形状に関わらず良質な画質の画像を取得する。 - 特許庁 - METHOD FOR CONFIRMING OPERATION OF CRUSHER, METHOD FOR MANAGING ACCURACY OF PRETREATMENT DEVICE FOR TESTING GENE, AND SAMPLE ANALYSIS SYSTEM
破砕装置の動作確認方法、遺伝子検査用前処理装置の精度管理方法及び試料分析システム - 特許庁 - To provided a programmed-temperature desorption analyzing device where the temperature of a sample surface and a control temperature in a thermocouple are equal to each other.
試料表面温度と熱電対での制御温度が等しい昇温脱離分析装置を提供する。 - 特許庁 - In the electron beam inspection device constructed in this way, a residual gas eliminating mechanism 25 is arranged in the sample chamber 3.
このような構成の電子ビーム検査装置において、試料室３に残留ガス除去機構２５を設ける。 - 特許庁 - To provide a sample heating device capable of ensuring high heat insulation properties even without using any thick heat-insulating materials.
厚い断熱材を用いなくても高い断熱性を確保することができる試料加熱装置を提供する。 - 特許庁 - The measurement device includes a light source 10, and a light receiver 42 which receives light having passed through a sample 30 via an aperture 22.
光源１０と、試料３０を透過した光をアパーチャ２２を介して受光する受光部４２とを含む。 - 特許庁 - To provide a method and device for separating a heavy phase of a sample fluid from a light one.
流体試料の重い相と軽い相とを分離する装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a questionnaire survey device capable of obtaining answers from users when they use a product sample.
商品サンプルを利用した時点におけるユーザの回答を得ることができるアンケート調査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a concentration calculating device clearly indicating a reliability degree of a calculated value of a standard sample concentration.
標準試料の濃度の計算値の信頼性の度合いを明確に表示する濃度計算装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a characteristic measuring device capable of accurately measuring the dynamic characteristics of a high speed S/H(sample hold) circuit.
高速Ｓ／Ｈ回路のダイナミック特性を高精度に測定することができる特性測定装置を提供する。 - 特許庁 - A sample is injected in a device, and the preliminary study is executed, and the chromatogram is formed by a chromatogram forming part 3.
試料を装置に注入して予備検討を行ない、クロマトグラム作成部３によりクロマトグラムを作成する。 - 特許庁 - To provide a protein chip holding device capable of reducing a protein sample to be an extremely small quantity, and preventing denaturation and deactivation thereof.
蛋白質試料の極微量化とその変性・失活を防止した蛋白質チップ保持装置を提供する。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR CONFIRMING STATE AND OPERATION OF PIPETTE DEVICE HANDLING LIQUID SAMPLE
液体試料を扱うピペット装置の状態および動作に不備のないことを確認するためのシステムおよび方法 - 特許庁 - The sample gradation level of a 2nd set is generated by the 2nd marking device (step 104).
それから第２のセットのサンプル階調レベルは、前記第２のマーキング装置を使用して生成される（ステップ１０４）。 - 特許庁 - To provide an excitation device capable of loading a sample having a heavy weight, and exciting it up to a high frequency domain.
加振装置において、重量の大きな供試体を搭載して高い周波数領域まで加振可能とする。 - 特許庁 - SAMPLE HOLDING CIRCUIT, PIT LEVEL DETECTION CIRCUIT USING THE SAME, AND OPTICAL DISK RECORDING/ REPRODUCING DEVICE
サンプルホールド回路及び同サンプルホールド回路を用いたピットレベル検出回路並びに光ディスク記録再生装置 - 特許庁 - To provide an evaluation device capable of widely evaluating the interaction of a sample and oxygen, and to provide an evaluation method.
試料と酸素との相互作用を幅広く評価できる評価装置及び評価方法を提供すること。 - 特許庁 - A wafer substrate 12 for a sample shot is irradiated with a diffracted light from an alignment light source of an alignment optical device 14.
アライメント光学装置１４のアライメント光源から回折光をウェハ基板１２に照射してサンプルショットする。 - 特許庁 - Whether the device for the operation area is a portable type recording medium is checked in this sample (step S3).
本例には、当該作業領域用デバイスが可搬型の記録媒体であるか否かをチェックする（ステップＳ３）。 - 特許庁 - CHANGE MEASURING DEVICE FOR MULTI-COMPONENTS IN SMALL AMOUNT OF SAMPLE, AND MULTI-COMPONENT CHANGE MEASURING METHOD USING SAME
少量試料中に於ける多成分の変化測定装置及びそれを用 いる多成分変化測定方法 - 特許庁 - To provide a surface treating device for uniformizing a plasma treatment distribution when the plasma treatment is applied to a sample.
試料に対してプラズマ処理を行う際、プラズマ処理分布を均一化できる表面処理装置を提供する。 - 特許庁 - PIEZOELECTRIC CONSTANT MEASURING METHOD, PIEZOELECTRIC CONSTANT MEASURING DEVICE USING THE SAME, AND SAMPLE SET UNIT FOR THE SAME
圧電定数測定方法及び同方法を用いる圧電定数測定装置並びに同装置用サンプルセットユニット - 特許庁 - The electron beam hologram forming device is provided with a first electrode and a second electrode for impressing voltage on a sample.
電子線ホログラム形成装置は、試料に電圧を印加するための第１電極及び第２電極を備える。 - 特許庁 - A substrate used in this sample adjusting device can be formed in a probe 50 shape or as a standard pipette chip.
試料調製装置に用いる基体は、プローブ５０の形状としたり、標準ピペットチップとすることができる。 - 特許庁 - To provide an electron beam device that detects the defect immediately after forming a plated layer on a sample.
試料にメッキ層を形成した後直ちにその欠陥を検出することができる電子線装置を提供する。 - 特許庁 - Pulsing primary ion is irradiated from the primary ion irradiation device 12 toward the surface of the metal sample 17.
一次イオン照射装置１２から金属試料１７の表面に向けてパルス状の一次イオンが照射される。 - 特許庁 - This prober device includes the superconducting electromagnet 3 and the sample bed 4 in a vacuum vessel.
本発明にかかるプローバ装置は、真空容器２の内部に超伝導電磁石３と試料台４とを備えている。 - 特許庁 - To provide an ionization device capable of increasing ion density at ionizing sample molecules using soft X-rays.
軟Ｘ線を用いて試料分子をイオン化する際のイオン密度を高めることができるイオン化装置を提供する。 - 特許庁 - OCTAVE FRONT-END FILTERING/SAMPLE MULTIPLYING STRUCTURE OF RESAMPLING DEVICE SUITABLE FOR READJUSTING SIZE OF VIDEO IMAGE
ビデオ画像のサイズを再調整するのに好適な再サンプリング装置のオクターブ前置フィルタリング／サンプル乗算構造 - 特許庁 - A chemiluminescence measuring device 1 includes a sample container 10, a measurement part 20, a memory part 30, and an operation part 40.
化学発光測定装置１は、試料容器１０、測定部２０、記憶部３０および演算部４０を備える。 - 特許庁 - To provide an electronic weighing device for measuring precisely a gas weight adsorbed to a sample 20 in a cylindrical air-tight container 11.
筒状気密容器１１中の試料２０に吸着された気体重量を精度良く測定する。 - 特許庁 - To provide an electron beam device capable of capturing an image in which an effect of a surface electrical charge of a sample is reduced.
試料の表面電荷の影響を軽減された像の取得が可能な電子線装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an analysis method and its device for analyzing the trace constituents rapidly and highly accurately in a solid sample.
固体試料中の微量成分を迅速かつ高精度に分析する分析方法および装置を提供する。 - 特許庁
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